材料分析测试技术A卷
材料分析测试技术A卷
材料分析测试技术A卷一、选择题（每题1分，共15分）1、X射线衍射方法中，最常用的是（）A．劳厄法 B.粉末多晶法 C.转晶法2、已知X射线定性分析中有三种索引，已知物质名称可以采用（）A.哈式无机相数值索引B.无机相字母索引C.芬克无机数值索引3、电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中能用于测试1nm厚度表层成分分析的信号是（）A. 背散射电子B.俄歇电子C.特征X射线4、测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用的方法是（）A.外标法B.内标法C.直接比较法D.K值法5、下列分析方法中分辨率最高的是（）A.SEMB.TEMC. 特征X射线6、表面形貌分析的手段包括（）A.SEMB.TEMC.WDSD. DSC7、当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K 层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（）A.光电子B.二次电子C.俄歇电子D.背散射电子8、透射电镜的两种主要功能（）A.表面形貌和晶体结构B.内部组织和晶体结构C.表面形貌和成分价键D.内部组织和成分价键9、已知X射线光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（）A.CoB.NiC.FeD.Zn10、采用复型技术测得材料表面组织结构的式样为（）A.非晶体样品B.金属样品C.粉末样品D.陶瓷样品11、在电子探针分析方法中，把X射线谱仪固定在某一波长，使电子束在样品表面扫描得到样品的形貌相和元素的成分分布像，这种分析方法是（）A.点分析B.线分析C.面分析12、下列分析测试方法中，能够进行结构分析的测试方法是（）A.XRDB.TEMC.SEMD.A+B13、在X射线定量分析中，不需要做标准曲线的分析方法是（）A.外标法B. 内标法C. K值法14、热分析技术不能测试的样品是（）A.固体B.液体C.气体15、下列热分析技术中，（）是对样品池及参比池分别加热的测试方法A.DTAB.DSCC.TGA二、填空题（每空1分，共20分）1、由X射线管发射出来的X射线可以分为两种类型，即和。
【可编辑全文】湖南大学材料分析测试技术试卷答案
可编辑修改精选全文完整版湖南大学课程考试试卷课程名称： ；试卷编号：；考试时间：120分钟 一、填空题（每空1分，共20分） 1．X 射线的本质是一种 电磁辐射，同时具有 波动 性和 粒子 性的特征。
2．连续X 射线的短波限取决于 管电压 。
3．晶体点阵中的一个二维阵点平面在倒易点阵中表示为 一个倒易阵点 。
4．X 射线衍射仪测定宏观应力是根据它使衍射峰 发生位移 的原理进行的。
5．劳厄法是采用 连续 X 射线照射 单晶 体。
6．透射电镜中的电磁透镜从电子枪到荧光屏的排列顺序为： 聚光 镜、物 镜、 中间 镜和 投影 镜。
7．内应力包括： 宏观应力 ， 微观应力 ， 超微观应力 。
8．粉末法中影响X 射线强度的因子有 ， ， ， ， 。
二、选择题（单选，每题2分，共40分） 1．布拉格方程是晶体对X 射线衍射的 。
………………（ B ） A ．充分条件 B. 必要条件 C. 充要条件 D. A 、B 、C 都不对 2．X 射线测定宏观应力计算公式为 =KM ，其中K 为应力常数，它与 有关。
……………………………………………………………………（A）A．试样的力学性能 B. 入射X射线波长C. 所选择的反射晶面D. A、B、C三种因素3．测量Fe基材料最好选作阳极靶。
………………………（C）A．Cu B. Mo C. Co D. Ni4．闪烁计数器是根据X射线的的特性而设计的。
…………（C）A．具有穿透性 B. 能使气体电离C. 使荧光物质发光D. 使照相底片感光5．由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的像差，称为。
…………………………………（A）A．球差 B. 畸变 C. 色差 D. 象散6．电子束与固体样品相互作用会产生各种信号，下列信号中能量最小的是。
…………………………………………………………（A）A．俄歇电子 B. 二次电子 C. 背散射电子 D. 吸收电子7．质厚衬度与下列无关。
材料科学：材料分析测试技术测考试题.doc
材料科学：材料分析测试技术测考试题 考试时间：120分钟 考试总分：100分遵守考场纪律，维护知识尊严，杜绝违纪行为，确保考试结果公正。
1、名词解释 溅射 本题答案： 2、问答题 衍射线在空间的方位取决于什么？而衍射线的强度又取决于什么？ 本题答案： 3、单项选择题 透射电镜中电中间镜的作用是（ ）A 、电子源 B 、会聚电子束 C 、形成第一副高分辨率电子显微图像 D 、进一步放大物镜像 本题答案： 4、问答题 要观察钢中基体和析出相的组织形态，同时要分析其晶体结构和共格界面的位向关系，如何制备样品？以怎样的电镜操作方式和步骤来进行具体分析？ 本题答案： 5、单项选择题 样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（ ）A 、1﹕1 B 、2﹕1 C 、1﹕2 D 、没有确定比例姓名：________________ 班级：________________ 学号：________________--------------------密----------------------------------封 ----------------------------------------------线----------------------本题答案：6、名词解释质厚衬度本题答案：7、名词解释伸缩振动本题答案：8、单项选择题菊池线可以帮助（）。
A.估计样品的厚度；B.确定180不唯一性；C.鉴别有序固溶体；D.精确测定晶体取向。
本题答案：9、问答题什么是消光距离？影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么？本题答案：10、问答题制备复型的材料应具备什么条件？本题答案：11、名词解释Hanawalt索引本题答案：12、问答题简述X射线产生的基本条件。
本题答案：13、单项选择题波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（）。
A.快速高效；B.精度高；C.没有机械传动部件；D.价格便宜。
本题答案：14、问答题如何用红外光谱跟踪二氧化硅湿凝胶变为干凝胶的过程？本题答案：15、单项选择题当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（）A.短波限0；B.激发限k；C.吸收限；D.特征X射线本题答案：16、单项选择题晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（）A、（364）B、（234）C、（213）D、（468）本题答案：17、单项选择题透射电镜成形貌像时是将（）A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、关闭中间镜D、关闭物镜本题答案：18、问答题试说明菊池线测试样取向关系比斑点花样精确度为高的原因。
材料分析方法-试题及答案-西安理工大学
2010年秋季学期《材料分析测试方法》试卷A 命题教师卢正欣系主任审核考试形式闭卷考试类型√学位课非学位课（请打√选择）考试班级材物081～082，材化081~082，材081~084考试日期2010年12月21日考试时间2小时班级姓名学号成绩注意：1．命题时请适当留答题位置。
请用深蓝色墨水书写，字、图清晰，书写不出边框。
2．答题演草时不许使用附加纸，试卷背面可用于演草.试卷不得拆开。
一、填空：（每题2分，共20分)1。
X射线产生的三个基本条件是：、、。
2。
电子显微分析可获得材料的、_______________和方面的信息，并且可以将三者结合起来。
3. X射线衍射的强度主要取决于_______因子、________因子、_______因子、________因子和________因子.4。
是衍射的必要条件; 是衍射的充分条件。
5. 电子显微镜的分辨本领高是由于电子波的______________,其理论分辨本领是由______________和______________综合作用的结果。
6。
透射电子显微像的衬度来源于质厚衬度和衍射衬度，其中________衬度主要用于解释晶体样品，_________衬度主要用于解释非晶样品。
7。
在X射线衍射仪中，若X射线管固定，当样品转动θ角时，X射线探测器应转动______角；若样品固定，当X射线管转动θ角时，X射线探测器应转动_______角。
8. 在透射电镜中，明场（BF）像是用________光阑挡掉________束，只允许________束通过光阑成的像。
4。
在SrTiO3（立方晶系，晶格常数a=0.391nm）晶体中获得电子衍射花样如下，分别测得R1=11.6mm，R2=16.7mm，R3=20.3mm，φ=90°。
电子衍射实验条件为：加速电压V=200KV（λ=0.00251nm)，相机长度L=1800mm。
①确定示意图中各衍射斑点的指数h i k i l i ；②确定倒易面指数（uvw)＊；③以该晶体为标样，标定电子衍射的相机常数Lλ。
《材料分析测试技术》课程试卷答案
一、选择题：（8分/每题1分）1. .当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）。
A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）2. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（B）衍射线。
A. 三条；B .四条；C. 五条；D. 六条。
3. .最常用的X射线衍射方法是（B）。
A. 劳厄法；B. 粉末多晶法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。
4. .测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（C ）。
A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K值法。
5. 可以提高TEM的衬度的光栏是（B ）。
A. 第二聚光镜光栏；B. 物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。
6. 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（D）。
A. 六方结构；B. 立方结构；C. 四方结构；D. A或B。
7. .将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（C）。
A. 明场像；B. 暗场像；C. 中心暗场像；D.弱束暗场像。
8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（B）。
A. 背散射电子；B. 二次电子；C. 吸收电子；D.透射电子。
一、判断题：（8分/每题1分）1.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
（√）2.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。
（√）3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。
（×）4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。
（×）5.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平。
（√）6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。
材料测试分析技术答案第一、三、四题
今有一张用CuKa 辐射摄得的钨(体心立方)的粉末图样，试计算出头四根线条的相对积分强度（不计e -2M和A （θ））。
若以最强的一根强度归一化为100，其他线强度各为多少?这些线4--8在德拜图形上获得某简单立方物质的如下四条谱线；所给出的均有Cu 衍射的结果。
以为外推函数，请用柯亨法计算晶格常数，精确到四位有效数字解： ,+=1，可得下表：所以得：154.8213=6489A+231.114C① 6.728=231.114A+14.093C② 由1，2得A=0.01648，C=0.2071。
又有,===0.5994求淬火后低温回火的碳钢样品，不含碳化物（经金相检验），A （奥氏体）中含碳1％，M （马氏体）中含碳量极低。
经过衍射测得A220峰积分强度为2.33（任意单位），M200峰积分强度为16.32，试计算该钢中残留奥氏体的体积分数（实验条件：Fe K α辐射，滤波，室温20℃，α-Fe 点阵参数a=0.286 6 nm ，奥氏体点阵参数a=0.3571＋0.0044wc ，wc 为碳的质量分数。
解： • 根据衍射仪法的强度公式，• • 令 ,• 则衍射强度公式为：I = (RK/2μ)V由此得马氏体的某对衍射线条的强度为I α=(RK α/2μ)V α，残余奥氏体的某对衍射线条的强度为I y =(RK y /2μ)V y 。
两相强度之比为：• 残余奥氏体和马氏体的体积分数之和为f γ+f α=1。
则可以求得残余奥氏体的百分含量：对于马氏体，体心立方，又α－Fe 点阵参数a=0.2866nm, Fe K α波长λ＝1.973A 。
，Θ＝453K,T=293K∴sin θ1=2dλ= 0.19370.286622⨯=0.6759⇒θ1=42.52。
，P 200=6,F=2f,M 1＝226(x)1sin x 4a h m K φθλ⎡⎤⎛⎫+ ⎪⎢⎥Θ⎣⎦⎝⎭＝1.696⨯2114d ⨯10－19＝2.65⨯10－18对于奥氏体面心立方，a=0.3571 ⨯0.0044 ⨯1%=0.3575nm∴sin θ2=2d λ=0.19370.35752 =0.7661⇒θ2=50.007。
材料测试分析技术真题试卷
材料测试分析技术真题试卷一、选择题（每题2分，共20分）1. 材料的硬度测试中，布氏硬度测试使用的是：A. 钢球B. 金刚石锥C. 金刚石球D. 钢锥2. 下列哪项不是材料的机械性能测试？A. 拉伸测试B. 压缩测试C. 热膨胀测试D. 冲击测试3. X射线衍射分析主要用来研究材料的：A. 微观结构B. 化学成分C. 表面形貌D. 热稳定性4. 扫描电子显微镜（SEM）的主要优点是：A. 分辨率高B. 可进行元素分析C. 样品制备简单D. 所有以上选项5. 热重分析（TGA）主要用于：A. 测量材料的密度B. 测量材料的热稳定性C. 测量材料的导热性D. 测量材料的热膨胀系数二、填空题（每空2分，共20分）6. 材料的弹性模量是指材料在_________作用下，应力与应变的比值。
7. 材料的疲劳测试通常采用_________循环加载方式。
8. 材料的断裂韧性通常用_________表示，其单位是MPa·m^{1/2}。
9. 差示扫描量热法（DSC）可以用来测量材料的_________和相变温度。
10. 原子力显微镜（AFM）利用探针与样品表面之间的_________来获取表面形貌信息。
三、简答题（每题10分，共30分）11. 简述材料的冲击测试的基本原理及其在材料性能评价中的意义。
12. 描述透射电子显微镜（TEM）与扫描电子显微镜（SEM）的主要区别。
13. 解释差示热分析（DTA）与差示扫描量热法（DSC）的异同点。
四、计算题（每题15分，共30分）14. 某材料的拉伸测试结果如下：原始截面积A0=50mm²，最大载荷Fmax=5000N。
试计算该材料的抗拉强度σb。
15. 假设你正在分析一种合金的热重分析（TGA）曲线，曲线显示在600℃时质量损失了5%。
如果初始质量为100g，请计算在600℃时的质量损失量。
五、论述题（共30分）16. 论述材料的微观结构分析技术在新材料开发中的重要性，并举例说明。
材料分析方法 试题及答案 西安理工大学
2010年秋季学期《材料分析测试方法》试卷A 命题教师卢正欣系主任审核考试形式闭卷考试类型√学位课非学位课（请打√选择）考试班级材物081~082，材化081~082，材081~084考试日期2010年12月21日考试时间2小时班级姓名学号成绩注意：1．命题时请适当留答题位置。
请用深蓝色墨水书写，字、图清晰，书写不出边框。
2．答题演草时不许使用附加纸，试卷背面可用于演草。
试卷不得拆开。
一、填空：（每题2分，共20分）1. X射线产生的三个基本条件是：、、。
2. 电子显微分析可获得材料的、_______________和方面的信息，并且可以将三者结合起来。
3. X射线衍射的强度主要取决于_______因子、________因子、_______因子、________因子和________因子。
4. 是衍射的必要条件；是衍射的充分条件。
5. 电子显微镜的分辨本领高是由于电子波的______________，其理论分辨本领是由______________和______________综合作用的结果。
6. 透射电子显微像的衬度来源于质厚衬度和衍射衬度，其中________衬度主要用于解释晶体样品，_________衬度主要用于解释非晶样品。
7. 在X射线衍射仪中，若X射线管固定，当样品转动θ角时，X射线探测器应转动______角；若样品固定，当X射线管转动θ角时，X射线探测器应转动_______角。
8. 在透射电镜中, 明场（BF）像是用________光阑挡掉________束，只允许________束通过光阑成的像。
4. 在SrTiO3（立方晶系，晶格常数a=0.391nm）晶体中获得电子衍射花样如下，分别测得R1=11.6mm，R2=16.7mm，R3=20.3mm，φ=90°。
电子衍射实验条件为：加速电压V=200KV（λ=0.00251nm），相机长度L=1800mm。
①确定示意图中各衍射斑点的指数h i k i l i ；②确定倒易面指数(uvw)* ；③以该晶体为标样，标定电子衍射的相机常数Lλ。
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一、选择题（每题1分，共15分）
1、X射线衍射方法中，最常用的是（）
A．劳厄法 B.粉末多晶法 C.转晶法
2、已知X射线定性分析中有三种索引，已知物质名称可以采用（）
A.哈式无机相数值索引
B.无机相字母索引
C.芬克无机数值索引
3、电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中能用于测试1nm厚度表层成分分
析的信号是（）
A. 背散射电子
B.俄歇电子
C.特征X射线
4、测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用的方法是（）
A.外标法
B.内标法
C.直接比较法
D.K值法
5、下列分析方法中分辨率最高的是（）
A.SEM
B.TEM
C. 特征X射线
6、表面形貌分析的手段包括（）
A.SEM
B.TEM
C.WDS
D. DSC
7、当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将
另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（）
A.光电子
B.二次电子
C.俄歇电子
D.背散射电子
8、透射电镜的两种主要功能（）
A.表面形貌和晶体结构
B.内部组织和晶体结构
C.表面形貌和成分价键
D.内部组织和成分价键
9、已知X射线光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（）
A.Co
B.Ni
C.Fe
D.Zn
10、采用复型技术测得材料表面组织结构的式样为（）
A.非晶体样品
B.金属样品
C.粉末样品
D.陶瓷样品
11、在电子探针分析方法中，把X射线谱仪固定在某一波长，使电子束在样品表面
扫描得到样品的形貌相和元素的成分分布像，这种分析方法是（）
A.点分析
B.线分析
C.面分析
12、下列分析测试方法中，能够进行结构分析的测试方法是（）
A.XRD
B.TEM
C.SEM
D.A+B
13、在X射线定量分析中，不需要做标准曲线的分析方法是（）
A.外标法
B. 内标法
C. K值法
14、热分析技术不能测试的样品是（）
A.固体
B.液体
C.气体
15、下列热分析技术中，（）是对样品池及参比池分别加热的测试方法
A.DTA
B.DSC
C.TGA
二、填空题（每空1分，共20分）
1、由X射线管发射出来的X射线可以分为两种类型，即和。
2、常见的几种电子衍射谱为单晶衍射谱、、、高级劳厄带斑
点、。
3、透射电镜的电子光学系统由、、和四部分组成
4、今天复型技术主要应用方法来截取第二相微小颗粒进行分析。
5、扫描电子显微镜经常用的电子信息是、和
6、德拜照相法中的底片安装方法有、和
7、产生衍射的必要条件是
8、倒易点阵的两个基本特征是和
9、透射电镜成像遵循原理
三、名词解释（每题5分，共20分）
1、X射线强度
2、结构因子
3、差热分析
4、衍射衬度
四、简答题（每题5分，共20分）
1、阐述特征X射线产生的物理机制
2、给出物相定性与定量分析的基本原理
3、简述扫描电镜的结构。
4、简述热重分析应注意的问题
五、论述题（共25分）
1、从原理及应用方面指出X射线衍射、透射电镜中的电子衍射在材料结构分析中的异同点。
2、以体心立方（001）(011)的衍射为例，说明产生衍射的充分必要条件
一、选择题（每空1分，共15分）
1-5、BBBCB 6-10、ACBCA 11-15、CDCCB
二、填空题（每空1分，共20分）
1、连续X射线和特征X射线。
2、多晶电子衍射谱、多次衍射谱、菊池线。
3、光学系统、样品室、放大系统、供电和真空系统
4、萃取复型
5、二次电子和背散射电子、吸收电子、特征X射线（任填3个）
6、正装法、反装法（倒装法）、45℃法（不规则法）
7、满足布拉格定律
8、H（hkl）垂直于正点阵（hkl）面；H（hkl）=1/d（hkl）
9、阿贝成像原理
三、名词解释（每题5分，共20分）
1、X射线的强度
X射线的强度是指行垂直X射线传播方向的单位面积上在单位时间内所通过的
光子数目的能量总和。
常用的单位是J/cm2.s。
2、结构因子
结构因子是指一个单胞对X射线的散射强度，由于衍射强度正比于结构因子模的平方，消光即相当于衍射线没有强度，因此可通过结构因子是否为0来研究消光规律
3、差热分析
在程序控制温度条件下，测量样品与参比的基准物质之间的温度差与温度关系
的一种热分析方法。
4、衍射衬度
衍射衬度是指试样中由于各处晶体取向不同和（或）晶体结构不同，满足布拉
格条件的程度不同，使得对应式样下表面处有不同的衍射效果，从而在下表面形成
一个随位置而异的衍射振幅分布而形成的衬度，它是由于晶体取向差异和（或）
晶体结构造成的。
四、简答题（每题5分，共20分）
1、阐述特征X射线产生的物理机制
答当外来电子动能足够大时，可将原子内层（K壳层）中某个电子击出去，于是
在原来的位置出现空位，原子系统的能量因此而升高，处于激发态，为使系统能量
趋于稳定，由外层电子向内层跃迁。
由于外层电子能量高于内层电子能量，在跃迁
过程中，其剩余能量就要释放出来，形成特征X射线。
2、简述扫描电镜的结构。
扫描电镜包括以下几个部分：
（1）电子光学系统由电子抢、电磁透镜、光阑、样品室等部件组成。
（2）信号收集和显示系统
二次电子和背反射电子收集器是扫描电镜中最主要的信号检测器。
显示系统、吸收电子检测器
X射线检测器
（3）真空系统和电源系统。
3、给出物相定性与定量分析的基本原理
定性相分析原理：每一种结晶物质都有其特定的结构参数，包括点阵类型、晶胞大小、单胞中原子的数目及其位置等等，这些参数在X射线衍射花样上均有所反
映，到目前为止还没找到两种衍射花样完全相同的物质；对于多种物相的X 射线谱，其衍射花样互不干扰，只是机械地叠加；物相定性分析是一种间接的方法，需利用现有的数据库进行物相检索。
定量相分析原理：各相的衍射线强度随该相含量的增加而提高。
4、简述热重分析应注意的问题
（1）气体的浮力和对流；（2）挥发物的再凝聚；（3）升温速度的影响
（4）试样的用量和粒度；（5）环境气氛；（6）试样与称重器皿的反应
五、论述题（共25分）
1、电子衍射与X 射线衍射相比有如下优缺点：
（1）由于电子的波长比X 射线短得多，故电子衍射的衍射角也小得多，其衍射谱可视为倒易点阵得二维截面，使晶体几何关系的研究变得简单方便。
（2）物质对电子的散射作用强，约为X 射线的一百万倍，因而它在物质中的穿透深度有限，适合于用来研究微晶、表面和薄膜的晶体结构。
摄照时，曝光只需数秒即可。
（3）电子衍射使得在透射电镜下对同一试样的形貌观察与结构分析同时来研究成为可能。
此外，还可借助衍射花样弄清薄晶样品衍衬成像的衬度来源，对各种图像特征提出确切的解释。
（4）电子衍射谱强度I e 与原子序数Z 接近线形关系，重轻原子对电子散射本领的差别小；而X 射线衍射强度I X 与Z 2有关，因此电子衍射有助于寻找轻原子的位置。
（5）电子衍射强度有时几乎与透射束相当，以致两者产生交互作用，使电子衍射花样，特别是强度分析变得复杂，不能象X 射线那样从测量衍射强度来广泛的测定结构。
（6）此外，散射强度高导致电子透射能力有限，要求试样薄，这就使试样制备工作较X 射线复杂；在精度方面也远比X 射线低。
2、以体心立方（001）(011)的衍射为例，说明产生衍射的充分必要条件
答：结构因子公式为)(21j j j lz ky hx i n j j hkl e f F ++=∑=π 由于产生衍射的充分必要条件是“反射定律+布拉格方程+F ≠0。
满足布拉格方程只是可能产生衍射，但不一定会产生衍射。
对于体心立方点阵来说：
h+k+l 为偶数：F 2=4f a 2；h+k+l 为奇数：F 2=0
其倒易点阵为面心点阵；只有当h+k+l 为偶数时才能产生衍射。
（001）面h+k+l为奇数，不能产生衍射，(011)面为偶数，可以产生衍射。