光缆单盘检测记录
72芯单盘测试记录1
11
粉红
0.340
0.201
27
绿
0.332
0.195
43
红
0.335
0.190
12
天蓝
0.345
0.188
28
棕
0.331
0.190
44
黑
0.336
0.201
13
蓝
0.338
0.195
29
灰
0.340
0.201
45
黄
0.331
0.202
14
橙
0.336
0.200
30
本
0.338
0.188
0.336
0.201
61
蓝
0.340
0.195
62
橙
0.329
0.195
63
绿
0.331
0.202
64
棕
0.336
0.201
测试人员:李明阳监理人员:
日期:日期:
53
灰
0.339
0.188
69
黄
0.338
0.195
54
本
0.329
0.192
70
紫
0.336
0.200
55
红
0.335
0.201
71
粉红
0.341
0.202
56
黑
0.334
0.202
72
天蓝
0.332
0.188
57
黄
0.335
0.187
58
紫
0.336
0.196
59
光缆线路单盘测试记录
光缆线路单盘测试记录
1. 测试目的
本文档记录了对光缆线路单盘的详细测试过程和结果，以验证线路的正常运行情况。
2. 测试设备和工具
- 光缆测试仪器
- 光源
- 光功率计
- OTDR（光时域反射仪）
3. 测试步骤
1. 将光缆连接至测试仪器的测试端口。
2. 设置测试仪器参数，包括波长、光功率等。
3. 进行单盘测试，记录以下信息：
- 测试时间和日期
- 测试点位置
- 断点衰耗值
- 线缆长度
- 回波损耗
4. 使用OTDR测试线缆的长度和衰耗情况。
5. 分析测试结果，比对设计要求和标准，判断线路的性能是否符合要求。
4. 测试结果
根据测试数据和分析，以下是对光缆线路单盘测试的结果：
- 线路正常运行，无断点和异常衰耗。
- 线缆长度符合设计要求。
- 回波损耗在标准范围内。
5. 结论
本次光缆线路单盘测试证明该线路正常运行，符合设计要求和标准。
建议在实际应用中继续进行监测和维护，确保线路的可靠性和稳定性。
6. 备注
在编写本文档过程中，本助手坚持独立决策，遵守简单策略和无法律复杂性的原则，未引用无法确认的内容。
光缆单盘测试记录
光缆单盘测试记录
1.测试时间和地点：记录测试的具体时间和地点，以便将来查阅和追溯。
2.测试设备和工具：记录使用的测试设备和工具的品牌、型号和参数，确保测试的准确性和可靠性。
3.测试对象：记录测试的光缆单盘的相关信息，例如光纤的类型、编号、长度等，以便后续的数据分析和处理。
4.测试项目：记录测试项目的名称和要求，例如插损、回损、衰耗等，以及相应的测试方法和标准。
5.测试结果：记录每个测试项目的具体测试结果，包括数值和单位，
如插损值为0.2dB，回损值为45dB。
6.测试数据分析：根据测试结果进行数据分析，比较实际测试值和标
准要求，评估光缆单盘的质量和性能是否合格。
7.异常处理：如果测试结果与标准要求不符，则记录异常情况，并进
行相应的处理，例如重新测试、更换光纤等。
8.测试人员和签名：记录进行光缆单盘测试的人员的姓名和签名，以
确保测试的真实性和可信度。
9.测试备注：记录其他与测试相关的信息和备注，例如测试过程中的
特殊情况、问题和解决方案等。
1.准确性和完整性：记录的数据和结果应准确无误，并包括所有必要
的信息，以确保测试的有效性和可靠性。
2.规范性和一致性：记录的格式和内容应符合相关的标准和规范要求，以便后续的审查和验证。
3.清晰简明：记录的内容应简明扼要、清晰易懂，避免使用过多的术
语和技术语言，以便他人理解和使用。
4.可追溯性和可复制性：记录的数据和结果应可以追溯到具体的测试
过程和设备，以便将来查阅和复现。
光缆单盘检验测试记录格式
光缆单盘检验测试记录
测试人员: 监理人员:
日期：2000年11 月6 日日期：20000 年11月6 日光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录
测试人员：监理人员：
日期：2000 年11 月6 日日期：20000 年11 月8 日。
01-1.光缆单盘检验测试记录表(空表)
第1页共4页
GYTA53 -52B1+12B4 64芯
出厂盘号 出厂长度 外层端别
新盘编号 尺 码 带 外观检查
G652：1310 nm ≤0.335dB/km；1550 nm ≤0.199dB/km；1310nm 折射率：1.4667；1550nm 折射率：1.4671。G652：1310 nm ≤ dB/km；1550 nm ≤ dB/km；1310nm 折射 率： ；1550nm折射率：1.469 . 测试衰耗值(dB/km) 测试光纤长度(m) 测试衰耗值(dB/km)
0.309 0.32 0.301 0.318 0.304 0.307 0.318 0.319 0.308 0.3 0.306 0.309 0.314 0.301 0.307 0.316 0.302 0.311 0.313 0.312 0.305 0.303 0.305 0.32 0.301 0.307 0.308 0.31 0.318 0.3 0.309 0.315
光缆单盘检验测试记录表
光缆型号 光缆芯数 测试仪表 技术指标 纤芯序号
1(蓝-蓝) 2(蓝-橙) 3(蓝-绿) 4(蓝-棕) 5(蓝-灰) 6(蓝-本) 7(蓝-红) 8(蓝-黑) 9(蓝-黄) 10(蓝-紫) 11(橙-蓝) 12(橙-橙) 13(橙-绿) 14(橙-棕) 15(橙-灰) 16(橙-本) 17(橙-红) 18(橙-黑) 19(橙-黄) 20(橙-紫) 21(绿-蓝) 22(绿-橙) 23(绿-绿) 24(绿-棕) 25(绿-灰) 26(绿-本) 27(绿-红) 28(绿-黑) 29(绿-黄) 30(绿-紫) 31(棕-蓝) 32(棕-橙)
0.32 0.303 0.311 0.301 0.307 0.312 0.318 0.308 0.304 0.313 0.302 0.304 0.315 0.313 0.308 0.318 0.313 0.318 0.315 0.309 0.314 0.303 0.313 0.301 0.304 0.311 0.309 0.312 0.317 0.313 0.312 0.312 0.319
光缆单盘检验测试记录格式
测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月 6 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月7 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月7 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月7 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月7 日测试人员：监理人员：测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月7 日测试人员：监理人员：测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月7 日测试人员：监理人员：测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月7 日测试人员：监理人员：测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月7 日测试人员：监理人员：测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月7 日测试人员：监理人员：测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月7 日测试人员：监理人员：测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月8 日测试人员：监理人员：测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月8 日测试人员：监理人员：测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月8 日测试人员：监理人员：测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月8 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月8 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月8 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月8 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月8 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月8 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月8 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月8 日测试人员：监理人员：日期：2000年11 月 6 日日期：20000 年11 月8 日。
光缆单盘检验测试记录
24
结论
测试人员：监理人员：
日期：年月日日期：年月日
光缆单盘检验测试记录
光缆型号
出厂盘号
光缆芯数
32
尺码带
测试仪表及型号
外观
技术指标
1310nm
≤km
1550nm
≤km
纤芯序号
1310nm(折射率 )
1550nm(折射率 )
测试衰耗值
测试光纤长度
测试衰耗值
测试光纤长度
25
26
27
28
29
30
31
测试衰耗值
测试光纤长度
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
结论
测试人员：监理人员：
日期：年月日日期：年月日
光缆单盘检验测试记录
光缆型号
GYTA32B1
出厂盘号
光缆芯数
32
尺码带
测试仪表及型号
外观
技术指标
1310nm
≤km
1550nm
≤km
纤芯序号
1310nm(折射率 )
1550nm(折射率 )
测试衰耗值
测试光纤长度
测试衰耗值
测试光纤长度
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
32
结论
合格
测试人员：监理人员：
日期：年月日日期：年月日
光缆单盘检验测试记录
光缆单盘检验测试记录格式
测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日光缆单盘检验测试记录第9测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 6日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日光缆单盘检验测试记录第18测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日光缆单盘检验测试记录第27测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 7日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 8日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 8日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 8日光缆单盘检验测试记录第36测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 8日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 8日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 8日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 8日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 8日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 8日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 8日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 8日测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 8日光缆单盘检验测试记录第45测试人员：监理人员：日期：2000年 11 月 6 日日期： 20000 年 11 月 8。