chroma测试系统培训资料
Chroma 8000培训资料课件(1)
汇报人：任老师 2023-12-28
目录
• Chroma 8000简介 • Chroma 8000技术原理 • Chroma 8000操作指南 • Chroma 8000案例分析 • Chroma 8000与其他产品的比较 • Chroma 8000售后服务与支持
Chroma 8000支持定制化开发，可根据客户需求进行定制和优化 。
Chroma 8000操作
03
指南
安装与配置
硬件安装
按照产品说明书，正确连接Chroma 8000的电源 和信号线，确保设备正常运行。
软件安装
在计算机上安装Chroma 8000的驱动程序和软件 ，以便进行设备控制和数据采集。
Chroma 8000能够提高生产效率和实 验效率，帮助用户更快地完成任务。
使用Chroma 8000可以降低用户的运 营成本和维护成本。
Chroma 8000技术
02
原理
工作原理
色彩管理
Chroma 8000采用先进的色彩管 理技术，通过色彩空间转换和色 彩校正，实现精准的色彩还原和
匹配。
硬件加速
解决方案
效果
根据客户需求，定制Chroma 8000颜色检 测设备，并为其提供专业培训和技术支持 ，确保客户能够熟练使用设备。
客户在使用Chroma 8000后，有效提高了 产品质量和生产效率，降低了人工检测成 本和误差率。
成功案例二
客户背景
某食品生产企业，产品种类繁多，对食品包装颜色检测有较高要求。
科研实验
Chroma 8000也适用于各 种科研实验，如化学分析 、生物实验等。
其他领域
除了工业控制和科研实验 ，Chroma 8000还应用于 医疗设备、航空航天等领 域。
chroma8000培训资料
故障排除手册
01
02
03
故障现象
列举了设备可能出现的故 障现象和原因
故障排除流程
详细描述了设备故障排除 的步骤和注意事项
故障预防措施
总结了设备故障的预防措 施和日常维护建议
05
相关资料
产品系列比较
chroma8000与其他类似产品比较
从性能、功能、价格等方面进行全面比较，方便客户进行选择。
chroma8000不同版本之间的比较
选择测量模式
在软件主界面上选择合适的测量模式，如透射光谱、反射 光谱等。
设置测量参数
在软件主界面上对测量参数进行设置，如光源、扫描范围 、分辨率等。
进行测量
点击“开始测量”按钮，等待光谱仪完成测量，测量结果 将自动显示在软件主界面上。
数据处理与分析
在软件主界面上对测量数据进行处理与分析，如绘制光谱 曲线、计算透过率或反射率等。
在测量前先进行标准样品的测量，以验证仪器和参数设置是否 正确。
02
在测量过程中，保持样品表面清洁和均匀照明，以减小误差。
在数据处理时，可以通过软件提供的曲线拟合功能对光谱曲线
03
进行更精确的拟合。
03
技术参数
硬件规格
处理器
Chroma8000使用高性能的X86处理器，频率从 1.8GHz到2.6GHz。
广泛的色彩空间支持
Chroma8000支持多种色彩空间，包括RGB、CMYK、 LAB和XYZ等，可以满足不同行业和应用领域的色彩测 量需求。
用户友好的操作界面
Chroma8000配备了直观、易用的用户界面，使得操 作简单方便，即使是非专业人员也可以快速掌握使用方 法。
多样化的输出格式
柳達科 Chroma 11022 和 11025 LCR 抵抗电容线圈测试仪说明书
The Chroma 11022 and 11025 LCR Meters are passive component testers that can give you the most cost effective alternative equivalent to the high priced meters. They are designed for the demanding applications in production test, incoming inspection, component design and evaluation. Programmable test signal level settings are from10mV to 1V in a step of 10mV, and the VM/IM signal level monitor functions allow you to evaluate your devices at the level you specify. Ten test frequencies of 50Hz, 60Hz, 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz, 20kHz, 40kHz, 50kHz, and 100kHz, can be used to evaluate passive compo-nents and transformers/ LF coils.The low cost LCR meters on the market have shortcomings when used for low impedance components evaluation such as large capacitance of electrolytic capacitors and low inductance of coils. As the 11022/11025 equipped with high resolution (0.01m ) in low impedance and high accuracy (0.3%) till 100m range, it can be used to evaluate low impedance components to meet the measurement requirements.The 11025 LCR Meter can also measure DC resis-tance, turn ratio and mutual inductance of trans-former. It is suitable for pulse transformer or LF coil evaluation. Chroma A110207 Transformer Test Fixture used with the 11025, can measureboth the primary and the secondary parameters automatically by changing the internal relays of 11025. So there is no need to change the connec-tions required for measuring transformer param-eters. Adjustable internal DC bias current source can be up to 200mA(constant 25 ) which is a standard function, as the right tool for inductance inspection of telecom transformers and small power chokes under DC bias current.The 11022/11025 LCR Meter provides a powerful combination of features designed to maximize the productivity in all testing environments. The measurement speed in the SHORT integration time mode is 21mS( 100Hz). Handler interface and pin-out are compatible with 4263B. GPIB Interface and IEEE 488 commands are compatible with 4263B.In addition, the 11022/11025 have built in a comparator, 8 bin sorting, trigger delay functions and handler interface trigger function, which make them easy for system integration, and improve the measurement throughput as well as reliability.LCR METERMODEL 11022/11025198111022 : LCR Meter 11025 : LCR MeterA110104 : SMD Test Cable #17A110211 : Component Test FixtureA110212 : Component Remote Test Fixture A110232 : 4 BNC Test Cable with Clip#18A110234 : High Frequency Test Cable A110236 : Rack Mountain KitA110239 : 4 Terminals SMD Electrical Capacitor Test Box (Patent)A110242 : Battery ESR Test KitA110244 : High Capacitance Capacitor Test Fixture A110245 : Ring Core Test Fixture A133004 : SMD Test Box1. LCD Display2. LINE Switch3. Measurement Terminals4. Function Keys5. Power Code Receptacle6. LINE Fuse Holder7. LINE Voltage Selector8. GPIB Interface9. Handler Interface10. External DC Bias Terminal 11. Ground Terminal 12. Fan13. Ground Terminal14. DC Bias Trimmer Terminal711121623413*Note 1: 23 ± 5˚C after OPEN and SHORT correction. Slow measurement speed. Refer to Operation Manual for detail measurement accuracy descriptions.*Note 2: Measurement time includes sampling,calculation and judge of primary and secondary test parameter measurement.PANEL DESCRIPTIONORDERING INFORMATIONDistributed by:Worldwide Distribution and Service Network11022/11025-201108-500JAPANCHROMA JAPAN CORP .472 Nippa-cho, Kouhoku-ku, Yokohama-shi, Kanagawa,223-0057 Japanhttp://www.chroma.co.jp E-mail:******************U.S.A.CHROMA SYSTEMS SOLUTIONS, INC.25612 Commercentre Drive, Lake Forest, CA 92630-8830 Tel: +1-949-600-6400Fax: +1-949-600-6401Toll Free: +1-866-600-6050 E-mail:*******************Developed and Manufactured by :CHROMA ATE INC.HEADQUARTERSNo. 66, Hwa-Ya 1st Rd., Hwa-Ya Technology Park, Kuei-Shan Hsiang,33383 Taoyuan County, Taiwan Tel: +886-3-327-9999Fax: +886-3-327-8898 E-mail:******************EUROPECHROMA ATE EUROPE B.V .Morsestraat 32, 6716 AH Ede,The Netherlands Tel: +31-318-648282Fax: +31-318-648288 E-mail:******************CHINACHROMA ELECTRONICS (SHENZHEN) CO., LTD.8F, No.4, Nanyou Tian An Industrial Estate, Shenzhen, China PC: 518052Tel: +86-755-2664-4598Fax: +86-755-2641-9620。
chroma63212编程手册
Chromaxxx编程手册一、概述Chromaxxx是一款先进的电子测试与测量仪器，广泛应用于电子设备制造、航空航天、通讯等领域。
为了更好地发挥Chromaxxx的功能，掌握其编程方法至关重要。
本手册将详细介绍Chromaxxx的编程接口、指令集和使用方法，帮助用户轻松实现自动化测试与数据采集。
二、编程接口介绍1. 通讯接口Chromaxxx支持多种通讯接口，包括GPIB、USB、LAN等。
用户可以根据实际需求选择合适的通讯接口，方便与PC或其他设备进行数据交互。
2. 编程语言支持Chromaxxx提供了丰富的编程语言支持，包括LabVIEW、C/C++、C#、VB等。
用户可以根据自己的熟悉程度和项目需求选择合适的编程语言，实现与Chromaxxx的无缝集成。
三、指令集介绍1. 基本指令Chromaxxx的基本指令包括初始化连接、设置参数、发送指令、接收数据等。
用户可以通过这些基本指令实现对Chromaxxx的控制和数据采集。
2. 高级指令Chromaxxx还提供了丰富的高级指令，包括自动测试程序的执行、数据分析和报告生成等。
用户可以利用这些高级指令实现更复杂的功能，提高测试效率和数据处理能力。
四、编程实例以下是一个简单的LabVIEW编程实例，演示了如何使用Chromaxxx进行电压测量：1. 初始化连接：使用GPIB接口初始化与Chromaxxx的连接；2. 设置参数：设置电压测量的范围和精度；3. 发送指令：发送测量指令给Chromaxxx，触发电压测量；4. 接收数据：接收Chromaxxx返回的电压测量结果；5. 数据显示：将测量结果显示在LabVIEW界面上，方便用户观察和分析。
五、编程注意事项1. 错误处理在编程过程中，用户应注意加入错误处理机制，及时捕获和处理Chromaxxx返回的错误信息，确保编程的稳定性和可靠性。
2. 资源释放在编程结束后，用户应注意及时释放Chromaxxx所占用的资源，包括关闭通讯接口、释放内存等，以避免资源泄漏和系统不稳定性。
chroma 8000培训资料
chroma 8000培训资料Chroma 8000培训资料是一套精心编制的培训材料，它是为提升个人技能和专业知识而设计的。
这套培训资料包括了丰富的内容和详细的解析，帮助学员在各个领域取得更好的成绩。
首先，Chroma 8000培训资料致力于提供全面的培训内容。
它涵盖了多个学科领域，包括技术、管理、市场营销和人际关系等。
无论你是从事IT行业、金融领域还是销售市场，这套培训资料都能提供你所需的相关知识和技能。
其次，Chroma 8000培训资料还特别注重实践应用。
通过实例分析和案例讲解，学员能够更好地理解和掌握所学知识。
并且，这套资料还提供了大量的练习题和实践项目，让学员有机会将理论应用到实际情境中。
这样的设计能够加强学员的实际操作能力，并且让他们更好地适应职场的挑战。
此外，Chroma 8000培训资料还采用了简明扼要的语言和清晰明了的结构。
每个章节都按照逻辑顺序组织，从基础知识开始引导学员逐步深入。
每个概念和理论都被详细解释，并配以例子进行说明，以帮助学员更好地理解。
这种方式的设计使得学习过程更加流畅和高效。
最后，Chroma 8000培训资料的编制团队可靠且经验丰富。
他们是由各领域的专家组成，具备丰富的实践经验和专业知识。
这些专家团队通过对市场趋势的深入研究和对行业需求的全面了解，来确保培训资料的内容紧跟时代潮流和市场需求。
总而言之，Chroma 8000培训资料是一套非常有价值的学习资料。
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chroma8000培训资料
Chroma8000培训资料2023-11-11CATALOGUE目录•Chroma8000简介•Chroma8000硬件系统•Chroma8000软件系统•Chroma8000实验与实践•Chroma8000常见问题与解决方案•Chroma8000未来发展与趋势Chroma8000简介01产品概述Chroma8000是赛思库公司推出的一款高性能、高精度、高稳定性的光谱分析仪。
它采用了最先进的光谱技术，可以实现对物质进行快速、准确、全面的成分分析。
广泛应用于环保、能源、化工、医药等领域。
产品特点Chroma8000采用了最先进的光谱技术，具有极高的测量精度和稳定性。
高性能Chroma8000配备了友好的人机界面和自动化控制系统，使得操作更加简单方便。
易于操作Chroma8000的测量误差小于等于±0.5 nm，可以满足各种高精度分析需求。
高精度Chroma8000采用了独特的温度控制技术，保证了仪器在长时间使用过程中始终保持稳定的性能。
高稳定性Chroma8000可以在短时间内完成对物质成分的全面分析，大大提高了工作效率。
快速测量0201030405产品应用Chroma8000可以用于对空气、水质、土壤等环境中的有害物质进行监测和分析，为环境保护提供科学依据。
环保监测Chroma8000可以用于对燃料、新能源等物质进行成分分析和质量检测，为能源开发和应用提供支持。
能源领域Chroma8000可以对化工原料、中间产物、产品等进行全面分析和检测，为生产过程控制提供保障。
化工生产Chroma8000可以用于对药物成分进行分析和检测，为新药研发提供支持。
医药研究Chroma8000硬件系统02硬件架构核心板卡与扩展板卡组合基于高性能FPGA芯片设计支持多种高速接口协议高度集成化的数据处理与传输功能可编程逻辑门阵列芯片，实现数据的高速处理与传FPGA芯片数字信号处理芯片，用于实现音频信号的采集、处理与传DSP芯片静态随机存取存储器芯片，用于存储临时数据SRAM芯片快闪存储器芯片，用于存储程序代码与配置信息Flash芯片主要组件介绍硬件连接与配置主从机连接采用标准的音频接口，支持多种音频格式与采样率音频接口连接网络连接电源接口连接01020403采用标准的电源接口，支持多种电压与电流等级通过高速串行总线连接主机与从机，实现数据传输与控制支持以太网与Wi-Fi连接，实现远程控制与数据传Chroma8000软件系统03软件安装与升级安装步骤下载安装包并解压缩运行安装程序并按照提示进行操作•完成安装后，启动软件并检查软件是否正常运行升级步骤下载最新版本的升级包并解压缩运行升级程序并按照提示进行操作升级完成后，重新启动软件并检查软件是否正常运行谱图绘制Chroma8000软件可以导入多种类型的色谱数据，并自动绘制谱图，包括色谱峰的峰形、保留时间、峰高、峰面积等参数。
8000ATE培训教程
9. Over Load Protection Test 过电流保护测试：用以量测在过载保护点瞬 间待测物的输出特性。 10. Voltage Regulation Test 电源及负载效应测试（CC模式）：用以量测在 负载大小及输入电源之电压同时改变时，对于待测物输出电压所产生的影响。 11. Current Regulation Test （CV模式）：用以量测在负载大小及输入电源 之电压同时改变时，对于待测物输出电流所产生的影响。 12. Load Pre Setup负载设定：设定负载的拉载模式（CC，CV，CR ） 。 13. OVP/UVP Test 过电压/欠电压保护测试：用以量测在过压或欠压保护点 瞬间待测物的输出特性。 14. Dynamic Test 动态测试：用以量测待测物在动态负载条件下的输出特性。 15. Sync Dynamic Test 同步动态测试：同 Dynamic Test，适用与多组输出 的开关电源。
ENG-TE 刘栋
CHROMA 8000 ATE培训教材
ENG-TE
DESIGNED BY TE(DONG.LIU)
ENG-TE 刘栋
一 CHROMA 8000 基本配置： 系统控制器（工业计算机及外围设备）IPC 可程序交流电源供应器（Programmable AC Source） 直流电子负载（DC Load） 功率分析仪（Power Analyzer） 纹波时序分析仪 （ Timing & Noise Tester） 电源控制器(ON/OFF Analyzer) Short / Ovp控制器（Short/OVP Test Analyzer）
若联机成功则此处会 出现successfully字 样。
ENG-TE 刘栋
·执行界面介绍(2)
Chromera 现场培训教程(A 版)
双击桌面上的如下图标进入软件
耐心等待软件登录
进入软件后界面如下
双击Instrument列表上的不同用户名下的想要 操作的LC名，进入该LC的操控界面
双击要用的LC后，Chromera将从硬件配置界面 （Chromera manager)进入用户操作界面，请耐心等 待，下图显示正在登陆中
• •
4,冲洗进样器 (Flash Autosampler)
• • • • • • • • • • • • • • • 何时执行？ 改变溶剂时。 发现注射器及其管路内有气泡时。 每天开机和关机的时候。 操作步骤： 确保洗针液瓶中有洗针液，同时取液管路在液面以下。 双击桌面上的 Chromera manager图标，登陆相应的仪器系统，进入手动控制manual control状 态。 在冲洗自动进样器Flash Autosampler处, 输入冲洗体积Flush Volume 和冲洗次数Number of Flush Cycles，并点击 应用按键，仪器将按所设参数执行自动冲洗过程。 冲洗进样器时，请观察此处是否有气泡 在仪器执行自动冲洗过程，请观察 并确保注射器syringe和自动进样器 的管路内无气泡。
如下为例：对Flexar仪器编了一个LiTest方法，在左上角显示了该方 法的四项内容，点击任意一项，在中间会显示该项的所有参数
以Instruments为例：双击后，仪器 操控参数显示如下图
下一页我们开始建立一个方法,准备 做样了
• 方法文件（Method )包含了我们做样所需的 • 仪器在线信息和样品采集后的离线信息
装样量应为小瓶容积的1/3至2/3
7,三步法操作或的定量结果
• 1.建立新的方法文件 • 2.建立序列表 • 3.运行序列 •
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
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- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
可以根据被测物负载应用特性，仿真被 测物负载电流的实际状态。 负载电流范围：0～50A 负载电流变化率：0.0001 ～ 2.5A/us 负载电流变化时间：4us ～ 10mS
LEKE®
系统硬件组成
开关分析仪
UUT Output Voltage
Vs1
Vs2
Load 1
fall rate
被测物输入真实功率的量测
True Power = 1
T
Vac(t) x Iac(t) dt
T0
LEKE®
系统硬件组成 扩展测量单元 - 601
Input On/Off Phase Control & Inrush Current Measurement
Voltage
Current t
LEKE®系统硬件组成
LEKE®
系统硬件
Dos Version PowerPro / Windows
Version Windows 95 Windows NT
LEKE®
系统软件
测试参数
Complete Testing Capabilities for AC/DC
Power Supplies and DC/DC Converters
LEKE®
Chroma 6000 测试系 统培训资料
制作：周正
LEKE®
系统结构介绍 测试程序编写
LEKE®
一，系统结构介绍
系统硬件介绍 测试参数介绍
LEKE®
传统的测试系统
Switching Power Supply
DC OUTPUT
LOAD 1 LOAD 2 LOAD 3 LOAD 4
AC INPUT
LOAD X
Relay Matrix
Measurement Circuit
LEKE®
传统的测试系统
测试速度慢 无法全面的模拟动态测试功能 继电器组切换容易产生不知名的干
扰信号。干扰正常的輸出信号的测 量。 因继电器组的延时，会造成时序量 测出现误差
LEKE®
Chroma 6000 SMPS ATE
Voltage : Vdc, dV Current : Idc Noise : Vpp, Vn
时序分析
8组时序定时器 外部/內部控制信号
系统控制
CPU 控制 IEEE-488 通讯接口 标准打印机接口
测试软件
完善标准的测试项目 全自动测试
LEKE®系统硬件组成
开关分析仪
可模拟被测物开机瞬间各种状态
如开机角度的控制，带载点的控制 负载电流变化的快慢
LEKE®
系统硬件组成
开关分析仪
UUT Output Voltage
Active Load Sink Current
Overshooting
Output disabled by OVP circuit
t
LEKE®
直流输出电压 DC Output Voltage 输出峰值噪声 Peak to Peak Noise 输出噪声有效值 RMS Noise 动态响应 Dynamic Response ( Max. 125KHz
rate ) 输入调整率 Line Regulation 负载调整率 Load Regulation 交叉调整率 Cross Regulation
LEKE®
系统架构
DC
AC
Source Source
EMU 601
负载 负载 负载 负载 1234
负载 N
OVP SOURCE
SPS
N: Max=12
LEKE® 系统特性
测量准确度
测试速度 测试可靠性
及稳定性 可扩充性
其它
输出电压量测采用了14-bit A/D转换器, 输出电压噪声的量测采用了8段低通滤波 器，进行差模放大方式来量测的。时序 量测采用了24-bit 计数器.
LEKE®系统硬件组成 扩展测量单元 - 601
可测量短路时的短路电流 过压保护测试的保护点及保护时间 内建10组电压量测点，可分别量测被
测物内的任意点的直流电压及均方根 电压。
通过6组内建继电器和16 –bit的逻辑 控制信号，可与其它仪器设备连线作 业。
LEKE®系统硬件组成 扩展测量单元 - 601
AC and DC Power Source
Input Power Source
Including AC and DC sources for applying power to the UUT during test execution.
OVP Power Source
The DC Power Source for implementing Over Voltage / Under Voltage protection tests.
模块化的系统架构及图形界面；操作简 单；内建41测试参数。
LEKE®
系統硬件組成
开关电源分析仪
6000 SMPS ATE
可程控交/直流源
扩展测量单元
- model 601
OVP
可程控直流源
其它测试设备
LEKE®系统硬件组成
开关分析仪
可程控 电子负载
4 1/2 DMM 电流变来自率 (2.5A/us) Von control 动态负载 (125KHz)
同步平行测试。比传统测试方法快约3倍
由MOSFET构成的电子负载，可以更真实 更快速更准确的模拟被测物的实际工作 状态(如负载电流大小、电流变化率、动 态负载状态等各种状态模拟
系统可测试1~12组输出的多种AC/DC、 DC\DC 电源产品； 可以通过系统中的6 组内建继电器和16 –bit的逻辑控制信 号及10组电压量测点与其它仪器设备连 接作业；
系统硬件组成
开关分析仪
UUT Output Voltage
Active Load Sink Current
Output disabled by OVP circuit
t
LEKE®
系统硬件组成
开关分析仪
UUT Output Von
Rated Load Rise Rate
t
LEKE®系统硬件组成 开关分析仪
Load
rise rate Load 2
Current
T1
T2
t
LEKE®
系统硬件组成
扩展测量单元 - 601
可控制被测物输入交流电源的开机角度和关机 角度
可模拟各种复杂电源输入波形。
可模拟从 0.1mS 到 650mS瞬间电源输入波形
断电状态
可量测被测物输入之特性，包括浪涌电流、均 方根电流、电压、真实功率、功率因素等。