LCD 的 mura 介绍及资料
Mura 产生原因
Symptom：LC not full Description： 1.各種畫面或不需驅動即可看到Panel注入 口處對側局部變黑。 2. 無畫面(完全無液晶)。
Defect photo：
Defect photo：
Updated：4/1/2015 Printed Date：4/1/2015 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom：Ring Mura Description：一圈圈均勻的色差圓。
Symptom：Row Mura Description：50%gray畫面水平方向線狀 mura。 Defect photo：
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各種 Mura
Symptom：Twill lines or rubbing line Description：區域性斜線。 Defect photo：
Symptom：Vertical Mura Description：Driver IC與TFT匹配問題。
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Symbol of Quality
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Updated：4/1/2015 Printed Date：4/1/2015 Rev.1.0
mura产生原理
mura产生原理Mura产生原理Mura是指液晶显示器中出现的亮度不均匀现象，即屏幕上出现了黑暗或亮度不一致的区域。
这种现象通常是由于液晶显示器制造过程中的不完美或外部环境因素引起的。
下面将从液晶显示器的结构、液晶分子排列和电场作用等方面介绍Mura产生的原理。
液晶显示器是由多个液晶单元组成的，每个液晶单元包含一个液晶分子层和两个电极。
液晶分子层是一种有机化合物，具有一定的电介质特性。
当外加电场作用于液晶单元时，液晶分子会发生排列，从而改变光的传播方式，实现图像的显示。
然而，由于制造过程中的一些影响因素，液晶显示器中的液晶分子排列不可避免地会出现一定程度的不均匀性。
这就是导致Mura现象的一个重要因素。
液晶分子排列的不均匀性主要表现为以下几个方面：1. 液晶分子方向不一致：液晶分子在不同区域的方向可能存在微小的差异，导致光的传播方向也不一致，从而在屏幕上形成亮暗不均的区域。
2. 液晶分子排列密度不均匀：液晶分子排列的密度不均匀也会导致光的传播方式不同。
在某些区域，液晶分子排列较为紧密，光的透过率较低，而在其他区域，液晶分子排列较为疏松，光的透过率较高，从而形成明暗差异。
3. 液晶分子层厚度不一致：液晶分子层的厚度不一致也会导致Mura现象的出现。
液晶分子层厚度的不均匀性会引起光的相位差，进而影响光的干涉和衍射效应，使得屏幕上出现光强不均的现象。
除了液晶分子排列的不均匀性，Mura现象还受到其他因素的影响，例如背光源的不均匀性、温度的变化等。
背光源的不均匀性会导致液晶显示器的亮度不一致，从而形成Mura现象。
而温度的变化会引起液晶分子的扭曲和展开，进而影响液晶分子的排列和光的传播。
为了解决Mura现象，制造商会采取一些措施。
例如，通过优化液晶分子的配方和制造工艺，减小液晶分子的方向和密度的不均匀性。
此外，还可以通过改进背光源的设计和温控系统，减少背光源和温度对Mura现象的影响。
总结起来，Mura现象是液晶显示器中常见的一种亮度不均匀现象。
Mura产生原因解读
Updated ：10/19/2018 Printed Date ：10/19/2018 Rev.1.0
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ND的使用
使用10% ND檢 驗Mura仍清楚 可見
使用8% ND檢 驗Mura較不 明顯
使用6% ND檢 驗Mura不可見
Updated ：10/19/2018 Printed Date ：10/19/2018 Rev.1.0
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Mura的判定
? Mura的判定通常於50%Gray pattern 畫 面判定，其judge的方式可採用 limit sample or ND filter。
? ND Filter--ND為在可見光波常範圍下能提供相當穩定平穩的響應， 主要功能在於降低光源之透光率。
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Mura 的成因
為何會有Mura產生—就LCD製程而 言
? Cell gap—cell gap的不均，偏高或偏低階會造成mura 的現象。
? Spacer—spacer散佈的均勻性及spacer本身原材料的均 勻性都有可能影響mura的產生。
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Mura 的成因
為何會有Mura產生—就CF製程而言
? 膜厚—因為膜厚的Coating不均，導致產 生色不均之現象。
? Coating—光阻於coating時若噴嘴有阻塞 的情況，即會造成vertical mura。
Updated ：10/19/2018 Printed Date ：10/19/2018 Rev.1.0
Mura产生原因
Updated：11/20/2018 Printed Date：11/20/2018 Rev.1.0
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就人為因素而 言
不當拿取—因拿取Panel方式不當，手指按壓到面板的 力量過大，易造成丸狀mura。
使用8% ND檢 驗Mura較不 明顯
使用6% ND檢 驗Mura不可見
Updated：11/20/2018 Printed Date：11/20/2018 Rev.1.0
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各種Mura
Updated：11/20/2018 Printed Date：11/20/2018 Rev.1.0
Symptom：Diagonal Mura Description：50%灰階畫面可看見斜向帶 狀Mura。 Defect photo：
Defect photo：
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Defect photo：
Defect photo：
Updated：11/20/2018 Printed Date：11/20/2018 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom：Corner Mura Description：5%&50% gray scale pattern 可見角落處mura。
mura测试中色度计的作用
Mura 测试方案1.液晶缺陷1)Zara—漏光，漏光就是屏幕液晶跟框架吻合不紧密导致灯管光直接透射出来。
2)Zure—错误对位，指液晶屏的滤光单元与TFT对位出现错误导致的缺陷3)SIMI—基板上有污渍4)Mura—是指显示器亮度不均匀造成各种痕迹的现象，最简单的判断方法就是在暗室中切换到黑色画面以及其它低灰阶画面，然后从各种不同的角度用力去看，随着各式各样的制程瑕疵，液晶显示器就有各式各样的mura。
以上各种缺陷，Mura是最难以检测的，因为它是光学，色度学以及人类心理学的一个结合体。
2.Mura定义：mura本来是一个日本字, 随着日本的液晶显示器在世界各地发扬光大, 这个字在显示器界就变成一个全世界都可以通的文字。
mura是指显示器亮度不均匀, 造成各种痕迹的现象。
最简单的判断方法就是, 在暗室中切换到黑色画面, 以及其他低灰阶画面. 然后从各种不同的角度用力去看, 随着各式各样的制程瑕疵, 液晶显示器就有各式各样的mura. 可能是横向条纹或四十五度角条纹, 可能是切得很直的方块, 可能是某个角落出现一块, 可能是花花的完全没有规则可言, 东一块西一块的痕迹.《液晶显示器件第2-2-4部分：手机用彩色矩阵液晶显示模块详细规范》指出，云纹（Mura）应该在6%中性密度滤光镜遮盖后不可见，或对照标准样本。
然而，液晶面板的质量判定大部分是采用专业训练人员以人眼检测，隐含人类视觉限制、训练程度及主观认定等因素，容易产生不可靠的判定结果，成为生产者与消费者之间的争议，故厂商积极发展机器视觉的检测架构。
3.Mura测试与量化SEMI针对Mura测试建立了一个标准。
•定义：JND — Just Noticeable Difference•公式：•C jnd是mura 缺陷最小可觉察的对比度差异•S jnd为C jnd下的mura 缺陷面积。
可见，每一个S jnd都有一个固定的C jnd对应。
S jnd与C jnd是递减关系，面积越大，人眼对对比度低的mura更敏感。
LCDMura现象与量化
显示屏Mura定义与量化分析TFT-LCD（Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display）从一问世起，就受到了人们的广泛关注。
与传统的CRT（Cathode Ray Tube）显示器相比，它除了具有高分辨率、高亮度和无几何变形等诸多优点外，还具有体积小、重量轻和功耗低等特点。
因此，TFT-LCD 被广泛应用于数码照相机、数码摄像机、车载显示器、桌上显示器、笔记本电脑和液晶电视等几乎所有的显示器领域[1]（如图1-1 所示）。
TFT-LCD 屏的缺陷检测主要有三个目的。
第一，淘汰那些不合格的产品。
第二，为修复某些类型的缺陷提供依据。
第三，分析缺陷的特点和产生原因以提高生产工艺水平。
目前，TFT-LCD 屏的缺陷检测方法主要包括电学方法和光学方法两大类。
一般来讲，电学方法可以识别那些电气缺陷所引起的点缺陷和线缺陷，但是对于化学污染等非电气原因造成的mura 缺陷，电学方法就显得无能为力了[4]。
为此，近年来基于机器视觉的光学检测技术成为了研究的热点，并针对具体的缺陷类型提出了一些检测方法或判别标准。
空间相关法空间相关法适用于点缺陷和线缺陷的检测[5]。
其原理如图1 所示。
依据该算法，首先用一个摄像机（例如CCD）对被测液晶屏进行图像采集。
然后，将摄取的图像与经过移位一个像素的图像做相关运算。
如果存在像素缺陷（线缺陷），则相关图像中只有缺陷像素（线）作为检测信号被检出；如果不存在像素缺陷（线缺陷），则相关结果无输出信号。
假设原始图像信号记为C ，右移一个像素的图像信号记为R ，而左移一个像素的图像信号记为L ，相关运算的结果为Φ= R + L - 2C其中Φ表示相关信息。
图1：空间相关法原理图空间相关法利用邻像素的空间相关性进行像素缺陷检测，所以该方法可以把噪声、不均匀的背光源和液晶屏的其它固有缺陷等因素所引起的图像不均匀性的影响降到最低。
Muralook 检测算法从1991 年起，Photon Dynamics 的William K.Pratt 等人就开始研究mura 缺陷的检测系统，并且在大量应用知识的基础上，于2000 年左右在《Automatic blemish detection in liquid crystal flat paneldisplays》一文中首次提出了Muralook 检测算法[6]。
LCD常见不良检查条件判定标准介绍版本
4
Waste Elimination by All Employees !
2 / 12
LCD 不良现象介绍及检查方法
不良名
NO 大分类
小分类
1
Low luminance
（亮度低）
2
B/L
3
B/L Off (背光不亮）
LCD 不良现象介绍及检查方法
不良名
NO 大分类
小分类
1
water mura
(水渍mura)
2
Mura
3
cloud mura (云状mura/白斑)
ripple mura (水波纹)
不良现象
挑战 883！
不良现象介绍以及检测方法
在灰阶(127gray)画面下屏上有像水一样 mura,一般是长时间使用后出现 判定标准:不可见为合格 （LPL）
6
Cosmetic
Lamp Defect (灯管线不良)
判定标准:屏组装前发现不良判厂家来 料不良,组装后发现判作业不良.
7
Other Mechanical Defect （其他不良）
屏幕划伤,铁框变形,PCB 破损等
判定标准:屏组装前发现不良判厂家来 料不良,组装后发现判作业不良.
8
Waste Elimination by All Employees !
5 / 12
挑战 883！
不良现象介绍以及检测方法
在全黑画面下发光的点,用放大镜看是 满像素格常亮的 判定标准：按照IIS判定(ZBD和NON-ZBD)
在全白画面下像素格不发光或者发光亮 度比较暗。 判定标准：按照IIS判定
在全黑画面下可发现发光细小彩色点， 每个点发光面积小于1/2sub-pixel(一 般由CELL内部异物引起) 判定标准：正常照度（200~500Lux)下 个数小于5个，30cm外肉眼不可见
push mura原理
push mura原理
Push-mura原理是一种减少液晶显示器中矩阵式液晶单元之间
亮度非均匀度（Mura）的技术。
Mura指的是显示器屏幕上出
现的亮度不均匀的现象，可能是由于液晶材料的不均匀分布、电场的不均匀或封装过程中的误差等造成的。
Push-mura原理可以通过施加恒定的电场脉冲来产生电荷驱动
的变色液晶材料的变色现象，从而使得液晶单元的亮度变均匀。
具体来说，Push-mura技术利用了电荷驱动模式下液晶材料的
非线性光学特性。
通过调整施加到液晶单元上的电场脉冲的强度和时间，可以调节液晶材料的偏振转换特性，以实现亮度的均匀分布。
通过Push-mura技术，液晶显示器在生产过程中可以经过一系
列的测试和校准，以消除或减小Mura现象的出现。
这样可以
提升液晶显示器的显示质量，使得画面更加均匀、清晰、细腻。
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Symptom：Circle Mura Description：可分較畫面深的黑丸mura及 較畫面淡的白丸mura。 Defect photo：
Symptom：Cloud Mura Description：局部區域雲狀不均。
Defect photo：
Updated：8/8/2012 Printed Date：8/8/2012 Rev.1.0
Symptom：Around Strip Mura Description：位置於邊框四周或任一側色 差。 Defect photo：
Updated：8/8/2012 Printed Date：8/8/2012 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom：Spacer Clustering Description：黑畫面可看見因spacer聚集 所產生的mura。 Defect photo：
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Defect photo：
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各種 Mura
Symptom：Rain Mura Description：50%gray判定,下雨似的色差。 Defect photo：
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各種 Mura
Symptom：Ring Mura Description：一圈圈均勻的色差圓。
Symptom：Row Mura Description：50%gray畫面水平方向線狀 mura。 Defect photo：
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就人為因素而 言
不當拿取—因拿取Panel方式不當，手指按壓到面板的 力量過大，易造成丸狀mura。
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Mura Introduction
Updated：8/8/2012 Printed Date：8/8/2012 Rev.1.0
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Content:
1. 2. 3. 4. 何謂 Mura Mura的成因 Mura的檢驗方法 各種Mura
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各種 Mura
Symptom：Twill lines or rubbing line Description：區域性斜線。 Defect photo：
Symptom：Vertical Mura Description：Driver IC與TFT匹配問題。
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各種 Mura
Symptom：Coin Mura Description：固定位置之圓形凹陷狀Mura。
Symptom：Col/Mu(Column mura) Description： 1.50%灰階畫面可看見Panel邊緣有一寬 約7~10mm白色或黑色帶狀mura。 2. 白色畫面下視角可以較明顯看出。
各種 Mura
Symptom：Fill Port Gap Description： 1. 50%灰階畫面可看到Panel在注入口處 附近局部偏白(Gap過大)。 2. 白色畫面可看到Panel在注入口處附近 局部偏黃(Gap過大)。
Symptom：Hmoon Gap (Side half moon gap) Description： 1. 50%灰階畫面可看到Panel邊緣有半圓 形局部偏白。 2.白色畫面可看到Panel邊緣有半圓形局 部偏黃。 Defect photo：
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各種Mura
Updated：8/8/2012 Printed Date：8/8/2012 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom：Arch Mura Description：50%灰階畫面在Panel上方 可見。 Defect photo：
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就LCM製程而 言
Roller—因機台roller的壓力過大或是roller上沾附異物， 造成panel經過roller後而產生丸狀或條狀mura。 Vacuum—因機台stage吸力過大而造成吸附後形成 stage mura。 Black-light—B/L本身Film材不良或其他來料造成異常 亦會形成mura現象，通常以交叉驗證等方式確認B/L是 否有異常現象。 Polarizer—偏光板本身來料不良，造成偏貼後形成 Mura，通常更換偏光板後即OK。
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ND的使用
使用10% ND檢 驗Mura仍清楚 可見
使用8% ND檢 驗Mura較不 明顯
使用6% ND檢 驗Mura不可見
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各種 Mura
Symptom：Injection Port Mura Description：注入口部分較畫面深的半圓 形mura。
各種 Mura
Symptom：TAB Mura Description：一整條TAB範圍均勻的較深 或較淺色差。
Symptom：Twill Line Description：均勻的實斜線。 Defect photo：
Defect photo：
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Mura的判定
பைடு நூலகம்
Mura的判定通常於50%Gray pattern 畫 面判定，其judge的方式可採用limit sample or ND filter。
ND Filter--ND為在可見光波常範圍下能提供相當穩定平穩的響應， 主要功能在於降低光源之透光率。
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Updated：8/8/2012 Printed Date：8/8/2012 Rev.1.0
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就CF製程而言
膜厚—因為膜厚的Coating不均，導致產 生色不均之現象。 Coating—光阻於coating時若噴嘴有阻塞 的情況，即會造成vertical mura。
Defect photo：
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Symbol of Quality
Thank You
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Symptom：Diagonal Mura Description：50%灰階畫面可看見斜向帶 狀Mura。 Defect photo：
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何謂 Mura?
何謂Mura？
在同一光源且相同底色之畫面下，因視 覺感受到不同程度之顏色差異稱之為 Mura。
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Defect photo：
Defect photo：
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