线性测量方法
线性尺寸测量
一、极限与配合的基本术语和定义
1.1.2 有关尺寸的概念 尺寸：用特定单位表示长度值的数字。分为线性尺寸和角度尺寸 基本尺寸(D,d)：由设计给定的尺寸，一般要求符合标准的尺寸系列。 极限尺寸：允许尺寸变化的两个极限值。两者中大的称为最大极限尺寸，小的称为最小极限尺寸。孔和轴的最大、最小极限尺寸分别为 Dmax、dmax和Dmin、 dmin表示。
一、极限与配合的基本术语和定义
图 1-3 公差带图
一、极限与配合的基本术语和定义
公差带 在公差带图中，由代表上、下偏差的两条直线所限定的一个区域，称为尺寸公差带，简称公差带。 尺寸公差带有两项特征:大小和位置。 公差带的大小由尺寸公差确定（此值由标准公差确定）； 公差带的位置由极限偏差(上偏差或下偏差)相对零线的位置来确定。
一、极限与配合的基本术语和定义
图1-7 过渡配合
配合公差 配合公差：是指允许间隙或过盈的变动量。 在数值上，它是一个没有正、负号，也不能为零的绝对值。它的数值用公式表示为： 对于间隙配合 对于过盈配合 对于过渡配合 特点 ：对于一具体的配合Tf↑，间隙或过盈可能出现的差别↑，其松紧差别的程度↑ 配合精度↓，反之亦然；
二、极限与配合国家标准
配合的表示： 配合用基本尺寸和孔、轴公差带表示。孔、轴公差带写成分数形式，分子为孔公差带，分母为轴公差带。 例如：
二、极限与配合国家标准
二、极限与配合国家标准
基本偏差数值 孔和轴的基本偏差是按照的一系列经验公式计算而得到的。 轴（孔）的基本偏差确定后，在已知公差等级的情况下，可确定轴（孔）的另一个极限偏差 EI=ES-IT ES=EI+IT ei=es-IT es=ei+IT
测绘技术中的线性测量方法
测绘技术中的线性测量方法测绘技术是一项关键的基础性技术，它在各个领域都扮演着重要角色。
而线性测量方法则是测绘技术中不可或缺的一环。
本文将介绍线性测量方法的基本原理、应用领域以及未来发展趋势。
一、线性测量方法的基本原理线性测量方法是通过使用测量仪器和技术手段，对线性距离进行测量的方法。
它主要依赖于测量仪器的准确度和测量操作人员的技术水平。
线性测量方法有多种，包括直尺测量、刻度测量、坐标测量等。
其中，直尺测量是最基础的一种方法。
直尺测量是通过使用直尺来测量线性距离的方法。
在进行直尺测量时，需要将直尺与被测距离的线段放置在同一直线上，然后读取直尺的刻度值，并进行相应的计算，即可得到线性距离的测量结果。
直尺测量的准确度取决于直尺的刻度精度以及测量人员的操作技巧。
二、线性测量方法的应用领域线性测量方法在许多领域都有广泛的应用。
其中，建筑行业是一个重要领域。
在建筑施工过程中，需要对建筑物的长度、宽度、高度等进行准确测量，以确保建筑物的结构稳固且符合设计要求。
线性测量方法可以通过测量工具如钢卷尺、激光测距仪等，对建筑尺寸进行精确测量。
此外，线性测量方法还广泛应用于地图制作和导航系统中。
地图制作需要对地理空间的距离进行精确测量，以绘制出准确的地理信息图。
导航系统则需要借助线性测量方法来确保车辆或人员在行驶过程中能够准确计算出行距离和到达目的地所需的时间。
三、线性测量方法的未来发展趋势随着科技的不断进步，线性测量方法也在不断发展和改进。
一方面，随着仪器设备的更新换代，测量精度得到了提升。
比如，传统的直尺测量正在逐渐被高精度的激光测距仪所取代，这大大提高了测量的准确度和效率。
另一方面，无人机技术的发展为线性测量方法带来了新的机遇。
无人机搭载的高精度测距仪和相机可以实现对地面距离和地物尺寸的快速测量，并生成高精度的地图数据。
这种无人机测量方法在城市规划、环境监测等领域具有巨大潜力。
此外，虚拟现实和增强现实技术的快速发展也为线性测量方法带来了新的发展机遇。
游标卡尺测量方法
游标卡尺测量方法游标卡尺是一种常见的测量工具，它广泛应用于制造业、建筑业以及科学研究等领域。
游标卡尺测量方法准确简便，不仅可以测量线性尺寸，还可以测量角度、深度等参数。
本文将介绍游标卡尺的原理、使用方法以及常见问题及解决方法。
一、游标卡尺的原理游标卡尺由两个测量爪组成，分别为主爪和从爪。
主爪和从爪之间的距离可以通过游标卡尺上的游标读数来确定。
游标卡尺的读数精度通常为0.02mm，有些高精度的游标卡尺的读数精度可以达到0.01mm甚至更高。
游标卡尺的主要原理是通过主爪和从爪的相对位置来测量物体的尺寸。
二、游标卡尺的使用方法1.准备工作在使用游标卡尺之前，需要进行一些准备工作。
首先，需要检查游标卡尺的零位是否正确。
可以将游标卡尺的主爪和从爪合拢，然后调整游标卡尺上的游标，使其指向0刻度线。
其次，需要保证游标卡尺的爪部清洁干净，以免影响测量精度。
2.测量线性尺寸测量线性尺寸时，需要将游标卡尺的主爪和从爪分别放置在被测物体的两个端点上，然后读取游标卡尺上的读数。
读数应该是主爪和从爪之间的距离，即被测物体的尺寸。
在读数时，应该注意游标卡尺上的游标是否对齐，以免读取错误的数值。
3.测量角度测量角度时，需要将游标卡尺的主爪和从爪分别放置在被测物体的两个端点上，然后将游标卡尺的主爪旋转至被测物体所在的角度位置。
此时，游标卡尺上的游标应该指向被测物体所在的角度值。
在测量角度时，需要保证游标卡尺的主爪和从爪与被测物体的表面垂直，以免影响测量精度。
4.测量深度测量深度时，需要将游标卡尺的主爪和从爪分别放置在被测物体的两个表面上，然后将游标卡尺的主爪移动至被测物体的深度位置。
此时，游标卡尺上的游标应该指向被测物体所在的深度值。
在测量深度时，需要保证游标卡尺的主爪和从爪与被测物体的表面垂直，以免影响测量精度。
三、常见问题及解决方法1.游标卡尺的读数不准确如果游标卡尺的读数不准确，可能是因为主爪和从爪之间的距离不正确。
此时，可以尝试重新调整游标卡尺的零位，并检查爪部是否清洁干净。
超声波探伤仪水平线性、垂直线性性能测定
1、开机，调至任意一直探头频道，直探头纵波入射点零点校准。
2、选用直探头2.5P14通过机油置于CSK-ⅠA试块上，对准25mm的大平底。
3、调节仪器使屏幕上出现五次底波B1到B5，使B1对准20，B5对准100。
4、观察记录B2、B3、B4与水平刻度值40、60、80的偏差a2、a3、a4。
5、计算水平线性误差：
经测量满足标准《NB/T47013-2015》对水平线性偏差不大于1%的要求
操作人：审核：日期：
超声波探伤仪水平线性性能测定
1、开机，调至任意一直探头频道，直探头纵波入射点零点校准。
2、选用直探头2.5P14通过机油置于CSK-ⅠA试块上，对准25mm的大平底。
3、调节仪器使屏幕上出现五次底波B1到B5，使B1对准20，B5对准100。
4、观察记录B2、B3、B4与水平刻度值40、60、80的偏差a2、a3、a4。
5、计算水平线性误差：
经测量满足标准《NB/T47013-2015》对水平线性偏差不大于1%的要求
操作人：审核：日期：
1、开机，调至任意一直探头频道，直探头纵波入射点零点校准。
2、选用直探头2.5P14通过机油置于CSK-ⅠA试块上，对准25mm的大平底，并用压块恒定压力。
3、调节仪器使使试块上25mm处底波位于示波屏中间，并达到满幅刻度100%，但不饱和，作为“0”dB。
4、依据“0”dB为基础，每次衰减2dB，并记录相应的波高实测值填入，直到底波消失。
5、计算垂直线性误差：
经测量满足标准《NB/T47013-2015》对水平线性偏差不大于5%的要求操作人：审核人：日期：。
一种线性校准方法
一种线性校准方法线性校准是一种常用的校准方法，主要用于调整测量系统或仪器的输出值，以提高测量的准确性和可靠性。
线性校准的基本原理是通过已知的标准物体或标准设备来进行校准，将标准值和实际值进行比较，得到校准因子，然后使用该校准因子对实际测量值进行修正和调整。
线性校准方法可以分为两种类型：单点校准和多点校准。
单点校准是通过选取一个已知的标准物体或设备，将实际测量值与标准值进行比较，得到一个修正系数，然后将该修正系数应用于整个测量范围。
这种方法简单易行，适用于一些测量范围较小、线性关系较好的测量系统。
然而，对于一些复杂的测量系统，单点校准方法可能无法满足要求。
多点校准方法是通过选取多个已知标准物体或设备，在不同的测量点上对实际测量值和标准值进行比较和修正，从而得到一个更为准确的校准曲线。
这种方法可以考虑到系统非线性特性的影响，提高校准的精度和可靠性。
线性校准的具体步骤如下：1. 选择合适的标准物体或设备。
根据测量系统的特点和需求，选取适当的标准物体或设备，其量值应符合所需测量范围，且具有较高的准确性和稳定性。
2. 进行预处理。
对所有标准物体或设备进行预处理，包括清洁、校准和稳定化等步骤，以确保其准确性和可靠性。
3. 进行测量。
使用测量系统对标准物体或设备进行测量，得到实际测量值。
4. 比较和计算。
将实际测量值与标准值进行比较，并根据比较结果计算出校准因子。
对于单点校准，校准因子为实际测量值和标准值的比值；对于多点校准，校准因子是根据实际测量值和标准值的差异进行插值和拟合后得到的。
5. 修正和调整。
将校准因子应用于实际测量值，进行修正和调整，得到校准后的测量值。
6. 验证校准结果。
使用其他测量系统或方法对校准后的测量值进行验证，以确保校准结果的准确性和可靠性。
线性校准的优点在于其简单易行、实时性强、成本低廉。
然而，线性校准也存在一些局限性，如无法考虑到系统非线性特性、不适用于特殊的测量系统、对标准物体或设备的准确性要求较高等。
计量型测量系统分析方法(线性)
g mg ∑ ; X - (∑ X) / mg ∑
2 2
h. 截距 b = ∑ Y / mg - a * (∑ X / mg) ； i. 线性拟合优度 R 2 = a 2 j. k.
s= Y - b∑ Y - a∑ XY ∑
2
X ∑ Y ∑
2 2
- mg * (
2
) 2 ]s
1
⑥ 作图（EXCEL 的 XY 散点图）包括： a. 95％置信区上限 ；
2
b. 95％置信区下限 ； c. 回归直线 ； d. 偏倚点 ； e. 偏倚平均值 ； f. 偏倚 0 线； ⑦ 分析： a. 若“偏倚 0 线”完全在拟合线置信区间以内，则测量系统可被 接受；否则不接受； b. 若 R 数值过低，则表明线形模型对于数据是不合适的。 c.
t a ≤t ( gm -2,1-α/2)
2
且 tb
≤t ( gm -2,1-α/2)
， 则测量系统对所有的参考值具有相同
的偏倚。这个偏倚必须为 0，该线性才可被接受。 不可接受情况下进行原因分析： --仪器需要校准，缩短校准周期； --仪器、设备或夹具的磨损； --维护保养不好-空气、动力、液体、过滤器、腐蚀、尘土、清洁； --基准的磨损或损坏，基准的误差-最小/最大； --不适当的校准（没有涵盖操作范围）或使用基准设定； --仪器质量不好-设计或符合性； --缺乏稳健的仪器设计或方法； --应用了错误的量具； --不同的测量方法-作业准备、载入、夹紧、技巧； --随着测量尺寸不同， （量具或零件）变形量不同； --环境-温度、湿度、振动、清洁； --错误的假设，应用的常数不对； --应用-零件数量、位置、操作者技能、疲劳、观测误差（易读性、 视差） 。 以上具体请看《测量系统分析》 （第三版）的 P92-P96。
实验一 线性尺寸测量
实验一线性尺寸测量1．实验目的（1）了解所用测量仪器的结构原理，并熟悉其调整和使用方法；（2）掌握比较测量法的测量原理；（3）熟悉量块的使用和维护。
2．原理（1）光学比较仪的测量原理即自准直原理——从物镜焦点发出的光线，经物镜后变为一束平行光线，投射到平面反射镜上。
若平面反射镜垂直于物镜主光轴，则从反射镜反射回来的光束由原光路回到焦点，即像点与焦点重合。
若被测尺寸变动，测杆便推动反射镜转动一个角度，则反射镜与物镜主光轴不垂直，其像点与焦点也不重合。
测量像点与焦点的偏移量便可确定被测尺寸的变动量。
（2）内径指示表的测量原理用内径指示表测量孔径的测量原理是相对（比较）测量。
测量前，可用具有确定尺寸的标准环规或量块组来调整指示表的示值零位。
测量时，指示表的示值即为实际被测孔径对标准值的偏差。
3．试剂和仪器设备（1）量块（83块/套）；（2）内径指示表；（3）活塞销零件，发动机气缸套。
4．实验步骤（1）用立式光学比较仪测量活塞销直径（选做）①选择测头；②选取量块组成量块组；③用量块组调整量仪的示值零位；④测量活塞销直径；⑤按图纸要求判断被测活塞销直径的合格性。
（2）用内径指示表测量缸套孔径①选取量块组成量块组，将量块组装入夹子中夹紧，构成标准内尺寸卡规（或使用具有确定内尺寸的标准环规）；②选择合适的固定测头，并安装到指示表上；③用量块组（或标准环规）调整指示表的示值零位；④测量缸套孔径；5．实验数据及其处理（1）实际被测尺寸等于标准值与指示值的代数和；（2）测量时应在均布的三个横截面上对相互垂直的两个方位上的直径分别进行测量，取它们的平均值作为测量结果。
（3）按图样上标注的要求判断被测孔径的合格性。
6．问题讨论（1）怎样正确选用量块？使用量块时应注意哪些问题？（2）用内径指示表测量孔径时引起测量误差的主要因素有哪些？。
射频电路(系统)的线性指标及测量方法
射频电路（系统）的线性指标及测量方法蒋治明1、线性指标1.1 1dB压缩点(P1dB——1dB compression point )射频电路（系统）有一个线性动态范围，在这个范围内，射频电路（系统）的输出功率随输入功率线性增加。
这种射频电路（系统）称之为线性射频电路（系统），这两个功率之比就是功率增益G。
随着输入功率的继续增大，射频电路（系统）进入非线性区，其输出功率不再随输入功率的增加而线性增加，也就是说，其输出功率低于小信号增益所预计的值。
通常把增益下降到比线性增益低1dB时的输出功率值定义为输出功率的1dB压缩点,用P1dB表示（见图1）。
典型情况下，当功率超过P1dB时，增益将迅速下降并达到一个最大的或完全饱和的输出功率，其值比P1dB大3dB～4dB。
1db压缩点愈大，说明射频电路（系统）线性动态范围愈大。
图1 输出功率随输入功率的变化曲线1.2 三阶交调截取点（IP3——3rd –order Intercept Poind）当两个正弦信号经过射频电路（系统）时，此时由于射频电路（系统）的非线性作用，会输出包括多种频率的分量，其中以三阶交调分量的功率电平最大，它是非线性中的三次项产生的。
假设两基频信号的频率分别是F1和F2，那么，三阶交调分量的频率为2F1-F2和2F2-F1。
图2是输入信号和输出信号的频谱图。
图3反映了基频（一阶交调）与三阶交调增益曲线，当输入功率逐渐增加到IIP3时，基频与三阶交调增益曲线相交，对应的输出功率为OIP3。
IIP3与OIP3分别被定义为输入三阶交调载取点（Input Third-order Intercept Point）和输出三阶交调载取点（Output Third-order Intercept Point）。
三阶交调截取点（IP3）是表示线性度或失真性能的重要参数。
IP3越高表示线性度越好和更少的失真。
图3中A 线是基频（有用的）信号输出功率随输入功率变化的曲线，B 线是三阶失真输出功率随输入功率变化的曲线。
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一、检验项目：原材料的线性成品线性
二、定义：量测待测物(以下简称为试片)测量电压值与理论电压值的误差
三、适用范围：本标准检验方法适用于公司所有须做线性测试之试片。
四、目的：本实验的目的在测试试片的导电情形是否良好。
五、检验方法：
Ⅰ、方法一（适用于纳米银导电材料）
1. 样品准备：SNWFilm
2. 使用装置：激光机、万用表、稳压电源
3. 测量原理
a)在导电膜上刻上电极(宽度10mm)，给电极加5V(DC)电压，然后用电压表测量待测
位置的电压，如图1所示
b)按图2所示分好测试点，（长220mm、23个测试点）A点、B点电压在所示位置取
得，10mm为距离测一个点
c)测量参数：E A：输出电压测量起点A处的电压
E B：输出电压测量终点B处的电压
E X：输出电压测量任意点X处的电压
E XX：理论计算电压
L：线性
计算公式：
E XX（理论电压）=E AB*X/(B-A)+ E A
L(%)= （︱E XX- E X︱）÷（E B- E A）×100
图 1
图 2
V
A(0)
mm
5V 0V EB
图 3
4. 操作步骤：
a) 设计图纸，开好材料，覆膜 b) 激光镭射
c) 将稳压电源调至ON ，电压调至５V 。
d) 将稳压电源正极夹至右边银棒、负极夹至左边银棒。
e) 将万用表表负极夹至右边银棒，正极拿来测试。
f) 将试片置入定位，开始测试并记录分压值。
g) 将所测得之电压值输入表（一）～表（五），计算其线性。
Ⅱ、方法二（适用于成品）
1. 样品准备：成品
2. 使用仪器：线性测试机
3. 测量原理及要求
※线性度的定义：当施加DC 5V在“X”方向电极和“Y”方向电极时，用笔（Special stylus）压点（X,Y）以得到各自输出电压（E OX,E OY）。
如Fig.1（测量关系）。
在A和B的区域内（Active area），在X，Y方向各以2mm为间隔划直线。
如Fig2。
※注：线性测量范围：A.A区边缘单边内缩2mm。
测量关系
测
量
Y
坐
标
Y
（X+电极）
Vcc
（Y+电极）
测量X坐标
X
Fig 2
※计算公式：V XX（理论电压）=V AB*X/(B-A)+ V A
L(%)= （︱V XX- V X︱）÷（V B- V A）×100
V A：输出电压测量起点A处的电压
V B：输出电压测量终点B处的电压
V X：输出电压测量任意点X处的电压
V XX：理论计算电压
L：线性
4. 操作步骤：见作业指导书
六、检验数据处理：
１、表（一）：分压表＆线性表。
２、表（二）：线性错误及异常对照表。
３、表（三）：线性错误及异常统计表。
４、表（四）：平均线性分析图。
５、表（五）：平均电压分析图。