X荧光射线分析仪精度管理型 快速 判定软件的介绍
无损检测技术中常用的数据处理与分析软件推荐
无损检测技术中常用的数据处理与分析软件推荐无损检测技术是一种基于物理或化学原理的，不破坏被测物件完整性的检测方法。
在无损检测中，数据处理与分析是非常关键的环节。
合适的数据处理与分析软件可以帮助工程师对检测结果进行准确的评估和判定。
本文将推荐几款在无损检测领域中常用的数据处理与分析软件。
1. CIVA软件CIVA是由法国中子与射线检测中心（CEA URTOF）研发的一款无损检测多物理场模拟与分析软件。
该软件可以模拟自然射线、超声、电磁、涡流和磁粉等各种无损检测技术。
它具有先进的数值方法和模型，可以模拟各种材料的声学、电磁和机械响应。
CIVA软件提供了丰富的功能，包括数据处理、数据重建和结果分析等。
它可以对无损检测信号进行处理、分析和图形化展示，帮助用户快速准确地评估检测结果。
2. MATLAB软件MATLAB是一款广泛应用于科学和工程领域的数值计算和数据处理软件。
在无损检测中，MATLAB可以用于信号处理、图像处理和数据分析等方面。
它提供了丰富的函数和工具箱，可以用于滤波、傅里叶变换、小波变换和统计分析等。
MATLAB还具有强大的图形化功能，可以绘制出直观、清晰的图表和图像，帮助工程师更好地理解和分析检测结果。
3. LabVIEW软件LabVIEW是一款通用的系统工程软件，也被广泛用于无损检测领域。
它支持各种硬件和仪器的控制与数据采集，并提供了丰富的数据处理和分析功能。
LabVIEW可以通过可视化编程的方式快速搭建自定义的检测系统，实时采集和处理数据。
它还可以进行数据可视化，提供直观的图形界面和图表展示，方便工程师分析和解释检测结果。
4. GAGEtrak软件GAGEtrak是一款专业的测量设备管理软件，也适用于无损检测领域。
它可以帮助工程师管理和跟踪无损检测仪器，记录设备校准和维护历史。
GAGEtrak提供了一套完整的数据管理和分析工具，可以生成各种统计报表和图表，帮助用户评估仪器的性能和准确度。
x射线荧光光谱仪 准确度等级
x射线荧光光谱仪准确度等级x射线荧光光谱仪是一种常用的表面分析测试仪器，主要用于分析固体样品中的元素成分。
在使用x射线荧光光谱仪进行分析时，准确度是一个非常关键的性能指标。
准确度等级的确定涉及到多个方面的考量，包括仪器本身的设计和技术指标、样品的准备和处理、以及测试操作中的各种因素。
首先，准确度等级与仪器的设计和技术指标有关。
x射线荧光光谱仪的准确度可以通过不同的参数来评估，例如分辨率、定量能力和重复性等。
分辨率是指仪器能够分辨不同元素峰之间的距离，分辨率越高，可以准确分析更多的元素。
定量能力是指仪器可以准确测量样品中元素含量的能力。
重复性是指在相同条件下重复测试样品时，所得结果的一致性。
准确度等级应当根据仪器的技术参数来确定，并结合实际需求进行评估。
其次，准确度等级还与样品的准备和处理有关。
在使用x射线荧光光谱仪进行分析之前，通常需要对样品进行一系列的处理，例如研磨、压制成块、打磨光洁等。
样品的准备和处理直接影响着测试的准确性。
特别是当分析的样品复杂多样、组成异质性较大时，如何保证样品的均匀性和代表性成为关键。
因此，准确度等级的确定还需要考虑样品准备和处理的标准化和规范化程度。
最后，准确度等级还与测试操作中的因素有关。
在进行分析测试时，操作员的技术水平、实验环境的稳定性、仪器的校准和维护等因素都会对测试结果的准确性产生影响。
为了保证测试结果的准确性，需要在操作规程中明确各项操作步骤，确保操作员能够正确操作仪器，并在测试前进行校准和质控。
综上所述，x射线荧光光谱仪的准确度等级的确定需要综合考虑仪器本身的设计和技术指标、样品的准备和处理、以及测试操作的各个因素。
在实际应用中，应根据需求和实际情况，结合准确度的要求和仪器的性能来确定准确度等级，并确保测试过程的标准化和规范化，以提高测试结果的准确性。
同时，加强操作员的培训和质控，做好校准和维护工作，也是保证准确度的关键。
X荧光光谱仪软件操作详细说明2024
引言概述：X荧光光谱仪软件是一种用于分析物质的荧光光谱的工具。
本文是X荧光光谱仪软件操作详细说明的第二部分。
在本文中，我们将进一步介绍该软件的功能和操作方法，以帮助用户更好地理解和使用这一工具。
正文内容：1. 扫描模式：1.1 单次扫描模式：单次扫描模式是指只进行一次荧光光谱扫描。
用户可以通过设定起始波长和终止波长，选择扫描速度等参数来完成扫描。
同时，还可以设置激发波长和检测波长来获得所需的荧光光谱数据。
1.2 连续扫描模式：连续扫描模式允许用户连续进行多次扫描，以观察样品的变化趋势。
在连续扫描模式下，用户可以设定扫描时间和扫描间隔等参数，以满足实验要求。
1.3 闪烁扫描模式：闪烁扫描模式是一种特殊的扫描模式，适用于含有荧光杂质的样品。
用户可以选择合适的扫描波长范围和扫描速度，以获得更准确的荧光光谱数据。
2. 数据处理功能：2.1 基线校正：X荧光光谱仪软件提供基线校正功能，用于消除原始数据中的背景噪声。
用户可以选择合适的基线校正方法，如多项式拟合法或小波法，以获得更精确的光谱数据。
2.2 数据平滑：数据平滑功能可以使光谱数据更加平滑，减少噪音干扰。
用户可以选择不同的平滑方法，如均值平滑、中值平滑或高斯平滑等，以获得满意的结果。
2.3 数据峰识别和峰面积计算：X荧光光谱仪软件支持自动识别峰值并计算峰面积。
用户可以设定峰值识别的参数，如峰宽、峰高等，以便更精确地计算峰面积。
3. 数据导出和导入：3.1 数据导出：X荧光光谱仪软件支持将处理后的数据导出为常见的数据格式，如CSV、Excel等，以方便用户进行后续数据分析。
3.2 数据导入：用户可以将外部数据导入X荧光光谱仪软件进行分析和处理。
软件支持常见的数据格式，如CSV、Excel等，使用户能够灵活地使用已有数据进行分析。
4. 实验设置：4.1 仪器参数设置：X荧光光谱仪软件允许用户进行仪器参数设置，如灵敏度、增益、曝光时间等。
通过合理设置这些参数，用户可以获得更准确和可重复的荧光光谱数据。
X射线荧光光谱仪介绍
X-射线荧光光谱仪(XRF)1、仪器介绍X-射线荧光光谱仪(XRF)，现有日本Rigaku公司生产的ZSX primus波长色散型XRF一台，及配套所必须的电源设备、冷循环水设备和前处理熔样机等。
X射线荧光光谱分析技术制样简单、分析快速方便、应用广泛，可用于测定包括岩石、土壤、沉积物等在内的各种地质样品的化学组成。
分析元素范围从Be(4)到U(92)，最常见的是用于主量元素分析，如SiO2、Al2O3、CaO、Fe2O3T、K2O、MgO、MnO、Na2O、P2O5、TiO2、LOI等元素。
2、仪器功能和技术参数：(1) 功能：定性分析、半定量分析和定量分析；(2) X射线管：4KW超薄端窗型(30μm)、铑靶X射线管；(3) 分光晶体：LiF(200)、Ge(111)、PET、RX25、LiF(220)；(4) 进样器：48位自动样品交换器；(5) 测角仪：SC：5-118度(2θ)；PC：13-148度(2θ)；(6) 分析元素范围：Be4-U92；(7) 线性范围：10-2 - 10-6；(8) 仪器稳定度：≤0.05%；(9) 测量误差：<5%。
3、应用和优势：XRF应用广泛，可用于岩石、矿物、土壤、植物、沉积物、冶金、矿业、钢铁、化工产品等样品中常量和痕量的定量分析。
具有快速方便、制样简单、无损测量、分析元素宽、灵敏度高等优点。
X-ray Fluorescence Spectrometer (XRF)1、I nstrument Introducation:The wavelength dispersion X-ray fluorescence spectrometer (XRF) is ZSX primus, made by Rigaku, Japan, with a set of instruments of electrical power unit, cold circulating water equipment and automatic fusion machine. XRF is widely used for geological element analysis, including rocks, soils, sediments, etc, which is simplicity and convenience of operation. Its analyzable elements range is from Be (4) to U (92). XRF is most common for the analysis of major elements, such as SiO2, Al2O3, CaO, Fe2O3T, K2O, MgO, MnO, Na2O, P2O5, TiO2 and LOI.2、Instrument Technical Parameters:(1) Fucation: qualitative analysis, semi-quantitative analysis and quantitative analysis;(2) X-ray tube: 4KW ultrathin end-window (30μm) Rh target X-ray tube;(3) Analyzing crystals: LiF(200), Ge(111), PET, RX25, LiF(220)；(4) Sample injector: 48-bit automatic sample changement;(5) Angular instrument: SC: 5-118°(2θ); PC: 13-148°(2θ).(6) Analyzable elements range: Be4-U92;(7) Linear range: 10-2 - 10-6;(8) Stability: ≤0.05%;(9) Analysis error: <5%.3、Application and advantageXRF is widely used to analy major elements and trace elements in geological rocks, minerals, soils, plants, sediments, metallurgy, mining industry, steel, chemical products, etc. It is fast, convenient, simple, nondestructive, widely used and high sensitivity.。
AxiosX射线荧光光谱仪分析方法的制定步骤
Axios X射线荧光光谱仪分析方法的制定步骤1.进入XRF-SYSTEM SET UP界面2.鼠标点《分析程序》《APPLICATION》《新建分析程序》《NEW APPLICATION》《输入分析方法名称》( 如rock)《道组》《输入所用道组名，如SUPERQ》执行《OK》3.进入如下界面，并按如下顺序设置：图1. 分析方法设置顺序图General (总设置) identification schems(编号方案) conditions(条件)Sample description(样品描述) preference(优先) compounds(化合物) channels(道) quantitative program(定量分析程序)qualitative program(定性分析程序)A.General和identification schems两项一般可以跳过，不用输入。
B.鼠标点conditions(条件)：XRF-vacuum lock time(s)(XRF真空锁定时间，系指样品杯放进样品室中，盖上盖板后预抽真空时间，粉末压片如水泥工业中生料可设定10秒，而钢铁或熔融片通常设4秒即可)。
delay time(s)(延迟时间，系指试样进入测量位置后再抽真空的时间，通常设置2秒)。
Spinner on(自旋)，通常设定自旋，以防止样品不均匀。
Measure in decreasing energy order，该项通常按能量从大到小进行测量，鼠标在方框中点一下，但若需测定氯或硫时，即不选用该项，应先测氯或硫。
图2.分析方法中‘条件’框图分析光路介质，通常选真空(Vacum)，液体样品选氦气(Heleum)。
狭缝罩具的选择取决于样品杯内孔径大小。
C.鼠标点样品描述(sample)，根据试样的物理状态可选用熔融块 (bead)、液体(liquid)、粉末压片 (presed power)、固体 (solid)等状态中的一种。
x射线荧光光谱仪
深圳华普通用科技有限公司
x射线荧光光谱仪
SPECTRO XEPOS内部采用高性能部件，可获得极佳的灵敏度和准确性。
采用偏振次级靶以确保最佳激发，12位样品自动交换器，预先安装好的应用软件包和智能软件模块，使SPECTRO XEPOS成为真正的多功能元素分析仪。
SPECTRO XEPOS配有预先安装好的应用包，包括：在工厂预先校正好的各种硬件和分析方法。
适合分析：土壤、污泥、油中添加剂、水泥、炉渣、耐火材料、电子元器件ROHS检测等。
XEPOS型X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、（汞）等元素分析，检出下限低，灵敏度高、稳定性好，可应对欧洲WEEE、ROHS指令。
技术参数：
1.功率50W，最大电压50KV，最大电流2mA
2.50W端窗Pd靶X光管
3.硅漂移计数器，分辨率小于170eV
4.3位置次级靶自动转换系统，即3束X激发光源。
5.可选真空、充气、常压系统
主要特点：
1.偏振X光激发样品，具有极低的背景，极佳的灵敏度
2.真正意义的Na-U的全分析，无需滤光片。
3.分析的含量范围ppm级到100%
4.极为丰富的软件系统，提供各种方法及校正模式。
X-Cube 射线透视检测系统 简单易用,操纵灵活
GE检测科技全新X-Cube 射线透视检测系统简单易用，操纵灵活，快速得到高质量图像高质，快速，灵活的Ｘ射线检测方案Ｘ－Ｃｕｂｅ已经是众所周知的在小空间里包含一套完整设备射线检测系统。
它包含稳定的Ｘ射线源，一套射线源操纵系统和一个置于屏蔽室内的工件承载台，一个便于操作的控制台，一个将Ｘ射线转换成标准视频图像的图像增强器和集成图像增强系统的ＶＩＴＡＰＬＵＳ。
不过，这个在领域内曾经大受肯定的产品现在已经被重新设计，以确保它可以更专注于提高用户的生产效率。
因此，全新的Ｘ－Ｃｕｂｅ在使图像共享更简单的同时，检测更加的迅速、灵活和便于使用。
许多全新的优势…• 全新的Ｘ－Ｃｕｂｅ在Ｘ射线检测过程中的每一步都更 加迅捷快速的驱动器是从Ｆａｎｕｃ的机器人系统中获取的，它意味着工件处理时间和开关门的时间会更快。
接触控制面板中的Ｘ－Ｔｏｕｃｈ技术同样来自于Ｆａｎｕｃ，它简化且加速了所有控制操纵流程。
自动的数字化图像处理提供了真正的时间节约。
因此，整体的周期时间大大地缩短了。
一个绝对测量系统确保在系统开始阶段无需重设至零。
测量系统在接通后即开始工作。
• 更高的灵活性，充分满足用户的多种检测需求标准上Ｘ－Ｃｕｂｅ可以在２２５ＫＶ或１６０ＫＶ Ｘ射线管上使用，另外还有一系列可供选择的探测器。
因此，分辨率可以适应特定的用户需求。
• 图像质量增强和图像共享Ｘ－Ｃｕｂｅ集合了带通用Ｖｉｓｔａｐｌｕｓ图像增强系统的Ｖｉｓｔａｌｕｘ图像增强器。
它可以对高质量的图像进行实时积分和平均。
最新的集成应用工具可确保对检测结果的有效分析，包括显示参考图像，缺陷区域的面积计算和交互的图像测量。
图像增强软件是ＬＡＮ兼容，可以通过邮件发送图像，并可以实施远程专家评估或存储。
可以在工作站或其他相关地点中生成检测报告。
更快的周期时间更快的的设置时间更高的操纵灵活性旋转臂现在可以旋转扫过９０°面积。
更好的分辨率灵活性最新的图像增强系统最新的图像解释工具网络兼容• 更快的操作速度• 更好的灵活性• 加强的图像质量• 网络兼容性• 用户指导• 简易编程，更好的完成重复性任务• 小空间，简易安装• 低维护• 易于操作带有教、学的用户指导使X-Cube 更易操作。
最新X射线荧光光谱仪主要技术指标对比教学文案
最新X射线荧光光谱仪主要技术指标对比
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0%
12% 32% 27% 85% 14% 54% 14% 43% 60% 71%
19 93 12 18 200 200 20
设定判定条件
1)测定结果 设定上限值下限值后可分类 OK、Gray、NG 2)可使用2种类来管理精度 1)进行σ( 1-6)的绝对值管理 2)CV %是在1σ的精度以比率(%) 管理。 最适合10000 p p m等较高浓 度的精度管理 各管理值以 1基准 ○、* 2基准 ○、 △、* 的设定是可能。 3)大小判定模式 此外有快速的大小判定模式。
测定时间因共存元素而有很大地变化
5元素测定
647 77 209 175 552
ppm
时间缩短率
Cd
200 10 83 12 40பைடு நூலகம்20
Pb, Hg,Br
200 10 83 48 279 20 11 200 20 200 128 200 100
Cr
200 10 57 68 186 20 12 12 12 12 12 12 100
本来需1个月的测定可能只需3天即可!!
20ppm
Cr55秒
20ppm
误差小的样品快，误差大的样品测定时间长。
缩短时间的效果
SEA2210A的测定事例
5元素浓度
以前时间固定 PE PE PVC PVC 管理值 3σ PE PE PVC PVC PE-Br PVC-Br 管理值 3σ Cd130ppm Pb 15 000ppm Cd1000ppm Pb10000p p m Pb2000ppm Pb 100ppm 或者是CV 10% 89 352 91 277 387 459 各0ppm 各100ppm 各0ppm 各100ppm
精度管理型
快速判定软件的介绍
精工盈司电子科技（上海）有限公司
如何决定 XRF的测定时间？
想缩短测定时间，却又担心精度
担心因妨碍元素造成精度降低 设定长时间测定，信赖较高
选择效率还 是选择精度 是难的问题
发生测定时间的浪费
以下是一个可达到希望的精度 和最合适最短时间测定的新系统！
时间 精度
以前所使用的时间
单纯的塑料 误差值较小的样品
测定浓度 ( p p m ) 测定浓度 ( p p m )
含有聚氯乙烯的塑料 误差值一般的样品
测定浓度 ( p p m ) 测定时间
含有难燃剂的塑料 误差值较大的样品
50
50
50
测定时间
测定时间
浓度误差值
所有的样品如果加长测量时间的话，精度可提升 但是不看测定结果的话，也无法知道误差值的大小！
画面的说明
1
测定准备 选择测定条件后按开始按钮
测定当中可输入样品名等等的 相关样品信息
画面的说明
2
测定结束 返回开始的画面
保存测定的结果
管理精度可一目了然！
能管理精度。 精度是○
不能管理精度。 精度是X。 →增加最大测定时间。
新报告形式
测定部分的 影像。
数据一览表 细报告
向详
按一下就能作成报告书
测定
浓度计算
误差值计算
No 管理值之内？ Yes
管理值
重复测定
测定结束
浓度表示 浓度判定
误差表示 管理值判定
电脑自行决定最合适时间
管理误差值在一定范围
共存元素 大
共存元素 中
共存元素 小
误差值 浪费时间 时间不足 浪费时间 最适时间 时间 以前的设定时间
快速判定在时间的节约
测定时间固定时，由于添加元素造成精度的变化
根据共存元素的影响造成检量线斜率 变化，浓度的误差值(精度)的不同。
70 60 X線 強 度 (cps) 50 40 30 20 10 0 0
BG的σ
净强度的σ
PE 検量線 PVC 検量線
PE浓度的σ
PVC浓度的σ
100
有害物質濃度(ppm)
电脑是用Real Time来计算统计 误差和判定是否继续测定
相同的浓度也会因共存元素的影 响，造成误差值(精度)的不同
PE的样品
Cd100ppm Pb100ppm
Cd·Pb同样是100 ppm
σs： 净强度的误差值 σb： 背景值的误差 PVC的样品
Pb100ppm
Cd100ppm
从误差值σs和σb来计算 测定值的精度（误差） 电脑是以Real Time来计算
不含Br的时候
Cd 2 00秒
误差值 含大量Br的时候
10ppm
Pb, Hg、Br 2 00秒
30ppm
Cr 2 00秒
2 0ppm
Cd 2 00秒
30ppm
Pb, Hg、Br 2 00秒
40ppm
Cr 2 00秒
30ppm
固定测定精度时，则是自动地调整测定时间。
Cd 76秒
20ppm
Pb, Hg、Br220秒
5元素的放 大能谱图
测定原本就应该是用精度来管理
如果管理值是不一定的,就无法对数据进行累积和比较
时间管理法
妨碍元素少
妨碍元素多
时间固定
时间
精度
精度
精度
精度管理法
精度固定 精度 时间 时间 时间
总结
在一定的管理值下,自动决定最适合的最短的时 间。最大20倍的速度结束测定。 因为软件能随时监视误差，所以对于不同难易的 样品，不需要自行更改测定时间 简化软件中的按键，任何人都可简单的操作 数据一览和详细报告书间附加联锁,只需点击一 次就可得到详细情报。对于数据管理非常简便。