SPC统计制程管理办法 A00

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林立精密工业（苏州）有限公司
SPC 统计制程管理 办法
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4.6.3 新产品进入量产阶段制程能力 Cpk 及现有产品制程能力 Cpk：
代 号
判 断
准确度（比较制程分配中心与规格平均 值一致情形）
计 算 公 式 双边规格 Ca = X-µ （T/2）
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4.3.5 制程能力之解析：制程能力为 C，即固定样本大小下的平均缺点数。 4.4 建立 p 管制图步骤： 4.4.1 管制项目之选定：产品无法直接测定其品质特性之制程，仅以不良率表示其品质状况，例如原 物料进料、半成品、成品等。 4.4.2 搜集数据：搜集过去已知检查数 n 及不良品数 d 之数据 20 组以上。 4.4.3 分组：p 管制图需合理分组，一般以一定时间之产品为一组或以每天产品为一组 之情形亦可。 4.4.4 计算每组之不良率 p： 将数据填入记录内，并计算每组不良率 p，如以百分比率表示时，每组之 p 需乘 100% P ＝ np n （不良品个数表 d 或 np，每组之检查个数为 n） 4.4.5 计算平均不良率 p 及平均样本数 n： 1)因 p 管制图内之各组样本大小 n 常不相等，故其不良率之平均值 p 不能以各组不良率之总和除以组数 k。 2)需以各组不良品个数之总和除以全部检查个数，即： np1+np2+…npk Σnp
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一、 目的: 运用 SPC 管理手法使公司产品的质量更好,从而提高公司的质量管理水平。 二、 范 围 :
本 公 司 在 开 发 试 产 ,量 产 制 程 ,出 货 阶 段 选 择 适 当 的 控 制 图 . 三、 权责: 3.1 品 管 部 : 负 责 制 程 中 各 项 管 制 表 的 制 作 , 记 录 。 制 程 中 随 机 收 集 数 据 分 析 CPK 值 。 3.2 制 造 部 : 对 制 程 中 的 不 良 情 况 改 进 ， 活 用 统 计 数 据 实 施 纠 正 或 改 善 活 动 。 3.3 技 术 部 : 给 客 户 送 样 时 , 负 责 送 样 品 的 CP K 的 制 作 和 分 析 . 当 生 产 制 程 出 现 不 良 情 况 时 ,解 决 模 具 上 的 原 因 . 四.内容：
K 其中Σ C=(C1+C2+…Ck)分别代表k各样组中，各个样组的缺点数。 4.3.2 计算上下管制界线（UCLC 及 LCLC） UCLC = C +3 √C LCLC = C - 3√ C
4.3.3 绘制管制界线：依（C.及 D.项）计算所得之数据，将中心线（CL）以蓝色实线表示，管制上限 （UCL）及管制下限（LCL）以红色虚线表示，分别绘入 C 图上。 4.3.4 点图：依（5.3.1.3.项）计算各组 C 所得之数据，分别点绘在 C 图之适当位置，其相邻两点间 以直线相连接之。
p= n1+n2+…nk
4.4.6 管制界限之计算： 1)中心线：
CLp = p = Σn Σnp
= Σn
2)各组样本大小 n 相同时：
UCLp = p + 3
√p ( 1 – p ) /
n
n
LCLp= p - 3
√p ( 1 – p ) /
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CPK 确认(CPK>1.33)
客户承认/条件接收
分析不良原因,改进
生产部量产
分析不良原因,改进
管制表分析管制
品管抽查相关回归 NG
不能超管制限 5 点以上
OK
制程 CPK>1.33
生产制程稳定
成品出货准备 NG OQC 抽查 CPK>1.33 OK 客户接收/条件接收 进客户公差 重工/重检
4.4.8 点图：将各组之不良率 p，按组号或日期之顺序，点入管制图中。 4.5 管制图之判读法： 4.5.1 正常管制图，其点子之动态应该是： 4.5.1.1 多数之点子集中在中心线附近。 （集中趋势） 4.5.1.2 少数之点子落在管制界限附近。 （离中趋势） 4.5.1.3 点子之分布呈随机状态，无任何规则可循。 （随机分配） 4.5.1.4 没有点子超出管制界限之外，就是有也很少。 （有无出界） 4.5.2 不稳定型态之判定方式： 4.5.2.连续 7 点以上出现在中心线一侧。 4.5.2.2 连续 11 点有 10 点、 14 点有 12 点、 17 点有 14 点、 20 点有 16 点、 出现在中凡线一侧。 4.5.2.3 连续 3 点中有 2 点、3 点中有 2 点、7 点中有 3 点、10 点中有 4 点出现在管制线附近。 4.5.2.4 连续 7 点上升（后点等于或前点）或下降 4.5.2.5 出现一个或多个点超出任何一个控制限。 4.5.3 管制图对制程之解析： 4.5.3.1 管制图上一旦发现有点超出界限或一种不正常趋势时，显示其制程已经 不在控制下，需利用专业之工程知识配合统计方法，把异常原因寻找出 来，同时加以消除。 4.5.3.2 异常原因之种类如下：
不进客户公差
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1)属于人为因素者。( 人 ) 2)属于制程设备者。( 机 ) 3)属于技术不足者。( 法 ) 4)属于原材料特性者。( 料 ) 5)属于管理不善者。( 模 ) 4.6 新产品制程能力： 4.6.1 样品制作阶段之制程能力： 4.6.1.1管制项目之选定：依客户指定或公司自定义之相关制程参数或产品品质特 性。 4.6.1.2 数据搜集：对产品指定的管制特性，进行量测及搜集数据（总样品数应 大于客户要求之送件数） ，并依生产时间顺序及规定之抽样方法（管制计 划） 「X-R 管制图」或「X-Rm 管制图」 。 4.6.1.3 Pp 值之计算：此为初期制程能力指标，与制程中心值及变异量皆有关， 其计算公式如下： 两者较小数据（适用双边规格） Ppk = min USL-X 3δs ， X-LSL 3δs
4.6.1.4 上述（4.6.1.3.项）公式中之符号意义如下： 1)USL = 规格上限。 2)LSL = 规格下限。 3)X = 所有数据之平均值。 4)δs = 样品标准偏差估计值，其计算公式如下： δs = Σ（Xi - X） n-1 5)δs 计算公式中符号意义：Xi 为个别数据，X 为所有数据之平均值， n 为总样本数。
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Rm ＝ Σ Rm K － n ＋ 1 （ Σ R 为全距总和，k 为组数 ）
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6)计算 X 图管制界线：CLx = X，UCLx = X+E2Rm，LCLx = X- E2Rm。 7)计算 Rm 图管制界线：CLRm=Rm，UCLRm=D4Rm，LCLRm=D3Rm。 8)绘制管制界线： 依 6） 及 7） 计算所得之数据， 将中心线 （CL） 以蓝色实线表示， 管制上限 （UCL） 及管制下限（LCL）以红色虚线表示，分别绘入 X 图及 Rm 图上。 9)点图：依 3)项计算各组 X 及 Rm 所得之数据，分别点绘在 X 图及 Rm 图之适当位 置，其相邻两点间以直线相连接之。 4.2.2 建立管制用管制图： (1)记入基本资料：将制程名称、制程参数或品质特性、规格、制造部门、机器号码及抽样方式 等必要之基本资料，填入管制图中。 (2)绘制管制界限：将经解析后之中心线（CL）以蓝色实心线表示，管制上限（UCL）及管制下限 （LCL）以红色虚线表示，分别绘入 X 图及 R 图上。 (3)搜集数据：由品管课人员，依生产时间顺序及依规定之抽样方法进行量测及数据搜集，并记 录于「X-Rm 管制图」 。 (4)管制图判定：点入图内之点子，如在管制界限内，则判定制程安定，可继续生 产，如有点超出管制界限时，则判定制程有不正常原因侵入。 4.3 建立 C 管制图之步骤： 4.3.1搜集数据：取单位大小相同之样本20~25组，如能事先预测其缺点多少，以使每 组样本含有 1~5 个之缺点为佳。 计算平均缺点数：C ＝ ΣC
4.1 建立 X-R 管制图之步骤： 4.1.1 建立解析用管制图： 1)管制项目之选定：在制程中选择对产品品质特性，有重要影响之要因或重要品质 特性作为管制项目；例如：模具冲切产品尺寸、贴合偏移等。
2)搜集数据：每组所含之样本个数称为样本数，以 n 表示；样本之组数以 k 表示， n=2~5 之间最为适当。 3)计算各组数据： X = X1+X2…X5/5，R = 最大值 - 最小值 4)计算总平均值： X ＝ ΣX k ( ΣX 为平均值总和，k 为组数 ) 5)计算全距平均值： R ＝ ΣR k （ ΣR 为全距总和，k 为组数 ） 6)计算 X 图管制界线：CLx = X，UCLx = X+A2R，LCLx = X-A2R 7)计算 R 图管制界线：CLR = R，UCLR = D4R，LCLR = D3R 8)绘制管制界线：依（F.及 G.项）计算所得之数据，将中心线（CL）以蓝色实线表示，管制上
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限（UCL）及管制下限（LCL）以红色虚线表示，分别绘入 X 图及 R 图上。 9)点图：依（C.项）计算各组 X 及 R 所得之数据，分别点绘在 X 图及 R 图之适当位 置，其相邻两点间以直线相连接之。 10)检讨及改善： 当CPK值≧1.33时，品管课应将该X-R解析用管制图转为X-R管制用管制图。 4.1.2 建立管制用管制图： 1)记入基本资料：将制程名称、制程参数或品质特性、规格、制造部门、机器号码 及抽样方式等必要之基本资料，填入管制图中。 2)绘制管制界限：将经解析后之中心线（CL）以黄色实心线表示，管制上限（UCL） 及管制下限（LCL）以红色表示，分别绘入 X 图及 R 图上。 3)搜集数据：由品管课检验人员，依生产时间顺序及依规定之抽样方法进行量测及 数据搜集，并记录于「X-R 管制图」 。 4)管制图判定：点入图内之点子，如在管制界限内，则判定制程安定，可继续生产， 如有点超出管制界限时，则判定制程有不正常原因侵入。 4.2 建立 X-Rm 管制图之步骤： 4.2.1 建立解析用管制图： 1)管制项目之选定：在制程中选择对产品品质特性有重要影响之要因或重要之制程参数作为管 制项目； 2)搜集数据：依生产时间顺序及依规定之抽样方法进行量测及搜集数据，并记录 于「X-Rm 管制图」 。 3)计算各组数据：某时段所搜集之值 X，Rm（全距）= 4)计算总平均值： X ＝ Σ X K 5)计算全距平均值： （ Σ X 为各组数据总和，k 为组数 ） Xi-Xi+1 。