织构分析
织构类型及其测定方法

面心立方金属快速迁移界面附近的原子结构
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三、极射赤面投影
原理:投影球的赤道大圆平面与板材轧 制平面也即试样被测面重合,轧面法线投影 到大圆的圆心,轧制方向与大圆竖直直径相 重,横向与水平直径重合,放置在球心的晶 体,某晶面法线与上半球面的交点为P',由 下半球南极向P'点引出投射线,与赤道平面 大圆的交点P,即为此晶面 (法线) 的极射赤 面投影,如图所示。
织构类型及其测定方法
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织构主要类型及其测定方法
一、织构的定义 二、织构的类型 三、极射赤面投影 四、织构的表示方法 五、织构的测量方法 六、织构分析的相关实例
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一、织构的定义
各向异性:单晶体在不同晶体学方向上的力学、电磁、光学、耐腐蚀、磁学 甚至核物理等方面的性能表现出显著差异的现象 各向同性:多晶集合体在宏观不同方向上表现出各种性能相同的现象。一般 情况下,多晶材料中数目众多的晶粒是无序均匀分布的,即在不同方向上取 向几率相同,多晶集合体的各种性能在不同宏观方向上相同 择优取向、织构:在一般多晶体中,每个晶粒有不同于相邻晶粒的结晶学取 向,从整体看,所有晶粒的取向是任意分布的;某些情况下,晶体的晶粒在 不同程度上围绕某些特殊的取向排列,就称为择优取向或简称织构。
1)、纤维织构(丝织构) 2)、板织构(面织构、轧制织构等)
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1)、纤维织构
织构ODF分析方法及织构精编版

可以完整、清楚、准确的描述织构
优
可以利用ODF回算任意极图
点
可直接与多晶材料的物理参数相联系
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4 织构的技测术量中方心法技术创新论坛
金相蚀坑法
多用于定多晶板、带材晶面位向,形象直观,经济简便,不需要专门的设备。对操作人员要求 较高,不同材料侵蚀剂不同,只能定性描述材料织构情况。 检验面有位错露头的地方,在特定浸蚀条件下,优先腐蚀,产生位错蚀坑.位错蚀坑的形状将 取决于它所在晶体的织构取向.通过蚀坑计数可确定表面露头位错密度的大小,而观察蚀坑的 形状则可以判定蚀坑所在晶体的织构取向.腐蚀坑与位错露头之间有对应关系,但达到位错露 头与蚀坑一一对应则取决于浸蚀剂成分、表面质量和实验操作等因素。
2 织构技的术种中类心技术创新论坛
铸造织构
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塑性变形织技构术中心技术创新论坛
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再结晶织构技术中心技术创新论坛
形核
晶粒长大
材料的织构问题具有普遍意义,因此一般材料不可避免地存在不 同程度的织构问题!
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3 织构技的术类中型心技术创新论坛
织构的类型
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关于晶体材料织构的分析

❖ 织构:多晶体取向分布状态明显偏离随机分 布的取向分布结构
❖ 存在形式:铸造、变形、退火、相变、烧结
❖ 表现形式:各向异性
晶体学基础
❖ 单晶体:
固定熔点 对称性 各向异性 规则几何结构 空间排列周期性
❖ 多晶体
固定熔点 各向同性 不规则
晶体学基础
❖ 晶体结构
基本单元周期排列
❖ 空间点阵
阵点空间周期排列,空间几何图形
晶体学基础
❖ 晶胞 空间点阵的基本单元
晶体学基础
❖ 晶系 7种 ❖ 布拉菲点阵 14种
晶体学基础
❖ 晶向指数(米勒指数uvw)
晶体学基础
❖ 晶面指数(米勒指数hkl)
晶体学基础
❖ 六方晶系的晶面指数
❖ 极射投影
晶体学基础
❖ 极射投影
晶体学基础
晶体学基础
❖ 极射赤面投影图(投射面为赤道面)
欧拉角表示方法
❖ 欧拉角取向空间( 0°→90°)
织构表示方法
❖ 极图(极射赤面投影)
原理图
织构表示方法
❖ 极密度 P(αβ):表示各个晶面法向投影点的体积权重
多晶(100)极图
多晶(111)极图
织构表示方法
❖ 理想极图
织构表示方法
❖ 反极图 宏观坐标在晶体坐标上的极射赤面投影
织构表示方法
织构表示方法
❖ 取向线分析
织构的形成
❖ 金属塑性变形的本质-滑移
织构的形成
❖ 金属塑性变形的本质-滑移
FCC金属滑移系
织构的形成
❖ 金属塑性变形的本质-滑移
BCC金属滑移系
织构的形成
❖ 金属塑性变形的本质-滑移 HCP金属滑移方向:<11-20> HCP金属滑移面:(0001)c/a≧1.633 3个
残余奥氏体含量测定 xrd物相法 织构法

残余奥氏体含量测定 xrd物相法织构法残余奥氏体是指在金属材料中保留的奥氏体相,它对材料的力学性能和耐腐蚀性能有重要影响。
因此,准确测定残余奥氏体的含量对于材料的性能评估和工程应用至关重要。
XRD(X射线衍射)是一种常用的物相分析方法,通过测量材料的衍射峰来确定样品中的晶体结构和组成。
在残余奥氏体含量测定中,XRD 可以用来确定样品中奥氏体相的含量。
XRD 方法的基本原理是利用入射的 X 射线与晶体中的原子发生衍射,衍射的角度和强度可以提供有关晶体结构和组成的信息。
对于奥氏体相的测定,常用的 XRD 方法是通过测量奥氏体相的特征衍射峰的强度来计算其含量。
织构法是一种用来描述材料晶体取向分布的方法。
在残余奥氏体含量测定中,织构法可以用来分析材料中奥氏体相的取向分布情况。
织构分析可以提供有关材料力学性能的重要信息,特别是在材料加工过程中,奥氏体相的取向分布对材料的力学性能有着显著的影响。
织构分析主要通过测量材料的衍射峰的强度和位置来获得晶体取向分布的信息。
常用的织构分析方法包括极坐标图法、奥氏体取向分布图法等。
通过对衍射峰的分析,可以得到奥氏体相的取向分布函数,进而计算出残余奥氏体的含量。
在实际应用中,XRD 物相法和织构法通常是结合使用的。
首先,利用 XRD 方法确定样品中奥氏体相的含量;然后,使用织构法分析奥氏体相的取向分布。
通过这两种方法的综合应用,可以准确测定残余奥氏体的含量,并获得关于材料晶体结构和组成的详细信息。
XRD 物相法和织构法是测定残余奥氏体含量的重要方法。
它们不仅可以提供关于奥氏体相含量和取向分布的信息,还可以为材料的性能评估和工程应用提供有价值的参考。
在实际应用中,我们可以根据具体的需求选择合适的方法,并结合其他分析技术进行综合分析,以获得更全面的材料性能评估结果。
织构类型及其测定方法

2.再结晶织构
具有形变织构的冷加工金属,经过退火、发生再结晶以后,通常仍具有择 优取向,称为退火织构或再结晶织构。
再结晶织构依赖于所牵涉的再结晶过程,分为初次再结晶和二次再结晶 织构。对低碳钢,特别是硅钢片的织构曾进行过很多研究。由于金属原有变形 织构的漫散程度和延伸率、退火温度以及退火气氛等的差异,实际的再结晶织 构的取向不同程度地偏离理论的再结晶织构取向。
轧 向面
法 轧 向
轧面法向 <100>
{100} <110>
{100}
<110> 轧向
{100}<110>织构中晶 粒与板材外形相对取
向示意图
例如,冷轧铝板的理想织构为(110)[ī12]
如图为经轧制后的纯铁板材的部分晶粒取向示意图﹐其(100)面平行于轧面, [011]方向平行于轧向﹐说明该板材具有一种(100)[011]织构。
冷拉铝丝中100%晶粒的<111>方向与拉丝轴方向平行,即具有<111>丝织构。冷拉铜丝 中60%晶粒的<111>方向与拉丝轴方向平行,而另外40%晶粒的<100>方向与拉丝轴方向平 行,即冷拉铜丝具有<111>+<100>双重丝织构。
2)、板织构
在轧制过程中,随着板材的厚度逐步减小,长度不断延伸,多数晶粒不仅倾向于以某一晶向 <uvw>平行于材料的某一特定外观方向,同时还以某一晶面(hkl)平行于材料的特定外观平面 (板材表面),这种类型的择优取向称为板织构,一般以(hkl)[uvw]表示,晶粒取向的漫散程度也 按两个特征来描述。
除冷拉和挤压工艺外,有时由热浸﹑电沉积或蒸发形成的材料的涂覆层以及材料 经氧化和腐蚀后表层所生成的产物都可能产生纤维织构。在实际材料中经常存在不止 一种的纤维织构,如铜线中<111>和<100>织构同时出现。
织构ODF分析方法及织构

欧拉空间(取向空间)
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多晶材料测定各晶粒方位,在( θ,ψ,φ)处的取向密度定义为:
式中,为包含取向Ω(ψ,θ,φ)的取向元; ΔV/V为取向落在该取向元的晶粒体积ΔV与试样体积V之比; K为常数。 确切表达了织构材料内晶粒取向分布情况,称取向分布函数(ODF)。
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反极图的判技定术中心技术创新论坛
用反极图判定板织构时,轧向反极图轴密度最大的晶向<UVW>即可能为平 行于轧向的晶向,而轧面法向反极图轴密度最大的极点相应的晶面{HKL} 可 能是平行于轧面的晶面,然后考虑它们间的排列组合,且需符合晶带定律 HU+KV+LW=0,最后用尝试法确定一个或几个板织构 (HKL) [UVW]。
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技术中心第技一术部创分新论织坛构的概念与种类
1 织构的概念
金属或合金材料经过拉拔、挤压、铸造、轧制等加工后,材料内部的晶
粒会沿一定的晶体学位向排列,称为择优取向,具有择优取向的多晶体
结构称为织构。
铸造
织构产生于多晶材料物理冶金的各种过程之中
烧结 塑性变形 再结晶
相变
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主要有 (111) [011] (111) [112]
其次有 (112) [011]
轧向反极图
轧面反极图
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3 三维取向技分术布中函心数技表术示创法新(论OD坛F)-现代织构分析技术
极图和反极图用二维图像描述晶体 三维的取向分布,必有不足之处。 特 别是在织构复杂和漫散的情况下,易于 错判和漏判。上世纪60年代由 罗伊 (Roe) 和邦厄 (Bunge)提出用晶粒取向分 布函数表示织构方法—三维取向分布函 数(Orientation distribution fuction)
怎么用极图分析材料的织构

怎么用极图分析材料的织构篇一:材料分析方法XRF1.基本原理X射线管产生入射X射线(一次射线),照射到被测样品上。
样品中的每一种元素会放射出具有特定能量特征的二次X射线(荧光X射线)。
二次X射线投射到分光晶体的表面,按照布拉格定律产生衍射,不同波长的荧光X射线按波长顺序排列成光谱。
这些谱线由检测器在不同的衍射角上检测,转变为脉冲信号,经电路放大,最后由计算机处理输出。
2.XRF样品制备理想待测试样应满足的条件有足够的代表性(因为荧光分析样品的有效厚度一般只有10~100μm;试样均匀;表面平整、光洁、无裂纹;试样在X射线照射及真空条件下应该稳定、不变型、不引起化学变化;组织结构一致!3.特点,应用范围X射线光谱分析技术是一种化学成分分析,相对于传统的化学分析,最大的优点就是无损检测,应用领域及其广泛,如:冶金、材料、地质、环境及工业等。
它具有分析速度快、样品前处理简单、可分析元素范围广、谱线简单,光谱干扰少等优点。
X射线荧光光谱分析不仅可以分析块状、粉末还可以分析液体样品。
4.XRF与传统化学分析相比无损检测、重复性高、分析速度快、测试过程简单5.XRF与icP仪器法相比icP需要融掉样品,相对于XRF样品前处理较复杂icP的基体效应小,微含量元素测量占优势,而XRF对高含量元素测量准确度更高第一章X射线内应力的测定1.第i类应力(σⅠ):在物体宏观较大体积或多晶粒范围内存在并保持平衡的应力。
此类应力释放会使物体宏观体积或形状发生变化,称之为“宏观应力”或“残余应力”。
衍射效应:能使衍射线产生位移。
第ii类内应力(σⅡ):在一个或少数个晶粒范围内存在并保持平衡的内应力。
衍射效应:引起线形变化(峰宽化)。
第iii类应力(σⅢ):在若干原子范围存在并保持平衡的内应力。
衍射效应:能使衍射强度减弱。
2.X射线应力测定的基本原理通过测定弹性应变量推算应力(σ=Eε)。
通过晶面间距的变化来表征应变(σ=Eε=E△d/d0)晶面间距的变化与衍射角2θ的变化有关。
第十三课织构分析

织构的测定一、定义定义多晶体材料中的各个晶粒,因为某种原因使其取向形成某种有规律的集中的象称为择优向向形成某种有规律的集中的现象,称为择优取向,具有择优取向的组织称为织构。
二、织构的分类1、根据织构的形成方式分1)气态凝聚织构2)液态凝聚织构3)电解沉淀织构4)形变织构5))再结晶织构2根据取向方式分2、根据取向方式分1)丝织构在多晶材料中,某一晶向<uvw>与该材料的某一在多晶材料中某晶向<>与该材料的某宏观特定方向平行或对称分布,而其它晶向不受任何限制。
其中的宏观特定方向称为织构轴。
何限制其中的宏观特定方向称为2、板织构金属在受到较复杂的应力作用时,如在轧制过金属在受到较复杂的应力作用时如在轧制过程中,金属沿轧制方向(RD)要伸长,厚度方向要减薄,而沿横向(TD)的宽度基本保持不变,要减薄而沿横向(TD)的宽度基本保持不变因此这时晶粒的取向即受轧制方向的限制,也受轧面的限制,形成所谓板织构。
板织构均以某一个晶面(hkl)平行于某一个特殊面,称为织构面,某晶向平行于某特殊方向,某晶向平行于某一特殊方向[uvw],称为板织构的织构轴。
三、织构的表示方法1、指数表示法丝织构,用平行于织构轴的晶向指数表示1)丝织构,用平行于织构轴的晶向指数<uvw>表示。
如冷拔钢丝中,绝大多数晶粒的[111]方向都平行于拔丝方向,则记为<111>(或[111])。
于拔方向,则记为或[]如果试样中有两种或两种以上的晶向平行于拉伸方向,称为双重织构或多重织构,表示为:伸方向称为双重织构或多重织构表示为:<u1v1w1>+ <u2v2w2>+ <u3v3w3>+…..2)板织构,同时标明各晶粒平行于轧面及轧向的晶2)板织构面指数(hkl)和晶向指数[uvw],表示为(hkl)[](或{hkl}<>)[uvw](或{hkl} <uvw> )。
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晶体学织构
极图测定
反射法
起始位置( = 90° , =0):计数器定位在 被测反射面衍射角2处,测量过程中固定不动, 通过和角的转动实现反射法测量。 顺时针转 为从90°变小, 逆时针为正。起始位置对应的 极图中{HKL}极点转动角=90°,=90°
晶体学织构
极图测定
透射法
晶体学织构
掺杂钨丝,冷变形98.1% (a) 横截面反极图 (b) 纵剖面反极图
取向分布函数
取向有3个自由度,因此需要用3维空间表达取向分布。 极图或极密度分布函数p(, )所使用的是一个二维的空间,它上
面的一个点不足以表示三维空间内的一个取向,用极图分析多晶 体的织构或取向时会产生一定的局限性和困难。
吴里夫网:将经纬线网投影到与经纬线网NS轴平行的投影面 上,作出的极射赤面投影网。
标准极式网和吴氏网直径为20cm,大园弧与小圆弧互相均分 的角度间隔为2。
晶体投影
极式网
吴氏网
晶体投影
5、吴氏网的应用
测量两极点夹角
晶体投影
5、吴氏网的应用
测量两极点夹角
晶体投影
5、吴氏网的应用
晶带和晶带轴的位置关系
4、极图的测定及分析
极图最早是利用单色x-射线衍射照片确定的,有织构的材料的衍 射环强度分布不均匀,局部出现最大值。欲将衍射照片转换成极 图需要丝或板相对入射线方位不同的一系列衍射照片。 现在,这种技术已经完全被配有计数器的衍射仪所代替,并由 Schulz最早发明。如图所示的装置为织构测角仪,能使试样在几 个方向转动,以便使每个晶粒都有机会处于衍射位置。一般说来, 与该种方法对应的极图上点的轨迹是螺旋状的,通过计算机程序, 计数器的计数直接转换成极图上极点强度计数,并自动插入等强 度值,所需的各种修正均自动完成。这种装置不仅可以以反射方 式工作,也可以透射方式工作。每种方式只能给出极图的一部分, 反射法给出极图的中心部分,透射法给出极图的边缘部分,将两 种方法相互补充就可以得到一张完整极图。
旋转立方织构{001}<110>; {112}<110>; {111}<110>,{111}<112>。
Fcc金属的再结晶织构有:
立方织构{001}<100>; R型织构{124}<211>; 黄铜R型织构{236}<385>。
Bcc立方金属的再结晶织构通常是:
{111}<110>;{111}<112>; 高斯织构{011}<100>; 立方织构{001}<100>。
为了细致、精确并定量地分析织构,需要建立一个利用三维空间
描述多晶体取向分布的方法,这就是取向分布函数(Orientation Distribution Function)分析法,简称ODF法。
尽管极图有很大的局限性,但它通常是计算取向分布函数的原始
数据基础,所以不可缺少。因为计算取向分布函数非常繁杂,实 际工作中极图还是经常使用,极图分析和取向分布函数法二者可 以互相补充。
●
晶ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ学织构
极密度分布:把球面上每个投影点所代表的晶粒体积作为这个点 的权重,则这些点在球面上的加权密度分布称为极密度分布。球 面上极密度分布在赤面上的投影分布图称为极图。 极密度定义:
V V p ( , ) K q sin
式中,sin 为p(, )的方向元, V为{HKL}法向落在该 方向元内的晶粒体积,V为被试样的体积,Kq为比例系数,令为1。
晶体学织构
Fcc金属冷轧之后的织构受层错能影响很大。一般有:
铜型织构{112}<111>; S型织构{123}<634>; 黄铜型织构{001}<211>; 高斯织构{011}<100>。
层错能较高时铜型和S型织构成分要多一些,层错能低时,黄铜型织构成 分要多一些。 Bcc金属冷轧后的织构一般是:
晶体学织构
极图分析
Fe-Si合金{200}极图 分析结果: (001)[100] (001)[110} (110)[100]
晶体学织构
6、反极图
材料中各晶粒对应的外观方向在晶体学取向坐标系中所作的极射 赤面投影分布图,由于和极图的投影坐标系及被投影的对象刚好 相反,故称为反极图。 因为晶体中存在对称性,所以某些取向在结构上是等效的,各种 晶系采用的极射赤面投影三角形各不相同,立方晶系的反极图用 单位极射赤面投影三角形[001]-[011]-[111]表示。
1、球面投影
取一相对晶体尺寸其半径极大的参考球,将安放 在球心上的晶体的晶向和晶面投影到球面上,称为 球面投影 。 晶向迹式球面投影:将晶向延长与球面相交一点, 为该晶向迹点。 晶面极式球面投影:由球心引晶面法向交投影球 于一点,为晶面极点。
晶体投影
球面坐标的标记 晶向、晶面之间的角度关系通过球面上 的经纬度表示,类似于地球仪。 有经线、本初子午线、纬线、赤道。
晶体取向
Bunge定义的欧拉角:从起始取向出发,按1、、2的顺序所作 的三个转动,可以实现任意晶体取向,因此取向g可以表示成: g=(1,,2) 显然对于起始取向e有: e=(0, 0, 0)
取向的欧拉转动
晶体取向
两种取向表达式的换算关系为:
9个变量中只可能有3个变量是独立的,3个欧拉角刚好反映出了 取向的3个独立变量。
晶体学织构
板织构极图:投影面取轧面,并将轧向(R. D)和横向(T. D)也一 同投影到轧面上。
晶体学织构
极图上各点的位置可用和两角表示。角表示{HKL}晶面法向 与样品系板法向的夹角,角表示该{HKL}晶面法向绕板法向转 动的角度。
■ {001}<100>; □ {124}<211>; {011}<100>
取向分布函数计算原理
极密度分布函数phkl(, )表达了多晶体内各晶粒的{HKL}晶面法
lmax l
向位于(, )处的分布强弱。根据极密度分布函数的性质,可以将 它转换成球函数级数展开式:
phkl ( , ) Fl nhkl ) Kln ( , ) (
l 0 n l
起始位置( = 0 , =0 ):计数器定位在被测反射面衍射角 2处,测量过程中固定不动,通过和角的转动实现透射射法测 量。 、顺时针为正。起始位置对应的极图中{HKL}极点转动 角=0,=0
晶体学织构
IHKL(, )
=0, IHKL(, )~ 曲线
晶体学织构
任一经线与本初子午线间夹角叫经度, 用标记。本初子午线的经度为0。
从N极沿子午线大园向赤道方向至某一 纬线间的弧度,叫极距,用标记。赤 道的极距为90。 投影点的球面坐标为(, ).
晶体投影
2、极射赤面投影
将球面投影再投影到赤道平面上去的一种投影。 投影方法如图所示。
晶体投影
初始取向
一般取向
晶体取向
2、晶体取向的表达方式
用晶体的某晶面、晶向在参考坐标系中的排布方式来表达晶体的 取向。如在立方晶体轧制样品坐标系中用(hkl)[uvw]来表达某一晶 粒的取向,这种晶粒的取向特征为其(hkl)晶面平行于轧面,[uvw] 方向平行于轧向,还可以用[rst]=[hkl][uvw]表示平行于轧板横向 的晶向,从而构成一个标准正交矩阵,若用g代表这一取向,则:
极图分析 极图给出的是试样中各晶粒的某一晶面在试样外观坐标系中的投 影,必须再通过分析才能给出织构的类型和数量。 分析织构的类型,称为定性分析; 分析织构的离散度和各织构组分的百分数,称为定量分析。 定性分析采用尝试法:将所测得的{HKL}极图与该晶体的标准投 影图(立方晶系通用)对照,找到标准投影图中的{HKL}点全部 落在极图中极密度分布集中区的标准投影图,此标准投影图中心 点的指数即为轧面指数(hkl),与极图中轧向投影点重合的极点指 数即为轧向指数[uvw],从而确定(hkl)[uvw]织构。 若有几张标准投影图能满足上述对照,说明存在多重织构。 校核极图分析的正确与否,或极图复杂时,可采用对同一试样测 绘几个不同{HKL}指数的极图,来验证或对照分析。
g11 g g 21 g 31
g12 g 22 g 32
g13 u r h g 23 v s k g 33 w t l
1 0 0 e 0 1 0 0 0 1
显然对于初始取向有:
晶体学织构
3、织构的极图表达
极图的概念:将试样中各晶粒的 任一(一般用低指数)晶体学面 族{HKL}和试样的外观坐标同时 投影到某个外观特征面上的极射 赤面投影图,称为极图。极图用 被投影的晶面族指数命名,记 {HKL}极图。 纤维织构极图:投影面有两种 a. 与织构轴平行; b. 与织构轴垂直。
晶体取向与多晶体织构
晶体投影 晶体取向 晶体学织构 取向分布函数 取向空间 取向分布函数分析
晶体投影
概念:把三维晶体结构中的晶向和晶面位置关系和数量关系投影 到二维平面,称为晶体投影。 目的:为了方便地研究晶体中各晶向、晶面、晶带以及对称元素 之间的关系。 种类:有球面投影、极射赤面投影、心射投影等。
在测绘极图时,通常将无织构标样的{HKL}极密度规定为1,将织构极 密度与无织构的标样极密度进行比较定出织构的相对极密度。 因为空间某方向的{HKL}衍射强度IHKL(,)与该方向参加衍射的晶 粒体积成正比,因此IHKL(,)与该方向的极密度成正比,此为衍射 法测定织构的理论基础。
晶体学织构
另一种极射投影方法
晶体投影
3、标准投影:选择晶体中对称性高的低指数晶面,如(001)、