华科串行接口AD转换实验报告

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ad da转换实验报告

ad da转换实验报告

ad da转换实验报告AD-DA转换实验报告摘要:本实验旨在通过AD-DA转换器,将模拟信号转换为数字信号,然后再转换回模拟信号,以验证转换器的性能和精度。

实验结果表明,转换器具有较高的精度和稳定性,能够准确地将模拟信号转换为数字信号,并且能够将数字信号准确地转换回模拟信号,为数字信号处理提供了可靠的基础。

引言:AD-DA转换器是现代电子设备中常用的一种电子元件,它能够将模拟信号转换为数字信号,然后再将数字信号转换回模拟信号。

这种转换器在数字信号处理、通信系统、音频设备等领域具有广泛的应用。

本实验旨在通过实际操作,验证AD-DA转换器的性能和精度,以便更好地了解其工作原理和特点。

实验步骤:首先,我们使用函数发生器产生一个模拟信号,并将其输入到AD-DA转换器中。

然后,转换器将模拟信号转换为数字信号,我们将数字信号输入到计算机中进行处理。

接着,我们将处理后的数字信号再次输入到AD-DA转换器中,转换器将数字信号转换回模拟信号,并将其输出到示波器上进行观测和分析。

实验结果:经过实验操作和数据分析,我们发现AD-DA转换器具有较高的精度和稳定性,能够准确地将模拟信号转换为数字信号,并且能够将数字信号准确地转换回模拟信号。

在不同频率和幅度的模拟信号输入下,转换器都能够保持良好的性能,没有出现明显的失真和误差。

这表明,AD-DA转换器在实际应用中具有较高的可靠性和稳定性,能够为数字信号处理提供可靠的基础。

结论:通过本次实验,我们验证了AD-DA转换器的性能和精度,得出了转换器具有较高的可靠性和稳定性的结论。

这为我们更好地理解和应用AD-DA转换器提供了重要的实验数据和经验,也为数字信号处理和通信系统的设计和应用提供了可靠的支持。

希望通过本次实验,能够更好地推动AD-DA转换器的研究和应用,为电子技术的发展做出更大的贡献。

华科串行接口AD换实验报告

华科串行接口AD换实验报告

DAC121S101中断控制方式接口电路四.实验步骤1.硬件平台建立1)参照11章使用XPS创立一个基于AXI总线的最小计算机系统。

2)添加AXI Interrupt Controller IP核:a.在IP Catalog标签中,双击下面图标创立INTC IP核:b.将microblaze_0实例的INTERRUPT引脚选择axi_intc_0_INTERRUPT,如图:3)参加AXI SPI接口控制器:a.如下图,选择AXI SPI。

b.配置SPI接口参数如下图。

这是由于该SPI接口仅需要输出数据,而且一次传输需要16位数据,一个从设备,且D/A转换芯片要求SCLK 最高速率30MHz,由于AXI总线频率为100MHz,一次分频比为8,此时SCLK的频率仅为12.5MHz。

c.设置端口连接配置,如图:4)为AXI INTC添加中断源,如图:5)配置UCF文件:在UCF文件中修改如下图配置,此时是通过PMOD JA上排插针进展连接:NET "CLK" TNM_NET = sys_clk_pin;TIMESPEC TS_sys_clk_pin = PERIOD sys_clk_pin 100000 kHz;NET "CLK" LOC = "E3" | IOSTANDARD = "LVCMOS33";NET "RESET" LOC = "E16" | IOSTANDARD = "LVCMOS33";NET "RsRx" LOC = "C4" | IOSTANDARD = "LVCMOS33";NET "RsTx" LOC = "D4" | IOSTANDARD = "LVCMOS33";NET "axi_spi_0_SS_pin" LOC = "B13" | IOSTANDARD = "LVCMOS33"; NET "axi_spi_0_MOSI_pin" LOC = "F14" | IOSTANDARD = "LVCMOS33"; NET "axi_spi_0_MISO_pin" LOC = "D17" | IOSTANDARD = "LVCMOS33"; NET "axi_spi_0_SCK_pin" LOC = "E17" | IOSTANDARD = "LVCMOS33";6)创立工程过程完成后,a.在主界面下选择Hardware->Generate Netlist;b.在主界面下选择Hardware->Generate Bitstream;c.单击Graphical Design View,可以看到系统的连接图,如下:2.软件平台建立(1)SDK提供的外设驱动以及应用程序1.点击project->Expert Hardware Design to SDK…,点击Export&Launch SDK:2.在SDK中,建一个空的c文件,输入源代码(2)源代码:#include"xparameters.h"#include"xspi.h"#include"xintc.h"#include"xil_exception.h"#define BUFFER_SIZE 2void SpiIntrandler(void *CallBackRef,u32 Statusevent,u32 Bytecount);static XIntc IntcInstance;static XSpi SpiInstance;volatileint TransferInProgress;int Error;u8ReadBuffer[BUFFER_SIZE];u8 WriteBuffer[BUFFER_SIZE];int main(void){int Status;Status=XSpi_Initialize(&SpiInstance,XPAR_SPI_0_DEVICE_ID);Status=XIntc_Initialize(&IntcInstance,XPAR_INTC_0_DEVICE_ID);Status=XIntc_Connect(&IntcInstance,XPAR_INTC_0_SPI_0_VEC_ID,(XInterruptHandler)XSpi_InterruptHandler,(void *)&SpiInstance);Status=XIntc_Start(&IntcInstance,XIN_REAL_MODE);XIntc_Enable(&IntcInstance,XPAR_INTC_0_SPI_0_VEC_ID);microblaze_register_handler((XInterruptHandler)XIntc_InterruptHandler,&IntcInstance); microblaze_enable_interrupts();XSpi_SetStatusHandler(&SpiInstance,&SpiInstance,(XSpi_StatusHandler)SpiIntrandler);Status = XSpi_SetOptions(&SpiInstance,XSP_MASTER_OPTION |XSP_CLK_PHASE_1_OPTION); Status = XSpi_SetSlaveSelect(&SpiInstance,1);XSpi_Start(&SpiInstance);while(1){TransferInProgress = TRUE;XSpi_Transfer(&SpiInstance,WriteBuffer,ReadBuffer,2);while(TransferInProgress);u16temp;temp = ReadBuffer[1] << 8;temp += ReadBuffer[0];xil_printf("adc = %d\n\r", temp);int i;for(i = 0; i < 5000000; i++);}return XST_SUCCESS;}void SpiIntrandler(void *CallBackRef, u32 StatusEvent, u32 ByteCount){TransferInProgress = FALSE;if(StatusEvent != XSP_SR_RX_EMPTY_MASK){Error++;}}五.实验结果和调试过程1、连接好硬件模块,并分别将A/D模块的J2插针1号引脚分别连接到GND和VCC,在调试环境下,设置断点如下列图1所示,每次执行RESUME之后,展开RENDBUFFER可以得到如下列图2和图3所示结果。

AD转换器实验分析

AD转换器实验分析

5、程序设计
1)工作原理
图4 ADC0809的内部结 构
5、程序设计
1)工作原理
1、A/D转换器大致有三类:一是双积分A/D转换器,优点是 精度高,抗干扰性好,价格便宜,但速度慢;二是逐次逼近A/ D转换器,精度、速度、价格适中;三是并行A/D转换器,速度 快,价格也昂贵。 2、本实验用的ADC0809属第二类,是八位A/D转换器。每采 集一次一般需100μs,A/D转换结束后会自动产生EOC信号。 本程序实例是以查询方式读入A/D转换结果。实验系统具有8路 A/ D通道(模拟量输入端为IN0、IN1……IN7),地址分别为 CFA0~ CFA7H,当有EOC信号,A/D转换器转换完毕,可以读入 转换好的数据了。实现转换的过程是:
8、思考题
1)分析本实验D/A转换的分辨率是多少?其含义是什么?根据实验 数据,估计该以D/A转换器的线性误差,若要准确求其线性误差, 应如何测试? 2)分析本实验A/D转换的分辨率是多少?其含义是什么?根据实验 数据,估计该A/D转换器的转换精度?
A/D转换器实验
附录
A/D转换结果
输入 0 电压
A/D转换器实验
5)实验接线(0809)
0809CS48000(8000H-8007H);0809IN0定



0809ADDA/ADDB/ADDCGND;0809WR/RD
接单片机的WR/RD;0809CLK500K;P1.0~
P1.7发光二极管的输入LED1~LED8;
编程并全速运行。
旋转定位器,观察发光二极管或LED数码管的变化。
A/D转换 完毕?
数据输出显示
图6 ADC0809的转换程序流 程
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ

串行AD实验预习报告

串行AD实验预习报告

串行AD实验预习报告一.实验目的学习使用串行模数转换芯片TLC549进行电压采集和数据处理。

二.实验原理TLC549是美国德州仪器(TI)公司生产的8位串行逐次比较型A/D转换芯片。

通用微处理器通过串行控制线可实现对该芯片的控制。

该芯片具有4MHz片内系统时钟和软、硬件控制电路,转换时间最长17μs,转换速度为40 000次/s。

总失调误差最大为±0.5LSB,典型功耗值为6mW。

管脚封装如图1所示:图1 TLC549管脚封装图管脚定义为:4、8脚为电源输入和接地;2脚AIN模拟采样电压的输入;5脚-CS为片选信号,当-CS为高时,数据输出DATA_OUT 端处于高阻状态;7脚I/OCLK为时钟信号的输入;6脚DOUT为转换后的串行数据输出;1、3脚为参考电压输入,其中1脚REF+,3脚REF-,通常为保证器件工作良好,REF+电压应高于REF-电压至少1V,为减少误差,建议相差4.75V以上。

TLC549的工作时序如图2所示:图2 TLC549工作时序图如上图所示,首先将CS置低,内部电路在测得CS下降沿后,等待ten后自动将前一次转换结果的最高位(D7)位输出到DATA OUT端上。

前四个IO_CLOCK 周期的下降沿依次移出第2、3、4 和第5 个位(D6、D5、D4、D3),片上采样保持电路在第4个IO_CLOCK 下降沿开始采样模拟输入。

接下来的3个IO_CLOCK 周期的下降沿移出第6、7、8(D2、D1、D0)个转换位。

最后,片上采样保持电路在第8个I/O CLOCK 周期的下降沿后,开始A/D转换。

第8个IO_CLOCK后,CS 必须为高,或IO_CLOCK保持低电平,这种状态需要维持tconv以等待保持和转换工作的完成。

三.实验设备及器件PC机,DP-51PROC单片机综合仿真试验仪。

四.实验内容1. 实验要求1.1 REF+连基准源的+5V(通过可调电阻调整),CLK、DAT和-CS分别连P10、P11和P12。

ad转换实验报告

ad转换实验报告

ad转换实验报告AD转换实验报告概述:AD转换(Analog-to-Digital Conversion)是将模拟信号转换为数字信号的过程。

本实验旨在通过实际操作和数据记录,探究AD转换的原理和应用。

实验目的:1. 了解AD转换的基本原理和分类;2. 掌握AD转换器的使用方法;3. 分析AD转换器的性能指标。

实验器材:1. AD转换器模块;2. 信号发生器;3. 示波器;4. 电脑。

实验步骤:1. 连接实验器材:将信号发生器的输出端与AD转换器的输入端相连,将AD转换器的输出端与示波器的输入端相连,将示波器与电脑连接;2. 设置信号发生器:调整信号发生器的频率、幅度和波形,生成不同的模拟信号;3. 设置AD转换器:根据实验要求,选择合适的AD转换器工作模式,并设置采样率和分辨率;4. 进行AD转换:通过示波器监测AD转换器输出的数字信号,并记录下相应的模拟输入信号值;5. 数据分析:将记录的数据输入电脑,进行进一步的数据分析和处理。

实验结果:在实验过程中,我们通过改变信号发生器的频率、幅度和波形,观察到AD转换器输出的数字信号的变化。

根据示波器的显示和记录的数据,我们得到了一系列的AD转换结果。

通过对这些结果的分析,我们可以得出以下结论:1. AD转换器的分辨率对转换精度有重要影响。

分辨率越高,转换结果的精度越高;2. AD转换器的采样率对转换结果的准确性有影响。

采样率过低可能导致信号失真或丢失;3. 不同的模拟信号在AD转换过程中可能会产生不同的失真现象,如量化误差、采样误差等;4. AD转换器的性能指标包括分辨率、采样率、信噪比等,这些指标对于不同应用场景有不同的要求。

实验总结:通过本次实验,我们深入了解了AD转换的原理和应用。

实验结果表明,AD转换器在现代电子设备中具有重要的作用,广泛应用于音频处理、图像处理、传感器数据采集等领域。

了解和掌握AD转换的基本原理和性能指标,对于我们理解和设计数字系统具有重要意义。

实验十DA、AD转换实验报告(一)

实验十DA、AD转换实验报告(一)

实验十DA、AD转换实验报告(一)引言概述:实验十DA、AD转换实验报告(一)本实验报告旨在介绍实验十DA、AD转换的相关内容。

在本次实验中,我们将会学习数字模拟转换和模拟数字转换的原理与方法,并通过实际操作进行验证。

本报告将按照以下五个主要部分进行阐述:(1)实验准备,(2)DA转换原理与方法,(3)AD转换原理与方法,(4)实验步骤与结果,(5)实验总结。

正文内容:1. 实验准备1.1 硬件准备- 数字模拟转换器(DAC)模块- 模拟数字转换器(ADC)模块- 连接电缆1.2 软件准备- 实验十DA、AD转换实验软件2. DA转换原理与方法2.1 DA转换原理- 数字模拟转换器将数字信号转换为模拟电压或电流输出的过程- 通过将数字数据转换为电路中的模拟信号,实现了数字信号到模拟信号的转换2.2 DA转换方法- 标准电压法- 标准电流法- R-2R网络法3. AD转换原理与方法3.1 AD转换原理- 模拟数字转换器将模拟量转换为数字量的过程- 通过将连续的模拟信号转换为离散的数字信号,实现了模拟信号到数字信号的转换3.2 AD转换方法- 逐次逼近法- 并行比较法- 闪存式转换法4. 实验步骤与结果4.1 实验设置- 连接DAC和ADC模块到电路中- 连接电缆,确保连接正确4.2 实验步骤- 设置DAC模块的输出值- 进行DA转换并记录输出结果- 将模拟信号输入到ADC模块中- 进行AD转换并记录输出结果4.3 实验结果- 实验运行过程中的数据记录与图表展示5. 实验总结5.1 实验心得体会- 通过本次实验,我更深入地了解了DA、AD转换的原理与方法- 实际操作过程中加深了对数字模拟转换和模拟数字转换的理解5.2 实验结果分析- 分析实验得到的数据与图表,验证转换原理与方法的准确性5.3 实验改进与展望- 在后续的实验中,可以进一步探索其他类型的DA、AD 转换器- 可以对实验步骤进行改进,提高实验效果和精确度总结:本实验报告阐述了实验十DA、AD转换的相关内容。

试验六AD转换实验和DA转换实验

试验六AD转换实验和DA转换实验

试验六AD转换实验和DA转换实验实验目的:本实验旨在通过AD转换实验和DA转换实验,掌握模拟信号和数字信号之间的相互转换原理和步骤,进一步了解AD转换器和DA转换器的工作原理、应用场景以及实验方法。

实验器材:1. 信号发生器:用于产生待转换的模拟信号。

2. 数字存储示波器:用于观测和分析信号的变化情况。

3. AD转换器:用于将模拟信号转换为数字信号。

4. DA转换器:用于将数字信号转换为模拟信号。

实验步骤:AD转换实验:1. 将信号发生器输出的正弦波连接到AD转换器的输入端,调节信号发生器输出的频率和幅度,确保输入信号的稳定性和合适的幅度。

2. 连接数字存储示波器到AD转换器的输出端,观测和记录数字信号的波形。

3. 使用示波器的触发功能,调整触发电平和触发方式,确保观测到的波形满足要求。

4. 改变信号发生器输出的频率和幅度,重复步骤2和3,记录不同条件下的数字信号波形。

DA转换实验:1. 将数字存储示波器输出的数字信号连接到DA转换器的输入端,设置数字信号的幅值和频率。

2. 连接DA转换器的输出端到示波器的输入端,观测和记录模拟信号的波形。

3. 改变数字信号的幅值和频率,重复步骤2,记录不同条件下的模拟信号波形。

实验结果:根据实验步骤进行AD转换实验和DA转换实验后,记录所得的数字信号和模拟信号波形如下:(插入实验得到的数字信号和模拟信号波形图片)实验分析:通过实验结果可以观察到AD转换实验和DA转换实验的转换效果和特点。

在AD转换实验中,输入信号经过AD转换器转换为数字信号后,波形变得离散化,失去了模拟信号的连续性。

而在DA转换实验中,数字信号经过DA转换器转换为模拟信号后,波形逐渐恢复了连续性,与输入信号更加接近。

实验总结:通过本次AD转换实验和DA转换实验,我们深入了解了模拟信号和数字信号之间的相互转换原理和步骤,掌握了AD转换器和DA转换器的工作原理和应用场景。

同时,我们通过实验观察到了数字信号和模拟信号在转换过程中的特点和变化,对信号的采样和恢复有了更深入的认识。

ad转换器的实验报告

ad转换器的实验报告

ad转换器的实验报告《AD转换器实验报告:探究数字信号的精准转换》在现代电子科技领域中,AD转换器(Analog-to-Digital Converter)扮演着至关重要的角色。

它能够将模拟信号转换为数字信号,使得我们能够对信号进行精确的处理和分析。

为了更深入地了解AD转换器的工作原理和性能特点,我们进行了一系列的实验研究。

首先,我们搭建了一个基本的AD转换器实验平台,包括模拟信号发生器、AD转换器芯片、数字信号处理器等组件。

通过调节模拟信号的频率、幅度和波形,我们观察到AD转换器能够准确地将模拟信号转换为对应的数字信号,并输出到数字信号处理器进行进一步的处理。

接着,我们对AD转换器的性能进行了详细的测试。

通过改变采样频率、分辨率和输入信号的幅度范围,我们发现AD转换器的性能表现出了一定的规律。

在较高的采样频率下,AD转换器能够更准确地捕捉到信号的细节,而较高的分辨率则能够提高信号的精度和分辨率。

此外,我们还发现在输入信号幅度范围较大时,AD转换器的性能会受到一定程度的影响,需要进行适当的调整和处理。

最后,我们对AD转换器的应用进行了探讨。

我们发现AD转换器广泛应用于各种领域,包括通信、医疗、工业控制等。

它能够将模拟信号转换为数字信号,使得信号的处理和传输更加方便和可靠。

同时,AD转换器也在数字信号处理领域发挥着重要作用,为数字信号的处理和分析提供了可靠的数据基础。

通过这次实验,我们更深入地了解了AD转换器的工作原理和性能特点,对其在实际应用中的作用有了更清晰的认识。

我们相信,随着科技的不断发展,AD转换器将会在更多的领域发挥着重要的作用,为数字信号的处理和传输提供更加可靠的技术支持。

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微机原理●实验●测试串行接口AD转换实验
专业:电子信息工程
姓名:
班级:201401 班
学号:U201413278
日期:年月日
专业电子信息与通信学院班级电信1401班日期2016/05/12 第 4次试验
组别 15 指导老师成绩
实验课题串行接口AD转换实验
一.实验目的
1.理解RS232串行通信协议以及接口设计
2.理解SPI串行通信协议
3.掌握RS232串行接口设计
4.掌握SPI串行接口设计
5.掌握串行AD/DA接口设计
二.实验任务
•SPI接口AD转换三个电平数据,打印结果到console,要求采用中断方式。

三.实验原理
DAC121S101中断控制方式接口电路
四.实验步骤
1.硬件平台建立
1)参照11章使用XPS创建一个基于AXI总线的最小计算机系统。

2)添加AXI Interrupt Controller IP核:
a.在IP Catalog标签中,双击下面图标创建INTC IP核:
b.将microblaze_0实例的INTERRUPT引脚选择axi_intc_0_INTERRUPT,
如图:
3)加入AXI SPI接口控制器:
a.如图所示,选择AXI SPI。

b.配置SPI接口参数如图所示。

这是由于该SPI接口仅需要输出数据,
而且一次传输需要16位数据,一个从设备,且D/A转换芯片要求SCLK 最高速率30MHz,由于AXI总线频率为100MHz,一次分频比为8,此时SCLK的频率仅为12.5MHz。

c.设置端口连接配置,如图:
4)为AXI INTC添加中断源,如图:
5)配置UCF文件:
在UCF文件中修改如图所示配置,此时是通过PMOD JA上排插针进行连接:
NET "CLK" TNM_NET = sys_clk_pin;
TIMESPEC TS_sys_clk_pin = PERIOD sys_clk_pin 100000 kHz;
NET "CLK" LOC = "E3" | IOSTANDARD = "LVCMOS33";
NET "RESET" LOC = "E16" | IOSTANDARD = "LVCMOS33";
NET "RsRx" LOC = "C4" | IOSTANDARD = "LVCMOS33";
NET "RsTx" LOC = "D4" | IOSTANDARD = "LVCMOS33";
NET "axi_spi_0_SS_pin" LOC = "B13" | IOSTANDARD = "LVCMOS33";
NET "axi_spi_0_MOSI_pin" LOC = "F14" | IOSTANDARD = "LVCMOS33";
NET "axi_spi_0_MISO_pin" LOC = "D17" | IOSTANDARD = "LVCMOS33";
NET "axi_spi_0_SCK_pin" LOC = "E17" | IOSTANDARD = "LVCMOS33";
6)创建工程过程完成后,
a.在主界面下选择Hardware->Generate Netlist;
b.在主界面下选择Hardware->Generate Bitstream;
c.单击Graphical Design View,可以看到系统的连接图,如下:
2.软件平台建立
(1)SDK提供的外设驱动以及应用程序
1.点击project->Expert Hardware Design to SDK…,点击Export&Launch
SDK:
2.在SDK中,建一个空的c文件,输入源代码
(2)源代码:
#include"xparameters.h"
#include"xspi.h"
#include"xintc.h"
#include"xil_exception.h"
#define BUFFER_SIZE 2
void SpiIntrandler(void *CallBackRef,u32 Statusevent,u32 Bytecount);
static XIntc IntcInstance;
static XSpi SpiInstance;
volatile int TransferInProgress;
int Error;
u8 ReadBuffer[BUFFER_SIZE];
u8 WriteBuffer[BUFFER_SIZE];
int main(void)
{
int Status;
Status=XSpi_Initialize(&SpiInstance,XPAR_SPI_0_DEVICE_ID);
Status=XIntc_Initialize(&IntcInstance,XPAR_INTC_0_DEVICE_ID);
Status=XIntc_Connect(&IntcInstance,XPAR_INTC_0_SPI_0_VEC_ID,(XInterruptHand ler) XSpi_InterruptHandler,(void *)&SpiInstance);
Status=XIntc_Start(&IntcInstance,XIN_REAL_MODE);
XIntc_Enable(&IntcInstance,XPAR_INTC_0_SPI_0_VEC_ID);
microblaze_register_handler((XInterruptHandler)XIntc_InterruptHandler,&Intc Instance);
microblaze_enable_interrupts();
XSpi_SetStatusHandler(&SpiInstance,&SpiInstance,(XSpi_StatusHandler)SpiIntr
andler);
Status = XSpi_SetOptions(&SpiInstance,XSP_MASTER_OPTION
|XSP_CLK_PHASE_1_OPTION);
Status = XSpi_SetSlaveSelect(&SpiInstance,1);
XSpi_Start(&SpiInstance);
while(1){
TransferInProgress = TRUE;
XSpi_Transfer(&SpiInstance,WriteBuffer,ReadBuffer,2);
while(TransferInProgress);
u16 temp;
temp = ReadBuffer[1] << 8;
temp += ReadBuffer[0];
xil_printf("adc = %d\n\r", temp);
int i;
for(i = 0; i < 5000000; i++);
}
return XST_SUCCESS;
}
void SpiIntrandler(void *CallBackRef, u32 StatusEvent, u32 ByteCount)
{
TransferInProgress = FALSE;
if (StatusEvent != XSP_SR_RX_EMPTY_MASK){
Error++;
}
}
五.实验结果和调试过程
1、连接好硬件模块,并分别将A/D模块的J2插针1号引脚分别连接到GND
和VCC,在调试环境下,设置断点如下图1所示,每次执行RESUME之后,展开RENDBUFFER可以得到如下图2和图3所示结果。

图1、调试断点设置
2、实验结果
(1)Vin连接到3V3时,可以看到控制台稳定输出4095
(2)Vin连接到GND时,可以看到控制台稳定输出0
(3)当Vin悬空时,可以看到控制台输出一串随机数,处于不稳定状态
六.实验心得。

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