MS电荷密度图
第五章 MIS结

理想 M I S 结构在正偏和负偏时,半导体表面可有三种情形: 积累 P型 耗尽 反型
能带向下弯曲增加 能带向下弯曲 能带向上弯曲, 多数载流子耗尽 本征能级与费米能级 价带顶接近费米能级 在表面相交, 多数载流子在表面处积累 表面处的少数载流子 多于多数载流子 理想MIS二极管在V≠ 0时的三种能带图。 (6)
2ε i C = [1 + V ]−1 / 2 Ci qN Aε S d 2
2
(20)
QS = −(2qN Aε sψ s )1/ 2
dQS ε s CD = − = dψ s W
5)V> ψB , 反型区
(1) (2) (3) (4) (5)
ψS= ψB:弱反型开 始。 ψS=2 ψB:强反型开 始。 由于电容增加依赖 于电子(少子)密度 对外加交流信号的 跟随能力,不同的 频率下,将有不同 的表现: • 低频下, 总电容减少到 一个极小值再增加 • 高频下电容不增加。
(1)
(2) (3) (4) (5)
4)V>0,耗尽开始, 耗尽区的表面势范 围:ψS=0 ~ψB 随着外加偏压的增 加,耗尽区宽度增 加,半导体电容减 小。总电容减小。 半导体表面耗尽 时,耗尽区的电离 受主为:QS =-qNAW
qN AW 2 M I S系统的电容 - 电压曲线 表面势:ψ s = 2ε s
空间电荷 半导体体内,电子和空穴密度与ψ的关系:
n p = n po exp(qψ / kT ) = n po exp(βψ ) p p = p po exp(− qψ / kT ) = p po exp(− βψ )
P型半导体体内电 子,空穴平衡密度 半导体表面,电子和空穴密度与ψs的关系:
β = q / kT
MS计算能带图分析

能带图的横坐标是在模型对称性基础上取的K点。
为什么要取K点呢?因为晶体的周期性使得薛定谔方程的解也具有了周期性。
按照对称性取K点,可以保证以最小的计算量获得最全的能量特征解。
能带图横坐标是K点,其实就是倒格空间中的几何点。
其中最重要也最简单的就是gamma那个点,因为这个点在任何几何结构中都具有对称性,所以在castep里,有个最简单的K点选择,就是那个gamma 选项。
纵坐标是能量。
那么能带图应该就是表示了研究体系中,各个具有对称性位置的点的能量。
我们所得到的体系总能量,应该就是整个体系各个点能量的加和。
记得氢原子的能量线吧?能带图中的能量带就像是氢原子中的每条能量线都拉宽为一个带。
通过能带图,能把价带和导带看出来。
在castep里,分析能带结构的时候给定scissors这个选项某个值,就可以加大价带和导带之间的空隙,把绝缘体的价带和导带清楚地区分出来。
DOS叫态密度,也就是体系各个状态的密度,各个能量状态的密度。
从DOS图也可以清晰地看出带隙、价带、导带的位置。
要理解DOS,需要将能带图和DOS 结合起来。
分析的时候,如果选择了full,就会把体系的总态密度显示出来,如果选择了PDOS,就可以分别把体系的s、p、d、f状态的态密度分别显示出来。
还有一点要注意的是,如果在分析的时候你选择了单个原子,那么显示出来的就是这个原子的态密度。
否则显示的就是整个体系原子的态密度。
要把周期性结构能量由于微扰裂分成各个能带这个概念印在脑袋里。
最后还有一点,这里所有的能带图和DOS的讨论都是针对体系中的所有电子展开的。
研究的是体系中所有电子的能量状态。
根据量子力学假设,由于原子核的质量远远大于电子,因此奥本海默假设原子核是静止不动的,电子围绕原子核以某一概率在某个时刻出现。
我们经常提到的总能量,就是体系电子的总能量。
这些是我看书的体会,不一定准确,大家多多批评啊!摘要:本文总结了对于第一原理计算工作的结果分析的三个重要方面,以及各自的若干要点用第一原理计算软件开展的工作,分析结果主要是从以下三个方面进行定性/定量的讨论:1、电荷密度图(charge density);2、能带结构(Energy Band Structure);3、态密度(Density of States,简称DOS)。
MS电荷密度和差分密度用Origin作图

MS电荷密度和差分密度用Origin作图将电荷密度在MS中显示出来后,save为文件,然后将隐藏文件和扩展名都能显示,在结果文件夹中找到*.charg_frm 文件,格式改为*.txt1从origin中导入这个文件,得到4列数据,分别为a, b, c,和charge.一般的排序是先将a=1,对应的b,c不同,然后才是a=2的,以此类推.如果你想做(100)面,将b, c, charge列分别设为x, y, z轴,那么就只选中a=1对应的所有的b, c, charge数据,然后直接可以做出(100)面得电荷密度等高线图,通过调节,可以得到很好的图片。
2如果想得到(010)面的,将原来的数据的b列推至首列,然后选中首列,右键单击选择sort worksheet,这样就会对b列的数据按从小到大的顺序排列,而与之对应的a,c,charge 随之改变。
3按同样的方法可得到(010)面得电荷密度。
2、差分电荷密度MS中只能给出显示,存为文件后却无法打开。
昨天在一个会上问M C Payne这个问题,他解释说不是他的错,是公司的问题。
(具一个牛人说,可用命令行运行后,可得到数据文件。
还没试)。
如果就现在的差分密度图片如何在Origin中做出来呢?你需要做的也很简单。
将MS的差分密度图片显示后,隐藏其它(包括原子),存为.bmp文件。
然后在origin中新建一个空matrix表格。
从File的import中选择image,按照默认方式导入刚才的.bmp文件。
然后选择你需要的区域,点击右键形成新的Matrix表(其实现实的还是图片)。
再到view中的view mode选择数据,你会得到一个很奇怪的matrix表,别管他,直接对这个matrix做con tour图,你会得到差分密度图了,要想获得好的效果,需要很仔细地调节。
具体办法,实在太难写出来,等以后再说吧。
上面一张是根据下面MS给出的差分密度map用Origin做出来的。
MS电荷密度图能带结构和态密度分析

MS电荷密度图、能带结构、态密度的分析如何分析ZT]MS电荷密度图、能带结构、态密度的分析如何分析第一原理的计算结果用第一原理计算软件开展的工作,分析结果主要是从以下三个方面进行定性/定量的讨论:1、电荷密度图(chargedensity);2、能带结构(EnergyBand Structu re);3、态密度(Density of States,简称DOS)。
电荷密度图是以图的形式出现在文章中,非常直观,因此对于一般的入门级研究人员来讲不会有任何的疑问。
唯一需要注意的就是这种分析的种种衍生形式,比如差分电荷密图(def-ormatio n chargedensity)和二次差分图(differe nce chargedensity)等等,加自旋极化的工作还可能有自旋极化电荷密度图(spin-polariz ed chargedensity)。
所谓“差分”是指原子组成体系(团簇)之后电荷的重新分布,“二次”是指同一个体系化学成分或者几何构型改变之后电荷的重新分布,因此通过这种差分图可以很直观地看出体系中个原子的成键情况。
通过电荷聚集(accumul ation)/损失(depleti on)的具体空间分布,看成键的极性强弱;通过某格点附近的电荷分布形状判断成键的轨道(这个主要是对d轨道的分析,对于s或者p轨道的形状分析我还没有见过)。
分析总电荷密度图的方法类似,不过相对而言,这种图所携带的信息量较小。
能带结构分析现在在各个领域的第一原理计算工作中用得非常普遍了。
但是因为能带这个概念本身的抽象性,对于能带的分析是让初学者最感头痛的地方。
关于能带理论本身,我在这篇文章中不想涉及,这里只考虑已得到的能带,如何能从里面看出有用的信息。
首先当然可以看出这个体系是金属、半导体还是绝缘体。
Ms的一些操作

MS 电荷密度和差分密度用 Origin 作图的补充说明 1 1、Total density map 现在 MS 中 save 为文件, 当然你需要将你的隐藏文件和扩展名都能显示, 在结果文件夹中找到*.chrgm(好像 是).charg_frm 文件 从 origin 中导入这个文件,得到 4 列数据,分别为 a, b, c, 和 charge. 一般的排序是先将 a=1,对应的 b,c 不同,然后才是 a=2 的,以此类推. 如果你想做(100)面, 将 b, c, charge 列分别设为 x, y, z 轴,那么就只选中 a=1 对应的所有的 b, c, charge 数据,然后直接可以做出(100)面得电荷密度等高线图,通过调节,可以得到很好的图片。
(????怎么插图片啊???) 如果想得到 (010) 面的, 将原来的数据的 b 列推至首列, 然后选中首列,右键单击选择 sort worksheet,这样就会对 b 列的数据按从小到大的顺序 排列,而与之对应的 a,c,charge 随之改变。
按同样的方法可得到(010)面得电荷密度。
2、 差分电荷密度 MS 中只能给出显示, 存为文件后却无法打开。
昨天在一个会上问 M C Payne 这个问题,他解释说不是他的错,是公司的问题。
(具一个牛人说,可用命令行运行后,可 得到数据文件。
还没试) 。
如果就现在的差分密度图片如何在 Origin 中做出来呢? 你需要 做的也很简单。
将 MS 的差分密度图片显示后,隐藏其它(包括原子) ,存为.bmp 文件。
然 后在 origin 中新建一个空 matrix 表格。
从 File 的 import 中选择 image,按照默认方式导 入刚才的.bmp 文件。
然后选择你需要的区域,点击右键形成新的 Matrix 表(其实现实的还 是图片) 再到 view 中的 view mode 选择数据, 。
Ms的一些操作

MS 电荷密度和差分密度用 Origin 作图的补充说明 1 1、Total density map 现在 MS 中 save 为文件, 当然你需要将你的隐藏文件和扩展名都能显示, 在结果文件夹中找到*.chrgm(好像 是).charg_frm 文件 从 origin 中导入这个文件,得到 4 列数据,分别为 a, b, c, 和 charge. 一般的排序是先将 a=1,对应的 b,c 不同,然后才是 a=2 的,以此类推. 如果你想做(100)面, 将 b, c, charge 列分别设为 x, y, z 轴,那么就只选中 a=1 对应的所有的 b, c, charge 数据,然后直接可以做出(100)面得电荷密度等高线图,通过调节,可以得到很好的图片。
(????怎么插图片啊???) 如果想得到 (010) 面的, 将原来的数据的 b 列推至首列, 然后选中首列,右键单击选择 sort worksheet,这样就会对 b 列的数据按从小到大的顺序 排列,而与之对应的 a,c,charge 随之改变。
按同样的方法可得到(010)面得电荷密度。
2、 差分电荷密度 MS 中只能给出显示, 存为文件后却无法打开。
昨天在一个会上问 M C Payne 这个问题,他解释说不是他的错,是公司的问题。
(具一个牛人说,可用命令行运行后,可 得到数据文件。
还没试) 。
如果就现在的差分密度图片如何在 Origin 中做出来呢? 你需要 做的也很简单。
将 MS 的差分密度图片显示后,隐藏其它(包括原子) ,存为.bmp 文件。
然 后在 origin 中新建一个空 matrix 表格。
从 File 的 import 中选择 image,按照默认方式导 入刚才的.bmp 文件。
然后选择你需要的区域,点击右键形成新的 Matrix 表(其实现实的还 是图片) 再到 view 中的 view mode 选择数据, 。
MS电荷密度图

MS电荷密度图、能带结构、态密度的分析如何分析第一原理的计算结果用第一原理计算软件开展的工作,分析结果主要是从以下三个方面进行定性/定量的讨论:1、电荷密度图(charge density);2、能带结构(Energy Band Structure);3、态密度(Density of States,简称DOS)。
电荷密度图是以图的形式出现在文章中,非常直观,因此对于一般的入门级研究人员来讲不会有任何的疑问。
唯一需要注意的就是这种分析的种种衍生形式,比如差分电荷密图(deformation charge density)和二次差分图(difference charge density)等等,加自旋极化的工作还可能有自旋极化电荷密度图(spin-polarized charge density)。
所谓“差分”是指原子组成体系(团簇)之后电荷的重新分布,“二次”是指同一个体系化学成分或者几何构型改变之后电荷的重新分布,因此通过这种差分图可以很直观地看出体系中个原子的成键情况。
通过电荷聚集(accumulation)/损失(depletion)的具体空间分布,看成键的极性强弱;通过某格点附近的电荷分布形状判断成键的轨道(这个主要是对d轨道的分析,对于s或者p轨道的形状分析我还没有见过)。
分析总电荷密度图的方法类似,不过相对而言,这种图所携带的信息量较小。
能带结构分析现在各个领域的第一原理计算工作中用得非常普遍了。
但是因为能带这个概念本身的抽象性,对于能带的分析是让初学者最感头痛的地方。
关于能带理论本身,我在这篇文章中不想涉及,这里只考虑已得到的能带,如何能从里面看出有用的信息。
首先当然可以看出这个体系是金属、半导体还是绝缘体。
判断的标准是看费米能级和导带(也即在高对称点附近近似成开口向上的抛物线形状的能带)是否相交,若相交,则为金属,否则为半导体或者绝缘体。
对于本征半导体,还可以看出是直接能隙还是间接能隙:如果导带的最低点和价带的最高点在同一个k点处,则为直接能隙,否则为间接能隙。
MS电荷密度图 能带结构和态密度分析

MS电荷密度图、能带结构、态密度的分析如何分析ZT]MS电荷密度图、能带结构、态密度的分析如何分析第一原理的计算结果用第一原理计算软件开展的工作,分析结果主要是从以下三个方面进行定性/定量的讨论:1、电荷密度图(charge density);2、能带结构(Energy Band Structure);3、态密度(Density of States,简称DOS)。
电荷密度图是以图的形式出现在文章中,非常直观,因此对于一般的入门级研究人员来讲不会有任何的疑问。
唯一需要注意的就是这种分析的种种衍生形式,比如差分电荷密图(def-ormation charge density)和二次差分图(difference charge density)等等,加自旋极化的工作还可能有自旋极化电荷密度图(spin-polarized charge density)。
所谓“差分”是指原子组成体系(团簇)之后电荷的重新分布,“二次”是指同一个体系化学成分或者几何构型改变之后电荷的重新分布,因此通过这种差分图可以很直观地看出体系中个原子的成键情况。
通过电荷聚集(accumulation)/损失(depletion)的具体空间分布,看成键的极性强弱;通过某格点附近的电荷分布形状判断成键的轨道(这个主要是对d轨道的分析,对于s或者p轨道的形状分析我还没有见过)。
分析总电荷密度图的方法类似,不过相对而言,这种图所携带的信息量较小。
能带结构分析现在在各个领域的第一原理计算工作中用得非常普遍了。
但是因为能带这个概念本身的抽象性,对于能带的分析是让初学者最感头痛的地方。
关于能带理论本身,我在这篇文章中不想涉及,这里只考虑已得到的能带,如何能从里面看出有用的信息。
首先当然可以看出这个体系是金属、半导体还是绝缘体。
判断的标准是看费米能级和导带(也即在高对称点附近近似成开口向上的抛物线形状的能带)是否相交,若相交,则为金属,否则为半导体或者绝缘体。
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MS电荷密度图、能带结构、态密度的分析如何分析第一原理的计算结果用第一原理计算软件开展的工作,分析结果主要是从以下三个方面进行定性/定量的讨论:1、电荷密度图(charge density);2、能带结构(Energy Band Structure);3、态密度(Density of States,简称DOS)。
电荷密度图是以图的形式出现在文章中,非常直观,因此对于一般的入门级研究人员来讲不会有任何的疑问。
唯一需要注意的就是这种分析的种种衍生形式,比如差分电荷密图(deformation charge density)和二次差分图(difference charge density)等等,加自旋极化的工作还可能有自旋极化电荷密度图(spin-polarized charge density)。
所谓“差分”是指原子组成体系(团簇)之后电荷的重新分布,“二次”是指同一个体系化学成分或者几何构型改变之后电荷的重新分布,因此通过这种差分图可以很直观地看出体系中个原子的成键情况。
通过电荷聚集(accumulation)/损失(depletion)的具体空间分布,看成键的极性强弱;通过某格点附近的电荷分布形状判断成键的轨道(这个主要是对d轨道的分析,对于s或者p轨道的形状分析我还没有见过)。
分析总电荷密度图的方法类似,不过相对而言,这种图所携带的信息量较小。
能带结构分析现在各个领域的第一原理计算工作中用得非常普遍了。
但是因为能带这个概念本身的抽象性,对于能带的分析是让初学者最感头痛的地方。
关于能带理论本身,我在这篇文章中不想涉及,这里只考虑已得到的能带,如何能从里面看出有用的信息。
首先当然可以看出这个体系是金属、半导体还是绝缘体。
判断的标准是看费米能级和导带(也即在高对称点附近近似成开口向上的抛物线形状的能带)是否相交,若相交,则为金属,否则为半导体或者绝缘体。
对于本征半导体,还可以看出是直接能隙还是间接能隙:如果导带的最低点和价带的最高点在同一个k点处,则为直接能隙,否则为间接能隙。
在具体工作中,情况要复杂得多,而且各种领域中感兴趣的方面彼此相差很大,分析不可能像上述分析一样直观和普适。
不过仍然可以总结出一些经验性的规律来。
主要有以下几点:1)因为目前的计算大多采用超单胞(supercell)的形式,在一个单胞里有几十个原子以及上百个电子,所以得到的能带图往往在远低于费米能级处非常平坦,也非常密集。
原则上讲,这个区域的能带并不具备多大的解说/阅读价值。
因此,不要被这种现象吓住,一般的工作中,我们主要关心的还是费米能级附近的能带形状。
2)能带的宽窄在能带的分析中占据很重要的位置。
能带越宽,也即在能带图中的起伏越大,说明处于这个带中的电子有效质量越小、非局域(non-local)的程度越大、组成这条能带的原子轨道扩展性越强。
如果形状近似于抛物线形状,一般而言会被冠以类sp带(sp-like band)之名。
反之,一条比较窄的能带表明对应于这条能带的本征态主要是由局域于某个格点的原子轨道组成,这条带上的电子局域性非常强,有效质量相对较大。
3)如果体系为掺杂的非本征半导体,注意与本征半导体的能带结构图进行对比,一般而言在能新隙处会出现一条的、比较窄的能带。
这就是通常所谓的杂质态(doping state),或者按照掺杂半导体的类型称为受主态或者施主态。
4)关于自旋极化的能带,一般是画出两幅图:majority spin和minority spin。
经典的说,分别代表自旋向上和自旋向下的轨道所组成的能带结构。
注意它们在费米能级处的差异。
如果费米能级与majority spin的能带图相交而处于minority spin的能隙中,则此体系具有明显的自旋极化现象,而该体系也可称之为半金属(half metal)。
因为majority spin与费米能级相交的能带主要由杂质原子轨道组成,所以也可以此为出发点讨论杂质的磁性特征。
5)做界面问题时,衬底材料的能带图显得非常重要,各高对称点之间有可能出现不同的情况。
具体地说,在某两点之间,费米能级与能带相交;而在另外的k的区间上,费米能级正好处在导带和价带之间。
这样,衬底材料就呈现出各项异性:对于前者,呈现金属性,而对于后者,呈现绝缘性。
因此,有的工作是通过某种材料的能带图而选择不同的面作为生长面。
具体的分析应该结合试验结果给出。
(如果我没记错的话,物理所薛其坤研究员曾经分析过$\beta$-Fe的(100)和(111)面对应的能带。
有兴趣的读者可进一步查阅资料。
)态密度可以作为能带结构的一个可视化结果。
很多分析和能带的分析结果可以一一对应,很多术语也和能带分析相通。
但是因为它更直观,因此在结果讨论中用得比能带分析更广泛一些。
简要总结分析要点如下:1)在整个能量区间之内分布较为平均、没有局域尖峰的DOS,对应的是类sp带,表明电子的非局域化性质很强。
相反,对于一般的过渡金属而言,d轨道的DOS一般是一个很大的尖峰,说明d电子相对比较局域,相应的能带也比较窄。
2)从DOS图也可分析能隙特性:若费米能级处于DOS值为零的区间中,说明该体系是半导体或绝缘体;若有分波DOS跨过费米能级,则该体系是金属。
此外,可以画出分(波PDOS)和局域(LDOS)两种态密度,更加细致的研究在各点处的分波成键情况。
3)从DOS图中还可引入“赝能隙”(pseudo gap)的概念。
也即在费米能级两侧分别有两个尖峰。
而两个尖峰之间的DOS并不为零。
赝能隙直接反映了该体系成键的共价性的强弱:越宽,说明共价性越强。
如果分析的是局域态密度(LDOS),那么赝能隙反映的则是相邻两个原子成键的强弱:赝能隙越宽,说明两个原子成键越强。
上述分析的理论基础可从紧束缚理论出发得到解释:实际上,可以认为赝能隙的宽度直接和Hamiltonian矩阵的非对角元相关,彼此间成单调递增的函数关系。
4)对于自旋极化的体系,与能带分析类似,也应该将majority spin和minority spin分别画出,若费米能级与majority的DOS相交而处于minority的DOS的能隙之中,可以说明该体系的自旋极化。
5)考虑LDOS,如果相邻原子的LDOS在同一个能量上同时出现了尖峰,则我们将其称之为杂化峰(hybridized peak),这个概念直观地向我们展示了相邻原子之间的作用强弱。
以上是本人基于文献调研所总结的一些关于第一原理工作的结果分析要点。
期冀能对刚进入这个领域内的科研工作者有所启发。
受本人的水平所限,文章的内容可能会有理论上的不足甚至错误之处,希望大家指出,共同发展第一原理计算物理的方法和研究内容。
能带结构(翻译)在分子中可能的电子能级是分立的、量子化的。
但分子变得更大时,这些能级相互就会靠得更近。
在晶体里能级之间靠得非常近以致于形成了连续的带子,这些带子的能量具有实际的利用目的。
因此,晶体的电子结构可以用其能带结构来描述。
能带的数学描述无限晶体的电子结构用能带图来描述,能带图给出k空间——叫作布里渊(Brillouin)区——中各点的电子轨道的能量。
这与角分辨光电子能谱实验结果相一致。
k空间不是一个物理空间,它是对轨道成键性质的一种描述。
一个无限长的原子链中,轨道?相位可以是从全成键到全反键(这两个极端情况分别记为k=0和k=π/a)之间的任何状态。
其中有时是一条直线有三个成键原子再接着一个反?的原子的结合方式或者其他什么结合方式。
定义了空间后,对于某些原子k=0对应于全成键的对称性,而对于其他原子则是全反键对称的,这取决于原子轨道的对称性。
对于三维晶体k空间是三维的,(kx,ky,kz)。
k空间中的某些点具有特定的名称。
在各维空间中,符号“Γ”指的都是k=0的点,“Μ”指的都是k=π/a的点。
“Χ”、“Y”、“Κ”和“Α”指的是k=0在某些方向上以及k=π/a在其他方向上的点,这取决于晶体的对称性。
典型的能带结构图——称为spaghetti图——画出了沿着这些k点所对应的轨道能量,见图34.1。
这些符号在参考文献中有更相详细地讨论。
由于轨道展开成了能带,用于形成σ键或σ反键的轨道就展开成更宽的能带,π轨道则形成更窄的能带,而δ轨道则形成最窄的轨道。
计算带隙有时候研究者只需要知道晶体的带隙。
一旦一条完整的能带计算出来,通过观察自然就很容易知道带隙了。
但是计算全部能带可能会花费大量的工作,得到许多不必要的信息。
估算带隙有一些方法,但并不完全可靠。
只在布里渊区的Μ、Κ、Χ和Γ点进行能带结构计算还不足以形成一条能带,因为任何给定的能带的能量极小点和极大点有时会落在这些k点之间。
如果计算方法需要较高级别的CPU计算,有时就会进行这样的有限计算。
例如,在确定?否有必要进行高级别的完全计算时,就有可能先进行这种选点的高级别计算。
有些研究者用分子的计算结果来估计从HOMO到LUMO的带隙。
当分子变得更大时,这种带隙会变得更小,因此就有可能对一些按大小递增的分子进行量子力学计算,然后通过外推预测无限体系的带隙,这对于通常不是晶体的聚合物很有用。
这些体系也用到一维能带结构,因此必须假定它们是晶体或者至少是高度的有序的。
计算能带结构从头算和半经验计算可以得出能量,因而可以用来计算能带结构。
但是如果计算一个分子的能量耗时较长,那么计算布里渊区的一系列点则耗时更长,要是不需要太精确的结果,可以选用扩展休克尔方法来计算。
在能带计算中扩展休克尔方法有时叫作紧束缚近似。
近年来更倾向于使用从头算或密度泛函(DFT)方法。
就象分子计算那样,从头算需要用基组和一定的方法来计算能量,但计算能带时基组的选择与计算分子时有些不同。
拥有弥散函数的大基组在相邻的晶胞之间由于存在较大的重叠而发生收缩,这会造成线性相关性,使得方程不能自洽求解,为此常常用中小基组来解决上述问题。
用于分子计算的原子轨道线性组合(LCAO)方案也可用于晶体的计算,但这并不是唯一的选择。
事实上,以原子为中心的基函数组成布洛赫(Bloch)函数,布洛赫(Bloch)函数满足体系的平移对称性,但仍然使用LCAO的叫法。
其他有关基组的流行方法时平面波函数方法。
之所以提出平面波是因为平面波反映了晶体的无限平移对称性。
最早的平面波计算假定薛定谔方程在每个原子的附近区域是球对称的(松饼罐头势),但却无法保证电荷守恒。
对于离子晶体松饼罐头计算能给出合理结果,但随着计算技术和硬件的发展,使人们可以进行更加精确可靠的计算,也就不再采用松饼罐头方法了。
还在使用的一种方法是扩展平面波(APW)方法,是在Vigner-Seitz晶胞上的晶胞计算。
某些类型的问题有许多其他基函数方法。
非常复杂的体系都已经进行了能带结构的计算,然而大多数软件都不够自动化或不够快,不足以用于临时进行能带计算。