AU480异常数据

异常数据标志和矫正方法
标志
定义
用户操作
(
因为清洗剂不足以避免污染，造成避免污染失败。
多加清洗剂。
R
由于试剂水平探测器故障，试剂不足。
试剂水平探测异常之后，相关的分析项目被停止。
添加新试剂，重复分析产生该标志的样本。
如果检测一直异常，试剂瓶内可能有气泡，消除气泡，擦去瓶口的水分，如果在试剂探针有污物，擦去。如果检测一直异常，更换试剂探针。
同上。
S
数值被重复运行数值更新(从原始数据)。
无特殊操作要求。
/
没有测定。尽管项目已经被选择，如果样本没有被分析打印出该标志。
再选该项目，重复分析。
r
数据以被传给主机。
无特殊操作要求。
e
数据已在[Data Edit数据编辑]菜单内被编辑过。
同上。
c
数据已在[Data Correction数据校正]菜单内被校正。
如果出现其它标志，付加“?”，按推荐操作。如果没有其它错误标志，检查灯和相应的比色杯之后重新分析。如果系统一直不能从错误中恢复，与OLYMPUS服务部联系。
U
试剂空白分析时，该分析项目光电测定最后一点的OD(光密度)值低于已经设置的参数低限值。
如果定标时产生异常数值标志(包括试剂空白分析)，定标数值将不能被自动更新。
同上
@
异常高值。
反应OD值超过2.5。(在双-波长测定中，如果双波长之一超过2.5发生该错误。)
稀释样本，然后重复分析。
如果检测波长不同，矫正。
如果样本指出异常高值，稀释样本。如果样本是高乳糜样本，进行高速离心，然后稀释样本。
$
当在速率测定方法中产生“D”和“B”时，因为少于3个有效测定点，反应的线性不能被测定。
检查参数，然后检查试剂是否变质和在合适的位置。如果试剂已经变质，更换试剂。如果试剂放错位置，纠正错误。
u
试剂空白分析和/或常规试剂分析时P0点的试剂OD低于已设计的参数低限值。
同上
Y
试剂空白分析时，该分析项目光电测定最后一点的OD(光密度)值大于已经设置的参数高限值。
同上
y
试剂空白分析和/或常规试剂分析时P0点的试剂OD大于已设计的参数高限值。
同上。
稀释样本，重复分析。
D
正-斜率速率测定中，反应太快。
正-斜率两点测定中，起始和结束处的OD值超过吸光度参数设置的上限。
在速率测定中，当测定吸光度增加和下降时，低于设置的MAX.OD(最大吸光度)吸光度的读点数值小于2。如此，不显示测定数值。
如果样本指出Abs.增加反，假定异常高。检查参数，稀释样本，然后重新分析。
如果样本是高度溶血标本，重新留取标本，然后重新分析。
如果样本表明Abs.下降反应，
假定是高-乳糜标本，如果可能，高速离心标本。
B
负-斜率速率测定中，反应太快。
在速率测定中，当测定吸光度下降时，高于设置的MIX.OD(最小吸光度)吸光度的读点数值小于2。如此，不显示测定数值。
样本被检测异常高，检查参数，稀释样本，然后重新分析。
没有特殊操作要求。
N
显示一种项目结果的品质。：负
同上。
H
测定结果超过参数设计的正常范围上限。
同上。
L
测定结果低于参数设计的正常范围的下限。
同上。
J
测定结果超过参数设计的重复运行范围的上限。
该标志与异常标志不同。产生的标志为了输出结果，但不用于存质控数据。
K
测定结果低于参数设计的重复运行范围的下限。
同上。
×
在多-指导质控内，如果一对质控数据之一超出质控范围(如下2-6标志同此)。另一数据被产生标志。
指明数据不被记录在统计内，因为数据不是异常，
无特殊操作要求。
1
在单质控内，数值超出设置的质控范围产生该标志。
注意，见“Part 5 QUALITY CONTROL部分5.质控”。
2
在多-规则质控内，数值超过3SD质控范围产生该标志。
*
在速率法检测中，样本反应不成线性。从已设定的线性参数界限中区分出来。
检查参数，然后重新分析。
如果样本指出异常高值，稀释样本，然后重新分析。
异常经常发生，联系OLYMPUS维修部。
&
前带判断数值异常。
稀释样本，然后重新分析。
Z
免疫反应项目指出样本反应在前带区。
假设样本异常高，检查参数，稀释样本，然后重新分析。
!
数值计算是不可能的。
例如：吸光度大于标准曲线界限。因为密度不能转换，显示测定的OD值。
如果没有其它错误，重复分析。如果经常发生，联系OLYMPUS维修部。
F
测定数值超过参数设计的动力学范围上限。
在多-点标准曲线中，数值超过最后一点Abs.
稀释样本，然后重新分析。
G
测定数值超过已经设计的参数动力学范围下限。
重复分析。
由于在密度0附近发生测定错误，才发生该错误。这不是因为系统故障。
p
数值符合参数内指定的风险值。
数值一般在动力学范围内时测出异常。
这也许是已经被检出项目的异常数值。
重复分析。
如果结果和以前相同，也许不是异常。数据为病理异常。
P
显示一种项目结果的品质。：正
#
由于样本水平探针故障，样本不足。
样本水平探测异常之后，停止加样。
再加样本，然后重复分析。如果检查异常，不考虑样本量，清洗样品探针。如果检测一直异常，更换样本探针。
%
样本探针被样本阻塞。
清晰样本探针。如果一直发生这种情况，更换样本探针。
?
异常光电测定值。因为光电校正数据无效，计算数值失败，停机，和/或灯坏了。标志被显示在数据表中。
同上。
3
在多-规则质控内，数值连续超过2SD质控范围产生该标志。
同上。
4
在多-指导质控内，数值连续地超过R4S质控范围外产生该标志。
同上。
5
在多-指导质控内，数值持续4次超过1SD质控范围外产生该标志。
同上。
6
在多-指导质控内，数值持续10次大于或小于均值产生该标志。
同上。
7
在多-指导质控内，该标志表明数值趋势变成上升或下降。