材料分析测试技术》试卷(答案)
【可编辑全文】湖南大学材料分析测试技术试卷答案

可编辑修改精选全文完整版湖南大学课程考试试卷课程名称: ;试卷编号:;考试时间:120分钟 一、填空题(每空1分,共20分) 1.X 射线的本质是一种 电磁辐射,同时具有 波动 性和 粒子 性的特征。
2.连续X 射线的短波限取决于 管电压 。
3.晶体点阵中的一个二维阵点平面在倒易点阵中表示为 一个倒易阵点 。
4.X 射线衍射仪测定宏观应力是根据它使衍射峰 发生位移 的原理进行的。
5.劳厄法是采用 连续 X 射线照射 单晶 体。
6.透射电镜中的电磁透镜从电子枪到荧光屏的排列顺序为: 聚光 镜、物 镜、 中间 镜和 投影 镜。
7.内应力包括: 宏观应力 , 微观应力 , 超微观应力 。
8.粉末法中影响X 射线强度的因子有 , , , , 。
二、选择题(单选,每题2分,共40分) 1.布拉格方程是晶体对X 射线衍射的 。
………………( B ) A .充分条件 B. 必要条件 C. 充要条件 D. A 、B 、C 都不对 2.X 射线测定宏观应力计算公式为 =KM ,其中K 为应力常数,它与 有关。
……………………………………………………………………(A)A.试样的力学性能 B. 入射X射线波长C. 所选择的反射晶面D. A、B、C三种因素3.测量Fe基材料最好选作阳极靶。
………………………(C)A.Cu B. Mo C. Co D. Ni4.闪烁计数器是根据X射线的的特性而设计的。
…………(C)A.具有穿透性 B. 能使气体电离C. 使荧光物质发光D. 使照相底片感光5.由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的像差,称为。
…………………………………(A)A.球差 B. 畸变 C. 色差 D. 象散6.电子束与固体样品相互作用会产生各种信号,下列信号中能量最小的是。
…………………………………………………………(A)A.俄歇电子 B. 二次电子 C. 背散射电子 D. 吸收电子7.质厚衬度与下列无关。
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材料科学:材料分析测试技术测考试题 考试时间:120分钟 考试总分:100分遵守考场纪律,维护知识尊严,杜绝违纪行为,确保考试结果公正。
1、名词解释 溅射 本题答案: 2、问答题 衍射线在空间的方位取决于什么?而衍射线的强度又取决于什么? 本题答案: 3、单项选择题 透射电镜中电中间镜的作用是( )A 、电子源 B 、会聚电子束 C 、形成第一副高分辨率电子显微图像 D 、进一步放大物镜像 本题答案: 4、问答题 要观察钢中基体和析出相的组织形态,同时要分析其晶体结构和共格界面的位向关系,如何制备样品?以怎样的电镜操作方式和步骤来进行具体分析? 本题答案: 5、单项选择题 样品台和测角仪机械连动时,计数器与试样的转速关系是( )A 、1﹕1 B 、2﹕1 C 、1﹕2 D 、没有确定比例姓名:________________ 班级:________________ 学号:________________--------------------密----------------------------------封 ----------------------------------------------线----------------------本题答案:6、名词解释质厚衬度本题答案:7、名词解释伸缩振动本题答案:8、单项选择题菊池线可以帮助()。
A.估计样品的厚度;B.确定180不唯一性;C.鉴别有序固溶体;D.精确测定晶体取向。
本题答案:9、问答题什么是消光距离?影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么?本题答案:10、问答题制备复型的材料应具备什么条件?本题答案:11、名词解释Hanawalt索引本题答案:12、问答题简述X射线产生的基本条件。
本题答案:13、单项选择题波谱仪与能谱仪相比,能谱仪最大的优点是()。
A.快速高效;B.精度高;C.没有机械传动部件;D.价格便宜。
本题答案:14、问答题如何用红外光谱跟踪二氧化硅湿凝胶变为干凝胶的过程?本题答案:15、单项选择题当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()A.短波限0;B.激发限k;C.吸收限;D.特征X射线本题答案:16、单项选择题晶体属于立方晶系,一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4,则该晶面的指标为()A、(364)B、(234)C、(213)D、(468)本题答案:17、单项选择题透射电镜成形貌像时是将()A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、关闭中间镜D、关闭物镜本题答案:18、问答题试说明菊池线测试样取向关系比斑点花样精确度为高的原因。
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材料科学:材料分析测试技术测试模拟考试 考试时间:120分钟 考试总分:100分遵守考场纪律,维护知识尊严,杜绝违纪行为,确保考试结果公正。
1、问答题 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX 射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX 射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX 射线激发CuLα荧光辐射。
本题答案: 2、单项选择题 能帮助消除180不唯一性的复杂衍射花样是( )。
A.高阶劳厄斑; B.超结构斑点; C.二次衍射斑; D.孪晶斑点 本题答案: 3、名词解释 溅射 本题答案: 4、问答题 如何操作透射电子显微镜使其从成像方式转为衍射方式 本题答案: 5、问答题 扫描电镜的分辨率受哪些因素影响?用不同的信号成像时,其分辨率有何不同?所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率? 本题答案:姓名:________________ 班级:________________ 学号:________________--------------------密----------------------------------封 ----------------------------------------------线----------------------6、单项选择题测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是()。
A.保持同步1﹕1;B.2﹕1;C.1﹕2;D.1﹕0。
本题答案:7、问答题一种化合物含有两个基团与各含一个基团的两种化合物的混合物,其红外谱图有大的差别吗?为什么?本题答案:8、单项选择题M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()A.K;B.K;C.K;D.L。
本题答案:9、名词解释暗场像本题答案:10、问答题举例说明如何用选区衍射的方法来确定新相的惯习面及母相与新相的位相关系。
本题答案:11、问答题球差、像散和色差是怎样造成的?如何减小这些像差?哪些是可消除的像差?本题答案:12、问答题哪些因素影响着透射电镜的分辨率?它们的影响程度如何?如果透射电镜的分辨率极高,此时它的景深和焦长如何?本题答案:13、单项选择题已知一位错线在选择操作反射g1=(110)和g2=(111)时,位错不可见,那么它的布氏矢量是()。
材料分析测试技术-试卷及答案

制卷人签名:制卷日期:审核人签名:: 审核日期: ……………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………装……………………订……………………线…………………………………………………………………得二、名词解释(每题4,共20分) 分1.晶带轴[uvw]和零层倒易截面(uvw)*2.电磁透镜的景深与焦长3.明场像、暗场像和中心暗场像4.物质对X射线的线吸收系数和质量吸收系数5.荧光产额和俄歇产额得三、简答题(每题6分,共30分)分1.高能电子束与固体样品相互作用时将产生那些信号?简述其产生原理,并说明这些信号在材料的性能表征方面有何应用?2.电磁透镜的像差有哪几种,并简述其产生原因及克服方法。
3.分别说明透射电镜中成像操作与衍射操作时各级透镜(像平面与物平面)之间的相对位置关系,并画出光路图。
4.简述用X射线衍射仪对多相物质进行物相定性分析的基本程序。
2. 证明TEM 中的电子衍射基本公式)(hkl g L R L Rd G G λλ==。
3. 证明衍射分析中的厄瓦尔德球图解与布拉格方程等价。
制卷人签名:制卷日期:审核人签名:: 审核日期: ……………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………装……………………订……………………线…………………………………………………………………参考答案:背散射电子:背散射电子是指被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子。
其中包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。
背散射电子的产生范围深,由于背散射电子的产额随原子序数的增加而增加,所以,利用背散射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征,也可用来显示原子序数衬度,定性地进行成分分析。
(1分) 二次电子:二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。
《材料分析测试技术》课程试卷答案

一、选择题:(8分/每题1分)1。
当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生(D)。
A. 光电子;B. 二次荧光;C。
俄歇电子;D。
(A+C)2。
有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0。
194nm)照射该晶体能产生(B)衍射线。
A。
三条; B 。
四条;C. 五条;D. 六条.3。
.最常用的X射线衍射方法是(B )。
A。
劳厄法;B. 粉末多晶法;C. 周转晶体法;D。
德拜法。
4. 。
测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是(C )。
A。
外标法;B。
内标法;C。
直接比较法;D。
K值法。
5。
可以提高TEM的衬度的光栏是(B )。
A。
第二聚光镜光栏;B。
物镜光栏;C. 选区光栏;D. 其它光栏。
6. 如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是( D)。
A。
六方结构;B。
立方结构;C。
四方结构;D. A或B。
7。
将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像,这是(C).A。
明场像;B. 暗场像;C. 中心暗场像;D.弱束暗场像。
8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是(B)。
A. 背散射电子;B. 二次电子;C。
吸收电子;D。
透射电子。
一、判断题:(8分/每题1分)1.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态.(√)2.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。
(√)3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率,缩短暴光时间。
(×)4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。
( ×)5.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同,前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率,后者仅仅是仪器的制造水平。
(√)6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。
(×)7.实际电镜样品的厚度很小时,能近似满足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像。
《材料分析测试技术》课程试卷答案

一、选择题:(8分/每题1分)1. .当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生(D)。
A. 光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)2. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0.194nm)照射该晶体能产生(B)衍射线。
A. 三条;B .四条;C. 五条;D. 六条。
3. .最常用的X射线衍射方法是(B)。
A. 劳厄法;B. 粉末多晶法;C. 周转晶体法;D. 德拜法。
4. .测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是(C )。
A. 外标法;B. 内标法;C. 直接比较法;D. K值法。
5. 可以提高TEM的衬度的光栏是(B )。
A. 第二聚光镜光栏;B. 物镜光栏;C. 选区光栏;D. 其它光栏。
6. 如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是(D)。
A. 六方结构;B. 立方结构;C. 四方结构;D. A或B。
7. .将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像,这是(C)。
A. 明场像;B. 暗场像;C. 中心暗场像;D.弱束暗场像。
8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是(B)。
A. 背散射电子;B. 二次电子;C. 吸收电子;D.透射电子。
一、判断题:(8分/每题1分)1.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。
(√)2.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。
(√)3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率,缩短暴光时间。
(×)4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。
(×)5.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同,前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率,后者仅仅是仪器的制造水平。
(√)6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。
材料测试分析技术答案第一、三、四题

今有一张用CuKa 辐射摄得的钨(体心立方)的粉末图样,试计算出头四根线条的相对积分强度(不计e -2M和A (θ))。
若以最强的一根强度归一化为100,其他线强度各为多少?这些线4--8在德拜图形上获得某简单立方物质的如下四条谱线;所给出的均有Cu 衍射的结果。
以为外推函数,请用柯亨法计算晶格常数,精确到四位有效数字解: ,+=1,可得下表:所以得:154.8213=6489A+231.114C① 6.728=231.114A+14.093C② 由1,2得A=0.01648,C=0.2071。
又有,===0.5994求淬火后低温回火的碳钢样品,不含碳化物(经金相检验),A (奥氏体)中含碳1%,M (马氏体)中含碳量极低。
经过衍射测得A220峰积分强度为2.33(任意单位),M200峰积分强度为16.32,试计算该钢中残留奥氏体的体积分数(实验条件:Fe K α辐射,滤波,室温20℃,α-Fe 点阵参数a=0.286 6 nm ,奥氏体点阵参数a=0.3571+0.0044wc ,wc 为碳的质量分数。
解: • 根据衍射仪法的强度公式,• • 令 ,• 则衍射强度公式为:I = (RK/2μ)V由此得马氏体的某对衍射线条的强度为I α=(RK α/2μ)V α,残余奥氏体的某对衍射线条的强度为I y =(RK y /2μ)V y 。
两相强度之比为:• 残余奥氏体和马氏体的体积分数之和为f γ+f α=1。
则可以求得残余奥氏体的百分含量:对于马氏体,体心立方,又α-Fe 点阵参数a=0.2866nm, Fe K α波长λ=1.973A 。
,Θ=453K,T=293K∴sin θ1=2dλ= 0.19370.286622⨯=0.6759⇒θ1=42.52。
,P 200=6,F=2f,M 1=226(x)1sin x 4a h m K φθλ⎡⎤⎛⎫+ ⎪⎢⎥Θ⎣⎦⎝⎭=1.696⨯2114d ⨯10-19=2.65⨯10-18对于奥氏体面心立方,a=0.3571 ⨯0.0044 ⨯1%=0.3575nm∴sin θ2=2d λ=0.19370.35752 =0.7661⇒θ2=50.007。
2021知到答案 材料分析测试技术 最新智慧树满分章节测试答案

第一章单元测试1、单选题:X射线特征谱的产生机理与()有关。
选项:A:X射线管的阳极靶材的原子结构B:X射线管的电流C:X射线管的阴极材料D:X射线管的电压答案: 【X射线管的阳极靶材的原子结构】2、单选题:倒易矢量的长度与正点阵中同名晶面的晶面间距()选项:A:垂直B:没有关联C:相等D:成倒数答案: 【成倒数】3、单选题:粉末多晶样品中,不同晶面指数的倒易点分布在()半径的倒易球上。
选项:A:任意B:其他选项都不对C:不同D:相同答案: 【不同】4、判断题:在体心点阵中,当(HKL)晶面的H+K+L为奇数时,产生系统消光。
()选项:A:对B:错答案: 【对】5、多选题:关于X射线衍射仪的测量动作,说法正确的是()。
选项:A:样品台和计数管可以分别绕O轴转动,也可机械连动。
B:机械连动时,样品台转过θ角时,计数管转2θ角。
C:机械连动时,样品台转过θ角时,计数管转θ角。
D:样品台和计数管必须机械连动答案: 【样品台和计数管可以分别绕O轴转动,也可机械连动。
;机械连动时,样品台转过θ角时,计数管转2θ角。
】6、单选题:X射线衍射仪中,通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图,常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为()。
选项:A:步进扫描B:慢速扫描C:其他选项都不对D:连续扫描答案: 【步进扫描】7、判断题:当倒易球与反射球相交,交线是一个圆环,环上每一点都满足衍射条件,可以产生衍射。
()选项:A:错B:对答案: 【对】8、单选题:X射线衍射的充分条件是()。
选项:A:满足布拉格方程且结构因子为零。
B:满足布拉格方程且结构因子不为零。
C:其他选项都不对D:晶面间距大于等于半波长答案: 【满足布拉格方程且结构因子不为零。
】9、多选题:晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的()选项:A:大小B:原子种类C:原子位置D:形状答案: 【大小;形状】10、判断题:每种晶体物质都有自己特定的晶体结构,晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。
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《材料分析测试技术》试卷(答案)
一、填空题:(20分,每空一分)
1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。
2. X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、光电效应、透射X射线、和热。
3. 德拜照相法中的底片安装方法有:正装、反装和偏装三种。
4. X射线物相分析方法分:定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。
5. 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。
6. 今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。
7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。
8. 扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。
二、选择题:(8分,每题一分)
1. X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。
a.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法。
2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是(b)。
a.Co ;b. Ni ;c. Fe。
3. X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用(c )。
a.哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。
4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。
a.第二聚光镜光阑;b. 物镜光阑;c. 选区光阑。
5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。
a.球差;b. 像散;c. 色差。
6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是(a)。
a.高阶劳厄斑点;b. 超结构斑点;c. 二次衍射斑点。
7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。
a.背散射电子;b.俄歇电子;c. 特征X射线。
8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。
a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。
三、问答题:(24分,每题8分)
1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么
答:X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小
适中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一
个最佳厚度(t =
2.分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些它有哪些功能在材料
科学中有什么应用
答:透射电子显微镜的主要组成部分是:照明系统,成像系统和观察记
录系统。
透射电镜有两大主要功能,即观察材料内部组织形貌和进行电子衍射以了解选区的晶体结构。
分析型透镜除此以外还可以增加特征X射线
探头、二次电子探头等以增加成分分析和表面形貌观察功能。
改变样品
台可以实现高温、低温和拉伸状态下进行样品分析。
透射电子显微镜在材料科学研究中的应用非常广泛。
可以进行材料组织形貌观察、研究材料的相变规律、探索晶体缺陷对材料性能的影响、分析材料失效原因、剖析材料成分、组成及经过的加工工艺等。
3.什么是缺陷的不可见性判据如何用不可见性判据来确定位错的布氏
矢量
答:所谓缺陷的不可见性判据是指当晶体缺陷位移矢量所引起的附加相
位角正好是π的整数倍时,有缺陷部分和没有缺陷部分的样品下表面衍
射强度相同,因此没有衬度差别,故而看不缺陷。
利用缺陷的不可见性判据可以来确定位错的布氏矢量。
具体做法是先看到位错,然后转动样品,选择一个操作反射g1,使得位错不可见。
这说明g1和位错布氏矢量垂直;再选择另一个操作反射g2,使得位错不
可见;那么g1×g2 就等于位错布氏矢量b。
四、证明题:20分
1.证明衍射分析中的厄瓦尔德球图解与布拉格方程等价。
以入射X射线的波长λ的倒数为半径作一球(厄瓦尔德球),将试样放在
球心O处,入射线经试样与球相交于O*;以O*为倒易原点,若任一倒
易点G落在厄瓦尔德球面上,则G对应的晶面满足衍射条件产生衍射。
证明:如图,令入射方向矢量为k(k = 1/λ),衍射方向矢量为k,,衍射
矢量为g。
则有g = 2ksinθ。
∵g=1/d;k=1/λ,∴2dsinθ=λ。
即厄瓦尔
德球图解与布拉格方程等价。
2.作图并证明公式:Rd=Lλ。
作图:以1/λ为半径作厄瓦尔德球面,入射线经试样O 与厄瓦尔德球面交于O*点,与荧光屏交于O ,点;衍射线与厄瓦尔德球面交于G 点,与荧光屏交于A 点。
O*G 是倒易矢量g ,O ,,
∵透射电子显微镜的孔径半角很小(2-3∴可近似认为g//R
有⊿OO*G ≌⊿O O ,A
OO*/L = g/R
将OO*=1/λ,g = 1/d 代入上式
得:Rd=L λ
五、
综合题:(28分)
1. 为使Cu k α线的强度衰减1/2,需要多厚的Ni 滤波片(Ni 的 μ
m =cm 2g -1 ,ρ=gcm -3)。
(10分)
解:根据强度衰减公式I = I 0e -μm ρX
1/2 = *
X = ln2/* =
2. 有一金属材料的多晶粉末电子衍射花样为六道同心圆环,其半径分别是:,,,,,;相机常数L λ=。
请标定衍射花样并求晶格常数。
(10分)
解:已知R 1=;R 2=;R 3=;R 4=;R 5=;R 6=
有R 12=;R 22=;R 32=;R 42=;R 52=;R 62=。
R 12/ R 12= 1;R 22/R 12= ; R 32/R 12= ;R 42 /R 12= 4;R 52/ R 12= ;R 62/ R 12=。
有N 数列为:1 :2 :3 :4 :5 :6 。
由于金属材料中很少是简单立方结构,故考虑N 数列为:2 :4 :
6 :8:10 :12。
这是体心立方晶体结构,其值对应的晶面族指数是:110;200;211;220;310;222。
根据电子衍射基本公式Rd=L λ,有
d 1=;d 2=;d 3=;d 4=;d 5=;d 6=。
根据立方晶体晶面间距公式222l k h a
d ++=
a =
3. 分析电子衍射与X 射线衍射有何异同(8分)
答:电子衍射的原理和X射线衍射相似,是以满足(或基本满足)布拉
格方程作为产生衍射的必要条件。
首先,电子波的波长比X射线短得多,在同样满足布拉格条件时,它的衍射角θ很小,约为10-2rad。
而X射线产生衍射时,其衍射角最大可接近π/2。
其次,在进行电子衍射操作时采用薄晶样品,薄样品的倒易阵点会沿着样品厚度方向延伸成杆状,因此,增加了倒易阵点和爱瓦尔德球相交截的机会,结果使略微偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。
第三,因为电子波的波长短,采用爱瓦尔德球图解时,反射球的半径很大,在衍射角θ较小的范围内反射球的球面可以近似地看成是一个平面,从而也可以认为电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内。
这个结果使晶体产生的衍射花样能比较直观地反映晶体内各晶面的位向,给分析带来不少方便。
最后,原子对电子的散射能力远高于它对X射线的散射能力(约高出四个数量级),故电子衍射束的强度较大,摄取衍射花样时暴光时间仅需数秒钟。