第4章光电检测
第4章 光电探测器及其校正技术

4.2 光电导器件 1. 光电导器件的基本参数
(1) 光敏器件的光特性 光敏器件的光特性是表征光照下光敏器件的输出量,如电阻、 电压或电流等量与入射辐射之间的关系; (2) 光敏器件的灵敏度 灵敏度又称响应度。它表示器件将光辐射能转换为电能的能力。 具体定义为:器件产生的输出电信号与引起该信号的输入光辐射通 量之比。输出电信号由器件及偏置电路的特性决定,既可以是电流, 也可以是电压,如电流表示的光灵敏度
3
4
(2) 内光电效应 某些物质在光子作用下,使物质导电特性发生变化,这种现 象叫做内光电效应。 利用内光电效应材料制成的光电探测器主要是各种类型的光 敏电阻。
5
(3) 障层光电效应
在不同材料的接触面上,由于它们电学特性不同而产生障层。
利用障层光电效应制成的光电探测器主要有各种类型的光电池和光 电二极管、光电三极管等。
21
(5) 光电倍增管的不稳定性 管子工作的不稳定性主要表现在以下三个方面: ①由于光谱响应随时间缓慢地不可逆地变化
②在几分钟或几小时内,由于可逆的疲劳所构成的漂移
③滞后作用造成阳极输出的不稳定 (6) 暗电流
在无光输入时,由阳极输出的电流叫做暗电流。暗电流的主要来源 有热发射、漏电流、管内电子散射引起泡壳荧光反馈阴极引起的发射 电流、残余气体电离和宇宙射线等。
31
(7)光敏器件的探测率D
该特性也是光敏器件探测极限水平的表示形式,它是噪声等效功 率的倒数。 (8)光敏器件的归一化探测率D* 该特性表示单位面积的器件,在放大器带宽为1Hz条件下的探 1 1 测率 1 1 2 2 1 D* D A 2 f 2 ( NEP) A f 式中 A为器件光敏面的有效面积;∆f为所用放大器的带宽; (9)光敏器件的频率特性 该特性表示器件惰性的大小。常以比探测率下降到1/2时,或信 号电压下降到1/2^0.5时所对应的频率,叫做截止频率。指导我们选 用探测器调制频率范围。
光电检测技术课后部分答案

第一章1.举例说明你知道的检测系统的工作原理激光检测一激光光源的应用用一定波长的红外激光照射第五版人民币上的荧光字,会使荧光字产生一定波长的激光,通过对此激光的检测可辨别钞票的真假。
山于仿制困难,故用于辨伪很准确。
2.简述光电检测系统的组成和特点组成:(1)光学变换:时域变换-------调制振幅,频率,相位,脉宽空域变换-------光学扫描光学参量调制:光强,波长,相位,偏振形成能被光电探测器接收,便于后续电学处理的光学信息。
(2)光电变换,变换电路,前置放大将信息变为能够驱动电路处理系统的电信息(电信号的放大和处理)(3)电路处理放大,滤波,调制,解调,A/D,D/A,微机与接口,控制。
第二章1.试归纳总结原子自发辐射,受激吸收,受激辐射三个过程的基本特征。
自发辐射:处于激发态的原子在激发态能级只能一段很短的时间,就自发地跃迁到较低能级中去,同时辐射出光子。
受激辐射:在外来光的作用下,原子从激发态能级跃迁到低能级,并发射一个与外来光完全相同的光子。
受激吸收:处于低能级的原子,在外来光的作用下,吸收光子的能量向高能级跃迁。
2.场致发光(电致发光)有哪几种形式,各有什么特点结型电致发光(注入式发光):在p-n结结构上面加上正向偏压(即p区接电源正极,n区接电源负极)时,引起电子由n区流入(在物理上称为“注入”)p区,空穴由p区流入n区,发生了电子和空穴复合而产生发光。
粉末电致发光:这是在电场作用下,晶体内部电子与空穴受激复合产生的发光现象。
两电极夹有发光材料薄膜电致发光:薄膜电致发光和粉末电致发光相似,也是在两电极间夹有发光材料,但材料是一层根薄的膜,它和电极直接接触,不混和介质。
3.为什么发光二极管的PN结要加正向电压才能发光加正向偏压时,外加电压削弱内建电场,使空间电荷区变窄,载流子的扩散运动加强,构成少数载流子的注入,产生电子和空穴的复合,从而释放能量,并产生电致发光现象。
4.发光二极管的外量子效率与射出的光子数,电子空穴对数,半导体材料的折射率有关。
《 光电检测技术 》教学大纲

《光电检测技术》教学大纲课程代码:课程中文名:光电检测技术课程英文名:课程类别:专业技术科适用专业:光伏材料应用、光伏发电应用、电子技术等专业课程学时: 48学时课程学分: 3学分一、课程的专业性质、地位和作用(目的)1、性质:必修2、地位:光电检测技术是光学与电子学技术相结合而产生的一门新型检测技术,它是利用电子技术对光学信息进行检测,并进一步传递、存储、控制、计算和显示。
光电检测技术是现代检测技术最重要的手段和方法之一。
3、作用:通过本课程的教学,使学生了解和掌握各种光电器件的结构、工作原理、工作过程、工作特性及其基本的应用,培养学生通过了解器件的性能特点来搭建检测系统的能力,培养学生学习的能力和综合运用知识的能力,培养学生理论联系实际的学风和科学态度,提高学生的分析处理实际问题的能力,为以后的工作和学习打下基础。
二、教学内容、学时分配和教学的基本要求第一章光电检测应用中的基础知识6学时,其中理论教学 6 学时,实践或其他教学0 学时1.1 辐射度学和光度学基本概念1.2 半导体基础知识1.3 基本概念1.4 光电探测器的噪声和特性参数重点:辐射度学和光度学基本概念难点:光电探测器的噪声和特性参数教学要求:本章介绍了光电检测应用中的基础知识,要求学生对基本概念有理解,进而掌握光电探测器的噪声及特性参数第二章光电检测中的常用光源3学时,其中理论教学3学时,实践或其他教学0学时2.1 光源的特性参数2.2 热辐射源2.3 气体放电光源2.4 固体发光光源2.5 激光器重点:光源的特性参数难点:气体、固体发光光源和激光器的工作原理教学要求:本章要求学生掌握各种固体发光的工作原理及其应用第三章结型光电器件 6 学时,理论教学6 学时,实践或其他教学0学时3.1 结型光电器件工作原理3.2 硅光电池3.3 硅光电二极管和硅光电三极管3.4 结型光电器件的放大电路3.5 特殊结型光电二极管3.6 结型光电器件的应用举例——光电耦合器件重点:结型光电器件的工作原理;硅光电池的工作原理及特性;硅光电二极管和硅光电三极管的性能比较难点:结型光电器件的放大电路及应用举例——光电耦合器件教学要求:要求学生掌握硅光电池的工作原理;硅光电二极管和硅光电三极管的性能比较及结型光电器件的放大电路及应用——光电耦合器件第四章光电导器件6学时,其中理论教学 6 学时,实践或其他教学0学时4.1光敏电阻的工作原理4.2 光敏电阻的主要性能参数4.3 光敏电阻的偏置电路和噪声4.4 光敏电阻的特点和应用重点:光敏电阻的工作原理和特性参数难点:光敏电阻的应用教学要求:要求学生掌握光敏电阻的工作原理及性能参数及光敏电阻的应用第五章真空光电器件3学时,其中理论教学3学时,实践或其他教学0学时5.1 光电阴极5.2 光电管与光电倍增管5.3 光电倍增管的主要特性参数5.4 光电倍增管的供电和信号输出电路5.5 微通道板光电倍增管5.6 光电倍增管的应用重点:光电管与光电倍增管的工作原理、特性参数难点:光电倍增管的供电和信号输出电路及应用教学要求:要求学生掌握光电管与光电倍增管的工作原理、特性参数及实际应用第六章真空成像器件3学时,其中理论教学3学时,实践或其他教学0学时6.1像管6.2常见像管6.3摄像管6.4光导靶和存储靶6.5摄像管的特性参数6.6摄像管的发展方向重点:像管与摄像管的工作原理难点:光导靶和存储靶的原理及摄像管的特性参数教学要求:要求学生掌握像管与摄像管的工作原理及特性参数第七章固体成像器6学时,其中理论教学 6 学时,实践或其他教学0学时7.1 电荷耦合器件7.2 电荷耦合器件的分类7.3 CCD摄像机分类7.4 CCD的特性参数7.5 自扫描光电二极管阵列7.6 固体摄像器件的发展现状和应用重点:电荷耦合器件的工作原理;CCD的特性参数难点:自扫描光电二极管阵列教学要求:要求学生掌握CCD固体成像器件的工作原理第八章红外辐射与红外探测器6学时其中理论教学 6 学时,实践或其他教学0学时8.1 红外辐射的基础知识8.2 红外探测器8.3 红外探测器的性能参数及使用中应注意的事项8.4 红外测温8.5 红外成像8.6 红外无损检测8.7 红外探测技术在军事上的应用重点:红外探测器的工作原理、性能参数及使用中应注意的事项难点:红外探测器的具体应用教学要求:要求学生掌握红外辐射的基础知识,并掌握红外探测器的各种具体应用第九章光导纤维与光纤传感器6学时其中理论教学 6 学时,实践或其他教学0学时9.1 光导纤维基础知识9.2 光导纤维的应用9.3 光纤传感器的分类及构成9.4 功能型光纤传感器9.5 非功能型光纤传感器重点:光导纤维的基础知识及功能型光纤传感器的工作原理难点:非功能型光纤传感器的工作原理教学要求:要求学生掌握光导纤维的基础知识,并掌握光纤传感器的工作原理第十章太赫兹波的产生与检测3学时其中理论教学 3 学时,实践或其他教学0学时10.1 概述10.2 THz辐射光谱学10.3 THz辐射成像重点:THz辐射成像的原理难点:THz辐射成像的原理教学要求:要求学生掌握THz辐射成像的原理三、各章节教学课时分配表本课程各部分教学内容计划学时数分配如下:四、课程的考核办法和成绩评定:1、考试 2.笔试(闭卷)3.平时成绩比重:平时成绩(包括考勤、作业、答疑、课堂练习、课外实验、等)占30%4.期末成绩比重:卷面考试占70%。
第4章光电信号检测电路1

o
U b1
Ub2
Ub3 Uo 大的偏置电压会引起光电
二极管的反向击穿。
利用图解法确定输入电路的负载电阻和反向偏 置电压大小时,应根据输入光通量的变化范围和输 出信号的幅度要求使负载线稍高于转折点M,以便 得到不失真的最大电压输出,同时保证反向偏压不 大于器件的最大工作电压Umax。
2、解析计算法:对光电器件的非线性伏安特性进 行分段折线化,称为折线化伏安特性。
在线段MN有关系:
arctan G0
G0U0 GU0 Smax
O
U0
由此可得:
U0
S max G0 G
或
arctan G
N
Ub U0
arctan GL
0 Ub U
G0
G
S max U0
2、计算负载电阻和偏置电压:
i
为保证最大线性输出 条件,负载线和对应的伏
M I max
图解法的应用:
1、负载电阻的影响分析:
图中给出了Ub不变时, RL的大小对输出信号的影响:
io
RL1 RL2 RL3
RL 2
RL1
RL3 M Q
输入光通量不变时,负
0 载电阻的减小会增大输出信
0 0
号电流,而减小输出电压。
同时负载电阻的减小会受到
最大工作电流和功耗的限制。
5 10
U /V
15
光电倍增管
光电二极管
光电三极管
1、图解计算法:利用包含非线性元件的串联电路 的图解法对恒流源器件的输入电路进行计算。
U
I Ub
Ub
io
RL
I
光电检测知识点

第一章名称解释1. 光通量2 坎德拉3. 照度4 半导体中的非平衡载流子5 绝对黑体6 基尔霍夫定律7 热噪声8 产生-复合噪声91/f 噪声知识要点半导体材料的光吸收效应(1) 本征吸收(2) 杂质吸收2. 非平衡载流子浓度载流子复合过程一般有直接复合和间接复合两种。
物体的光谱发射率总等于其光谱吸收比。
也就是强吸收体必然是强发射体。
维恩位移定律指出:当绝对黑体的温度增高时,单色辐出度的最大值向短波方向移动。
光电子发射过程可以归纳为以下三个步骤:(1) 物体吸收光子后体内的电子被激发到高能态;(2) 被激发电子向表面运动,在运动过程中因碰撞而损失部分能量;(3) 克服表面势垒逸出金属表面。
一般光电检测系统的噪声包括三种:(1) 光子噪声包括:信号辐射产生的噪声和背景辐射产生的噪声。
(2) 探测器噪声包括:热噪声、散粒噪声、产生-复合噪声、1/f 噪声和温度噪声。
(3) 信号放大及处理电路噪声在半导体器件中1/f 噪声与器件表面状态有关。
多数器件的1/f 噪声在300Hz 以上时已衰减到很低水平,所以频率再高时可忽略不计。
在频率很低时;l/f 噪声起主导作用;当频率达到中间频率范围时,产生-复合噪声比较显著;当频率较高时,只有白噪声占主导地位,其它噪声影响很小了光电探测器的合理选择(1) 根据待测光信号的大小,确定探测器能输出多大的电信号,即探测器的动态范围。
(2) 探测器的光谱响应范围是否同待测光信号的相对光谱功率分布一致。
即探测器和光源的光谱匹配。
(3) 对某种探测器,它能探测的极限功率或最小分辨率是多少—需要知道探测器的等效噪声功率;需要知道所产生电信号的信噪比。
(4) 当测量调制或脉冲光信号时,要考虑探测器的响应时间或频率响应范围。
(5) 当测量的光信号幅值变化时,探测器输出的信号的线性程度。
第二章名称解释光源的发光效率色温色表显色性相关色温分布温度知识要点选择光源时,应综合考虑光源的强度、稳定性、光谱特性等性能根据斯奇芬-玻尔兹曼定律知,物体只要其温度大于绝对零度,都会向外界辐射能量,其辐射特性与温度的四次方有关气体放电光源具有下述特点;1. 发光效率高。
第4章__光电测距

气象改正 :
气象改正数随温度和气压的变化而变化,因此气象元素( 气象改正数随温度和气压的变化而变化,因此气象元素(温度 和气压)最好是取测线上的平均值来计算。 和气压)最好是取测线上的平均值来计算。
波道弯曲改正 :
由于波道弯曲引起的弧长化为弦长的波道几何改正。 由于波道弯曲引起的弧长化为弦长的波道几何改正。 由于实际大气折射系数仅用测线两端的中值, 由于实际大气折射系数仅用测线两端的中值,而没有采用严格沿 波道上的积分平均值,因此产生了所谓折射系数的代表性改正。 波道上的积分平均值,因此产生了所谓折射系数的代表性改正。
按反射目标分: 按反射目标分:
漫反射目标 合作目标 有源反射器
按精度指标分: 按精度指标分:I级
II级 II级 10mm
III级 III级 20mm
mD
5mm
相位式光电测距仪的基本公式
D= c ( N + ∆Φ / 2π ) = L( N + ∆N ) 2f
∆N 式中: = ∆Φ / 2π ——测尺长度; N ——整周数; L = c / 2 f = λ / 2 ——不足一周的尾数
固定误差的影响 :
测相误差,仪器加常数误差和对中误差都属于固定误差。 测相误差,仪器加常数误差和对中误差都属于固定误差。在精 密的短程测距时,这类误差将处于突出的地位。 密的短程测距时,这类误差将处于突出的地位。 对中误差 在控制测量中,一般要求对中误差在3mm以下 以下, 在控制测量中,一般要求对中误差在3mm以下,要求归心误差 在5mm左右。但在精密短程测距时,由于精度要求高,必须采用强 mm左右。但在精密短程测距时, 由于精度要求高, 左右 制归心方法,最大限度地削弱此项误差影响。 制归心方法,最大限度地削弱此项误差影响。 仪器加常数误差 经常对加常数进行及时检测, 经常对加常数进行及时检测,予以发现并改用新的加常数来避 免这种影响。 免这种影响。 测相误差 包括测相设备本身的误差 ,幅相误差 ,照准误差 ,信噪比 引起的误差, 引起的误差,周期误差 。
光电检测技术智慧树知到答案章节测试2023年山东科技大学

第一章测试1.光电传感器是基于光电效应,将光信号转换为电信号的一种传感器A:对B:错答案:A2.PN结型的光电传感器有光电二级管、光电晶体管光电晶闸管等A:错B:对答案:B3.非PN结的光电传感器有光敏电阻、热敏电阻及光电管等A:对B:错答案:B4.一般的电子检测系统由三部分构成,分别是()、()和()A:发射器B:传感器C:信号调制器D:输出环节答案:BCD5.光电检测系统频率量级上比电子检测系统提高了几个数量级,因此在载波容量、角分辨率、距离分辨率和光谱分辨率上大大提高A:错B:对答案:B第二章测试1.热效应较小的光是A:红外B:紫光C:紫外D:红光答案:C2.半导体中受主能级的位置位于A:满带B:价带C:禁带D:导带答案:C3.波长为500nm的波属于A:太赫兹波B:X射线C:远红外D:可见光答案:D4.光度量是辐射度量的()倍A:683V(λ)B:V(λ)C:683D:1/683 V(λ)答案:A5.本征半导体在绝对零度时,在不受光的照射下,导带中没有电子,价带中没有空穴,此时不能导电。
A:错B:对答案:B第三章测试1.光电倍增管的光电阴极上发射出光电子的最大速度随入射光光子能量的增大而增大。
A:错B:对答案:B2.光敏电阻是光电导效应器件。
A:对B:错答案:AD器件按像敏元的排列形式可以分为一维和二维两种。
A:对B:错答案:A4.光电耦合器件具有信号传输的单向性,所以只适用于的直流或数字脉冲信号。
A:错B:对答案:B5.热敏电阻的种类不包括下列哪个A:ZTCB:NTCC:CTCD:PTC答案:A第四章测试1.信息的信噪比的大小决定了光电探测器件能否测量出改信息。
A:对B:错答案:B2.根据噪声来源,光电探测器的噪声有几种形式?A:低频噪声B:背景噪声C:热噪声D:散粒噪声答案:ACD3.设计光电信号检测电路必须满足下列哪些要求?A:最佳的信号检测能力B:灵敏的光电转换能力C:快速的动态响应能力D:长期工作的稳定性和可靠性答案:ABCD4.对于光伏型的光电信号输入电路,当入射光通量一定时,负载增大,输出电压也增大,但是当电阻达到一定值后输出电压变饱和。
光电检测原理与技术知到章节答案智慧树2023年内蒙古大学

光电检测原理与技术知到章节测试答案智慧树2023年最新内蒙古大学第一章测试1.以下属于光电检测仪器的有()。
参考答案:光敏电阻2.光电检测系统的组成包括()。
参考答案:光电探测器;光电检测电路;光源;光学系统3.以下属于光电检测技术的特点的有()。
参考答案:寿命长;速度快;距离远;精度高4.光电检测技术是对待测光学量或由非光学待测物理量转换成光学量,通过光电转换和电路处理的方法进行检测的技术。
()参考答案:对5.半导体激光器在激光外径扫描仪中起到提供光源的作用。
()参考答案:对第二章测试1.可见光的波长范围是()。
参考答案:380 nm~780 nm2.半导体对光的吸收种类不包括()。
参考答案:电子吸收3.荧光灯的光谱功率谱是()。
参考答案:复合光谱4.激光器的发光原理是()。
参考答案:受激辐射5.视角分辨率的单位通常为()。
参考答案:lpi6.光调制包括()。
参考答案:PM;AM;FM7.电光效应反映介质折射率与电场强度可能呈()。
参考答案:平方关系;线性关系8.大气散射包括()。
参考答案:瑞利散射;无规则散射;米氏散射9.光纤损耗包括()。
参考答案:吸收损耗;散射损耗10.参考答案:1.63 lm和5.22×105 cd第三章测试1.以下主要利用光电子发射效应的光电器件有()。
参考答案:光电倍增管;真空光电管2.可用作光敏电阻的主要材料包括有()。
参考答案:有机材料;半导体;金属;高分子材料3.以下主要利用光伏效应的光电器件有()。
参考答案:CIGS电池4.以下属于声光调制晶体的有()。
参考答案:PbMoO5.以下效应可用于普朗克常量测量的是()。
参考答案:光电效应6.光伏探测器处于光电导工作模式,其外加偏压为正向偏压。
()参考答案:错7.光敏电阻的电阻温度系数可正可负。
()参考答案:对8.光电导探测器的工作原理是多子导电。
()参考答案:对9.光电倍增管的阳极灵敏度和阴极灵敏度之比是电流增益。
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1 2 逸出电子的动能: 逸出电子的动能: mv = hν − P0 2
物质的 逸出功
——爱因斯坦光电效应方程 爱因斯坦光电效应方程 光电发射第一定律) (光电发射第一定律)
当光电子动能等于零时: 当光电子动能等于零时: 0 = hν 0 − P0
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ν 0 = P0 / h
λ0 = hc / P0
第6页
热电效应 • 热电效应:材料受光照射后,光子能量与晶格相互作 热电效应:材料受光照射后, 振动加剧,温度升高,材料的性质发生变化。 用,振动加剧,温度升高,材料的性质发生变化。 • 热释电效应:介质的极化强度随温度变化而变化, 热释电效应:介质的极化强度随温度变化而变化, 引起表面电荷变化的现象。 ----热释电探测器 引起表面电荷变化的现象。 热释电探测器 • 辐射热计效应:入射光的照射使材料由于受热而造 辐射热计效应: 成电阻率变化的现象。 热敏电阻 成电阻率变化的现象。----热敏电阻 • 温差电效应:由两种材料制成的结点出现温差而在 温差电效应: 两结点间产生电动势,回路中产生电流。 热电偶 热电偶、 两结点间产生电动势,回路中产生电流。----热电偶、 热电堆
第17页
(6)暗电流 ) 在无光输入时,由阳极输出的电流叫做暗电流。 在无光输入时,由阳极输出的电流叫做暗电流。 主要来源有热发射、漏电流、 主要来源有热发射、漏电流、管内电子散射引起泡壳荧光 热发射 反馈阴极引起的发射电流、残余气体电离和宇宙射线等。 反馈阴极引起的发射电流、残余气体电离和宇宙射线等。
第2页
4.1 概述
光电探测器:利用物质的光电、热电效应把光信号变成电 光电探测器:利用物质的光电、热电效应把光信号变成电 光电 效应 信号的器件。 信号的器件。 传感器
光电效应
• 光电效应:光照射到物体表面上使物体发射电子、 光电效应:光照射到物体表面上使物体发射电子、 或导电率发生变化、或产生光电动势等, 或导电率发生变化、或产生光电动势等,这种因光 照而引起物体电学特性发生改变统称为光电效应。 照而引起物体电学特性发生改变统称为光电效应。 • 光电效应包括外光电效应和内光电效应 光电效应包括外光电效应 外光电效应和
阴极暗电流密度随温度的变化
Iao、G与电压间的关系 、 与电压间的关系
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(7)噪声与信噪比 )
噪声主要是散粒噪声。 噪声主要是散粒噪声。
阳极输出时的噪声电流均方根值为: 阳极输出时的噪声电流均方根值为:
2 (ian ) = G (2qI c ∆ 2
当管内电压较高时, 当管内电压较高时,则有 δ − 1 = 1 ,说明二次发射对噪声的 贡献甚小,所以常把二次倍增系统叫做“无噪声增益系统” 贡献甚小,所以常把二次倍增系统叫做“无噪声增益系统”
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(1) 外光电效应
----光电管、光电倍增管 光电管、 光电管
某些物质在光子的作用下, 某些物质在光子的作用下,可以从物质内部逸出电子的 多发生于金属和金属氧化物 现象叫做外光电效应——多发生于金属和金属氧化物。 现象叫做外光电效应 多发生于金属和金属氧化物。 普朗克常数, 普朗克常数,6.626×10-34J·s × 4.13×1015eV·s × 光子的能量: 光子的能量:
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发射光子数 二次发射系数δ(倍增系数) 二次发射系数 (倍增系数): δ = n2 n1 入射光子数 二次电子发射系数与材料本身特性、 二次电子发射系数与材料本身特性、一次电子的动能或 极间电压的大小有关。 极间电压的大小有关。
δ = bU k
k:0.7~0.8
δ—U关系曲线 关系曲线
第11页
倍增管的时间特性
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3. 一般使用准则(自学了解) 一般使用准则(自学了解) 4. 微通道板光电倍增管(MCP) 微通道板光电倍增管( )
第20页
(8)时间特性 ) 时间特性用其对脉冲光的响应特性来表示。 时间特性用其对脉冲光的响应特性来表示。 脉冲光的响应特性来表示 脉冲光可用激光脉冲来产生,如采用上升时间50ps,半宽 脉冲光可用激光脉冲来产生,如采用上升时间 , 可用激光脉冲来产生 的激光脉冲。 度70ps的激光脉冲。 的激光脉冲
纵坐标是光谱相对偏移: 纵坐标是光谱相对偏移: SλT − Sλ 20 o C × 100% Sλ 20 o C
第15页
(3)线性度(光电特性) )线性度(光电特性) 描述光电探测器输出信号与输入信号保持线性关系的程 度。I~Φ ~ 产生非线性的原因: 产生非线性的原因: (1)内部的非线性源。光阴极 )内部的非线性源。 的电阻率及材料特性、 的电阻率及材料特性、管内空间 电荷间的互相作用,以及电子聚 电荷间的互相作用, 焦或收集效率的变化等。 焦或收集效率的变化等。 (2)外部非线性源。负载电阻 )外部非线性源。 的负反馈作用, 的负反馈作用,以及由于信号电 流过大造成极间电位的重新分布 等。
1 2
提高光电倍增管的信噪比的方法: 提高光电倍增管的信噪比的方法: ①管子致冷可减少Ic0值; 管子致冷可减少 值 ②当入射光斑较小时,应尽量选用光阴极面小的管子; 当入射光斑较小时,应尽量选用光阴极面小的管子; 较高的材料做二次发射极, ③选用δ较高的材料做二次发射极,并提高工作电压; 选用 较高的材料做二次发射极 并提高工作电压; ④减小检测系统频带宽度∆f,以提高信噪比; 减小检测系统频带宽度 ,以提高信噪比;
第4章 光电探测器及其 校正技术
主要内容
4.1 概述 4.2 光电倍增管 4.3 光电导器件 4.4 光电池和光电二极管 4.5 CCD图像传感器的工作原理 图像传感器的工作原理 4.6 热电探测器 4.7 光电探测器的校正
掌握光电检测器的原理及特性, 掌握光电检测器的原理及特性,学会在系统 中如何选择。 中如何选择。
光窗 光阴极C 光阴极 电子光学系统 倍增系统( 倍增系统(二 次发射极D ) 次发射极 阳极A 阳极 阳极(收集极):是管内电压最高的地方。 阳极(收集极) 是管内电压最高的地方。 分压器:使光电倍增管中从光电阴极到依次各二次极, 分压器:使光电倍增管中从光电阴极到依次各二次极, 最后到阳极的电位逐渐升高, 最后到阳极的电位逐渐升高,使光电子顺利完成电子倍增 过程。 过程。 用得最多也最简单的是电阻分压器, 用得最多也最简单的是电阻分压器,按照各极间所需电压 电阻分压器 的比例采用相应的电阻值,使总电压分配到各极间去。 的比例采用相应的电阻值,使总电压分配到各极间去。
λmax
1.24 / Eg = 1.24 /( Eg + EA )
内光电效应 外光电效应
光电子逸出探测器表面 所需的表面势垒
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(2) 内光电效应 某些物质在光子作用下,使物质导电特性发生变化, 某些物质在光子作用下,使物质导电特性发生变化,这 种现象叫做内光电效应——多发生在半导体。 多发生在半导体 种现象叫做内光电效应 多发生在半导体。 内光电效应又分为光电导效应和光生伏特效应(障层光 内光电效应又分为光电导效应和光生伏特效应( 又分为光电导效应 电效应) 电效应) 半导体受光照后,内部产生光生载流子, 半导体受光照后,内部产生光生载流子,使半导体中 叫做光电导效应。 载流子数显著增加而电阻减少的现象叫做光电导效应 载流子数显著增加而电阻减少的现象叫做光电导效应。---光敏电阻 光敏电阻 光照在半导体PN结或金属 半导体接触面时 会在PN结 光照在半导体 结或金属-半导体接触面时,会在 结 结或金属 半导体接触面时, 或金属-半导体接触的两侧产生光生电动势 这种现象叫 半导体接触的两侧产生光生电动势, 或金属 半导体接触的两侧产生光生电动势,这种现象叫 光电池和光电二极管、 做光生伏特效应。 光电池和光电二极管 做光生伏特效应。 ----光电池和光电二极管、光电三极管 等。
红限频率
红限波长
注意:只有光频率高于红限频率, 注意:只有光频率高于红限频率,波长小于 红限波长的入射光,才会有光电子射出, 红限波长的入射光,才会有光电子射出,与 光线强弱无关。 光线强弱无关。 对于光电探测器,由于受到材料能带之间的间隙 禁带 对于光电探测器,由于受到材料能带之间的间隙—禁带 宽度Eg的限制 最大响应波长为: 的限制, 宽度 的限制,最大响应波长为:
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输出电流I 输出电流 a与Φ的关系曲线 的关系曲线
(4)最大额定值 ) 最大阴极电流Icm,有时给出最大电流密度 ①最大阴极电流 ,有时给出最大电流密度(µA/cm2)。 。 ②最大阳极电流Iam,该值通常是以不产生严重的和不可 最大阳极电流 , 逆的损坏为限,通常阳极功率限制在0.5W以下。 以下。 逆的损坏为限,通常阳极功率限制在 以下 ③最大额定电压Um,该指标是从管子的绝缘性能和工作 最大额定电压 , 可靠性出发给出的。为使噪声不至太大, 可靠性出发给出的。为使噪声不至太大,一般建议采用的 总电压U< ~ ﹪ 总电压 <(60~80)﹪Um。 。 (5)不稳定性 ) ①由于光谱响应随时间缓慢地不可逆地变化 ,造成长时 间的性能漂移 ②在几分钟或几小时内,由于可逆的疲劳所构成的漂移 在几分钟或几小时内, ③滞后作用造成阳极输出的不稳定
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光窗 光阴极C 光阴极 电子光学系统 倍增系统( 倍增系统(二 次发射极D 次发射极 ) 阳极A 阳极
电子光学系统:使光电阴极发射的光电子尽可能全部汇 电子光学系统: 聚到第一倍增极上。 聚到第一倍增极上。最简单的电子光学系统是一个与光 阴极同电位的金属筒或镀在玻璃壳上的金属导电层。 阴极同电位的金属筒或镀在玻璃壳上的金属导电层。 倍增系统:锑铯 合金、 倍增系统:锑铯(CsSb)、氧化铍 、氧化铍(BeO)、银镁 、银镁(AgMg)合金、 合金 磷化镓(GaP)和磷砷化镓等。作用:提供大的电子增益;电 和磷砷化镓等。 磷化镓 和磷砷化镓等 作用:提供大的电子增益; 子聚焦。决定灵敏度最关键的部分。 子聚焦。决定灵敏度最关键的部分。
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