常用统计工具1

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1. np——在一容量为n的样本中不合格品的数量，np图的介绍见第Ⅲ章第2节。
2. Pn——样本容量恒定为n时，不合格品数的平均数。
3. P——一个样本中的不合格品率，p图的介绍如见第Ⅲ单第1节。
4. P——一系列样本中的平均不合格品率。

5. PP——性能指数，通常定义为SLSLUSLˆ6)(。

6. PR——性能比率，通常定义为)(ˆ6LSLUSLs。
7. Ppk——性能指数，通常定义为SXUSLˆ3或SLSLXˆ3的最小值。
8. Pz——输出超过利益点的比例,这种利益点诸如特定的规范限值,与过程均值之差为z个标准差
单位。
9. R——子组的极差（最大值减去最小值）；R图的介绍见第Ⅱ章。
10. R——一系列容量相等子组的平均极差。
11. R——一系列容量相等子组的平均极差的均值。
12. R~——一系列容量相等子组的极差的中位数极差。
13. S——子组的样本标准差，S图的介绍见第Ⅱ章第2节。
14. s——过程的样本标准差，s的介绍见第Ⅱ章第5节。
15. S——一系列子组的平均样本标准差，如有必要可以按样本容量加权。
16. SL——单边工程规范极限。
17. u——一个样本中每单元不合格数,这个样本可能含有一个以上单位,u图的介绍见第Ⅲ章第4节。
18. u——样本中单位不合格数的平均值，样本的容量不必相等。
19. UCL——上控制限，PRXUCLUCLUCL，，等分别是均值、极差、不合格品率等的上控制限。
20. USL——工程规范的上限。
21. X——一个单值，是其它子组统计值的基础，单值图的讨论见第Ⅱ章第4节。
22. X——一个子组内数值的平均数,X图的讨论见第Ⅱ章第1节。
23. LCL——下控制限。PRLCLLCL、、XLCL等分别是均值、极差、不合格品率等的下控制限。
24. LSL——工程规范的下限。
25. MR——主要用于单值图的一系列点的移动极差。
26. n——一个子组内的单值的个数；子组的样本容量。
27. n——平均子组样本容量。
28. X——子组均值的均值（如有必要可按样本容量加权）；测得的过程均值。
注：在本手册中，X用作单值图的过程均值（第Ⅱ章第4节）尽管它仅代表一个水平
的平均（单值点），以便避免与通常代表子组均值的X相混淆。
29. X~——一个子组的数值的中位数；中位数图的讨论见第Ⅱ章第3节。
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30. X~——子组中位数的均值，估计的过程中位数。
31. Z——从过程均值到一个利益值（例如工程规范）的标准差单位个数。当用于能力评审时，USLZ
就是与上规范限的距离，LSLZ是与下规范限的距离，而minZ是与最近的规范限的距离。
32. —— 一个过程特性单值分布的标准差
33. ˆ——过程特性标准差的估计值

34. X、R、P 等——基于样本过程输出的一个统计值标准差，例如：子组均值分布的标准差(为

n/

),子组极差分布的标准差，不合格品率分布的标准差等。

35. Sˆ——用位于该组平均值附近的一组单值的样本标准差来估计的过程标准差。
36. 2ˆdR——用从过程中得到的子组样本的平均极差来估计稳定过程的标准差，通常在控制图的
内容中讨论，式中2d为附录E表中的系数。
37. 2A——计算均值控制限时R的乘数，见附录E的表。

38. A2——计算中位数控制限时R的乘数，见附录E 的表。
39. 3A——计算均值控制限时S的乘数，见附录E的表。
40. BB43、——分别为计算样本标准差上下控制限时S的乘数，见附录E的表。
41. C——样本中的不合格数，C图的介绍见第Ⅲ章第3节。
42. c__——样本容量恒定为n时，样本的平均不合格数。
43. 4C——估计过程标准差时S的除数，见附录E表。
44. pC——稳定过程的能力指数,(比较制程分散宽度与公差范围控制情况)通常定义为ˆ26)(dLSLUSLR

45. pkC——稳定过程的能力指数(比较制程分散宽度与公差范围控制情况),通常定义为(CPU/CPL)min
46. CPL——能力指数下限，通常定义为dLSLXR2ˆ3。2TuXCa、6TCp、CpCaCpk)1(
47. CPU——能力指数上限，通常定义为dXUSLR2ˆ3。
48. CR——稳定过程的能力比值，通常定义为)(ˆ62LSLUSLdR。
49. 2d——估计过程标准差时R的除数，见附录E表。
50. 43DD、——分别为计算极差的上下控制限时R的乘数，见附录E的表。
51. 2E——用来计算单位控制限时R的乘数，见附录E的表。
52. K——用来计算控制限时子组的个数。
53. Ca——准确度，比较制程分配中心与规格中心与规格平均值一致情况