光谱仪的性能指标
xrf(x荧光光谱仪)技术指标

xrf(x荧光光谱仪)技术指标XRF 技术指标基本性能参数分辨率:能量分辨率,以电子伏特 (eV) 表示,描述仪器区分不同能量 X 射线的能力。
灵敏度:检测下限,以质量浓度或计量单位表示,描述仪器检测特定元素的最低水平。
稳定性:仪器在一段时间内保持稳定测量结果的能力,通常用计数率的变化表示。
重复性:相同样品在相同测量条件下多次测量的结果一致性,通常用相对标准偏差 (RSD) 表示。
线性范围:仪器测量结果与样品中元素浓度之间保持线性关系的浓度范围。
激发源:产生 X 射线辐射的组件,可以是 X 射线管或放射性同位素。
光学元件:柱状准直器、单色器和探测器,用于处理来自激发源的 X 射线,以提高分辨率和信噪比。
探测器:光电倍增管或半导体探测器,用于检测 X 射线并将其转换为电信号。
数据处理参数分析软件:用于处理和分析 XRF 谱数据的软件,包括定性和定量分析功能。
校准:使用已知浓度的标准样品建立测量结果与元素浓度之间的关系。
定量方法:用于计算样品中元素浓度的算法,例如基本参数法和校准曲线法。
尺寸:仪器的物理尺寸和重量。
功耗:仪器在运行期间消耗的电力。
工作温度:仪器正常运行所需的温度范围。
环境要求:仪器正常运行所需的相对湿度、气压和振动水平等环境条件。
其他考虑因素应用:仪器的适用范围,例如元素分析、材料表征或环境监测。
样品类型:仪器可以分析的样品类型,例如固体、液体或气体。
自动化程度:仪器自动执行测量、处理和分析的能力。
用户界面:仪器操作的难易程度和直观性。
技术支持:制造商提供的技术支持水平,例如维护、维修和软件更新。
红外光谱仪参数

2.6激光器:长寿命半导体激光器。
2.7网络化:红外主机与计算机之间可通过无线网卡连接。
2.8投标产品必需通过国家质量监督总局的认证,并提供由中国质量监督总局签发的形式批准证书。
2.9仪器内置包含各种标准物质的IVU校验系统,通过自检程序可对仪器的各项指标随时进行自检,并给出符合GLP标准的自检报告。
2.11红外软件:中文版处理软件,包括:红外控制、谱图处理、数据转换、多组分定量等操作软件;曲线分峰拟合软件;H2O/CO2自动补偿软件;自检软件。
2.12红外光源:SiC陶瓷光源,空气冷却。
3.附件
3.1ATR附件,光谱范围375-7500cm-1。
3.2透射测量附件
3.3固体液体制样工具箱,包括:可拆卸液体池,10个垫片,KBr窗片(打孔),KBr窗片(平板),CaF2窗片(打孔),CaF2窗片(平板);KBr25mm粉末,50g;不锈钢刮铲;玛瑙研钵(4cm);注射器,2ml;样品卡(10片)。
3.415吨国产压片机和13mm模具
3.5国产品牌计算机2台。
进口
名称
数量
参数
备注
红外光谱仪
1
1.傅里叶变换红外光谱仪
2.性能参数:
2.1光谱范围:7,500-375cm-1
*2.2分辨率:优于0.8 cm-1,连续可调,最小步长优于0.1cm-1。
*2.3信噪比:优于40000:1
*2.4干涉仪:采用立体直角反射镜,定镜恒定不动,无需机械动态跟踪调整准直,光路永久准直,质保不低于10年。
edinburgh instruments fls1000指标

性能指标
•荧光光谱:
1. 波长范围:激发光源250 nm-2400 nm连续可调,发射波长250-980 nm/950-1700 nm;
2. 信噪比:30,000 : 1,激发侧/发射侧均为双光栅;
3. 分辨率:波长准确度:±0.2nm;波长重复性:±0.1nm;
4. 寿命测试范围:寿命100ps - 10s
5. 测试模式:稳态光谱(发射/激发/同步光谱),瞬态寿命,77-500K连续变温/气氛条件下的稳态瞬态测试等。
主要应用
稳态/瞬态变温全波谱荧光光谱仪主要应用于荧光物质的化学结构分析以及有荧光特性成分的定量分析。
被广泛应用于荧光粉、激光晶体、掺杂玻璃、光捕获材料、半导体材料、热释材料、光氧化、荧光探针、单线态氧、基于荧光和磷光的材料鉴别等多种样品(液体、粉末、薄膜)的分析。
本仪器功能齐全,配备多种模块和附件,可用于分析发光材料的光谱特性、瞬态寿命、绝对量子产率、不同温度条件下的光谱性能等。
安捷伦240原子吸收光谱仪参数

安捷伦240原子吸收光谱仪是一种常用的分析仪器,广泛应用于环境监测、药物分析、食品安全等领域。
了解仪器的参数对于准确使用和解读测试结果至关重要。
本文将从安捷伦240原子吸收光谱仪的性能指标、技术参数、工作原理等多个方面进行详细介绍。
一、性能指标1. 分辨率安捷伦240原子吸收光谱仪的分辨率通常在0.2-0.5nm之间,这意味着它可以区分出波长差异较小的光谱线,提高了测试的准确性。
2. 灵敏度灵敏度是衡量仪器检测能力的重要指标,安捷伦240原子吸收光谱仪在低浓度下的检测能力较强,能够满足对微量元素的快速检测需求。
3. 稳定性仪器的稳定性直接影响测试结果的准确性,安捷伦240原子吸收光谱仪在长时间测试过程中能保持良好的稳定性,减少了测试误差。
二、技术参数1. 光源类型安捷伦240原子吸收光谱仪采用中心偏振的铈灯作为光源,该光源稳定、寿命长,能够提供稳定的光谱信号。
2. 检测方式安捷伦240原子吸收光谱仪采用火焰原子吸收法进行检测,该方法对样品的前处理要求较低,适用于多种元素的检测。
3. 数据处理仪器配备了专业的数据处理软件,能够实现光谱信号的采集、分析和存储,为用户提供便捷的数据处理方案。
三、工作原理1. 原子吸收光谱仪的工作原理是利用样品中的元素原子对特定波长的光进行吸收的现象来进行元素分析。
安捷伦240原子吸收光谱仪通过光源激发样品中的原子,检测吸收光信号,然后根据光谱特征进行元素定量分析。
2. 仪器通过对样品进行预处理、光源激发、光谱信号检测和数据处理等步骤,最终得出样品中各元素的含量。
四、应用领域安捷伦240原子吸收光谱仪广泛应用于环境监测、煤矿安全监测、地质勘探、食品安全检测等领域。
其快速、精确的分析能力受到用户的一致好评。
总结安捷伦240原子吸收光谱仪作为一种先进的分析仪器,在性能指标、技术参数、工作原理等方面均具备优异的特点,能够满足不同领域的元素分析需求。
掌握仪器的参数对于用户准确地使用和评价测试结果非常重要。
原子吸收光谱仪性能要求及技术参数

原子吸收光谱仪性能要求及技术参数一、设备名称:原子吸收光谱仪二、用途:用于样品中重金属元素的定量测定三、配置1、火焰石墨炉一体化原子吸收光谱仪主机一套2、石墨炉自动进样器一套*3、石墨炉高清摄像可视系统一套4、配套氢化物发生器一套5、冷却水循环装置一台6、进口静音空压机一台7、长寿命石墨管40支8、样品杯:1.5ml聚酯样品杯10000个9、原装元素空心阴极灯12只(其中双元素复合灯6支)10、电脑,打印机一套11、乙炔,氩气、钢瓶及气阀等各一套四、技术参数要求*1、仪器系统配置:对称式一体化原子吸收光谱分析系统,包括火焰分析系统和石墨炉分析系统、石墨炉自动进样器,火焰与石墨炉测定可连续进行,软件切换,确保数据的稳定性、重复性;配备石墨炉高清摄像头可视系统。
2、操作环境2.1电源:交流电220V±10%,50/60Hz2.2环境温度:10-35℃2.3环境湿度:20%-80%3、光谱仪主机系统3.1光学系统3.1.1高性能全反射光学系统,严格密封*3.1.2火焰与石墨炉原子化系统完全对称,两系统切换无须重新校准光路,操作方便*3.1.3单色器:采用Echelle中阶梯光栅,与石英棱镜组成二维色散系统;*3.1.4色散率0.5nm/mm3.1.5吸光度范围-0.150-3.000A*3.1.6波长范围:180-900nm,自动寻峰和扫描3.1.7光栅刻线密度:≥1800条/mm3.1.8狭缝:0.1,0.2,0.5,1.0nm可调,自动调节,自动设定波长狭缝宽度和能量3.1.9波长设定:全自动检索,自动波长扫描*3.1.10焦距:≤300mm,紧凑式光学单元,减小光能量损失。
3.1.11噪声:<0.003A3.1.12仪器光谱分辨能力:可分辨279.5nm和279.8nm锰双线,且光谱通带为0.2nm/mm时,两线间峰谷能量≤30%3.1.13光路结构:单光束/双光束自动切换,通过软件自动切换3.1.14灯座:不少于6灯位自动转换灯架,全自动切换;3.1.15可同时预热位数:不少于6位3.1.16灯电流设置:0-30mA,计算机自动设定4、背景校正技术,均可校正达3A的背景*4.1火焰部分:独特的四线氘灯光源背景校正系统,校正频率:300Hz*4.2石墨炉部分:同时具有三种扣背景方式4.2.1独特的QuadLine四线氘灯光源背景校正;4.2.2横向交流塞曼背景校正(磁场强度0.85T);*4.2.3四线氘灯与横向交流塞曼联合背景校正5原子化系统5.1火焰分析系统技术要求5.1.1燃烧头:燃烧缝宽度经过最佳化的5cm或10cm缝长全钛燃烧头,高度和角度可调,耐高盐耐腐蚀,带识别密码*5.1.2雾化器:耐腐蚀Pt/Ir合金毛细管与聚四氟乙烯喷嘴雾化器,可使用氢氟酸燃烧头位置调整:高度自动调整,可旋转5.1.3气体控制:全自动计算机控制,流量自动优化,自动调节燃气、助燃气流量,并自动最佳化5.1.4撞击球:惰性聚四氟乙烯碰撞球与扰流器,可在点火状态下进行外部调节和优化最佳位置5.1.5安全系统:具有全套的安全联锁系统,自动监控燃烧头类型,火焰状态,水封,气体压力,雾化系统压力,废液瓶液面高度等,出现异常或断电时自动联锁和关火5.1.6点火方式:自动点火,自动识别燃烧头类型5.1.7代表元素检测指标:Cu:检出限≤0.002mg/L(ppm),重复7次,RSD≤0.5%*5.1.8灵敏度:Cu5ppm,吸光度≥1.0Abs5.2石墨炉分析系统*5.2.1石墨管加热方式:要求纵向加热方式,最高加热温度可达3000℃*5.2.2石墨炉加热速度:最高≥3500℃/秒,连续可调5.2.3加热控温方式:全自动电压反馈和精密光纤控温系统;控温精度<±10℃;5.2.4程序升温:可进行20段线性升温与21段平台保持,更加精准控制原子化温度;*5.2.5外置式石墨炉加热电源,避免交流电场干扰;5.2.6有过热保护和报警功能,石墨管自动格式化功能,5.2.7代表元素检测指标:2ppbCd溶液连续测定七次的RSD≤3%5.2.8气体控制:计算机自动控制,内外气流分别单独控制*5.2.9具有高清石墨炉可视系统,准确观察石墨炉进样毛细管尖的位置,进行精确调节,确保结果的重现性。
直读光谱仪验收标准

直读光谱仪验收标准一、性能指标1. 光谱范围:直读光谱仪的光谱范围应符合设备规格书中的要求。
2. 分辨率:直读光谱仪的分辨率应小于或等于设备规格书中的规定值。
3. 检出限:直读光谱仪的检出限应符合设备规格书中的要求。
4. 重复性:直读光谱仪的重复性应小于或等于设备规格书中的规定值。
5. 稳定性:直读光谱仪在连续运行期间,稳定性应符合设备规格书中的要求。
二、配件数量1. 主机:一台。
2. 电源适配器:一个。
3. 数据线:一根。
4. 使用说明书:一份。
5. 保修卡:一份。
6. 其他必要的配件和工具。
三、外观检查1. 外壳完整性:外壳应无破损、划痕、变形等可见缺陷。
2. 标签:仪器上应贴有明显的型号、序列号和生产日期标签。
3. 控制面板:控制面板应无明显划痕,按键和旋钮应能正常工作。
4. 显示器:显示器应显示清晰,无亮点、坏点和色差等问题。
5. 其他部件:如通风口、散热器等部件应清洁无尘,连接牢固。
四、功能测试1. 开机自检:接通电源后,仪器应能正常启动并完成自检程序。
2. 激发光源:激发光源应能正常点亮,稳定运行,并可调节亮度及照射时间。
3. 测量功能:仪器应对标准样品进行测量,并可自动计算并显示元素含量。
测量结果应符合设备规格书中的要求。
4. 数据处理功能:仪器应具备基本的图像处理功能,如平滑、积分、扣背景等,并且能够输出处理结果。
5. 故障报警:仪器应具有故障自诊断功能,当出现异常情况时,应有明确的报警提示。
6. 其他附加功能:如打印机接口、网络接口等,应能正常工作。
如有特殊功能如气体分析等,也应进行相应的测试验证。
五、计量器具1. 量程范围:计量器具的量程范围应与直读光谱仪的测量范围相匹配。
2. 精度:计量器具应有足够的精度以保证测量结果的准确性。
一般而言,精度应优于直读光谱仪的重复性和稳定性指标。
3. 稳定性:计量器具在连续使用过程中应保持稳定的性能。
波长 pms分解率

波长 pms分解率波长pms分解率是指光谱仪在测量光的频率时所能达到的精确度。
光谱仪是一种用来分析光的仪器,它可以将光分解成不同波长的成分,并测量它们的强度。
波长pms分解率越高,表示光谱仪能够更准确地测量光的频率,分辨不同波长的光线。
波长分解率的大小取决于光谱仪的设计和技术。
通常,光谱仪的分辨率是通过一个参数来描述的,即波长pms分辨率。
该参数定义为测量光谱中两个波长之间的最小可分辨距离。
例如,如果光谱仪的波长分辨率为1 pms,则相邻两个波长之间的差异必须大于1 pms 才能被准确测量出来。
波长分辨率的大小对于光谱分析非常重要。
如果波长分辨率较低,即光谱仪不能准确地分辨出不同波长的光线,那么在分析光谱时可能会出现误差。
例如,在某些应用中,我们需要精确测量特定波长的光线强度,如果波长分辨率较低,可能会导致测量结果的不准确。
提高光谱仪的波长分辨率有几种方法。
一种常见的方法是增加光谱仪的光学路径长度,这样可以增加光束的分散程度,从而提高分辨率。
另一种方法是使用更高质量的光学元件和探测器,以减少光学系统中的损耗和噪声,从而提高分辨率。
波长分辨率的提高对于许多领域都具有重要意义。
在天文学中,高分辨率的光谱仪可以帮助科学家们更好地研究星系和行星的性质。
在生物医学中,高分辨率的光谱仪可以用于检测和诊断疾病。
在材料科学中,高分辨率的光谱仪可以用于研究材料的结构和性能。
波长pms分辨率是衡量光谱仪性能的重要指标之一。
通过提高波长分辨率,我们可以更准确地测量光的频率,并分析光的性质。
随着技术的不断进步,相信未来光谱仪的波长分辨率会越来越高,为各个领域的科学研究和应用提供更多可能性。
光谱仪重要参数

光谱仪重要参数定义◆CCD电荷耦合器件(Charger Coupled Device,缩写为CCD ),硅基光敏元件的响应范围在短波近红外区域。
◆PDA二极管阵列(Photodiode Array,缩写为PDA).光电二极管阵列是由多个二极管单元(象素)组成的阵列,单元数可以是102,256或1024。
当信号光照射到光电二极管上时,光信号就会转换成电信号。
大部分光电二极管阵列都包括读出/积分放大器一体式的集成化信号处理电路。
光电二极管的优点是在近红外灵敏度高,响应速度快;缺点是象元数较少、在紫外波段没有响应。
◆薄型背照式薄型背照式电荷耦合器件(BT—CCD,Back Thinned Charge Coupled Device),采用了特殊的制造工艺和特殊的锁相技术。
首先,与一般CCD相比,硅层厚度从数百微米减薄到20μm以下;其次,它采用背照射结构,因此紫外光不必再穿越钝化层。
因此,不仅具有固体摄像器件的一般优点,而且具有噪声低,灵敏度高、动态范围大的优点。
BTCCD有很高的紫外光灵敏度,它在紫外波段的量子效率可以看到,在紫外波段,量子效率超过40%,可见光部分超过80%,甚至可以达到90%左右。
可见,BTCCD不仅可工作于紫外光,也可工作于可见光,是一种很优秀的宽波段检测器件。
◆狭缝光源入口。
狭缝面积影响通过的光强度。
狭缝宽度影响光学分辨率。
◆暗电流未打开光谱仪激发光源时,感光器件接收到的光电信号。
主要影响因素有温度,电子辐射等。
◆分辨率光学分辨率定义为光谱仪可以分开的最小波长差。
要把两个光谱线分开至少要把它们成象到探测器的两个相临象元上。
分辨率依赖于光栅的分辨本领、系统的有效焦长、设定的狭缝宽度、系统的光学像差以及其它参数。
光栅决定了波长在探测器上可分开的程度(色散),这对于分辨率来说是一个非常重要的变量。
另一个重要参数是进入到光谱仪的光束宽度,它基本上取决于光谱仪上安装的固定入射狭缝或入射光纤芯径(当没有安装狭缝时)。
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光谱学测量的基础是测量光辐射与波长的对应关系。
一般来说,光谱学测量的直接结果是由很多个离散的点构成曲线,每个点的横坐标(X轴)是波长,纵坐标(Y轴)是在这个波长处的强度。
因此,一个光谱仪的性能,可以粗略地分为下面几个大类:
1. 波长范围(在X轴上的可以测量的范围);
2. 波长分辨率(在X轴上可以分辨到什么程度的信号变化);
3. 噪声等效功率和动态范围(在Y轴上可以测量的范围);
4. 灵敏度与信噪比(在Y轴上可以分辨到什么程度的信号变化);
5. 杂散光与稳定性(信号的测量是否可靠?是否可重现);
6. 采样速度和时序精度(一秒钟可以采集多少个完整的光谱?采集光谱的时刻是否精确?)1. 波长范围
波长范围是光谱仪所能测量的波长区间。
最常见的光纤光谱仪的波长范围是
400nm-1100nm,也就是可以探测可见光和一部分近红外的光。
使用新型探测器可以使这个范围拓展至200nm-2500nm,即覆盖紫外、可见和近红外波段。
光栅的类型以及探测器的类型会影响波长范围。
一般来说,宽的波长范围意味着低的波长分辨率,所以用户需要在波长范围和波长分辨率两个参数间做权衡。
如果同时需要宽的波长范围和高的波长分辨率,则需要组合使用多个光谱仪通道(多通道光谱仪)。
2. 波长分辨率
顾名思义,波长分辨率描述了光谱仪能够分辨波长的能力,最常用的光谱仪的波长分辨率大约为1nm,即可以区分间隔1nm的两条谱线。
Avantes公司可以提供的最高的波长分辨率为0.025nm。
波长分辨率与波长的取样间隔(数据的x坐标的间隔)是两个不同概念。
一般来说,高的波长分辨率意味着窄额度波长范围,所以用户需要在波长范围和波长分辨率两个参数间做权衡。
如果同时需要宽的波长范围和高的波长分辨率,则需要组合使用多个光谱仪通道(多通道光谱仪)。
3. 噪声等效功率和动态范围
当信号的值与噪声的值相当时,从噪声中分辨信号就会非常困难。
一般用与噪声相当的信号的值(光谱辐照度或光谱辐亮度)来表征能一个光谱仪所能够测量的最弱的光强(Y轴的最小值)。
噪声等效功率越小,光谱仪就可以测量更弱的信号。
狭缝的宽度、光栅的类型、探测器的类型等等参数都会影响噪声等效功率。
因为这些参数也会影响波长范围和波长分辨率,用户需要在这些指标间做出取舍。
对探测器制冷(Avantes公司的制冷型光谱仪)有助于减小探测器的热噪音,优化探测器检测弱光的能力。
动态范围描述一个光谱仪所能够测量到的最强的信号与最弱的信号的比值。
最强的信号为光谱仪在信号不饱和情况下,所能测量的最大信号值,最弱的信号用上述的噪声等效功率衡量。
动态范围主要受制于探测器的类型。
传统上,动态范围是影响测量方便性的一个很关键的指标,但目前大部分光纤光谱仪都可以通过调整积分时间的方式等效地扩大动态范围,因此,动态范围一般不会对用户的测量带来困扰。
4. 灵敏度与信噪比
灵敏度描述了光谱仪把光信号变成电子学信号的能力,高的灵敏度有助于减小电路本身的噪声对结果影响。
狭缝的宽度、光栅的类型、探测器的类型以及电路的参数都会影响灵敏度。
衍射效率高的光栅和量子效率高的探测器都有利于提高光谱仪的灵敏度。
人为地调高前置放大电路的放大倍数也会提高名义上的灵敏度,但并不一定有助于实际的测量。
宽的狭缝会改善灵敏度,但也会降低分辨率,因此,需要用户综合考虑和权衡。
光谱仪的信噪比定义为:光谱仪在强光照射下,接近饱和时的信号的平均值与信号偏离平均值的抖动值(以标准偏差横向)的比。
需要注意的是,因为定义中没有对光源做任何限制,使用这个定义所测量到的信噪比并不能等同于用户在实际实验中所能实现的信噪比。
光谱仪的信噪比主要受探测器限制。
通过光谱仪电路的平均功能累加信号,可以提高实际测量中的信噪比。
5. 干扰与稳定性
实际光谱仪与理想光谱仪的重要区别之一是其内部存在杂散光等干扰。
杂散光会影响信号的准确性,并对测量弱信号带来麻烦。
特殊设计的低杂散光光路能够降低光路中的杂散光。
光谱仪的光路和探测器都不可避免地随着环境而变化,例如,环境温度的变化会导致光谱仪波长(X轴)的漂移。
对光路和探测器做特殊处理能够增强光谱仪的长期稳定性。
然而,这些特殊处理会增加光谱仪的硬件成本。
6. 采样速度和时序精度
Avantes公司的标准光谱仪可以在一秒钟内采集约900幅完整的光谱。
当需要研究在更短时间内的光谱变化时,更快速的光谱仪可以在一秒钟内采集高达8000幅光谱。
然而,这些光谱仪往往在波长分辨率等指标上不能与标准光谱仪媲美,用户也必须综合考虑各个指标。
光谱仪必须具备好的时序性能方能捕捉到很短的脉冲信号。
不同类型的光谱仪的时序精度差别很大,性能好的可以到纳秒量级的时间精度,而性能差的只能到毫秒量级的时间精度。