NSA场地衰减测试方法
衰减测量实验报告
衰减测量实验报告一、实验目的本实验的目的是为了了解电信号在传输过程中会遭受到衰减的影响，并通过实验测量不同距离下信号的衰减情况，掌握衰减测量的方法和技巧。
二、实验原理在传输过程中，电信号会遭受到各种干扰和衰减。
其中，衰减是指信号在传输过程中逐渐减弱的现象。
通常情况下，随着距离增加，信号的强度会逐渐降低，这就是所谓的自由空间路径损耗（Free Space Path Loss, FSPL）。
FSPL与距离成正比，与频率平方成反比。
三、实验器材1. 信号发生器2. 示波器3. 表面贴装电阻4. 电缆四、实验步骤1. 将信号发生器连接到示波器上，并调整好输出频率和幅度。
2. 在不同距离下放置表面贴装电阻，并将其连接到示波器上。
3. 测量每个距离下电压值，并计算出相应的功率值。
4. 绘制功率与距离之间关系曲线图，并分析其特点。
五、实验结果与分析在本次实验中，我们测量了不同距离下信号的衰减情况，并绘制出了功率与距离之间关系曲线图。
通过数据分析，我们可以发现，随着距离的增加，信号的功率逐渐降低。
而且，不同频率下衰减的程度也有所不同。
这是由于FSPL与频率平方成反比的原因。
六、实验结论通过本次实验，我们深入了解了电信号在传输过程中会遭受到衰减的影响，并掌握了衰减测量的方法和技巧。
同时，我们也发现了FSPL与距离成正比，与频率平方成反比的规律。
这对于我们在日常生活和工作中使用电子设备和通讯设备具有重要意义。
七、实验注意事项1. 实验过程中要注意安全。
2. 实验器材要正确接线。
3. 测量数据时要注意准确性。
4. 实验结束后要及时清理实验器材和场地。
八、参考文献1. 《电子技术基础》（第二版），王明芳等著，高等教育出版社，2006年。
2. 《电子技术实验指导书》（第三版），李华等著，清华大学出版社，2013年。
微波暗室分类
微波暗室分类暗室一般分为电波暗室、微波暗室、雷达仿真测试暗室：3M法暗室产品描述：上海墨石电子3米法暗室是一个最新设计的EMC测试场地，主要用于辐射发射和辐射敏感性的标准性测试。
整个的系统具有多功能用途，覆盖国际、欧洲、美国和各国的标准。
产品性能：1.频率范围：30MHz～18GHz2.吸波材料反射损耗：30MHz～18GHz≥15dB3.3M 法暗室及屏蔽控制室必须按照EN50147-1 进行测试，屏蔽效能至少能满足如下要求：4.归一化场地衰减：3M法暗室可确保在直径为2M的静区内从30MHz 至1GHz 测量的归一化位衰减(NSA、Normalized site Attenuation)与理论值偏差不超过±3.5dB（标准要求±4.0dB），符合ANSIC63.4--1992， CISPR16， EN50147-2 的要求。
5M法暗室产品描述:5米法暗室是一个最新设计的EMC测试场地，主要用于辐射发射和辐射敏感性的标准性测试。
产品性能：和电磁敏感度（EMS）测试。
适用频率30MHz-18GHz可延至40GHz。
产品性能：2. 按照ANSI C63.4-2003的步骤和规定在直径3米的圆柱体静区内所有位置从30MHz至1GHz进行归一化场衰减测试，按照10米法测量的归一化衰减 (NSA)值与理论值偏差优于±4dB；1GHz至18GHz频率范围内使用传输损耗（TL）测试方法进行测试，仅在5GHz、10GHz 和18GHz三点进行测试,归一化衰减(NSA)值与理论值偏差优于±4dB。
同时满足CISPR16、EN50147-2、CISPR22-1997、 GB9254-1998、VCCI V-3/99.05标准对场衰减的要求。
3. 按照IEC61000-4-3步骤和规定，符合EN61000-4-3:1996和GB/T 17626.3-1998的要求，在30MHz至1GHz进行场均匀度测试，标准场为转台之上0.8米-2.3米范围内1.5米x1.5米的垂直平面，按照3米测试距离要求16个测试点的75%即12点场均匀性在0-6dB之间；1GHz至18GHz的测试仅在5GHz、10 GHz和18GHz三点以低于3v/m进行测试。
衰减（插入损耗）测量和测试
衰减（插⼊损耗）测量和测试现在，在相关标准中使⽤术语“插⼊损耗”⽽不使⽤衰减。
通过链路传输的电信号在沿链路传输时会损失部分能量。
插⼊损耗可测量信号到达布线链路接收端时损失的能量。
插⼊损耗测量结果是布线链路对电信号传输阻抗效果的量化。
链路的插⼊损耗特性随着传输信号的频率变化⽽变化；例如，较⾼的信号会遇到较⾼的阻抗。
换⼀种说法就是，信号频率越⾼，链路的插⼊损耗就越多。
因此，需要在相应的频率范围内测量插⼊损耗。
因此，例如，如果要测量 Cat 5e 通道的插⼊损耗，就需要对范围在 1 MHz 到 100 MHz 内的信号的插⼊损耗进⾏验证。
对于 Cat 8 链路，频率范围为 1 到 2000 MHz。
插⼊损耗和链路长度也⼏乎呈线性关系增长。
换句话说，如果链路 'A' 的长度是链路 'B' 的两倍，且所有其他特性相同，则链路 'A' 的插⼊损耗会是链路 'B' 的两倍。
插⼊损耗⽤分贝或 dB 表⽰。
分贝是输出电压（链路末端收到的信号的电压）与输⼊电压（发射器送⼊线缆的电压）之⽐的对数表⽰。
结果分析线缆中的插⼊损耗很⼤程度上取决于线对中的钢丝直径。
24 号钢丝的插⼊损耗会⽐相同长度的 26 钢丝（较细）⼩。
另外，标准布线的插⼊损耗会⽐实⼼铜导体⾼ 20-50%。
现场测试设备会报告插⼊损耗和余量的最差值，其中余量是测量的插⼊损耗和选择的标准允许的最⼤插⼊损耗之差。
因此，4 dB 的余量要优于 1 dB。
故障排除建议长度过量是插⼊损耗测试未通过的最常见原因。
固定链路如果未通过插⼊损耗测试，通常要通过移除线缆路径上的松弛部分来缩短长度。
插⼊损耗过量也可能是因连接器/插头端接质量差造成的。
接头质量差会显著增加插⼊损耗。
要判断是否是这个原因，可对四个线对上的插⼊损耗进⾏⽐较。
如果只有⼀或两个线对插⼊损耗较⾼，则表⽰是安装问题。
如果所有线对插⼊损耗都过⾼，则是长度过量。
光缆中继段光纤线路衰减测试记录
光缆中继段光纤线路衰减测试记录光缆中继段光纤线路衰减测试是为了检测光缆中继段的光纤线路在传输信号时所产生的衰减量。
衰减是指信号在通过光纤过程中能量减弱的现象，它是光纤传输中的一个重要参数。
光纤线路衰减测试能够评估光线传输质量，并判断光缆系统的稳定性和传输距离范围。
测试步骤如下：1.准备工作：获取测试仪器，包括光纤衰减测试仪、光源、光功率计、参考光纤等。
2.连接参考光纤：将参考光纤连接到光源和光功率计，检查连接是否牢固，确保信号传输畅通。
3.连接光缆中继段：将待测光缆中继段连接到光纤衰减测试仪的光纤接口，确保连接良好。
4.设置测试参数：根据实际需要，设置测试仪器的测试参数，包括波长、测试距离、测试时间等。
5.开始测试：启动光纤衰减测试仪，观察测试结果的数据显示。
6.记录测试数据：将测试结果记录下来，包括测试时间、测试距离、测试波长、测试结果等。
7.分析结果：根据测试数据，计算光缆中继段的衰减量，并进行结果分析。
测试记录如下：测试时间：2024年8月5日测试地点：XXX光缆中继站测试设备：XXX光纤衰减测试仪、光源、光功率计、参考光纤测试距离：1000米测试波长：1310nm、1550nm测试波长，测试功率（dBm），接收光功率（dBm），衰减（dB）--------，--------------，-----------------，----------1310nm ， -2.5 ， -5.8 ， 3.31550nm ， -3.2 ， -6.5 ， 3.3从测试结果中可以看出，该光缆中继段的衰减量在1310nm和1550nm 两个波长下分别为3.3dB。
根据标准，光缆中继段的衰减一般应在允许范围内，过高的衰减会导致信号质量下降，从而影响光纤传输的稳定性和距离。
在本次测试中，该光缆中继段的衰减量处于合理范围内，能够满足正常的光信号传输要求。
但需要注意的是，衰减量可能会随着光纤线路的老化或损坏而增加，因此，定期进行衰减测试是保证光纤传输质量的重要手段之一总结：对光缆中继段光纤线路进行衰减测试是很有必要的，通过测试可以评估光线传输质量，判断光缆系统的稳定性和传输距离范围。
天线系数的测试误差与NSA测试的改进
戴
飞
谢树果
高万峰
( 北京航空航天大学 电子信息工程学院 , 北京 100083 )
要 : 总结了归一化场地衰减 ( NSA, The N or m a lized Site A ttenuation) 测试中存在
的误差 , 指出误差主要来源于天线系数. 通过对天线互阻抗的分析 , 说明它是天线系数误差的 主要来源. 简单介绍了天线系数的标准计量方法, 发现其中并未考虑互阻抗的影响; 修正了天 线系数计量中采用的方程组, 证明该方程组不能求解. 分析了减小测试天线间互阻抗误差的因 素 , 重新设计了一种新的测试方法. 新方法使用天线增益替代天线系数, 利用天线增益测试的 必要条件避免互阻抗的影响; 证明了新方法与原方法的原理间的等价条件; 通过实测验证了新 方法的有效性. 关 键 词 : 电磁兼容; 误差 ; 天线 文 章 编 号 : 10012 5965( 2007) 1121291204 中图分类号 : T M 93 文献标识码 : A
: (Z 12 - Z 14 ) Z = - Z 13 ( Z 24 - Z 22 - ZL )
1 m 2
( 1)
式中 ZXY为天线 Y对 X 的互阻抗. 令 $ AF 为考虑互阻抗的天线系数与自由空间 中天线系数的比值, 则 $ AF = 50 + Z S + Z m 50 + Z S ( 2)
AF = 19 . 8 - 20 @ lg K - 10 @ lgG r ( 6) NSA 测试中 的自由空间天线 系数应该 经过 严格的计量 , 标准允许的方法包括标准场地法、 标 准天线法和二天线法 . 其中二天线法要求收 发天线完全相同 , 实际测试中很难实现. 标准场地 法和标准天线法这些方法在开阔场中实施, 要求 收发天线采取水平极化, 天线之间的距离为 10m. 这样做的目的是减小收发天线间互阻抗, 并且在 水平极化下 , 电缆和地面对天线的影响相对较小. 标准场地法采用 3 只天线 , 使用两两天线测 量场地衰减 , 可以得到以下方程组: AF1 + AF2 = A1 + 20 lg fM - 48 . 92 + E D AF1 + AF3 = A2 + 20 lg fM - 48 . 92 + E D
3米和10米场地的区别
介绍一下3米法暗室和10米法暗室10米法暗室在屏蔽室的天花板和四面墙贴上吸波材料，地面的吸波材料采用活动式铺设，即构成EMC实验室。
该EMC暗室（实验室）为十米法半电波暗室，在30MHz至18GHz的频率范围内，在3米测试距离拥有2米静区，10米测试距离拥有3米或更大静区，该暗室满足FCC、CE和VCCI对十米法暗室的认证、测试要求。
一.用途：可对通讯设备、电子、电气设备进行电磁兼容（EMC）测试，即电磁干扰（EMI）和电磁敏感度（EMS）测试。
适用频率30 MHz-18GHz可延至40GHz。
二.主要规格及性能1.屏蔽效能，满足EN 50147-1、GB12190-90。
技术参数如下：频率屏蔽效能14 kHz ＞60 dB 磁场100 kHz ＞80 dB 磁场100 kHz ＞100 dB 电场1 MHz ＞100 dB 磁场1 MHz ＞100 dB 电场100 MHz ＞100 dB 电场1 GHz ＞100 dB 平面波10 GHz＞100 dB 微波18 GHz＞100 dB 微波100 MHz ＞100 dB 电场1 GHz ＞100 dB &nb2.按照ANSI C63.4-2003的步骤和规定在直径3米的圆柱体静区内所有位置从30MHz至1GHz进行归一化场衰减测试，按照10米法测量的归一化衰减(NSA)值与理论值偏差优于±4dB；1G Hz至18GHz频率范围内使用传输损耗（TL）测试方法进行测试，仅在5GHz、10GHz和18GHz三点进行测试,归一化衰减(N SA)值与理论值偏差优于±4dB。
同时满足CISPR16、EN50147-2、CISPR22-1997、GB9254-1998、VCCI V-3/99.05标准对场衰减的要求。
3.按照IEC61000-4-3步骤和规定，符合EN61000-4-3:1996和GB/T 17626.3-1998的要求，在30MHz至1GHz进行场均匀度测试，标准场为转台之上0.8米-2.3米范围内1.5米x1.5米的垂直平面，按照3米测试距离要求16个测试点的75%即12点场均匀性在0-6dB之间；1GHz至18GHz的测试仅在5GHz、10GHz和18GHz三点以低于3v/m进行测试。
物理实验技术衰减测量方法介绍
物理实验技术衰减测量方法介绍物理实验中，衰减是一个重要的概念，指的是信号、能量或者强度在传输过程中逐渐减弱的现象。
准确测量衰减对于许多实验的数据和结果非常关键。
在物理实验中，有许多不同的方法和技术可以用来测量衰减，我们在下面将介绍其中的一些。
1. 叠加法叠加法是一种常见的测量衰减的方法。
它的原理是通过将待测信号与一个已知幅度的参考信号进行叠加，然后测量叠加后的信号的幅度。
通过对比参考信号和叠加信号的幅度差异，可以计算出信号的衰减程度。
2. 光电探测器光电探测器是一种常用于光学实验中测量光强的仪器。
它的工作原理是利用光电效应，将光信号转换为电信号。
在测量衰减时，可以使用光电探测器通过测量入射光和出射光的强度差异来获得衰减值。
3. 转动法转动法也是一种常用的衰减测量方法。
它适用于液体或颗粒物质的衰减测量。
原理是通过转动一个固定角度的透明物体，例如旋转角度可调的圆盘或槽，来改变透射信号的路径长度。
通过测量透射信号的强度差异，可以得出衰减的程度。
4. 干涉法干涉法是一种高精度的衰减测量方法，适用于光学实验以及其他波动实验。
它利用光的干涉现象，通过观察干涉图案的变化来测量衰减。
当入射波通过被测介质时，会产生干涉现象，干涉图案的变化会反映出衰减的程度。
5. 扩散法扩散法是一种用于测量气体浓度的衰减测量方法。
它的原理是，通过将气体样品放置在一个容器中，测量入射和出射光的强度差异。
气体中存在的颗粒物质会散射光线，从而导致光的强度减弱。
通过测量散射后的光强度，可以计算出气体的浓度。
总结起来，物理实验中衰减测量方法多种多样，每种方法都有自己的适用范围和优势。
在选择具体的方法时，需要考虑测量的准确度、实验的复杂度以及实验条件等因素。
通过合理的选择和应用衰减测量方法，可以有效地获取实验数据，并提高实验结果的可靠性。
微波暗室分类
微波暗室分类暗室一般分为电波暗室、微波暗室、雷达仿真测试暗室：3M法暗室产品描述：上海墨石电子3米法暗室是一个最新设计的EMC测试场地，主要用于辐射发射和辐射敏感性的标准性测试。
整个的系统具有多功能用途，覆盖国际、欧洲、美国和各国的标准。
产品性能：1.频率范围：30MHz～18GHz2.吸波材料反射损耗：30MHz～18GHz≥15dB3.3M 法暗室及屏蔽控制室必须按照EN50147-1 进行测试，屏蔽效能至少能满足如下要求：4.归一化场地衰减：3M法暗室可确保在直径为2M的静区内从30MHz 至1GHz 测量的归一化位衰减(NSA、Normalized site Attenuation)与理论值偏差不超过±3.5dB（标准要求±4.0dB），符合ANSIC63.4--1992， CISPR16， EN50147-2 的要求。
5M法暗室产品描述: 5米法暗室是一个最新设计的EMC测试场地，主要用于辐射发射和辐射敏感性的标准性测试。
产品性能：（EMI）和电磁敏感度（EMS）测试。
适用频率30MHz-18GHz可延至40GHz。
产品性能：1GHz进行归一化场衰减测试，按照10米法测量的归一化衰减 (NSA)值与理论值偏差优于±4dB；1GHz至18GHz频率范围内使用传输损耗（TL）测试方法进行测试，仅在5GHz、10GHz 和18GHz三点进行测试,归一化衰减(NSA)值与理论值偏差优于±4dB。
同时满足CISPR16、EN50147-2、CISPR22-1997、 GB9254-1998、VCCI V-3/99.05标准对场衰减的要求。
3. 按照IEC61000-4-3步骤和规定，符合EN61000-4-3:1996和GB/T 17626.3-1998的要求，在30MHz至1GHz进行场均匀度测试，标准场为转台之上0.8米-2.3米范围内1.5米x1.5米的垂直平面，按照3米测试距离要求16个测试点的75%即12点场均匀性在0-6dB之间；1GHz至18GHz的测试仅在5GHz、10 GHz和18GHz三点以低于3v/m进行测试。