8 区域熔融

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单原子 zif8

单原子 zif8

单原子 zif8ZIF-8是一种单原子结构的材料,它具有广泛的应用前景和独特的性质。

本文将从不同角度介绍ZIF-8的结构、合成方法、应用以及未来的发展方向。

ZIF-8是一种金属有机框架材料,其结构由金属离子和有机配体组成。

ZIF-8的全称是Zeolitic Imidazolate Framework-8,其结构基本上是由金属离子(通常是锌离子)与有机配体(通常是咪唑酸根离子)通过配位键相互连接而成的。

ZIF-8的结构类似于沸石,具有三维的孔道结构。

这种结构使得ZIF-8具有较大的比表面积和孔容,能够吸附和储存气体、液体及其他分子物质。

ZIF-8的合成方法多种多样,常见的有溶剂热法、水热法和溶液法等。

溶剂热法是目前最常用的一种合成方法,通常使用有机溶剂和金属盐、有机配体进行反应。

在一定的温度和压力条件下,金属离子和有机配体可以自组装形成ZIF-8的晶体。

此外,近年来还出现了一些新的合成方法,如微流控合成法和模板合成法,这些方法可以控制ZIF-8的形貌和孔道结构,提高其性能和应用效果。

ZIF-8具有许多优异的性质,这也使得它在各个领域具有广泛的应用。

首先,由于其较大的比表面积和孔容,ZIF-8可以用作气体吸附剂和分离膜材料。

例如,ZIF-8可以用于二氧化碳捕集和储存,具有重要的环境和能源应用价值。

其次,ZIF-8还可以用作催化剂和催化载体,在有机合成和化学反应中具有良好的催化活性和选择性。

此外,ZIF-8还可以用于药物传递和储存,具有潜在的药物控释和缓释应用。

虽然ZIF-8已经在许多领域取得了重要的应用,但仍然存在一些挑战和问题。

首先,ZIF-8的合成方法需要耗费较多的能量和时间,且在大规模合成方面还存在一定的困难。

其次,ZIF-8的热稳定性和湿稳定性有待提高,这限制了其在一些高温和湿度环境中的应用。

此外,ZIF-8的性能优化和机理研究仍然是一个热点和难点。

总的来说,ZIF-8作为一种单原子结构的材料,具有独特的结构和性质,具有广泛的应用前景。

zif-8制备方法

zif-8制备方法

zif-8制备方法
ZIF-8 (Zeolitic Imidazolate Framework-8) 是一种具有高度结晶度和孔隙性质的金属有机骨架材料,由金属离子和有机配体组成。

以下是常见的 ZIF-8 制备方法:
1. 水热法:将金属盐和有机配体在适当的溶剂中混合,并在高温高压下进行反应。

常用的有机溶剂包括 N,N-二甲基甲酰胺(DMF)、乙二醇和甲醇等。

反应时间一般较长,需要几小时甚至几天。

2. 溶剂热法:将金属盐和有机配体在适当的溶剂中混合,并加热反应。

溶剂可以选择 DMF、乙二醇、甲醇等。

溶剂热法相较于水热法具有反应时间短、能耗低的特点。

3. 气相合成法:将金属盐和有机配体放置在反应室中,并通过加热或者从溶剂中蒸发来形成 ZIF-8。

常用的金属盐有
Zn(NO3)2、ZnCl2 等。

反应温度一般在150℃以上。

4. 液相直接合成法:将金属盐直接与有机配体在溶剂中混合并反应,无需高温高压。

常用的溶剂有 N,N-二甲基甲酰胺(DMF)、水等。

液相直接合成法具有反应时间短、操作简单等特点。

以上是一些常见的 ZIF-8 制备方法,具体的制备方法可以根据实际需求和实验条件进行选择和优化。

zif8技术指标

zif8技术指标

zif8技术指标
标题:ZIF-8技术指标详解
一、引言
ZIF-8(Zeolitic Imidazolate Framework-8)是一种具有独特孔隙结构的金属有机骨架材料,由于其高比表面积、规则的孔道结构和可调控的孔径等特性,在催化、吸附、分离、气体存储等领域有广泛的应用前景。

二、主要技术指标
1. 比表面积:ZIF-8的比表面积一般在1400m²/g左右,是普通多孔材料的数倍,使得它能够提供更大的接触面积,有利于提高反应效率。

2. 孔径大小:ZIF-8的孔径为
3.4Å,适合于一些小分子物质的储存和传输。

3. 热稳定性:ZIF-8具有良好的热稳定性,可以在较高的温度下保持其结构不变。

4. 化学稳定性:ZIF-8对酸碱有很好的稳定性,能够在较宽的pH范围内保持稳定。

5. 吸附性能:ZIF-8具有高的选择性和吸附能力,可以用于气体的分离和净化。

三、应用领域
1. 催化剂载体:利用ZIF-8的高比表面积和规则的孔道结构,可以作为催化剂的优良载体。

2. 分离和纯化:ZIF-8的选择性吸附性能使其在气体分离和纯化中有广阔的应用前景。

3. 药物输送:ZIF-8的孔道结构可用于药物的装载和控制释放。

四、总结
ZIF-8作为一种新型的多孔材料,其独特的物理化学性质使其在许多领域都具有潜在的应用价值。

然而,目前对于ZIF-8的研究还处于初级阶段,需要进一步研究其合成方法、性能优化以及实际应用等问题。

半导体8 半导体材料制备

半导体8 半导体材料制备

基本原理
籽晶杆及其传动组件; 坩埚杆及其传动组件; 进气、排气系统; 功率加热系统;
直pter 8
盛于(石英)坩埚中多晶硅被(电阻)加热熔化,待 其温度在熔点附近并稳定后,将籽晶浸入熔体,并与 其熔接好后以一定速度向上提拉籽晶(同时旋转)引 出晶体(即引晶)。生长一定长度的细颈(细颈以防 籽晶中位错延伸到晶体中),经过“放肩”,“转肩” (晶体逐渐长大到所需直径),等(直)径生长,收 尾,降温,就完成一根单晶锭的拉制。
用一种惰性液体(覆盖 剂B2O3)覆盖着被拉制 材料的熔体,生长室内 冲入惰性气体,使其压 力大于熔体的离分压力, 以抑制熔体中挥发性组 元的蒸发损失,然后按 CZ拉制。
覆盖剂必须满足的条件:
密度小于所拉制材料,使之能浮于熔体表面;
对人体和坩埚在化学上必须是惰性的,不能与熔 体混合,但必须浸润晶体及坩埚; 熔点要低于被拉制材料的熔点,且蒸气压很低; 有较高纯度,熔融状态下透明。 B2O3: 密度1.8g/cm2、软化点450℃、
3. 组分过冷 重掺杂情况下,且K<1,生长过程中杂质不断 “排”向熔体,使熔体中杂质浓度越来越高,从 而造成熔体内部的过冷度大于扩散层附近熔体过 冷度,,而且离固液界面越远,过冷度越大,这 将使固液界面不稳定,甚至导致枝蔓生长。
降低杂质浓度,提高温度梯度,降 低结晶速度,防止发生组分过冷
4、多晶硅 由砂即(二氧化硅)开始,经由电弧炉的 提炼还原成 冶炼级的硅,再经由盐酸氯 化,产生三氯化硅,经蒸馏纯化后,透 过慢速分 解过程,制成棒状或粒状的多 晶硅。
RCA1 RCA2
5H2O : 1H2O2 : 1NH4OH 有机物 5H2O : 1H2O2 : 1HCl 金属离子
七、晶片的几何参数和参考面

SOP8分层探究及解决

SOP8分层探究及解决

SOP8分层探究及解决李进;朱浩【摘要】塑料封装作为一种非气密性封装,分层一直是制约其可靠性的一个关键因素,也是可靠性需解决的难点之一.选择确立较为稳定、成熟的引线框架塑料封装制程,研发一款抗分层表现良好的SOP8,搭配优选过的环氧模塑料(EMC),使塑料封装的可靠性大大提升,也促进了EMC在塑料封装中的应用和表现.【期刊名称】《电子与封装》【年(卷),期】2019(019)004【总页数】6页(P10-14,18)【关键词】塑料封装;分层;可靠性【作者】李进;朱浩【作者单位】长兴电子材料有限公司,江苏昆山215301;长兴电子材料有限公司,江苏昆山215301【正文语种】中文【中图分类】TN305.941 引言在电子封装中,分层是环氧模塑料(EMC)进行可靠性评估的一个重要项目。

分层是塑料封装器件内部各界面之间1 μm或以上的微小剥离或裂缝,主要发生区域为EMC与芯片界面之间、EMC与载片界面之间、EMC与引线框架之间、芯片与银浆界面之间、银浆与引线框架界面之间[1]。

EMC封装中出现分层是基于多种因素引起的,涉及到材料、工艺、环境等多个方面。

从EMC角度来看,主要是因为内部应力(变化)和内部水汽含量高(加热中急速膨胀)造成。

而一款具有优良性能的EMC能适应环境温度变化,其与芯片、引线框架等的结合力大于内部应力和水汽蒸汽压力,不至于使EMC与芯片、载片以及框架之间出现剥离现象,并能很好地与更多材料搭配,使用面更广[2]。

分层作为影响封装元器件失效的主要因素,探寻在最佳工艺条件下搭配更优异的材料已成为制程工程人员研究的重点之一。

EK3600GHR具有良好的结合性、低吸水率、低应力,我们在SOP8分层试验中也用到此EMC,以找寻解决塑料器件分层的有效方法。

2 塑料器件分层原因分析塑料封装器件分层是基于多种因素引起的,在塑料封装过程中,我们依托SOP8封装出现的分层现象,通过反复的试验验证,将可能引起塑料器件分层的因素按照人、机、料、法逐步罗列出来,制成鱼骨图进行分析,如图1所示。

无机材料科学基础复习知识点总结

无机材料科学基础复习知识点总结

无机材料科学与基础1.名词解释二八面体:在层状硅酸盐矿物中,若有三分之二的八面体空隙被阳离子所填充称为二八面体结构。

三八面体:在层状硅酸盐矿物中,若全部的八面体空隙被阳离子所填充称为三八面体结构。

稳态扩散:扩散质点浓度不随时间变化。

不稳态扩散:扩散质点浓度随时间变化,扩散通量与位置有关。

互扩散:有浓度差的空间扩散。

自扩散:没有浓度差的扩散。

顺扩散:由高浓度区向低浓度区的扩散叫顺扩散,又称下坡扩散。

逆扩散:由低浓度区向高浓度区的扩散叫逆扩散,又称上坡扩散。

本征扩散:不含有不含有任何杂质的物质中由于热起伏引起的扩散。

非本征扩散:非热能引起,如由杂质引起的扩散。

刃型位错:滑移方向与位错线垂直的位错称为刃型位错。

螺型位错:位错线与滑移方向相互平行的位错称为螺型位错热缺陷:在没有外来原子时,当晶体的热力学温度高于0K时,由于晶格内原子热振动,使一部分能量较大的原子离开正常的平衡位置,造成缺陷,这种由于原子热振动而产生的缺陷称为热缺陷。

杂质缺陷:由于杂质进入晶体而产生的缺陷。

点缺陷:在三维方向上尺寸都很小(远小于晶体或晶粒的线度)的缺陷。

线缺陷:是指晶体内部结构中沿着某条线(行列)方向上的周围局部范围内所产生的晶格缺陷。

它的表现形式主要是位错。

弗兰克尔缺陷:在晶格内原子振动时,一些能量足够大的原子离开平衡位置后,进入晶格点的间隙位置,变成间隙原子,而在原来的位置上形成一个空位,这样的缺陷称为弗兰克尔缺陷。

肖特基缺陷:如果正常格点上的原子,热起伏过程中获得能量离开平衡位置,跳跃到晶体的表面,在原正常格点上留下空位,这种缺陷称为肖特基缺陷。

类质同晶:物质结晶时,其晶体结构中部分原有的离子或原子位置被性质相似的其他离子或原子所占有,共同组成均匀的、呈单一相的晶体,不引起键性和晶体结构变化的现象。

同质多晶:同一化学组成在不同热力学条件下形成结构不同的晶体的现象。

一致熔融化合物:是一种稳定的化合物,它与正常的纯物质一样具有固定的熔点,熔化时所产生的液相与化合物组成一致,故称一致熔融化合物。

单原子 zif8

单原子 zif8

单原子 zif8ZIF-8(Zeolitic Imidazolate Framework-8)是一种由金属离子和有机配体构成的金属有机骨架材料(MOF),具有丰富的孔道结构和高度可调性。

ZIF-8的单原子结构使其在催化、气体吸附和分离、储能等领域具有广泛的应用前景。

ZIF-8的合成方法非常简单,通常通过常规的溶剂热法进行。

在合成过程中,金属离子和有机配体在溶剂中反应生成晶体,形成ZIF-8的结构。

由于其合成方法简单,因此大规模制备ZIF-8并不困难,这为其应用提供了条件。

ZIF-8具有高度可调的孔道结构,这是其在催化领域得以应用的关键。

ZIF-8的孔道尺寸可以根据所选用的金属离子和有机配体的大小进行调控,从而使其能够高效催化不同反应。

此外,ZIF-8还具有较大的比表面积和孔体积,这使其在吸附和分离领域具有潜在的应用价值。

例如,ZIF-8可以用于气体吸附和分离,如二氧化碳捕集和甲烷储存。

在能源储存方面,ZIF-8也表现出了潜在的应用价值。

由于其具有高度可调的孔道结构,ZIF-8可以用作电化学储能材料的载体。

研究人员发现,将锂离子或钠离子嵌入到ZIF-8的孔道中,可以显著提高储能材料的电化学性能,从而实现高效的能量存储。

ZIF-8还可以用于催化剂的载体。

通过将金属催化剂负载到ZIF-8的孔道中,可以提高催化剂的稳定性和活性。

这种载体的设计可以使催化剂在反应中更加均匀地分布,从而提高反应的效率和选择性。

总结起来,ZIF-8作为一种金属有机骨架材料,具有丰富的孔道结构和高度可调性,在催化、气体吸附和分离、储能等领域具有广泛的应用前景。

通过合理设计和调控ZIF-8的结构,可以实现对其性能的优化,进一步拓宽其应用范围。

随着对ZIF-8的深入研究,相信它将在未来的科学研究和工业生产中发挥越来越重要的作用。

半导体材料(复习资料)

半导体材料(复习资料)

半导体材料(复习资料)半导体材料复习资料0:绪论1.半导体的主要特征:(1)电阻率在10-3 ~ 109 ??cm 范围(2)电阻率的温度系数是负的(3)通常具有很高的热电势(4)具有整流效应(5)对光具有敏感性,能产生光伏效应或光电导效应2.半导体的历史:第一代:20世纪初元素半导体如硅(Si)锗(Ge);第二代:20世纪50年代化合物半导体如砷化镓(GaAs)铟磷(InP);第三代:20世纪90年代宽禁带化合物半导体氮化镓(GaN)碳化硅(SiC)氧化锌(ZnO)。

第一章:硅和锗的化学制备第一节:硅和锗的物理化学性质1.硅和锗的物理化学性质1)物理性质硅和锗分别具有银白色和灰色金属光泽,其晶体硬而脆。

二者熔体密度比固体密度大,故熔化后会发生体积收缩(锗收缩5.5%,而硅收缩大约为10%)。

硅的禁带宽度比锗大,电阻率也比锗大4个数量级,并且工作温度也比锗高,因此它可以制作高压器件。

但锗的迁移率比硅大,它可做低压大电流和高频器件。

2)化学性质(1)硅和锗在室温下可以与卤素、卤化氢作用生成相应的卤化物。

这些卤化物具有强烈的水解性,在空气中吸水而冒烟,并随着分子中Si(Ge)?H键的增多其稳定性减弱。

(2)高温下,化学活性大,与氧,水,卤族(第七族),卤化氢,碳等很多物质起反应,生成相应的化合物。

注:与酸的反应(对多数酸来说硅比锗更稳定);与碱的反应(硅比锗更容易与碱起反应)。

2.二氧化硅(SiO2)的物理化学性质物理性质:坚硬、脆性、难熔的无色固体,1600℃以上熔化为黏稠液体,冷却后呈玻璃态存在形式:晶体(石英、水晶)、无定形(硅石、石英砂) 。

化学性质:常温下,十分稳定,只与HF、强碱反应3.二氧化锗(GeO2)的物理化学性质物理性质:不溶于水的白色粉末,是以酸性为主的两性氧化物。

两种晶型:正方晶系金红石型,熔点1086℃;六方晶系石英型,熔点为1116℃化学性质:不跟水反应,可溶于浓盐酸生成四氯化锗,也可溶于强碱溶液,生成锗酸盐。

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