再入飞行器电子类单机的贮存期估计
航天器锂电池贮存寿命预测技术研究
航天器锂电池贮存寿命预测技术研究潘江江;李洁;姜爽;李海伟;赵岩【摘要】为了有效减少航天器在轨飞行期间锂电池单体容量的不必要损失,确保航天器长期在轨工作期间正常完成飞行任务,从电池组正负极材料特性、电解液组件、杂质含量、制造工艺和空间环境特点等多方面入手分析,定位电池贮存寿命减少的关键因素,建立电池寿命预测模型,开展电池寿命预测技术研究,实现航天器电源系统电池组长期在轨的可靠维护,并对其他航天型号电源系统设计具有借鉴意义.【期刊名称】《电源技术》【年(卷),期】2018(042)011【总页数】4页(P1618-1621)【关键词】航天器;电池贮存;寿命预测【作者】潘江江;李洁;姜爽;李海伟;赵岩【作者单位】中国运载火箭技术研究院研究发展中心,北京100076;航天长征化学工程股份有限公司,北京101111;中国运载火箭技术研究院研究发展中心,北京100076;中国运载火箭技术研究院研究发展中心,北京100076;中国运载火箭技术研究院研究发展中心,北京100076【正文语种】中文【中图分类】TM912.9在航天器空间在轨飞行任务周期内，由于电源系统具有反复充放电、长期在轨工作的需求，结合电池设计的成熟度，锂电池受到了广泛的应用。
由于电池单体在材料特性、杂质含量、制造工艺等多方面存在差异，在空间中反复充放电过程中，随着充放电次数的增多，电池组各单体性能差异不断积累和放大，电池单体发生容量衰减故障的机率也会逐渐增大。
一旦电池组发生故障，将对航天器电源系统造成不可估量的影响，直接影响航天器空间飞行任务的成败。
开展航天器锂电池贮存寿命预测技术研究，可以有效地预测电池单体使用寿命，并采取相关维护措施，提高电源系统工作的可靠性。
1 影响电池组贮存寿命的因素1.1 研究背景在贮存过程中，锂离子电池的正负极都浸泡在电解质溶液中，热力学上不稳定的物质容易发生自发反应，可能发生的反应有活性物质的溶解、集流体的腐蚀和电极/电解液的界面反应等，这些反应是不可避免的，随着贮存时间的增长，这些反应对电池造成的影响不断增大[1]。
宇航元器件长期贮存及寿命评价方法研究顾建
宇航元器件长期贮存及寿命评价方法研究顾建发布时间：2021-09-06T05:42:17.560Z 来源：《中国科技人才》2021年第15期作者：顾建[导读] 元器件是电子元件和小型的机器、仪器的组成部分，航天电子元器件是汇集了最新的科学技术以及最新工艺的元器件，是航天设备制造的基础和重要资源。
目前国内航天企业为响应降本增效号召，积极开展元器件贮存寿命研究，提高元器件寿命以降低成本。
本文主要研究宇航元器件长期贮存及寿命评价方法。
天津航天中为数据系统科技有限公司天津市 300110摘要：元器件是电子元件和小型的机器、仪器的组成部分，航天电子元器件是汇集了最新的科学技术以及最新工艺的元器件，是航天设备制造的基础和重要资源。
目前国内航天企业为响应降本增效号召，积极开展元器件贮存寿命研究，提高元器件寿命以降低成本。
本文主要研究宇航元器件长期贮存及寿命评价方法。
关键词：宇航元器件；长期贮存；寿命评价方法引言经济形势变化导致航天行业成本变化，随着我国航天行业的不断发展，国内市场的开放程度越来越高，国际经济形势的变化对企业的发展产生了巨大的影响和压力，如何在激烈的竞争中保持并扩大自己的优势是每个公司都必须考虑的问题和挑战。
在这种情况下，既要响应降本增效号召，又要保证质量和可靠性，因此对其长期储存是非常重要的。
一、宇航元器件长期贮存可靠性分析可靠性是指元件在一定的时间范围内和一定的条件下，对给定的某个特定的功能或某一个指定的性能指标可以无障碍的完成。
可靠性是极其重要的质量指标，为了能够精确的进行比较或者描述，应当以概率来度量，这就是可靠度。
即可靠度是指元器件产品在规定条件下和规定时间内，完成规定功能的概率。
宇航元器件贮存寿命的评价是依托于没有缺陷或者发现的缺陷不会影响元器件的可靠性。
因此，我们需要分析总结影响元器件贮存可靠性的因素并针对解决。
影响元器件的寿命因素很多，例如环境因素：温度、气压、湿度等，这些都会对其寿命产生很大的作用力，所以在进行寿命计算时，要考虑的问题就是如何选择合适的方法来制定出最合理的方案，以保证元器件的可靠性。
飞行器火工品加速贮存寿命试验与评估方法
结合 ， 利用 可靠 性评 估来 代 替感 度参 数一 致性 检 验 ， 给
目前 加速 器 上 的 电子 、 材料 等产 品 。然而 ， 火 工 品属 于一 种含 药元 件 或装 置 ， 其 失 效 时 间 不 可 测 。通 过 测 试 只 能判 断在 一 定 贮 存 时 间后 其 是 否 失 效 ， 而 且 每 个
中 图分 类 号 ： Ｔ Ｊ ４ ；Ｔ Ｂ １ １ ４ ． ３ 文献标 志码 ： Ａ Ｄ ＯＩ ： １ ０ ． １ １ ９ ４ ３ ／ ｊ ． ｉ ｓ ｓ ｎ ． １ ０ ０ ６ — ９ ９ ４ １ ． ２ ０ １ ５ ． １ １ ． ０ １ ８
加 速 寿命 试 验 方 法
差 。
响， 其可 靠性 会逐 渐 降低 。 由 于 飞行 器 火 工 品 可 靠 性
高， 正常 贮存 条件 下其 失效 率 很低 ， 短 期 内很 难 暴露 出
缺陷， 无 法得 到有 效 的贮存 寿命 信 息 ， 故需要 通 过开 展 加速 贮存 寿命 试 验 ， 对 火 工 品 贮 存 寿 命 进 行 评 估 。
针 对 现有 火工 品加 速贮 存 寿命 试 验方 法存 在 的不
足， 本 研究 结合 飞行 器 火 工 品 及 其贮 存 寿命 与可 靠 性
的特 点 ， 对 飞行 器 火工 品贮存 寿命 影 响 因素 、 失 效 模式 与失效 机 理进行 分 析 ， 将 感 度 试 验 与 加 速贮 存 试 验 相
赵长见 ， 洪 东 跑 ，管 飞 ，张 海 瑞
文 章 编 号 ：１ ０ ０ ６ — ９ ９ ４ １ （ ２ ０ １ ５ ） １ １ — １ １ ３ Ｏ 一 ０ ５
飞行 器 火 工 品加 速 贮存 寿命 试 验 与 评估 方 法
单机构型中装机件的使用时间管理
单机构型中装机件的使用时间管理冯丹;李青【摘要】使用时间是影响飞机安全执行任务的关键因素.以单机构型管理为核心,给出构型中的装机件的使用时间管理方法,能够及时、有效地得出装机件的累计使用寿命,对指导维修保障人员作业,提高飞机可用率有重大意义.【期刊名称】《科学技术与工程》【年(卷),期】2014(014)010【总页数】6页(P284-289)【关键词】使用时间管理;装机件;单机构型;累计使用时间【作者】冯丹;李青【作者单位】北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京100191;北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京100191【正文语种】中文【中图分类】V375使用寿命是影响军机服役的关键性能指标［1，2］，结构作为飞机设备的载体，其使用寿命是决定飞机使用寿命的基础。
飞机结构包含大量的有寿件。
有寿件［3］是指军用飞机、航空发动机、武器系统及机载设备中与飞机整机寿命和维修周期不一致，且需要单独和特殊控制的项目，如飞机(飞机机体、座舱、起落架、燃油、操纵、液压、环控等系统)，机载设备(电气、斜板调节、氧气、仪表、飞行控制以及综合航电设备中需要按时限更换的易损件)等。
国军标规定以及行业内使用的寿命指标［4］分别为首翻期(使用期限)、总寿命和贮存期限，寿命指标一般用飞行小时、工作小时、日历持续时间(年)来表示，有特殊要求时也可按起落次数、充填次数、使用次数、发射次数、发射数量等表示寿命。
机件(机载设备)在飞机使用过程中由于故障、定期维护任务、地面检查等原因，频繁发生拆卸、安装、换件、串件直到报废，机件又分为单独计时件和非单独计时件，其使用寿命的管理和计算方式也不相同。
同时，飞机随着改装、升级、大修、机件拆装等原因，其构型也在不断发生变化，增加了飞机装机件使用寿命管理的复杂性。
本文以单机构型为核心，将飞机上的有寿件以构型项的方式统一管理，并采用“时间单位”对各构型项的使用寿命进行规范化描述，根据飞机的使用记录，给出一种飞机装机件的累计使用时间的计算方法。
军用装备长贮寿命预报方法
军用装备的特点是和平时期必须有一定的储备，长贮后的军用装备在使用时应保持完好的战技性能。
因此，如何评价军用装备的长贮寿命，且加以预报显得尤为重要，也是进行自然环境试验的主要任务之一。
装备长贮寿命预报方法，至今未形成系统，根据笔者们多年来进行装备自然环境试验的经验和工作实践，可归纳为以下几种方法。
1)))逐级预报法逐级预报法是一种发展趋势的预报方法。
主要是通过安排不同的自然环境试验方法来达到预报的目的。
其原则是：!"环境条件比较近似，但又比长贮条件苛刻，能提前出现装备在长贮中的失效形式、环境影响的规律等；#"不失真有一定可靠度；$"方法简单。
例如：对某装备除进行密封包装贮存外，还进行裸露存放、棚下贮存、露天贮存，甚至对于装备使用的新材料、新工艺和关键性的一些零部件进行露天暴露。
使其试验条件一级比一级严酷。
在试验过摘要根据自然环境试验研究的成果，总结了装备长贮寿命预报方法2主要包括：逐级预报法、相似装备预报法、逐步排除法、薄弱环节法和现代数学建模法。
充分利用和发展装备长贮寿命预报方法将增强装备环境试验的效能，提高装备的环境适应性。
!"#$装备300长贮寿命300预测300预报%&’()$%&’()*+,-.$**/0)$!+,#-)#.#1#’’.2’!-’’.+-’/张伦武1，402汪学华102杨晓然1（15中国兵器工业第67研究所国防科技工业自然环境试验中心，重庆8999:7；4;天津大学材料科学与工程学院，天津:999<4）军用装备长贮寿命预报方法(=>?00(=@ABCDCEF))G BH))!IJKLM =B?程中对不同时间段，不同试验方法进行分析比较，来进行逐级寿命预报。
如暴露试样在短期就出现问题，就预计露天存放或库内裸露试样可能出现问题。
当检查这两种试验出现问题时，及时针对装备出现的问题，向有关设计、研究、生产单位提供信息，预报装备在贮存期内可能会出现问题。
应用GM_1_1_模型研究军用电子元器件的长期贮存寿命
最小二乘法解方程得 *
! +6$!%78’’#8 #(/ !& $
解得方程的时间响应函数为 *
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第!期
杨少华等 ! 应用 67C( "(D 模型研究军用电子元器件长期贮存寿命
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灰色模型检验 为确保所建立的灰色模型有较高的可信度应用
型可用于中长期预测 "
表( 精度 良好 合格 灰色模型检验精度 勉强合格 不合格
’O _‘WH‘L\ !@>FD]=?@ )&8,&8\ _=IF>$
=5’(#&2(( aFE ?U S=E Y=>R>YSERIXSIYX ?U T?VERF bE>Q?FX IX N?FD XS?R>DE SITE cEU?RE @XE U?R ?FNJ
?FE SITE\ X? S=E Y?TQ?FEFSX >FV Q>RSX >RE REd@IREV S? =>[E QERUEYS EF[IR?FTEFS>N X@IS>cINISJ >FV N?FD XS?R>DE NIUEO 2YY?RVIFD S? DREJ XJXSET S=E?RJ\ S=E N?FD XS?R>DE NIUE ?U > REXIXSER IX QREVIYSEV @XIFD !" -&\ &6 T?VEN >FV ISX ITQR?[EV T?VENO LS IX IFVIY>SEV S=>S S=E Y?FXSR@YSEV T?VEN IX ?U D??V QREYIXI?F >FV S=E DREJ XJXSET S=E?RJ IX XITQNE >FV QR>YSIY>N U?R EFDIFEERIFD >QQNIY>SI?FO
航空航天电子设备可靠性与寿命预测研究
航空航天电子设备可靠性与寿命预测研究近年来，随着航空航天技术的不断发展，航空航天电子设备已经成为飞行器中不可或缺的部分。
然而，由于飞行环境的恶劣条件和设备长时间连续工作的特殊性，航空航天电子设备的可靠性和寿命成为制约其应用的重要因素。
因此，对航空航天电子设备的可靠性与寿命的研究备受关注。
可靠性是指设备在特定条件下在规定时间内能完成规定功能的能力。
航空航天电子设备的可靠性要求非常高，因为一旦设备发生故障或失效，可能导致航空器失去控制或无法正常运行，威胁乘客的安全。
因此，航空航天电子设备的可靠性研究对于保障航空航天飞行器的安全至关重要。
寿命预测是指通过对电子设备使用寿命进行分析和预测，来评估设备的寿命，并制定相应的维修和更换计划。
对于航空航天电子设备来说，寿命预测更为重要，因为无法得到长时间可操作的停机检修时间，及时判定设备的寿命并制定维修计划能够保证设备的安全操作和持续可靠运行。
航空航天电子设备的可靠性与寿命预测研究需要多个方面的探索和分析。
首先，需要建立航空航天电子设备的可靠性与寿命的数学模型。
该模型应该能够描述设备的失效机理，包括电子元器件的老化、机械部件的疲劳等各种因素。
同时，应该考虑设备在不同的工作条件下的可靠性和寿命情况，包括温度、湿度、振动等环境因素。
其次，在建立数学模型的基础上，需要收集并分析设备的运行数据，为模型的参数提供准确的数值。
这些运行数据包括设备的使用寿命、故障发生的频率、设备的维修记录等等。
通过对这些数据的分析，可以更准确地评估设备的可靠性和寿命。
另外，为了提高航空航天电子设备的可靠性和寿命，还需要进行故障预防和维修策略的研究。
故障预防包括定期检测、适时维护和更新设备等措施，可以在设备出现故障之前发现并修复潜在问题。
维修策略研究包括制定合理的维修计划和对设备进行正确的维修操作，以减少故障修复时间，提高设备的可靠性和使用寿命。
在航空航天电子设备可靠性与寿命预测研究中，还需要使用一些专业的工具和技术。
htpb推进剂贮存寿命的理论预估
htpb推进剂贮存寿命的理论预估摘要：本文旨在探究存储寿命中高可塑性推进剂（HTPB）的理论预估。
通过对HTPB材料特性、存储环境及因素和其他因素的深入分析，详细说明了HTPB存储寿命的理论预估模型。
本文总结出HTPB存储寿命的影响因素，并提出了实验验证和保护建议。
关键词：HTPB；存储寿命；理论预估；影响因素正文：本文的主要目的是对高可塑性推进剂（HTPB）的存储寿命进行理论预估。
HTPB最常用于火箭发动机，它的高压力存储会影响其存储寿命。
本文将对HTPB的材料特性、存储环境及因素和其他因素进行分析，探究其对存储寿命的影响。
首先，本文介绍了HTPB材料的特性，包括模量、扩散率、水吸附量和弹性模量，以及性能参数如抗张应力、热稳定性、耐热性和抗压性。
然后，文章介绍了存储环境及其影响。
HTPB存储寿命受外部应力（如温度、湿度和光照）的影响很大，并且也会受到不同的环境因素的作用。
本文还讨论了存储过程中其他因素，如加工方法、包装方式、储存条件以及材料表面状态对于存储寿命的影响。
接下来，本文建立了HTPB存储寿命的理论预估模型，根据前面分析的影响因素，建立预估模型，并进行定性分析。
最后，本文提出了实验验证和保护建议，以便在实际应用中有效地保护HTPB的存储寿命。
综上所述，本文分析了HTPB的材料特性、存储环境及因素和其他影响因素，提出了理论预估模型，并且提出了实验验证和保护建议。
本文的研究成果将有助于更好地了解HTPB存储寿命，为火箭发动机设计提供依据。
HTPB存储寿命的理论预估模型在火箭发动机设计中有重要作用，也可以用于其他应用，如推进剂、航天器控制和航空发动机中。
本文所分析的各种影响因素，可以帮助人们确定HTPB存储寿命的理论预估值，从而更好地设计和管理HTPB的存储条件。
例如，在火箭发动机设计中，我们可以根据HTPB存储寿命预估值，更有效地采购推进剂并将其存储在最佳条件下，从而确保发动机性能。
此外，本文提出的保护建议，也能帮助我们遵循最佳的存储方式，从而有效地提高HTPB的存储寿命。
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式中
类。
为第 ｉ 类元 器件 的非工 作 失效 率 ，１ ０ ／ ｈ ；
半 导体 分立 器件 （ 二 级管 ）的非 工作预 计模 型 为 式 中 为产 品性 能额 定值 系数 （ 时 间机 构元件 均 为
为第 ｉ 类 元器 件 的数量 ； 为产 品所 包含 元器 件 的种
ｃ ）计算 产 品贮 存年 限。
Ｄ Ｏｈ １ ０ ． ７ ６ ５ ４ ￣ ． ｉ ｓ ｓ ｎ １ ０ ０ ４ — ７ １ ８ ２ ． ２ ０ １ ５ ０ １ １ ２
再入 飞行器 电子 类单机 的贮存期估计
李晨 阳 ，高 宗
（ 北 京航 天长 征 飞行 器 研 究所 ，北 京 ， １ ０ ０ ０ ７ ６ ）
摘要 ：基 于元 器件 非工作计数法 能够 实现对再入飞行器 电子类单机的贮存 ，并通 过对 贮存寿命 的估计 ，说明该方法可行， 可作为再入飞行器 电子类单机贮存 期试验研 究与工程评 定的辅助 手段 。
表 １ 装 机 器 件 非 工 作 基 本 失 效 率 与系 数 查 询 结 果
器 件类 别
晶振
Ｎ ｂ ／（ １ ０ － ６ ． ｈ 。 ）
０ ． ０ ２ ２
７ ｇ Ｎ Ｅ
关键词 ：再入飞行 器； 电子类单机；非工作失计数 ；贮存期
中 图分 类 号 ：Ｖ ４ ７ ５ 文 献 标 识 码 ：Ａ
Ｖａ ｌ ｉ ｄ Ｓ ｔ ｏ ｒ ａ ｇ ｅ Ｔｅ ｒ ｍ Ｅｓ ｉｍ ａ ｔ ｉｏ ｔ ｎ ｏ ｆ Ｅｌ ｅ ｃ ｔ ｒ ｏ ｎ ｉ ｃ Ｓ ｉ ｎ ｇ ｌ ｅ － ｍａ ｃ ｈ ｉ ｎ ｅ ｆ ｏ ｒ Ｒｅ ｅ ｎ ｔ ｒ ｙ Ｖｅ ｈ ｉ ｃ ｌ ｅ
数 据推 出产 品在 正常 应力 下 的可 靠性 特 征量 。这类 方
法 相对 试 验周 期 短 ，但 由于 对产 品在 加 速应 力 作易 建立 准确 的加速 模 型 ，无 法 同时 叠加 多种 应 力 ，试 验 成 本高 ，因而 导致 大 多数
型号 工程难 以实施 。
２ ０ １ ５年 第 １ 期
导 弹 与 航 天 运 载 技 术
ＭＩ ＳＳＩ ＬＥＳ ＡＮ Ｄ Ｓ ＰＡＣＥ ＶＥＨＩ ＣＬＥＳ
Ｎ Ｏ． １ ２ ０１ ５ Ｓ ｕｍ ＮＯ ． ３３ ７
总第 ３ ３ ７ 期
文章 编号 ： １ ０ ０ ４ ７ １ ８ ２ （ ２ Ｏ ｌ ５ ） Ｏ ｌ 一 ０ ０ ５ ４ — ０ ３
０ 引 言
电子类 单机 （ 以下 简称 产 品 ）是 再入 飞行 器 电气
系统 的重要 组 成部 分 ，具 有批 量 小 、成本 高 、可 靠性
加速 寿 命试 验 是在 保 证不 改变 产 品 失效 机理 的前 提 下 ，用 人工 方法 加 大试 验应 力 （ 如 热应 力 和机 械 应
电子类 产 品可 以通 过 元器 件 失效 率计 数来 估 计其 可靠 性指 标 ｌ １ ］ ， 而建 立基 于元 器件 非工 作计 数 的贮 存 期
法 。前 者 需要 尽 早研 制后 期 （ 批 生 产交 付 阶段 ）安排 相 同技术 状态 产 品放 置 于 具备 实际 交付 后 库存 环境 相 同 的场地 贮存 ，并按 使用 的文件 定 期检 测 。试 验 的优
＝
通 一断 循环 系 数 （ 产 品执 行 年度 检 测 ，通 电间 隔大 于 为 产 品成熟 系数 （ 因
１ ）建 立产 品可 靠 性模 型 ； ２ ）按元 器 件 非工 作失 效率 预计 模 型 ，计算产 品各
类元 器件 的非 工作 失效 率 ２ Ｎ ｐ ［ ２ ］ ；
３ ）累 加所 有元 器件 非 工作 失效 率 ，得 出产 品 的非
Ｉ 类 降额 设计 ，取 为 １ ） 。 振 荡器 （ 晶振 ） 的非 工 作预计 模 型为
Ｐ ＝ ， ７ ｏ
根 据 产 品规 定 的经贮 存后 允 许可 靠度 Ｒ ，可 按式 （ １ ）计算 产 品贮 存 年 限 。
光 电子 器件 （ 光 电耦 合 器 ）的非 工作 预计 模型 为
第 １期
李晨 阳等
再入飞行器 电子类单机 的贮存期估计
５ ５
式 中
为贮 存 年 限 ；２ 为产 品非 工作 失效 率 ；Ｒ为产
’
接 口管芯 片 、总 线 驱动 器 、非 易 失存 储 器 ） 的非工 作
预 计模 型 为
Ｎ Ｐ ＝ Ｊ ｂ 巧 乃 ０ （ ， ＋ 乃 ） ， Ｙ ｃ 刀 ＿ Ｎ Ｌ
Ａｂ ｓ ｔ ｒ ａ ｃ ｔ ：Ｔｈ ｅ ｖ ａ ｌ ｉ ｄ ｓ ｔ ｏ ｒ ａ ｇ ｅ ｔ ｅ ｒ ｍ ｅ ｓ ｔ ｉ ｍａ ｔ ｉ ｏ ｎ ｏ ｆ ｔ ｈ ｅ ｅ ｌ ｅ ｃ ｔ ｒ ｏ ｎ ｉ ｃ ｓ ｉ ｎ ｇ ｌ ｅ — ｍａ ｃ ｈ ｉ ｎ ｅ ｆ ｏ ｒ ｔ ｈ ｅ ｒ ｅ ｅ ｎ ｔ ｒ ｙ ｖ ｅ ｈ ｉ ｃ ｌ ｅ ｃ ａ ｎ ｂ ｅ ｐ ｅ ｒ ｆ ｏ ｒ ｍｅ ｄ ｂ ｙ ｔ ｈ ｅ ｍｅ ｔ ｈ ｏ ｄ ｂ ａ ｓ ｅ ｄ ｏ ｎ ｔ ｈ ｅ ｎ ｏ ｎ — ｏ ｐ ｅ ｒ ａ ｔ ｉ ｎ ｇ ｓ ｔ ａ ｔ ｅ ｃ ｏ ｕ ｎ ｔ ｉ ｎ ｇ ｏ ｆ ｔ ｈ ｅ ｅ ｌ ｅ ｍｅ ｎ ｔ ａ ｎ ｄ ｔ ｈ ｅ ｃ ｏ ｍｐ ｏ ｎ ｅ ｎ ｔ ． Ｔ ｈ ｅ ｎ ｏ ｎ － ｏ ｐ ｅ ｒ ａ ｔ ｉ ｎ ｇ ｓ ｔ ａ ｔ ｅ ｃ ｏ ｕ ｎ ｔ ｉ ｎ ｇ ｉ ｓ ａ ｆ ｅ ａ ｓ ｉ ｂ ｌ ｅ ｍｅ ｔ ｈ ｏ ｄ ｔ ｏ ａ ｓ ｓ ｉ ｓ ｔ ｔ ｈ ｅ ｔ ｅ ｓ ｔ ， ｒ ｅ ｓ ｅ ａ ｒ ｃ ｈ ａ ｎ ｄ ｅ ｎ ｇ ｉ ｎ ｅ ｅ ｒ ｉ ｎ ｇ ｅ ｖ ａ ｌ ｕ ａ ｔ ｉ ｏ ｎ ｆ ｏ ｒ ｔ ｈ ｅ ｖ ａ ｌ ｉ ｄ ｓ ｔ ｏ ｒ ａ ｇ ｅ ｔ ｅ ｍ ｒ ｏ ｆ ｔ ｈ ｅ ｅ ｌ ｅ ｃ ｔ ｒ ｏ ｎ ｉ ｃ ｓ ｉ ｎ ｇ ｌ ｅ — ｍａ ｃ ｈ ｉ ｎ ｅ ｏｒ ｆ ｔ ｈ ｅ ｒ ｅ ｅ ｎ ｔ ｒ ｙ ｖ ｅ ｈ ｉ ｃ ｌ ｅ ． Ｋｅ ｙ Ｗｏ ｒ ｄ ： Ｒｅ ｅ ｎ ｔ ｒ ｙ ｖ ｅ ｈ ｉ ｃ ｌ ｅ ； Ｅｌ ｅ ｃ ｒ ｔ ｏ ｎ ｉ ｃ ｓ ｉ ｎ ｇ ｌ ｅ － － ｍａ ｃ ｈ ｉ ｎ ｅ ； Ｎｏ ｎ － ・ ｏ ｐ ｅ ｒ ａ ｔ ｉ ｎ ｇ ｆ ａ ｉ ｌ ｕ ｒ ｅ ｒ ａ ｔ ｅ ｃ ｏ ｕ ｎ ｔ ｉ ｎ ｇ ； Ｖ ａ ｌ ｉ ｄ ｓ ｔ ｏ ｒ ａ ｇ ｅ ｔ ｅ ｒ ｍ
＝ Ｎｂ
ｏ７
继 电器 的非 工 作预计 模 型 为
Ｐ ＝ ｎ－ Ｎ Ｅ７ ／ ＂ Ｎ ｏ
查 ＧＪ Ｂ ／ Ｚ １ ０ ８ Ａ 可 知各类 元 器件 基 本失 效率 与各 类 系数 （ 见表 １ ） ，经汇 总计 算 可得 到时 间机 构非 工作 失效率 ＝０ ． ０ ３ ０ １ ７ ５（ １ ０ ／ ｈ ） 。
Ｌｉ Ｃｈ ｅ ｎ— ｙａ ｎｇ ， Ｇａ ｏ Ｚｏ ｎｇ
（ Ｂ ｅ Ｏ ｉ ｎ ｇ Ｉ ｎ ｓ ｔ ｉ ｔ ｕ ｔ ｅ ｏ ｆ Ｓ ｐ ａ ｃ ｅ Ｌ ｏ ｎ ｇ Ｍａ ｒ ｃ ｈ Ｖ ｅ ｈ ｉ ｃ ｌ ｅ ， Ｂ ｅ ｉ ｊ ｉ ｎ ｇ ， １ ０ ０ ０ ７ ６ ）
品经 贮存 后 的可 靠度 。
通过 对 ＧＪ Ｂ ／１ ０ ８ Ａ一 ２ ０ ０ ６《 电子 设备 非工 作状 态可
靠性 预计 手 册 》 【 的分 析 ， 产 品的非 工作状 态 失效 率可
通过 该 手册 得 到 。 而 产 品贮 存后 其可 靠度 呈 下 降趋势 ， 即产 品贮 存 可靠 度 随贮 存期 的 延长 而逐 步下 降。 制 定产 品的贮 存期 评估 方 法 的具体 过程 如 下 ： ａ ）确 定 产 品贮存 环境 类 别 ； ｂ ）预 计产 品在 此类 环 境类 别下 的非工 作 失效 率 ， 步骤 为 ：
力） ，加快产 品老化 ，然 后进行 性 能检测 ，再根 据 试验
高 的特 点 。而 再入 飞 行器 的全 寿命 周 期包 括 了勤 务 处 理 、待 机 、飞 行等 使用 状 态和 运输 、贮存 等 非工 作状
态 ，其 中 ，贮 存 时间远 远 大 于使用 时间 。 电子类 单机 产 品 的贮存 期 、贮 存 可用 度指 标 关 系到 整个 系 统乃 至
收稿 日期 ：２ ０ １ ４ — ０ ３ ． １ ５
于 中心 库 期 间 ，电子 类单 机 失效 率属 于 失效 率浴 盆 曲
线 的 随机 失效阶 段 ，寿命 分布 可视 为指 数分 布 ，即 ：
７ ＿～ １ Ｉ
ｎ
１
（１ ）
Ｒ
作者 简 介 ：李晨 阳 （ １ ９ ７ １ 一 ） ，男， 高级 工程 师 ，主要研 究 方 向为再 入飞 行器 电气 系统 设计
估计 方 法 ，首 先是 建立 产 品贮 存 期与 可靠 性特 征 量之
间的相 互关 系 。 根 据 型号 长期 贮存 的工程 经 验 ，再 入 飞行器 贮 存
点是等 效 结果 与实 际情况 贴近 ；缺 点是 ：ａ ）试 验 耗 时
长 、管 理难度 大 ；ｂ ）由于产 品性能变 化迟 缓 ，在 长 期 贮 存 检测 与 数据 积 累过 程 中容 易 引入 认 为误差 因素 导 致 的产 品性 能变 化规 律难 以找 到 。
ｏ
电阻器 的非 工作预 计模 型 为
Ｐ ＝ ｂ Ｅ ０ｎ－ ｃ Ｙｃ
工 作 失效 率 ，即 ：
：
电容 器 的非 工作预 计 模型 为
Ｐ ＝ Ｎｂ 刀 ０刀 Ｙ ｃ
∑Ⅳ ｆ
ｉ ＝１
式 中
为非 工作 表面 贴装 系数 。
＝ 巧 ｏ ， ７ Ｙ ｃ 石Ｎ
全武 器 系统 的性 能指标 。
ｌ 贮存期试验研 究方法
电子类 单 机产 品的可 靠 性指 标 要求 高 ，贮 存期 相