芯片封装可靠性系统培训
芯片封装测试流程详解培训资料

固化后需要对塑封后的芯片进行 检查,确保没有气泡、空洞和裂
缝等缺陷。
去飞边、切筋整形
去飞边是将塑封材料的外边缘去除的过程,以使芯片外观更加整洁美观。
切筋整形是将塑封材料按照芯片的形状进行修剪和整理的过程,以使芯片符合产品 要求。
在去飞边和切筋整形过程中需要注意保护芯片和引脚不受损伤,同时保持外观整洁 美观。
05 封装测试设备与材料
测试设备介绍
测试机台
用于对芯片进行性能和 功能测试的设备,具备
高精度和高可靠性。
显微镜
观察芯片封装结构的细 节,确保封装质量。
探针台
用于连接芯片引脚和测 试设备的工具,确保信
号传输的稳定性。
温度箱
模拟不同温度环境,检 测芯片在各种温度下的
性能表现。
测试材料介绍
0102Βιβλιοθήκη 0304焊锡膏
用于将芯片与基板连接的材料 ,要求具有优良的导电性和耐
热性。
粘合剂
用于固定芯片和基板的材料, 要求具有高粘附力和耐久性。
绝缘材料
用于保护芯片和线路不受外界 干扰的材料,要求具有高绝缘
性能。
引脚
用于连接芯片和外部电路的金 属脚,要求具有优良的导电性
和耐腐蚀性。
06 封装测试常见问题及解决 方案
芯片贴装
芯片贴装是将芯片放置在PCB板 上的过程,通常使用自动贴装机
完成。
贴装前需要检查芯片和PCB板的 型号、规格是否匹配,以及芯片
的外观是否有破损或缺陷。
贴装过程中,需要调整好芯片的 位置和角度,确保芯片与PCB板 对齐,并保持稳定的贴装压力和
温度。
引脚焊接
引脚焊接是将芯片的引脚与 PCB板上的焊盘进行焊接的过 程,通常使用热压焊接或超声 波焊接。
集成电路芯片封装技术培训课程(ppt-35页)全

微电子技术发展对封装的要求
四、高密度化和高引脚数
高密度和高I/O数造成单边引脚间距缩短、封装难
度加大:焊接时产生短路、引脚稳定性差
解决途径:
采用BGA技术和TCP(载带)技术
成本高、难以进行外观检查等。
微电子技术发展对封装的要求
五、适应恶劣环境
密封材料分解造成IC芯片键合结合处开裂、断路
解决办法:寻找密封替代材料
Ceramic
Ceramic or
Thin Film on Ceramic
Thin Film on PWB
PWB-D
•Integration to
BEOL
•Integration in
Package level
PWB-Microation at
System level
1、电源分配:传递电能-配给合理、减少电压损耗
2、信号分配:减少信号延迟和串扰、缩短传递线路
3、提供散热途径:散热材料与散热方式选择
4、机械支撑:结构保护与支持
5、环境保护:抵抗外界恶劣环境(例:军工产品)
确定封装要求的影响因素
成本
外形与结构
产品可靠性
性能
类比:人体器官的构成与实现
微电子封装技术的技术层次
芯片,但两类芯片的可靠性和成本不同。
封装材料
芯片封装所采用的材料主要包括金属、陶瓷、
高分子聚合物材料等。
问题:如何进行材料选择?
依据材料的电热性质、热-机械可靠性、技术和
工艺成熟度、材料成本和供应等因素。
表1.2-表1.4
封装材料性能参数
介电系数:表征材料绝缘程度的比例常数,相对值,通常介
电系数大于1的材料通常认为是绝缘材料。
芯片封装专业知识培训讲义

1500
100 pF
Device Under Test
芯片封装研专究业生知教识育培训
新一代封装技术(柔性连接)
芯片封装研专究业生知教识育培训
新一代封装技术(3D连接)
Packaging Technology with 2 or More DIE Stacked in a Single Package or Multiple Packages Stacked Together
芯片封装研专究业生知教识育培训
CSP模式
・Wrist Camera (Fujitsu) ・G-SHOCK Watch (IEP)
Wire-bonding
27mm
WLCSP
shrink
30mm
75% down-size mounting area
芯片封装研专究业生知教识育培训
芯片封装( Flip-chip )
芯片封装研专究业生知教识育培训
芯片封装(邦定)
Two methods
芯片封装研专究业生知教识育培训
芯片封装(结构形式)
过孔和表面贴装形式
芯片封装研专究业生知教识育培训
芯片封装(高级模式)
Bond wires contribute parasitic inductance Fancy packages have many signal, power layers
芯片封装研专究业生知教识育培训
芯片封装发展史
1959 - Planar technology invented
芯片封装研专究业生知教识育培训
芯片封装发展史
1960 - Epitaxial deposition developed Bell Labs developed the technique of Epitaxial
封装可靠性及失效分析 ppt课件

封装可靠性及失效分析
• 电测技术
封装可靠性及失效分析
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• 打开封装
封装可靠性及失效分析
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• 失效定位技术
封装可靠性及失效分析
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封装可靠性及失效分析
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• 微焦点X射线检测
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• 激光温度响应方法
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• 激光温度响应方法原理
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• 疲劳寿命与应力和应变的关系
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• 应力应变洄滞曲线
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ACF键合的剥离强度失效
封装可靠性及失效分析
ACF键合的剥离强度失效
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扩散引起的失效-铝钉
封装可靠性及失效分析
• 铝钉的形成过程
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• 扩散引起的失效-紫斑
影响芯片键合热疲劳寿命的因素
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• 焊点形状对疲劳寿命的影响
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• 焊点界面的金属间化合物
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• 老化时间对接头强度的影响
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• 由热失配导致的倒装失效
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• 钎料合金的力学性能对寿命的影响
2024版集成电路芯片封装技术培训课程

术培训课程•封装技术概述•封装材料选择与性能要求•芯片与基板连接技术•封装工艺流程详解•先进封装技术探讨•封装设备选型及使用注意事项•封装质量管理与可靠性评估方法目录封装技术概述封装定义与作用封装定义封装作用保护芯片免受外部环境的影响,如温度、湿度、机械应力等;为芯片提供稳定的电气连接和信号传输;实现芯片与外部器件的连接和互操作。
封装技术发展历程中期封装技术早期封装技术逐渐出现塑料封装和陶瓷封装,体积减小、重量减轻、成本降低。
现代封装技术SOP 封装小外形封装,引脚从两侧引出,体积小、重量轻,适合表面贴装。
BGA 封装3D 封装将多个芯片在垂直方向上堆叠起来,通过穿硅通孔等技术实现芯片间的互连,可大幅提高集成度和性能。
DIP 封装双列直插式封装,引脚从两侧引出,插装方便,但封装密度较低。
QFP 封装CSP 封装芯片尺寸封装,引脚间距极小,可实现与裸片相近的尺寸和性能。
010203040506常见封装类型及其特点封装材料选择与性能要求铜铝金030201陶瓷塑料玻璃密封材料环氧树脂低成本、良好的密封性和绝缘性,广泛用于中低端封装。
硅橡胶高弹性、耐高低温、良好的密封性,用于高端封装和特殊环境。
聚酰亚胺高热稳定性、良好的绝缘性和机械强度,用于高端封装。
导电性能绝缘性能热稳定性能机械性能性能要求及测试方法芯片与基板连接技术超声键合利用超声波振动能量实现芯片与基板的连接,适用于对温度敏感的材料和微小间距的连接。
热压键合利用高温和压力将芯片与基板连接,适用于大规模生产,具有高效率和高可靠性的特点。
激光键合利用激光能量局部加热芯片和基板实现连接,具有高精度和高灵活性的特点。
1 2 3金丝球焊铜丝压焊铝丝压焊载带自动键合技术(TAB)内引线TAB01外引线TAB02多层TAB03对连接后的芯片进行拉力、剪切力等机械性能测试,以评估连接的牢固程度。
机械性能测试电性能测试环境适应性测试可靠性寿命测试对连接后的芯片进行电阻、电容等电性能测试,以评估连接的电气性能。
6封装可靠性教程

• 80年代出现了表面安装技术(SMT),IC封装形式发展成为适合表
面贴装的短引线或无引线(SMC/SMD)结构,用以封装I/O数十个引 脚的中规模集成电路(MSIC)或较少I/O的LSI
发展过程(续):
封装的可靠性问题
北京大学微电子学系
Department of microelectronics Peking University
内容提纲
封装可靠性问题
•
集成电路后工序简介
•
•
封装形式
封装的可靠性问题
简 介
封装工艺过程
划片 分离芯片 镜检及分选 装架 检验 引线键合 检验 封盖 外引线整形 打印标签 包装入库 组 装 工 艺 流 程
封装的可靠性问题
封装造成器件失效的原因:
由于气密性差,水及周围各种污染物渗透到管芯,令 芯片及电极系统发生各种物理化学反应,而造成器件 不稳定和失效。
如某些研究表明:管壳气密密封结构的缺陷,致使水汽在长时间微漏 中浸入,造成电路失效,是主要失效因素。引起引线开路和铝线腐蚀 断开。 另外,在封装壳内采用有机硅树脂等作为内涂料,成为“实封”; 而不用内涂料的称为“空封”(可充保护气体)。 实封存在问题:涂料与管芯引线的热膨胀系数不同,多次温度变化 后,会拉断引线,造成开路而导致器件失效。因此,高可靠性器件 封装均采用气密性空封。
最新的封装发展趋势
封装的可靠性问题
集成电路封装的可靠性要求:
保持器件管芯与外界环境隔绝,排除外界干扰,即集成电路工 作期间维持比较干燥的惰性的内部环境。
从封装的材料方面,封装可分为: 1. 气密封装:金属封装、陶瓷封装、低熔点玻璃封装 2. 塑料封装
芯片封装工艺详解培训资料

集成化
集成化是芯片封装技术的重要发展方向 。通过将多个芯片和器件集成到一个封 装体内,实现系统级集成,提高性能和 可靠性。
VS
模块化
模块化封装可以实现快速开发和批量生产 。通过模块化的封装方式,可以快速组合 和定制不同功能的芯片模块,缩短产品上 市时间。
高性能与高可靠性
高性能
随着电子设备对性能要求的不断提高,高性 能的芯片封装技术也得到了快速发展。高性 能封装可以实现更快的传输速度和更低的功 耗。
包装
将检测合格的芯片按照规定进行包装, 以保护芯片在运输和存储过程中不受 损坏,同时标明产品规格和性能参数 等信息。
03 芯片封装材料
塑封材料
塑封材料是芯片封装中常用的材料之一,主要起到保护、绝缘和固定芯片的作用。
塑封材料通常由环氧树脂、聚氨酯、硅橡胶等高分子材料制成,具有良好的电气性 能、耐热性、耐腐蚀性和机械强度。
汽车电子领域
汽车电子领域是芯片封装工艺应用的另一个重要领域,主要涉及汽车安全、自动驾驶、车联网等领域 。由于汽车电子系统对可靠性和安全性的要求非常高,因此对芯片封装工艺的要求也相应较高。
总结词:汽车电子领域对芯片封装工艺的可靠性和安全性要求极高,需要具备抗振、抗冲击、耐高温 等性能。
THANKS FOR WATCHING
异形封装与多芯片封装
异形封装
为了满足不同电子设备的特殊需求,芯片封装呈现出异形化的趋势。异形封装可以根据产品需求定制 不同形状和结构的封装体,提高产品的独特性和差异化。
多芯片封装
多芯片封装技术可以将多个芯片集成到一个封装体内,实现更高的集成度和更小的体积,同时降低成 本和提高性能。
集成化与模块化
脚与芯片之间的可靠连接。
集成电路芯片封装技术培训课程PPT共35页

21、要知道对好事的称颂过于夸大,也会招来人们的反感轻蔑和嫉妒。——培根 22、业精于勤,荒于嬉;行成于思,毁于随。——韩愈
23、一切节省,归根到底都归结为时间的节省。——马克思 24、意志命运往往背道而驰,决心到最后会全部推倒。——莎士比亚
集成电路芯片封装技术培训 课程
26、机遇对于有准备的头脑有特别的 亲和力 。 27、自信是人格的核心。
28、目标的坚定是性格中最必要的力 量泉源 之一, 也是成 功的利 器之一 。没有 它,天 才也会 在矛盾 无定的 迷径中 ,徒劳 无功。- -查士 德斐尔 爵士。 29、困难就是机遇。--温斯顿.丘吉 尔。 30、我奋斗,所以我快乐。--格林斯 潘。
25、学习是劳动,是充满思想的
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•
除非该封装可靠性的项目已经覆盖该框架的该情况
塑封料对产品可靠性的影响
塑封料对产品可靠性的影响是非常大的
塑封料对产品可靠性的影响
塑封料的成分
塑封料对产品可靠性的影响
1 SPIRAL FLOW (CM) 2 GEL TIME (AT 175度) 3 VISCOSITY Pa.s 4 THERMAL EXPANSION 1 *10E-5/度 5 THERMAL EXPANSION 2 *10E-5/度 6 TG 7 THERMAL CONDUCTIVITY cal/cm*sec*度 8 FLEXURAL STRENGTH AT 25度 kgf/mm*mm 9 FLEXURAL MODULUS AT 25度 kgf/mm*mm 10 FLEXURAL STRENGTH AT 240度 kgf/mm*mm 11SPECIFIC GRAVITY 12 VOLUME RESISTVITY AT 150度 OM-cm 13 UL FLAME CLASS 14 WATER ABOSORPTION (BOLLING 24 HOURS) 15 EXTRACTED NA+(PPM) 16 EXTRACTED CL-(PPM) 17 FILLER DIAMETER (um) 18 PH 19 SHORE D HARDNESS 20 SHRINKAGE
器件必须按照下列条件进行: • a.)工厂条件为温度≤30℃,湿度≤60%时,168小时(若此处空白,参见
相邻的条码标签)内安装 • b.)在湿度<20%的环境下储存 • 3.若器件符合下列条件,要求安装前烘烤. • a.)温度为23加减5度时,湿度指示卡的读数>10%. • b.)不符合2a或2b. • 4.若要求烘烤,器件烘烤时间为: • a.)低温器件容器在40℃+5℃/-0℃,5%RH下烘烤192小时 • b.)高温器件容器在115℃加减5℃下烘烤8小时 • 口袋密封日期: • (若此处空白,参见相邻的条码标签)
产品防湿等级对应的不同包装要求
• LEVEL 1 求;
• LEVEL 2 • •
• LEVEL 3 •
产品在小于30C/85%相对湿度下存放时,包装无特殊要
产品在30C/60%条件下1年内存放时,包装无特殊要求 但是很多情况下,特别是产品在南方存放时,湿度比较高, 产品要达到1年的存放期,包装要作适当的防湿措施;
3.对散热要求高的产品更应充分考虑塑封料的散热系数、玻璃化温度与对低应力 的要求的均衡,事实上塑封料的高散热系数与低应力有时侯是一对矛盾,必 要时可以采用添加了高散热材料的塑封料。
4.数字通信的(高频率的)、功率的、电源调整的、CMOS(栅的厚度与α1的要 求有直接的关系)、存储器类的等特殊要求要被充分考虑。
在小于30C/60%条件下,包装无防湿措施仅能保存1周, 所以产品如要长时间保存,应该采取密封包装;
LEVEL3产品防湿标签例子
• 注意: 袋内含湿敏器件 • 1.器件在密封袋内的寿命为:温度<40℃,湿度<90%下的寿命是12个
月 • 2.密封袋开封后,需要进行红外回流、气相回流、波峰焊或等效处理的
• 3.和导电胶的挥发物、吸水率、粘结力、耐高温性能有关
• • 4.和产品的芯片大小、封装的引线框架基岛大小、封装体内塑封料本身
结合面积占塑封体面积有关
• 5.和各站封装工艺有关• Nhomakorabea.与产品的设计结构有关
• * 所有表贴封装的产品芯片与基岛面积比最小为30%.
•
若低于30%需进行工程风险评估(做MSL考核),
5.大量生产前做好小批量试验和确认工作。
导电胶对产品可靠性的影响
导电胶对产品可靠性的影响也是非常大的
导电胶对产品可靠性的影响
产品防湿等级试验流程
*****
芯片来源更换时可以也按照流程做可靠的实验,正常后再开始批量生产
湿气敏感等级和那些因素有关
• 1.和封装形式有关,湿气敏感度按照封装形式由强到弱的大致顺序为 BGA\TQFP\LQFP\QFP\TSSOP\SSOP\SOP\SOT\TO\SDIP\DIP
• 2.和塑封材料吸水率、粘结力、耐高温性能有关
如产品已经吸湿使用前如何处理
• 对产品进行烘烤,烘烤条件一般为: • a.)低温器件容器在40℃+5℃/-0℃,5%RH下烘烤192小时 • 如装在塑料管里的SOP产品 • b.)对编带产品在65℃~80℃下烘烤48~72小时 • c.)高温器件容器在115℃~125 ℃下烘烤8小时, • 如装在托盘里的QFP产品
芯片封装可靠性系统培 训
2020年7月19日星期日
可靠性常用术语
集成电路封装常用可靠性试验对应的缺点项目
产品防湿等级定义
• 防湿等级
• LEVEL 1 • LEVEL 2 • LEVEL 3 • • • •
非密封包装状态下存放期
标准吸湿考核条件
在小于30C/85%相对湿度无期限 85C/85% 168小时
温下迅速膨胀,从而产生产品内部的界面分层,导致连接线开路、
芯片损伤等缺点,严重的造成胶体鼓胀或裂开,即我们常说的”爆米
花”效应.
• 一般来讲如回风炉温度由240°C变成260 °C ,则其蒸气压变成原 来的2.12倍.
• ”爆米花”效应不是QFP产品的特有的,SOP、SSOP、TSSOP等产品 也因为吸湿经常产生
在30C/60%条件下1年
85C/60% 168小时
在小于30C/60%条件下1周
30C/60% 192小时
加速=60C/60% 40小时
SAMPLE:50
塑料封装是非气密封装
•
塑料封装属于非气密封装,塑料封装采用的塑封料和导电胶是有
一定吸水率的材料,其吸水率通常在千分之几到千分之十几左右,产
品吸收一定程度的湿气之后,在波峰焊或者红外回流焊时,湿气在高
塑封料对产品可靠性的影响
我们需要什么样的塑封料
高粘结力 低吸水率 高抗弯强度 PH值5.2~7.5 低卤素 低应力 高稳定性
1.对薄形而且面积大的产品要充分考虑料饼的吸湿性带来的失效风险,以及料饼 收缩带来的产品翘曲。
2.对芯片在塑封体内占的面积很大的时候,必须考虑到冲切等时候受的力很多直 接加到芯片上,塑封料的抗弯强度、模量要被考虑。