实验一 超声波探伤仪的使用及其性能测试
超声波探伤仪五大性能测试法
第九部分 实验
实验一 仪器五大性能测试
1． 水平线性
1）测准零点；
2）声程标度设为Y 或S ；总声程范围设为125mm （即每格声程设为12.5mm ）； 3）使25mm 厚试块的一至五次回波依次出现在第二、四、六、八和十格，保持探头不
动，调整增益、进波门位，使进波门内回波高为50%，依次读出一至五次回波声程值（Y 或S ）。
2．分辨力测试
1）用户在CSK-IA 试块上移动直探头，当85mm 和91mm 两处的回波波峰等高且调至50%，记下增益值A 。
2）稳住探头，将85mm 和91mm 两处的回波波谷调至50%，记下增益值B 。
3． 垂直线性
1）在CS-1-5试块上移动直探头，使200mm 深Φ2平底孔处的回波高为100%。
2）增益步长调至2dB ，增益每次比上次减2dB 。
3）每减一次增益记下当前波幅值%。
4． 动态范围
1）在CS-1-5试块上移动直探头，使200mm 深Φ2平底孔处的回波高为100%。
记下增益值A 。
2）使200mm 深Φ2平底孔处的回波高调对刚刚能看到波幅， 记下增益值B 。
3）动态范围=A-B 。
CS —1—5平底孔试块
25mm
4．灵敏度余量测试
1）在CS-1-5试块上移动直探头，使200mm深 2平底孔处的回波高为50%。
记下增益值A。
2）除去探头，增加增益，使噪声电平达10%，记下增益B。
3）灵敏度余量=A-B。
附：性能测试表
一、水平线性
二、垂直线性
三、分辨力
四、动态范围
五、灵敏度余量。
《超声检测实验》word版
《超声检测学》实验指导书（机电学院测控技术及仪器专业使用）彭光俊赵志编武汉理工大学教材中心2003年6月第一部分 A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能测试实验一水平线性的测定一、实验目的学会使用超声波探伤仪，熟练掌握超声探伤系统水平线性的测试方法。
二、概要水平线性即超声探伤仪对距离不同的反射体所产生的一系列回波的显示距离与反射体距离之间能够按比例方式显示的能力。
A型显示超声探伤仪示波管内的电子束受与时间成线性关系的扫描电压作用，而在水平方向扫描形成时间基线。
由于反射体的回波位置是在有线性刻度的时间基线标尺上读出的，因此，水平扫描线（时间基线）的非线性会引起定位误差。
本测试就是为了检查超声探伤系统的时基线性。
三、实验用品仪器：CTS-22型超声波探伤仪 1台探头：2.5P 20-D型直探头，2.5P 13×13 K1.5-D型斜探头各1个电缆：QQ9-2电缆线（带接头） 1条试块：CSK-ⅠA型试块 1块耦合剂：机油 1杯工具：小螺丝刀 1把四、实验内容及步骤（一）采用直探头测定水平线性1．将探伤仪的[抑制]置于“0”，其它调整取适当值。
2．将直探头压在CSK-ⅠA型试块的A位置，中间加适当的耦合剂，以保持稳定的声耦合，如图1-1所示。
3．调节[深度范围]、[深度微调]和[脉冲移位]旋钮，使屏幕上显示出图1-1第6次底波。
4．调节[粗调衰减]、[细调衰减]和[增益]旋钮，当底波B1和B6的幅度分别为50%满刻度时，将它们的前沿分别对准刻度0和100（设水平全刻度为100格）。
B1和B6的前沿位置在调整中如果相互影响，则应反复进行调整。
5．再依次分别地将底波动B2、B3、B4、B5调到50%满刻度，并分别读出底波B2、B3、B4、B5的前沿与刻度20、40、60、80的偏差α2、α3、α4、α5（以格数计），如图1-2所示，将数据填入表1-1。
6．取其中最大的偏差值αmax。
则水平线性误差ΔL为：ΔL = | αmax | %注意事项：图1-2中的B1～B6是分别调到同一幅度，而不是同时达到此幅度。
超声波探伤实验报告
超声波探伤一、实验目的1.通过实验了解超声波探伤的基本原理；2.掌握超声波探伤仪器的各个旋钮的名称、功能和使用方法。
3.了解超声检测仪的使用规范。
二、实验设备和器材1.超声检测仪2.直探头和斜探头3.耦合剂：甘油4.试块和试件三、实验内容超声波探伤是利用探头发射超声波扫描试件内部，在荧光屏上可得到工件两界面（表面及底面）的反射波，如工件内部有缺陷，则缺陷将产生缺陷反射回波并显示在两界面波之间。
缺陷波峰距两界面波之间的距离即缺陷至两界面之间的距离，缺陷大小及性质可按相关标准确定。
1、超声波探伤原理（1）超声波的传播特性声波是由物体的机械振动所发出的波动，它在均匀弹性介质中匀速传播，其传播距离与时间成正比。
当声波的频率超过20000赫时，人耳已不能感受，即为超声波。
声波的频率、波长和声速间的关系是：（1）式中 λ——波长；c——波速；f——频率。
由公式可见，声波的波长与频率成反比，超声波则具有很短的波长。
超声波探伤技术，就是利用超声波的高频率和短波长所决定的传播特性。
即：1）具有束射性（又叫指向性），如同一束光在介质中是直线传播的，可以定向控制。
2）具有穿透性，频率越高，波长越短，穿透能力越强，因此可以探测很深（尺寸大）的零件。
穿透的介质超致密，能量衰减越小，所以可用于探测金属零件的缺陷。
3）具有界面反射性、折射性，对质量稀疏的空气将发生全反射。
声波频率越高，它的传播特性越和光的传播特性接近。
如超声波的反射、折射规律完全符合光的反射、折射规律。
利用超声波在零件中的匀速传播以及在传播中遇到界面时发生反射、折射等特性，即可以发现工件中的缺陷。
因为缺陷处介质不再连续，缺陷与金属的界面就要发生反射等。
如图1所示超声波在工件中传播，没有伤时，如图1a，声波直达工件底面，遇界面全反射回来。
当工件中有垂直于声波传播方向的伤，声波遇到伤界面也反射回来，如图1b。
当伤的形状和位置决定界面与声波传播方向有角度时，将按光的反射规律产生声波的反射传播。
超声波探伤实验
实验6—6 超声波探伤实验【实验目的】1．深入了解超声波的产生及在介质中的传播规律。
2．了解超声波探伤仪的工作原理。
3．掌握超声波探伤仪的使用方法。
4．掌握纵波探伤缺陷的识别和定位方法。
【实验原理】在超声波探伤中，很多场合都需要知道材料中声波传播的速度。
对于超声波探伤人员来说，测定声速最简单的方法是用超声波探伤仪来测定，由于现在的超声波探伤仪都是工作在脉冲波状态下，因此这种方法也可归结为脉冲测量方法。
采用这种方法测量时，可用单探头方式，也可用双探头方式；能用于纵波声速的测量，也能用于横波声速的测量，只是两者在材料中激发超声波的类型和接收超声波的方式方面有所不同。
脉冲反射法是运用最广泛的一种超声波探伤法。
它使用的不是连续波，而是有一定持续时间按一定频率间隔发射的超声脉冲。
探伤结果可以用示波器显示。
发生器在一定时间间隔内发射一个触发脉冲信号，通过专用压电换能器的作用，使得信号以相同的频率作机械振动，这个高频脉冲信号相应地在示波器荧光屏上形成一个起始脉冲信号。
当探头接触到所要探测的工件面时，超声波以一定的速度在其内部传播，当遇到缺陷或工件底面时，就会引起反射，反射后的超声波返回到探头。
此时，压电换能器又将声脉冲转换成电脉冲并将讯号再次传送到示波器，形成一个反射脉冲信号。
由于电子束在荧光屏上的移动与超声波在均匀物质中传播过程都是匀速的，所以来自缺陷或底面的反射脉冲信号距起始脉冲的距离与探头距缺陷或底面的距离是成正比的。
脉冲反射法就是根据缺陷及底面反射信号的有无，反射信号幅度的高低及其反射信号在荧光屏上的位置来判断有无缺陷、缺陷的大小以及缺陷的深度的。
脉冲反射法可以分为直接接触纵波脉冲反射法和斜角探伤法，这里我们主要介绍直接接触纵波脉冲反射法。
我们知道纵波是指材料中质点振动方向与声波传播方向一致的波型。
探伤时，当探头垂直地或以不大于第一临界角的角度耦合到工件上时，在工件内部都能获得纵波。
直接接触纵波脉冲反射法通常分为一次脉冲反射法、多次脉冲反射法及组合双探头脉冲反射法。
试验一超声波仪器性能的测定
超声波检测实验讲义实验一超声波仪器性能的测定一. 目的：现场测试超声波仪器性能，包括垂直线性，水平线性，电噪声，动态范围和衰减器精度。
二. 实验设备：超声波探伤仪，直探头(2.5P14，2.5P20，5P14等均可) IIW1试块(或CSK-IA，1#试块等均可) 平底孔试块。
三. 实验步骤1.测定垂直线性缺陷在工件中的大小是通过缺陷回波在示波屏上的幅度大小反映的，反射回波幅度是按一定规律反映缺陷实际反射声压的大小，即为仪器的垂直线性状况，以垂直线性误差表示。
如图1所示，把与探伤仪连接的直探头平稳地耦合在平底孔试块的探测面上，仪器上的"抑制"与"深度补偿"关闭，在衰减器上应至少留有30dB的衰减余量，调节"增益"，使直探头在试块上找到的最大平底孔回波高度为100%满刻度，固定探头位置与接触压力(必要时可采用专用的探头压块)。
调节衰减器，依次记下每衰减2dB时平底孔回波幅度的满刻度百分数并记入表1，并与理论值比较，取最大正偏差△+和负偏差最大绝对值｜△-｜之和为垂直线性误差，即：△=(｜△+｜+｜△-｜)(%) ----(1)注：理论波高值按下式计算-- △dB=20lg(H100/H)(式中H100为以100%满刻度起始的基准波高，H为每衰减2dB时理论上应达到的波高)。
最后在图2上以波高(%)为纵坐标，衰减量(dB)为横坐标绘出垂直线性理想线与实测线(按表1)，再根据(1)式计算垂直线性误差。
图1 图22.测定水平线性缺陷在工件中的位置是通过缺陷回波在示波屏上的位置反映出来的，通过仪器有关旋钮调整能否使仪器示波屏上的水平扫描线按一定比例反映超声波在工件中所经过的距离，即为仪器的水平线性，以水平线性误差表示。
如图3所示，把直探头平稳地耦合在IIW1试块上厚度25mm的平面上(应离开边缘有一定距离以防止侧壁效应干扰)，调节仪器上的"增益"，"衰减"，"水平"(或"零位"，"延迟")，"深度"(粗调与细调)，当采用"五次底波法"时：应使示波屏上出现五次无干扰底波，在相同回波幅度(例如50%或80%满刻度)情况下，使第一次底波B1前沿对准水平刻度线的20mm刻度，第五次底波B5前沿对准水平刻度线的100mm刻度，然后依次将B2，B3，B4调节到上述相同幅度下读取第二，三，四次底波前沿与水平刻度线上的40mm，60mm和80mm刻度的偏差，填入表2，取最大偏差△max(以mm计)按下式计算水平线性误差：△=(｜△max｜/0。
超声波探伤仪的使用和性能测试
超声波探伤仪的使用和性能测试Company Document number：WUUT-WUUY-WBBGB-BWYTT-1982GT超声波探伤仪的使用和性能测试一、实验目的1、了解A型超声波探伤仪的简单工作原理。
2、掌握A型超声波探伤仪的使用方法。
3、掌握水平线性、垂直线性和动态范围等主要性能的测试方法。
4、掌握盲区、分辨力和灵敏度余量等综合性能的测试方法。
二、超声波探伤仪的工作原理目前在实际探伤中，广泛应用的是A型脉冲反射式超声波探伤仪。
这种仪器荧光屏横坐标表示超声波在工件中传播时间(或传播距离)，纵坐标表示反射回波波高。
根据荧光屏上缺陷波的位置和高度可以判定缺陷的位置和大小。
A型脉冲超声波探伤仪的型号规格较多，线路各异，但它们的基本电路大体相同。
下面以CTS-22型探伤仪为例说明A型脉冲超声波探伤仪的基本电路。
CTS-22型超声探伤仪主要由同步电路、发射电路、接收放大电路、时基电路(又称扫描电路)、显示电路和电源电路组成，如图所示。
各电路的主要功能如下：(1)同步电路：产生一系列同步脉冲信号，用以控制整台仪器各电路按统一步调进行工作(2)发射电路：在同步脉冲信号触发下，产生高频电脉冲，用以激励探头发射超声波。
(3)接收放大电路：将探头接收到的信号放大检波后加于示波管垂直偏转板上。
(4)时基电路：在同步脉冲信号触发下，产生锯齿波加于示波管水平偏转板上形成时基线。
(5)显示电路：显示时基线与探伤波形。
(6)电源电路：供给仪器各部分所需要的电压。
在实际探伤过程中，各电路按统一步调协调工作。
当电路接通以后，同步电路产生同步脉冲信号，同时触发发射电路和时基电路。
发射电路被触发以后产生高频电脉冲作用于探头，通过探头中压电晶片的逆压电效应将电信号转换为声信号发射超声波。
超声波在传播过程中遇到异质界面(缺陷或底面)反射回来被探头接收，通过探头的正压电效压将声信号转换为电信号送至放大电路被放大检波，然后加到示波管垂直偏转板上，形成重迭的缺陷波F和底波B。
超声波探伤实验资料
超声波探伤实验一、实验目的通过超声波探伤实验，使学生进一步了解超声波探伤的原理，熟悉超声波探伤仪的使用方法，初步掌握利用脉冲超声波接触法探伤中对检出缺陷进行定位、定量、定性分析的有关知识。
二、实验原理超声波探伤是利用某些晶体（石英、钛酸钡等）的压电效应产生超声波、超声波通过两种介质的接触面时发生折射、反射现象的原理，将探头接触或通过水（液浸法）等耦合剂接触被检查零件，使超声波传至零件内部。
当超声波遇到声阻不同的介质时（如空气、夹渣、疏松等）时就会在这些不同的介质中引起反射或被吸收，通过仪器的波型显示来判断缺陷的大小，位置和性质。
三、实验设备1、实验仪器本实验使用仪器均为汕头超声电子仪器公司生产的CTS-22型超声波探伤仪（如下图），其最小探测距离（相邻缺陷之间的距离）不大于3mm，探测深度为10-5000mm。
、CTS-22超声波探伤面板图1、“发”插座6细调衰减器10、示波屏14、深度微调2、“收”插座7、抑制11、遮光罩15、脉冲移位3、工作方式选择8、增益12、聚焦16、电源电压指示器4、发射强度9、定位游标13、深度范围17、电源开关5、粗调衰减器2、调整扫描速度扫描速度为仪器示波屏上时基扫描线的水平刻度值与实际探测声程的比例关系，在超声波探伤前必须首先根据探测范围调整好扫描速度，以便在规定的探测范围内发现缺陷并对缺陷进行定位。
3、探伤操作探伤要求：对轴类锻件试块用纵波探伤的方法进行实际探伤（要求φ2当量缺陷不漏检），并对所探出的缺陷进行定位、定量分析与计算，认真填写实验报告。
接通电源，开启面板上的电源开关，面板右下方电压指示器的表针应稳定地指示在红区，约一分钟后，示波屏上即会出现扫描基线，此时可开始探伤。
⑴ 选一锻件试块并量取最大探测深度，记为X B 。
⑵ 选取合适工作频率的直探头。
⑶ 根据探测深度选取合适的显示比例，调节仪器的扫描速度。
⑷ 以工件大平底为基准计算探测灵敏度调整量，记为△dB 。
超声波探伤仪使用方法
超声波探伤仪使用方法
超声波探伤仪使用方法如下：
1. 准备工作：将超声波探伤仪连接电源，并确保设备处于正常工作状态。
2. 检查样品：将待检测的样品放置在适当位置，确保其表面干净、平整，并涂抹适当的超声波耦合剂。
3. 设置参数：根据待检测材料的类型和厚度，设置超声波探伤仪的相关参数，包括探头频率、波束角度、增益等。
4. 进行检测：将超声波探伤仪探头放置在样品表面，并开始进行扫描。
根据显示屏上的数据和波形，进行实时的监测和分析。
5. 分析结果：根据检测到的超声波信号，对样品进行分析和评估，判断是否存在缺陷、裂纹或其他问题。
6. 记录数据：记录检测的结果和数据，并对重要信息进行标记和保存。
7. 结束工作：完成检测后，关闭超声波探伤仪，并进行设备的清洁和保养工作，确保设备处于良好状态。
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武汉大学实验报告超声波探伤仪的使用及其性能测试院系名称：动力与机械学院专业名称：材料类实验一超声波探伤仪的使用及其性能测试一、实验目的1、熟悉脉冲反射式超声波探伤仪的使用方法。
2、掌握超声波探伤仪主要性能及探头主要综合性能的测试方法。
二、实验原理1、超声探伤仪简介目前在实际探伤中，广泛应用的是A型脉冲反射式超声波探伤仪。
这种仪器荧光屏横坐标表示超声波在工作中的传播时间（或传播距离），纵坐标表示反射回波波高。
根据荧光屏上缺陷波的位置和高度可以判定缺陷的位置和大小。
A型脉冲反射式超声波探伤仪由同步电路、发射电路、接受放大电路、扫描电路（又称时基电路），显示电路和电源电路等部分组成。
其工作原理如图1所示。
图1 A型脉冲反射式超声波探伤仪的电路方型图仪器的工作过程为：电路接通以后，同步电路产生脉冲信号，同时触发发射电路、扫描电路。
发射电路被触发以后高频脉冲作用于探头，通过探头的逆电压效应将信号转换为声信号，发射超声波。
超声波在传播过程中遇到异质界面（缺陷或底面）反射回来被探头接受。
通过探头的正压电效应将声信号转换为电信号送至放大电路被放大检波，然后加到荧光屏垂直偏转板上，形成重叠的缺陷波F 和底波D。
扫描电路被触发以后产生锯齿波，加到荧光屏水平偏转板上，形成一条扫描亮线，将缺陷波F和底波D按时间展开完整的显示在荧光屏上。
脉冲反射式超声波探伤仪具有以下特点（1）、以荧光屏横坐标表示传播距离，以纵坐标表示回波高度。
（2）、可做单探头或双探头探伤。
（3）、在声束覆盖区，可以同时显示不同声程上的多个缺陷。
（4）、适应性较广，可以不同探头进行纵波、横波、表面波、板波等多种波型探伤。
（5）、只能以回波高度来表示反射量，因此缺陷量值显示不直观，结果判断受人为因素影响较多。
2、仪器各旋钮的调节（1）、扫描基线的显示与调节【电源开关】－置“开”时，仪器电源接通，面板上电压指示红区，约1分钟后，荧光屏上显示扫描基线。
【辉度】－调节扫描基线的明亮程度。
【聚焦】与【辅助聚焦】－调节扫描基线的清晰程度。
【垂直】－调节扫描基线在垂直方向的位置。
【水平】－调节扫描基线在水平的位置，可以在不改变扫面比例的情况下使整个时间轴左右移动。
此旋钮与调节探测范围的【粗调】、【微调】配合，用于直探头和斜探头扫描比例的调整。
CTS-22型仪器的【脉冲位移】具有一般仪器的“水平位移”功能。
CTS-22型仪器的【辅助聚焦】、【辅助聚焦】、【垂直】、【水平】旋钮为内调式，出厂时已调好，使用时一般不必再调，如需调节则打开仪器上盖板按说明书调节好。
（2）、工作方式的选择单探头－一只探头兼作发射和接收。
双探头－一只探头发射，另一只探头接收。
（3）、探测范围的调节【粗调】或【深度范围】－根据工件厚度粗调探测范围。
【微调】－微调探测范围，微调与【脉冲移位】（CTS-22）配合使用，可按一定比例调节扫描基线。
（4）、显示选择【检波】荧光屏上显示的是检波后的单向波形，是一种常用波形。
（5）、扫描选择【同步】同步电路同时触发扫描电路和发射电路，扫描与发射高频脉冲同时开始，同步扫描，荧光屏上可完整显示始波、伤波和底波。
【延迟】扫描延迟电路加在同步电路与扫描电路之间，讲同步脉冲触发扫描电路的时间延长，即扫描迟于发射以后进行，CTS-22型仪器的脉冲【脉冲位移】旋钮同时具有“扫描延迟”的作用，与【深度范围】配合可使波形放大。
（6）、仪器灵敏度的调节仪器灵敏度是指仪器输出功率的大小，输出功率大，灵敏度高，反之灵敏度低。
仪器灵敏度可以通过【增益】、【衰减器】、【抑制】、【发射强度】等旋钮来调节。
【增益】－通过调节接收放大器的放大倍数来调节荧光屏上的波高使之准确达到规定高。
增益大，灵敏度高。
【衰减器】－定量地调节荧光屏上的波高，常用于比较某回波高与基准波高的相对高度，单位为dB。
衰减器分粗调与细调，均为步进式调节。
【抑制】－限制检波后信号的输出幅度。
抑制杂波，提高信噪比。
使用【抑制】，将使仪器的垂直线性变坏，动态范围变小。
因此当使用荧光屏面板对缺陷定量时，不得使用（抑制）。
抑制增加，灵敏度降低。
【发射强度】－调节发射脉冲的输出的功率。
发射强度强，灵敏度高。
但这时脉冲宽度增大，分辨力降低。
3、仪器的主要性能及仪器与探头主要综合性能仪器性能仅与仪器有关。
仪器主要性能有水平线性、垂直线性和动态范围。
（1）、水平线性仪器荧光屏上时基线水平刻度值与实际声程成正比的程度，称为仪器的水平线性或时基线性。
水平线性主要取决于扫描锯齿波的线性。
仪器水平线性的好坏直接影响测距精度，进而影响缺陷定位。
（2）、垂直线性仪器荧光屏上的波高与输入信号幅度成正比的程度称为垂直线性或放大线性。
垂直线性主要取决于放大器的性能。
垂直线性的好坏影响应用面板曲线对缺陷定量的精度。
（3）、动态范围仪器的动态范围是指反射信号从垂直极限衰减到消失时所需的衰减量，也就是仪器荧光屏容纳信号的能力。
影响动态范围的主要因素的仪器的线性范围和荧光屏的大小。
仪器与探头的主要综合性能不仅与仪器有关，而且与探头有关。
主要综合性能有盲区、分辨力、灵敏度余量等。
（1）、盲区从探测面到能发现缺陷的最小距离，称为盲区。
盲区内缺陷一概不能发现。
盲区与放大器的阻塞时间和始脉冲宽度有关，阻塞时间长，始脉冲宽，盲区大。
（2）、分辨力在荧光屏上区分距离不同的相邻两缺陷的能力称为分辨力。
能区分的两缺陷的距离愈小，分辨力就愈高。
分辨力与脉冲宽度有关，脉冲宽度小，，分辨力高。
（3）、灵敏度余量灵敏度余量是指仪器与探头组合后，在一定的探测范围内发现微小缺陷的能力。
具体指从一个规定测距孔径的人工试块上获得规定波高时仪器所保留的dB数。
保留的dB数愈高，说明综合灵敏度愈高。
三、实验器材1.、仪器：CTS-22。
2.、探头： 2.5MHz 20的直探头。
3.、试块：CSK-IA、IIW。
4.、耦合剂：机油。
5.其他：压块，坐标纸等。
四、实验步骤1、水平线性的测试(1)调有关旋钮时基线清晰明亮，并与水平刻度线重合。
(2)将探头通过耦合剂置于CSK-IA或IIW试块上，如图2的A处。
(3) 调【微调】、【水平】或【脉冲移位】等按钮，使荧光屏上出现六次底波B1-B6,且使B1，B6前沿分别对准水平刻度值0和100，如图3。
(4) 观察记录B2、B3、B4、B5与水平刻度值20，40，60，80的偏差值a2 ,a3 ,a4，a5∆S=∣amax∣b×100%(5)计算水平线性误差：式中a max为a2、a3、a4、a5中最大者，b——荧光屏水平满刻度值。
图2 水平、垂直线性测试图3 水平线性测试波形2、垂直线性的测试(1) 【抑制】至“0”，【衰减器】保留30dB 衰减余量。
(2) 探头通过耦合剂置于Z20-4，如图3(3) 调【增益】使底波达荧光屏满幅度100％，但不饱和，作为0dB 。
(4) 固定【增益】，调【衰减器】，每次衰减2dB ，并记下相应回波高度打，填入表1表中：相对波高％＝iidb H 100%db H ∆⨯衰减波高衰减0波高理想相对波高Hs=10−∆i 20 ╳100%(5) 计算垂直线性误差D=(d1d2)%+d1 ——实测值与理想值的最大正偏差； d2 ——实测值与理想值的最大负偏差；3. 动态范围的测试(1) 【抑制】至“0”，【衰减器】保留30dB 。
(2) 探头置于图3，调【增益】使孔波达荧光屏满幅度100％但不饱和。
(3) 固定【增益】，记录这时衰减余量N1，调【衰减器】使孔波降到刚好分辨,记下这时的衰减余量N2。
(4) 计算动态范围：△＝N2-N1 (db)4、盲区的测定(1) 【抑制】至“0.(2) 调节仪器的有关灵敏度旋钮，使其符合探伤规范要求。
(3) 探头通过耦合剂恒定与II-W 型试块上，如图4I 和II 。
(4) 如荧光屏上始波之后出现一个独立的回波，则盲区大于测试位置厚度。
图3 Z20-45、分辨率的测定(1) 【抑制】至“0”，其它旋钮位置适当。
(2) 探头置于图4 所示的CSK-IA的III处，前后左右移动探头，使荧光屏出现声程为85，91，100的三个反射波。
(3) 当A,B,C不能分开时，如图5（a），则分辨率为F1= (91-85)a6a(mm)a b a b=--(4) 当A,B,C能分开时，如图5（b），则分辨率为F1= (91-85)camm图4 分辨率测试(b)A、B不能分开(a)A、B能分开图5 测分辨率波形6、灵敏度余量的测试(1)【抑制】至“0”，【增益】最大，【发射强度】至强。
(2)连接探头，调节【衰减器】使仪器噪声电子为满幅度10％，记录这时【衰减器】的读数N1。
(3)探头置于图6所示的灵敏度余量试块上（200∕ 2平底孔试块），调【衰减器】使平底孔回波达满幅度80％，这时【衰减器】的读数N2。
(4)计算：灵敏度余量△N＝N2-N1 (db)图6 灵敏度余量五、实验结果及结果分析1、水平线性测试结果实验结果图像实验结果数据水平线性误差计算∆S=∣amax∣b ×100%=0.0410×100%=0.4%2、垂直线性测试比例调节1：40.6-0.9 -0.10.21.41.9 1.2 0.4垂直线性误差计算D=(d1d2)%=（1.9+∣-0.9∣）%=2.8%3、动态范围测试图像动态范围计算ΔN=N2-N1=68-38=304、盲区的测定确定1:1比例在5mm与10mm处测试位置5mm 10mm 图像独立底波无无结论：此台仪器盲区大于10mm5、分辨率测试图像由图可知：c=6：a=2 则分辨率为：F 1= (91-85)acmm=（91-85）26=2mm6、灵敏度余量测试灵敏度余量计算：N=（Ni -N）dB=26dB六、实验结论通过对CTS-22的测试，与仪器性能参数对比，其性能为 0.4%的水平线性误差，其水平线性很好；2.8%的垂直线性误差，其垂直线性很好：30dB的动态范围，动态范围符合要求；盲区大于10mm，盲区较大；分辨力为2mm，分辨力良好；灵敏度余量为26dB，灵敏度余量小于其标准参数；。