主板插槽测试点

主板插槽测试点
主板插槽测试点

AGP插槽及测试点

一、AGP简介

AGP(Accelerated Graphics Port)即加速图形端口。它用于连接显示设备的接口,是为了提高视频带宽而设计的一种接口规范。

AGP1.0规格中,有1x、2x两种工作模式,数据传输率分别为266MB/s、533MB/s。

AGP2.0规格中,有4x的工作模式,数据传输率为1064MB/s

AGP8x是Intel公司新发布的图形端口规格,AGP8x被定义为一条32位宽的并行总线,运行于533-MHz,总带宽大约在2.1GB/s。

AGP Pro接口是一种为了满足显示设备功耗日益加大的现实而研发的图形接口标准,应用该技术的图形接口主要的特点是比AGP4x略长一些,其加长部分可容纳更多的电源引脚,使得这种接口可以驱动功耗更大(25-110w)或者处理能力更强大的AGP显卡。这种标准其实是专为高端图形工作站而设计的,完全兼容AGP4x规范,使得AGP4x的显卡也可以插在这种插槽中正常使用。AGP Pro在原有AGP插槽的两侧进行延伸,提供额外的电能。它是用来增强,而不是取

代现有AGP 插槽的功能。

兼容原则:1、370主板上的AGP槽只有2X、4X,4X一般兼容2X显卡

2、478主板上的AGP槽只有4X和8X,478主板上的4X槽一般不兼容2X显卡

AGP槽关键测试点

说明:上图所示为AGP槽的总线及重要测试点,其中8个信号测试点和PCI是一样的。

图中测试点的电压:12V由黄线提供,5.0V由红线提供,3.3V由橙线提供

RST:复位测试点,正常电压3.3V~0V

CLK:时钟测试点,正常电压1.1V~1.6V,66MHZ,P3主板多由北桥提供,P4主板大多由时钟芯片提供

VCC:表示直流电

VDDQ:电压识别脚,不同规格的AGP槽,VDDQ电压也不一样,2X显卡3.3V,4X显卡4.5V,8X显卡0.8V。

PCI插槽及测试点

一、实物图

上图为主板上的PCI插槽实物图,左边三个是PCI插槽,中间最长的是PCI Express X16插槽,右边两个是PCI Express X1插槽

PCI总线图及测试点(正面图)点击查看大图

PCI插槽背面图

说明:上图中深色显示的表格为PCI槽的关键测试点,包括4个供电、1个时钟、1个复位、8个信号测试点

+12V、-12V、+3.3V、+5V:是四个供电测试点

RESET#:是复位测试点,正常电压3.3V~0V,低电平复位,高电平正常工作,370主板

大多由南桥提供,478主板大多由南桥通过门电路提供。

CLK:是时候测试点,频率为33MHZ,正常电压1.1V~1.6V,由时钟芯片提供。

8个信号测试点:

FRAME#:帧周期信号

TRDY#:从设备准备好

IRDY#:主设备准备好

DEVSEL#:设备选择信号

C/BE#(0)、C/BE#(1)、C/BE(2)、C/BE(3),是命令/字节允许信号

pci Express插槽及测试点

ISA插槽及测试点

二、测试点

一、实物图

上图中,黑色插槽就是ISA槽

SA:是地址线,SD:是数据线,这两种线直接与南桥相连,对地打阻值(300-800正常);显示“1”是南桥虚焊或信号线开路、断线。

SD内存插槽及测试点

二、测试点

一、实物图

上图中,黑色插槽就是SD内存插槽

SD内存插槽测试点:1个供电、4个时钟、6个信号测试点

VCC:供电测试点,正常电压3.3V,由场管或橙色线提供

CLK0、CLK1、CLK2、CLK3:时钟测试点,频率66/100/133MHZ,电压1.1V-1.6V,由北桥或时钟芯片提供

6个信号测试点:

CAS#:列选信号

RAS#:行选信号

/WE#:允许信号(高电平允许读,低电平允许写)

/CS#:片选信号

SCL:串行时钟,SDA:串行数据,由南桥提供3.3V电压

DDR内存插槽及测试点

一、实物图

上图就是DDR内存插槽实物图

DDR内存插槽测试点:2个供电、6个时钟、6个信号测试点

VCC=2.5V,1.25V:供电测试点

CLK0、CLK1、CLK2、CLK3、CLK4、CLK5:时钟测试点,频率266/333/400MHZ,电压1.1V-1.6V,如果主板有两块时钟芯片,内存时钟由靠近内存的时钟芯片提供;如果只有一个时钟芯片,内存的时钟由北桥提供

6个信号测试点:

CAS:列选信号

RAS:行选信号

WE:允许信号(高电平允许读,低电平允许写)

CS:片选信号

SCL:串行时钟,SDA:串行数据,由南桥提供3.3V电压

D58、D56、D18等:是数据线,对地打阻值正常值300-800

ATX电源插座测试点

一、测试点

上图为20针ATX电源插座图及各脚的电压,24针插座中的电压可以对照线的颜来识别紫色线5VSB待机线为主板提供5V待机电压

绿我线PS-ON开机线高电平不开机,低电平开机

灰色线Power-Good电源好信号开机延迟100~500ms输出,用在复位电里GND地线

名电压对地阻值

正常值最小值

橙线300-100

红线380左右75

黄线600-300

紫线600-300

灰线600-300

绿线600-300

对地打阻值,370主板上值在300左右为正常,如果在100以下说明有轻微短路。478主板值相对较低,但不可能低到20以下。只要无数值说明短路。

通过测量电压、对地阻值,与正常主板比较,可找到故障部位,来判断某些大型集成芯片或电路中的某个回路是否存在亚重短路、断路

二、短路检修

1、橙3.3V线短路

要检查的元件有:时钟芯片、南北桥、I/O、特殊元器件,滤波巾片电容

2、红5V线短路

要检查的元件有:场管、电源管理芯片、I/O、特殊元件、串口芯片、声卡芯片、网卡芯片、滤波电解电容

3、黄12V线短路

要检查元件有:场管、电源管理芯片、特殊元件、串口芯片、滤波电解电容

排除故障时,可先加电用手摸,检查发烫的元器件。

电脑主板测试点(图文并茂)

主板测试点 转载: 测试点的概念 测试点是在主板维修中需要测量的各总线、接口中的关键点,其实也就是主板各接口中的特定引脚。 学习测试点的目的: ①通过测量测试点的电压、波形及对地阻值,与正常主板做比较,从而在差异中找到故障部位。 ②通过对测试点的测量,来判断某些大型集成芯片或电路中的某个回路是否存在严重短路、断路的地方。 总线的概念 PC的组成部件都是通过数据总线、地址总线和控制总线这三组,总线连接在一起并完成和实现它们之间的通信与数据传送,因此总线的概念是理解PC和主板的组成结构、工作原理及部件之间的相互关系的基础。 4.2.1概述 1.地址总线AB(Address Bus) 地址总线是用来传送地址信息的信号线,其特点是: (1)地址信号一般都是由CPU发出,当采用DMA(Direct Memory Access,即直接内存访问)方式访问内存和I/O设备时,地址信号也可以由DMA控制器发生,并被送往各个有关 的内存单元或I/O接口,实现CPU对内存或I/O设备的寻址(在PC中,内存和I/O设 备的寻址都是采用统一编址方式进行的),即采用单向传输,动态控制(在计算机中, 由于采用二进制工作方式,一般只有两种状态,即“1”和“0”,但是当计算各总线上, 显示“0”状态时,在电气上的效果相当于与总线脱离。 (2)CPU能够直接寻找内存地址的范围是由地址线的数目(由于一条地址总线一次传送一位二进制数的地址,故也叫地址总线的位数)决定的,即PC系统中所能安装内存容量上 限由CPU的地址总线的数目决定,并且符合如下关系:CPU能够直接寻址的内存范围 上限=2n(n是CPU的地址线数目)。如:目前PⅡ以上的CPU为36条地址线,即CPU 能直接寻址的内存上限为236=64G。 2.数据总线DB(DataBus) 是用来传送数据信息的信号线,这些数据信息可以是原始数据或程序。数据总线来往于CPU、内存和I/O设备之间,其特点是: ①双向传输(既可以由CPU送往内存也可以由I/O设备送往CPU)三态控制。 ②数据总线的数目(由于一条数据线一次可传送一位二进制数,故也称位数)称为数据宽度, 数据总线的宽度决定了CPU一次传的数据量,它决定了CPU的类型与档次。 3.控制总线CB(Control Bus) 控制总线是用来传送控制信息的信号线,这些控制信息包括CPU对内存和I/O接口的读/写信号,I/O接口对CPU提出的中断请求或DMA请求信号,CPU对这些I/O接口回答与响应信号,I/O 接口的各种工作状态信号以及其他各种功能控制信号。控制总线来往于CPU、内存和I/O设备

笔记本主板六大测试点

笔记本主板维修关键测试点六项详解(维修人员必知)公共点关键测试点 公共点对地打阻值正常在400---600欧之间,这个数值能反映出各个单元电路是否正常,通过公共点可以快速检测笔记本主板上的主供电是否短路。 1.公共点阻值为0 。这种情况为严重短路,各个元件之间任意一 个点都会短路。排除方法:将与主供电相连的滤波电容一个个 地断开排查,根据主板上各个单元电路,可以先找单元电路所 在电容较少的开始查起,像CPU供电的滤波电容,有20多 个,一般不会容易击穿。这类故障只要找到引起短路的原件, 更换之后就好了。 2.公共点对地阻值为几十欧到一百欧左右。这种情况为微短路, 可能是某个单元电路与主供电相连的场管击穿或阻值偏小所 致。排除方法:把与主供电相连的单元电路电感测试一下,看 哪个与公共点阻值接近,这就是重点排查对象,看一下场管是 否击穿或阻值变小,最后更换。 3.公共点对地阻值为200欧左右。这种情况一般为单元电路中 的供电芯片损坏或是相连的场管损坏,阻值偏低。排除方法: 把各单元电路中与主供电相连的场管的D极和S极之间的阻

值都测试一遍,看是否是500---600左右,然后供电芯片测 试一下,是不是短路所致。 3V和5V单元电路的电感 3V和5V单元电路的电感正常的对地读值在80---120欧之间,他们可以反映出与此相连的各个芯片、单元电路、元件是否正常,还可以快速判断3V5V是否短路造成不输出。 1.电感的对地读值为0。说明单元电路严重短路,3V、5V保护 状态,无法工作。排除方法:将与3V5V相连的电子元件一一 拿掉,或者可以按照经验,排查故障高的,比如场管、供电芯 片、网卡声卡芯片。 2.电感对地阻值为7-30欧。说明单元电路有微短路的地方。 排除方法:将相连电子元件一一拿掉,或者根据经验,排查故 障高的,如:场管、电容、供电芯片等。 CPU单元电路的电感

电脑主板测试卡代码说明大全

电脑主板测试卡代码说明大全 代码对照表 00 . 已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。 01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失败。 02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。 CMOS写入/读出正在进行或者失灵。 03 清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。 04 使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。键盘控制器软复位/通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。 05 如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。 DMA 初如准备正在进行或者失灵。 06 使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 . 08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。 09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵,移位。 0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。 0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。第一个64K RAN的地址线故障。 0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。第一个64K RAM的奇偶性失灵 0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。初始化输入/输出端口地址。 0F 测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备。 . 10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。第一个64K RAM第0位故障。 11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备,即将停用DMA和中断控制器。第一个64DK RAM 第1位故障。 12 测试DMA页面寄存器。停用DMA控制器1以及中断控制器1和2;即将视频显示器并使端口B作初始准备。第一个64DK RAM第2位故障。 13 测试8741键盘控制器接口。视频显示器已停用,端口B已作初始准备;即将开始电路片初始化/存储器自动检测。第一个64DK RAM第3位故障。 14 测试存储器更新触发电路。电路片初始化/存储器处自动检测结束;8254计时器测试即将开始。第一个64DK RAM第4位故障。 15 测试开头64K的系统存储器。第2通道计时器测试了一半;8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第5位故障。 16 建立8259所用的中断矢量表。第2通道计时器测试结束;8254第1通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第6位故障。 17 调准视频输入/输出工作,若装有视频BIOS则启用。第1通道计时器测试结束;8254第0通道计

主板插槽测试点

AGP插槽及测试点 一、AGP简介 AGP(Accelerated Graphics Port)即加速图形端口。它用于连接显示设备的接口,是为了提高视频带宽而设计的一种接口规范。 AGP1.0规格中,有1x、2x两种工作模式,数据传输率分别为266MB/s、533MB/s。 AGP2.0规格中,有4x的工作模式,数据传输率为1064MB/s AGP8x是Intel公司新发布的图形端口规格,AGP8x被定义为一条32位宽的并行总线,运行于533-MHz,总带宽大约在2.1GB/s。 AGP Pro接口是一种为了满足显示设备功耗日益加大的现实而研发的图形接口标准,应用该技术的图形接口主要的特点是比AGP4x略长一些,其加长部分可容纳更多的电源引脚,使得这种接口可以驱动功耗更大(25-110w)或者处理能力更强大的AGP显卡。这种标准其实是专为高端图形工作站而设计的,完全兼容AGP4x规范,使得AGP4x的显卡也可以插在这种插槽中正常使用。AGP Pro在原有AGP插槽的两侧进行延伸,提供额外的电能。它是用来增强,而不是取 代现有AGP 插槽的功能。 兼容原则:1、370主板上的AGP槽只有2X、4X,4X一般兼容2X显卡 2、478主板上的AGP槽只有4X和8X,478主板上的4X槽一般不兼容2X显卡 AGP槽关键测试点

说明:上图所示为AGP槽的总线及重要测试点,其中8个信号测试点和PCI是一样的。 图中测试点的电压:12V由黄线提供,5.0V由红线提供,3.3V由橙线提供 RST:复位测试点,正常电压3.3V~0V

CLK:时钟测试点,正常电压1.1V~1.6V,66MHZ,P3主板多由北桥提供,P4主板大多由时钟芯片提供 VCC:表示直流电 VDDQ:电压识别脚,不同规格的AGP槽,VDDQ电压也不一样,2X显卡3.3V,4X显卡4.5V,8X显卡0.8V。 PCI插槽及测试点 一、实物图 上图为主板上的PCI插槽实物图,左边三个是PCI插槽,中间最长的是PCI Express X16插槽,右边两个是PCI Express X1插槽 PCI总线图及测试点(正面图)点击查看大图

主板检测卡代码大全40848

主板检测卡代码大全一般来说代码:FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也没有表示CPU没通过 C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示内存不过 24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示显卡不过 某些集成显卡主板23、24、25表示可以正常点亮,某些VIA芯片组显示13则表示可以点亮,某些品牌机里的主板显示0B则表示正常,某些主板显示4E表示正常点亮,某些INTEL芯片组的主板显 示26 C1、C6 如显示 . 01 02 03 检查部件正 04 使 05 ROM。DMA 06 器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA 初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 . 08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT 命令。RAM更新检验正在进行或失灵。

09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64K RAM 芯片或数据线失灵,移位。 0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。 0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。第一个64K RAN 0D 13、视频 64K RAM 0E 0F 10 第一个 11 第一个64DK RAM第 12 B 13 化/存储器自动检测。第一个64DK RAM第3位故障。 14 测试存储器更新触发电路。电路片初始化/存储器处自动检测结束;8254计时器测试即将开始。第一个64DK RAM第4位故障。 15 测试开头64K的系统存储器。第2通道计时器测试了一半;8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第5位故障。

主板维修关键测试点的频率以及电压值

主板维修关键测试点的频率以及电压值 2006-4-9 8:13:45来源: 进入论坛添加到收藏夹 可POWER ON 時先量測基本電壓各項CLK 基本之RESET 1.基本電壓含: VCC3: 3.3V VTT: 1.5V VCC25: 2.5V VCC333: 3.3V VCC: 5V VCORE: CPU之工作電壓(是CPU OR 電壓治具而定) POWER_OK OR POWER_GOOD: 3.3V CPU 之參考電壓: EX: VGTL:1V 可POWER ON 時先量測基本電壓 VIA SOCKET462 系列 2.各個RST含: PCIRST : 由HI準位到LOW準位 (5 V or 3V) AGPRST : 由HI準位到LOW準位 (5V or 3V) CPURST:可分 (1)586 : 由LOW準位到HI準位 (3V) (2)686 : 由HI準位到LOW準位 (1. 5V) (3)Socket 462系列: 由HI準位到LOW 準位 (1.7V) (4)Socket 478 系列: 由HI準位到LOW 準位(1.5V) CRESET : 由HI準位到LOW準位 ( 3. 3V) RST_BT : 由HI準位到LOW準位 (3V) IDE_RST : 由HI準位到LOW準位 (5V) 3.各項CLK含: (1)ISA: 14.318MHz(OSC 由CLKGEN來) 8MHz(BCLK 由南橋產生) (2)PCI: 33MHz

(3)AGP: 1X: 33MHz 2X: 66MHz 4X: 133MHz(UAGP 有132PIN) (4)DIMM: 66MHz ,100MHz ,133MHz. (5)DDR: 100MHz,133MHz,166MHz,200MHz. (6)CPU: 66MHz,100MHz ,133MHz. (7)北橋: 66MHz,100MHz,133MHz,200MHz. (南橋: 14.318MHz. 48MHz. 33MHz. (9)I/O: 48MHz or 24MHz INTEL 478 系列: (1)PCI: 33MHz (2)AGP: 4X: 133MHz(UAGP 有132PIN) (3)DIMM: 100MHz,133MHz (4)CPU: 100MHz,133MHz (5)北橋: 66MHz ,100MHz ,133MHz (5)南橋: 14.318MHz 48MHz 33MHz 66MHz (6)LPC I/O: 33MHz,24MHz,48MHz. *以上皆正常後才上CPU AND DIMM 測試是否開機Socket 462 系列: (1)PCI: 33MHz (2)AGP: 4X: 133MHz(UAGP 有132PIN) (3)DIMM: 100MHz or 133MHz (4)DDR: 100MHz,133MHz,166MHz,200MHz. (5)CPU: 100MHz or 133MHz (6)北橋: 100MHz or 133MHz (7)南橋: 14.318MHz 48MHz 33MHz 66MHz (LPC I/O: 33MHz AND 24MHz *以上皆正常後才上CPU AND DIMM 測試是否開機

新手必修-笔记本主板上的关键测试点

新手必修,笔记本主板上的关键测试点 首先我想说的是,有些人我写点东西不要随意的辱没,虽然我写的都是基础的东西,不管你会也好不会也好!不管你支持与否,请不要随意践踏别人的劳动成果,每次我写些东西最主要的目的是为了新手能更快的上手,更快的入门!因为我们每个人都是从新手过来,不可能你样样都精通。同时也锻炼一下自己的写作和表达能力! 让我郁闷的是前两天发表了一个帖子,讲的是笔记本的供电顺序,一楼就给我来个,说我讲的全是废话!我写点东西也是为了大家好,一楼说的话让我是被收打击!哎,不管了,这世界上总是有些人喜欢咬舌头!不去计较了。说正事了! 今天想写一点笔记本上的关键测试点,写的不好希望大家多提意见,但是我真不希望有类似上次一样的事情发生!要不我以后也不写了,免的自找没趣! 正题 我们经常见到有的人维修,修了一天半天,没有头绪,找不到故障,更解决不了问题,真正的芯片级维修,一般的故障用万用表测几下,几分钟内就能判断出故障。这个和中医看病把脉是一样的,从人的脉搏上反映出各个器官的问题,从而对症下药。所以掌握测试点对维系至关重要。 不同品牌的主板主要测试点是一样的,但是阻值可能有差异,这需要我们在维修中不断总结,不断积累。维修种常用的两种办法如下: (1)静态(指不接电源的情况下)测量关键测试点的对地阻值,通过阻值反映出相关的电路是否良好。操作方法为万用表的二极管档,红笔接地,黑比在测试点上; (2)动态(接上电源的情况下)测量关键测试点的电压,通过电压是否正常来判断故障。操作方法为万用表的直流电压档上,红笔在测试点,黑笔接地。 1。公共点关键测试点 对地阻值在400-600欧之间,它反映出主板各个单元电路的主供电是否正常,任何一个单元电路的主供电相连的元件有故障都会从这里反应出来,所以通过测试这一点可以快速检测笔记本电脑主板上的主供电是否有短路微短路的情况。不管是短路还是微短路都会导致保护隔离电路无法将电源适配器的电送到各个单元电路。常见的几种现象如下。 (1)公共点对地阻值为零。这种情况为主供电严重短路,主板上所有与主供电相连的单元电路中的任何一个点都会短路。一般为主供电的滤波电容击穿或某个单元电路的一组MOS管全部击穿。 排除方法:要排除短路需要将所有与主供电相连的滤波电容一个个地断开排查,根据笔记本电脑主板上的各个供电单元电路,我们可以看到南北桥内存显卡的供电单元电路,其中的1.25V、1.05V的电压比较低,虽然CPU的供电电压会很低,但是一般CPU供电的滤波电容数量比较多,一般6个以上,有的甚至20 作。 (2)公共点对地阻值为几十欧到一百欧 这种情况下一般为与主供电相连的某个单元电路的一组MOS管损坏,高端MOS管击穿或阻值偏小所致。

主板重要测试点

主板重要测试点 .1 主板总线 本节主要介绍主板的总线分类、总线的作用。读者在使用测试点时,能认识AB、DB、CB 代表的含义就达到学习本节的目的了。 3.1.1 主板总线的分类 1.按总线功能分 (1)地址总线(AB):用来传递地址信息。 (2)数据总线(DB):用来传递数据信息。 (3)控制总线(CB):用来传送各种控制信号。 下面分别进行介绍。 (1)地址总线AB(Address Bus)是用来传送地址信息的信号线,其特点如下: 地址信号一般都由CPU 发出,当采用DMA(Direct Memory Access,即直接内存访问)方式访问内存和I/O 设备时,地址信号也可以由DMA 控制器发生,并被送往各个有关的内存单元或I/O 接口,实现CPU 对内存或I/O 设备的寻址(在PC 中,内存和I/O 设备的寻址都是采用统一编址方式进行的),即采用单向传输。 CPU 能够直接寻找内存地址的范围是由地址线的数目(由于一条地址总线一次传送一位二进制数的地址,故也叫地址总线的位数)决定的,即PC 系统中所能安装内存容量上限由CPU 的地址总线的数目决定。 (2)数据总线DB(Data Bus)是用来传送数据信息的信号线,这些数据信息可以是原始数据或程序。数据总线来往于CPU、内存和I/O 设备之间,其特点如下:双向传输,三态控制。既可以由CPU 送往内存或I/O 设备,也可以由内存或I/O 设备送往CPU。 数据总线的数目称为数据宽度(由于一条数据线一次可传送一位二进制数,故也称位数),数据总线宽度决定了CPU 一次传输的数据量,它决定了CPU 的类型与档次。 (3)控制总线CB(Control Bus)是用来传送控制信息的信号线,这些控制信息包括CPU 对内存和I/O 接口的读写信号、I/O 接口对CPU 提出的中断请求或DMA 请求信号、CPU 对这些I/O 接口回答与响应的信号、I/O 接口的各种工作状态信号以及其他各种功能

主板检测卡代码大全

主板检测卡代码大全 This manuscript was revised by the office on December 10, 2020.

主板检测卡代码大全 一般来说代码:FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也没有表示CPU没通过C1、 C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示内存不过24、25、26、01、0A、 0B、2A、2B、31表示显卡不过某些集成显卡主板23、24、25表示可以正常点亮,某些VIA芯片组显示13则表示可以点亮,某些品牌机里的主板显示0B则表示正常,某些主板显示4E表示正常点亮,某些INTEL芯片组的主板显示26 或16则表示可以正常点亮。C1、C6、C3、01、02这个组合循环跳变大部分是 I/0坏或刷BIOS如显示05、ED、41则直接刷BIOS 00 .已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。 .01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失 败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。CPU寄存器测试正在进行或者失败。02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。CMOS 写入/读出正在进行或者失灵。03 清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。04 使8042 键盘控制器复位,核实TESTKBRD。键盘控制器软复位/通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。05 如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。DMA初如准备正在进行或者失灵。06 使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS 检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 .08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命 令,即将写入BAT命令。RAM更新检验正在进行或失灵。09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵,移位。0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁 /解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。0C 测试8254通道1。键盘 控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。第一个64K RAN的地址

主板CPU供电电路重要的测试点及跑电路方法

主板C P U供电电路重要的测试点及跑电路 方法

主板CPU供电电路重要的测试点及跑电路方法 CPU 供电电路重要测试点及跑电路方法 1.CPU 供电电路重要测试点查找技巧检修任何供电电路时,都要根据工作条件来确定测试点,从而达到迅速确定故障位置的目的。下面以如图6-8 所示的单相供电电 路为例介绍重要测试点。(点击查看大图)图6-8 CPU 单相供电电路重要测试点如下:①加上假负载或CPU 后,测L2 上有无1.1V~1.75V 的Vcore 电压(此点可判断整体CPU 供电电路是否正常);②测L2 电感或VT1 场效应管的S 极有无1.1V~1.75V 电压输出;③测VT1 的D 极有无12 或者5V 电压输入;④测VT1 的G 极有无高电平控制电压;⑤测电源控制芯片有无供电,如+12V/+5V 供电输入。 学习提示

CPU 单相供电电路中的高端MOS 管(VT1)与低端MOS 管(VT2)的G、D、S 极的对地阻值分别如下:① VT1:G 极对地阻值为400Ω 以上,D 极对地阻值为200Ω 以上,S 极对地阻值为20Ω以上;② VT2:G 极对地阻值为400Ω以上,D 极对地阻值为25Ω以上,S 极对地阻值为0Ω。 2.CPU 供电电路跑电路方法(以图6-8 为例)主板跑电路的目的主要是找工作条件,根据工作条件找经过的元件。①从ATX 电源5V/12V 到电源控制芯片,一般直接相连或经过阻值较小的电阻(此路一般小电阻容易开路);②从ATX 电源 5V/12V 到VT1 的D 极,中间经过L1 电感线圈(此路一般很少损坏);③ VT1 或VT2 的G 极往电源控制芯片查找,之间一般经过2.2Ω、4.7Ω的小电阻;④从L2 电感线圈的一端到电源控制芯片,有的主板经过电阻到电源控制芯片。(注:电感线圈的正面或反面有一条粗线往电源控制芯片方向即为反馈电路。)学习提示怎样区分高端MOS 管(VT1)与低端MOS 管(VT2):① VT1 的D 极接 12V 或 5V;② VT2 的S 极接地;③ VT1 的S 极与VT2 的D 极直接相连(通过主板上的粗线可以直接看出)。多相供电电路由多个单相供电电路组成,因此多相供电电路的跑电路方法就是依照单相供电电路来进行的,即相当于把几个单相供电电路并联在同一个主板上。学习提示主板CPU 供电电路可能会造成电源保护故障,电源保护故障是指按下开机按键时,风扇转一圈不转,之后再按开机按键,风扇没反应。处理方法是拔下4 口的ATX 辅助电源线,再按开机按键,若主板风扇一直转,则故障定位在CPU 供电电路中,如果风扇仍不转,说明在ATX 电源接口及与其相连负载的电路中有短路故障。高端MOS 管(VT1)的检修方法:①测VT1 的D 极对地阻值,若为0Ω,则拆下所有VT1 后去测此脚;②拆下VT1 后,若此脚仍为0Ω,则拆下电源控制芯片;③若拆下电源芯片后VT1 的D 极正常,则电源芯片损坏,更换即可。低

电脑主板检测卡代码大全

电脑主板检测卡代码大全: 一般来说代码:FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也没有表示CPU没通过 C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示内存不过 24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示显卡不过 某些集成显卡主板23、24、25表示可以正常点亮,某些VIA芯片组显示13则表示可以点亮,某些品牌机里的主板显示0B则表示正常,某些主板显示4E表示正常点亮,某些INTEL 芯片组的主板显示26或16则表示可以正常点亮。 C1、C6、C3、01、02这个组合循环跳变大部分是I/0坏或刷BIOS 如显示05、ED、41则直接刷BIOS 00 . 已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。 . 01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。CPU寄存器测试正在进行或者失败。 02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。CMOS写入/读出正在进行或者失灵。 03 清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。ROM BIOS 检查部件正在进行或失灵。 04 使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。键盘控制器软复位/通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。 05 如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。DMA初如准备正在进行或者失灵。 06 使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 . 08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT命令。RAM更新检验正在进行或失灵。 09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵,移位。 0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。 0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。第一个64K RAN的地址线故障。 0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。 3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。第一个64K RAM的奇偶性失灵 0E 测试CMOS停机字节。CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。初始化输入/输出端口地址。 0F 测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备。 . 10 测试DMA通道0。CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初

主板维修之入门和关键点测试

主板维修之入门和关键点测试 主板维修之入门和关键点测试北桥的工作电压南桥工作电压时钟+3.3v +3.3V 32.768 南桥 +1.5V +5V 14.318 基本时钟+1.0v Vtt参考电压 +1.8V 33mhz pci+1.8V hub link线 +0.9V 66mhz 总线 +0.9v 不要忽视 +2v(有的有) 48mhz usb+.25V 负载电压 +1.75V(核心电压)+0.5V 参考+1.75V 测量NB SB旁或背面的电容....bios:方BIOS只针对intel的芯片长bios(只针对via,sis方形的bios 按长bios看待)1,25,27脚 vcc +3.3v 1pin 编程脚2pin 复位 2pin-12pin,23,25pin-30pin 地址线31pi n 时钟 13pin-15pin 17pin-21pin 数据线13,14,15,17 4条AD线 16pin 接地23pin 片选 22pin 片选2 4pin 初始化脚 24pin 内存读16pin 接地 21pin 内存写32pin vcc+5V供电pci的关键点1,供电 A2 +12 V A62 +5v B2 -12V A53 +3.3v2,时钟 B16 33Mhz 由时钟IC发出3,复位 A15 由南桥发出4,Frame A34 帧信号,表示允许总线传输和片选一样在触发和复位瞬间可测5,32条AD线 A 20,22,23,25,28,29,31,32, 44,46,47,49,54,55,57,58B 20,21,23,24,27,29,30,45,47,48,52,53,55,56,58(各对地阻值电压要基本一至)AGP的关键点1,供电 A1 +12V B2 +5V A9 +3.3v B24 +3.3v2,vddQ B40 A40 既AGP槽的到数第二脚主板维修快速测试方法主板维修快速测试方法主板烧cpu的维修方法主板插上cpu就烧1、先查主板共电给cpu的几只mos管有无烧坏 2、主板不插cpu开电测cup旁的几个电感线圈其中有一个电感线圈共cpu电与cpu 工作电压相同,不同可能电源IC坏主板南桥损坏的一般判断主板南桥损坏的一般判断南桥坏不能一概而论它里面集成很多模块有主管POWER 部分的;有主管RESET 部分的。。。。。所以说假如是南桥的一部分模块坏那就难判断了:一般判断南桥坏的简单方法:BIOS 的AD 线 PCI 的 AD 线无电位等等方法。南桥的电压有很多种:810 系列和845 系列又不一样:815 主板一般有:1VREF 、1。5V、1。8V、5VSB、3。3V 、3V 有些有2。5V、0。5V、1。25V 还有CMOS 2V 等一般现在主板坏电源心片的可能性很大,电源心片坏了,CPU一般无温度,这时你可以用数字万用表的二极管档测电感与地的通断,如果万用表叫一声阻值上长的话,电源心片就是好的,如果电感对地短路,主板电源部分绝对有问题,先把主板上有几个调节电源的三极管取下来,如果电感还是短路,则主板电源心片绝对坏了!还有调节电源的三极管坏了的话,三极管旁边的电容一般也就坏了(主板电容好坏的检测那就太简单,只用看就行了,电容坏了,绝对电容的正中间绝对会冒起一小部分)。{BR}怎么样,够简单吧!哦,还有一点,换了主板电源部分的件,上CP U之前一定先测测电感上的电压在1.5V-2.0V之间才能上CPU!!! 主板维修关键测试点的频率以及电压值主板维修关键测试点的频率以及电压值可POWER ON 时先量测基本电压各项CLK 基本之RESET1.基本电压含:VCC3: 3.3V VTT: 1.5V VCC25: 2.5V VCC333: 3.3V VCC: 5V VCORE: CPU之工作电压(是CPU OR 电压治具而定) POWER_OK OR POWER_GOOD: 3.3V CPU 之参考电压: EX: VGTL:1V可POWER ON 时先量测基本电压 VIA SOCKET462 系列2.各个RST含:PCIR ST : 由HI准位到LOW准位 (5V or 3V) AGPRST : 由HI准位到LOW准位 (5V or 3V) CPURST:可分 (1)5 86 : 由LOW准位到HI准位 (3V) (2)686 : 由HI准位到LOW准位 (1.5V) (3)Socket 462系列: 由HI准位到LOW准位 (1.7V)(4)Socket 478 系列: 由HI准位到LOW准位(1.5V)CRESET : 由HI准位到LOW准位( 3.3V) RST_BT : 由HI准位到LOW准位 (3V) IDE_RST : 由HI准位到LOW准位 (5V) 3.各项CLK含:(1) ISA: 14.318MHz(OSC 由CLKGEN来)8MHz(BCLK 由南桥产生)(2)PCI: 33MHz (3)AGP: 1X: 33MHz

主板各电路测试点

COMS电路测试点 1:判断COMS电池是否有电池;一般不低于2.5V,如果电池没电会造成COMS信息保存不了,不能开机等故障; 测试点 2:判断COMS跳线是否正常;不正常(没跳或跳错)会造成COMS 信息保存不了。不能开机等故障; 3:判断晶振是否起振;此晶振在主板中易损坏;损坏后会造成:不能开机,COMS信息保存不了;用手摸晶振时可以开机或跑代码,不摸时不能开机或不跑代码;时能开机时不能开机等故障; 晶振损坏反应现象: 1、晶振两脚无电压; 2、晶振一脚有电压一脚无电压; 3、晶振两脚电压一样; 4、用手摸晶振时可以开机或跑代码,不摸时不能开机或不跑代 码; 5、时能开机时不能开机; 以上反应现象在晶振和谐振电容都正常时为南桥虚焊或南桥损坏;测试点4:判断主板3.3VSB是否正常。输入正常输出偏高查调整电阻;输出偏低查正电稳压器;无输出查正电稳压器或后极出现路路;

跑电路: 从电池到跳线; 跳线现南桥 开机电路—VIA电路测试点: 测试点1:判断开关是否有高电平;否,则查开关到供电之间线路;注:部分主板开关就一条线到南桥,开关的高电平由南桥输出; 测试点2:测三级管B级(在没有开机的时候为低电平,开机后为高电平)如果短接开机开关后没有变为高电平,则查B极到南桥之间线路,线路没有问题,则说明南桥没有工作,查南桥;如果有高电平不能开机查三级管或绿线到三极管之间线路; 开机电路—W83627HF开机电路测试点: 测试点1:判断开关是否有高电平;没有则查开关到供电之间线路 测试点2:判断开关是否有触发信号给I/O,没有则查开关到I/O之间线路。线路没有问题说明I/O损坏; 测试点3:判断I/O是否给南桥触发信号(没有短接开关时;67脚为3.3VSB由南桥提供,在短接开关时I/O会把他拉低)如果没有变为低电平,说明I/O损坏; 测试点4:判断南桥是否输入触发信号;(没有开机时为低电平;短接开关后变高电平)没有高电平输出说明南桥没有工作,查南桥;注:部分主板在没有开机时73脚就有高电平,说明南桥不参与控制开机;测试点5:判断I/O开机触发器是否工作(没有开机时为高电平;开

主板测试点

主板测试点 主板 SD内存的关键测试点 SD内存,在插槽上有两个隔断,它的这个测试点怎么去看法,两个短槽在上面,长槽在下面,的底视图。 SD内存,它有四个时钟,每一个时钟都是由时钟芯片通过来的,其中,第三隔断的第一针是时钟1,工作电压呢是1.1V~1.6V,第三隔断的第20针,也就是说倒数第三针,是时钟2,第三列的到数第三针,是时钟3,第四列的第三隔断的第一针,是时钟4, 它的供电,是第二列的最后一针,供电是3.3V,SD内存供电是 3.3V,它的供电管一般都在内存的附近, 如果主板上有两个时钟芯片,也就是说SD内存的这些时钟由没有晶振相连的时钟芯片提供。 DDR内存的关键测试点 它是短槽在上,长槽在下的底视图,第一列的第九针,是时钟1,工作电压呢是1.1V~1.6V,第一列的第二隔断的第十九针,是时钟2,同样,工作电压是1.1V~1.6V,第二列的第九针是时钟3,第二列的第二隔断第十八针是时钟4, 第二列的最后一针是1.25V负载电压,或者叫做辅助电压,这个电压也是由内存插槽旁边的这些供电管为它提供的,第三列的第一针,2.5V各别主板是3.3V,这也是它非常重要的一个供电, 第三列的第二隔断的第四针时钟5,第四列的第二隔断的第四针时钟6, DDR内存它一共有6个时钟,所有的这个工作时钟它正常与否,只要测它的工作电压,1.1V~1.6V的工作电压, P4主板中只有一个时钟芯片的,DDR内存时钟由北桥提供,如果有两个时钟芯片,由没有晶振相连的时钟芯片提供,工作电压 1.1V~1.6V, 供电测试点测出来的电压不正常,只要找与之相关的供电管。大家可以看,它的供电,就集中在内存插槽旁边,非常有规律,大家可以用万用表测它的输出极电压是多少,即可判断这个供电管是否正常,供电管的这个控制极呢,都是由旁边这个放大器来进行控制的,这是主板上的一个常见的电路方式。 另外,还有内存旁边密密麻麻的排阻,小电阻,小排容,这些都是传输数据的一些小元件,正常的时候,这些小元件都与内存底部的这个地址线数据线相连。同样AGP插槽,还有这个PCI插槽,它们旁边的这

电脑主板不开机测试点(台式机)

一、不开机测试点 1、ATX电源第9脚(5V),PCI A14(3.3V),1117或1084(3V); 2、CMOS跳线帽(2.5V以上); 3、开机排针2.5V-5V; 4、32.768是否超振(电压差); 5、I/O或南桥供电(电容); 二、能开机但黑屏测各供电 1、AGP倒数第3脚(1.5V/1.8V/2.5V);B2(5V),A9(3.3V); A1(12V) 2、内存DDRI系统7脚(2.5V),DDRII(倒数第3脚); 3、CPU供电: 478(0.9V-1.9V),775(1.0V-1.5V),AMD(1.2V-1.5V) 4、PCI A14(3.3V); PCI-E(B1 12V),B8(3.3V),B10(3VSB)A2 (12V) 三、时钟电路测试点 1、时钟芯片两侧的电感和14.318晶振; 2、PCI B16(1.6V);PCI-E(A13,A14 0.5V) ; AGP B7(1.6V),BIOS 31#(1.5V) 3、内存:SDR 42,79,125,163 (1.2--1.75V) DDR1 16,17,75,76,137,138 (1.2--1.85V) DDR2 137,138,185,186,220,221 (1.2--1.85V) DDR3 63,64,184,185 (1.2--1.85V) 四、复位电路测试点 1、PCI A15(3.3V); 2、IDE A1(5V); 3、BIOS 倒数第2脚(3.3V); 4、CPU假负载PG信号2.5V; 5、短接复位排针,PG是否有高低高跳变; 五、南桥好坏判断 1、PCI A14对地阻值为零或小于80欧(南桥坏); 2、待机时,南桥烫手(南桥坏或AGP供电管损坏); 3、南桥旁边的电容对地短路(南桥坏); 4、USB中间两根数据线为零,正常阻值为600欧左右(南桥坏); 5、CMOS跳线中间对地阻值为零(南桥坏); 6、1117中间有3.3V(南桥坏或集成网卡坏,或I/O坏); 7、1117中间对地阻值为零(南桥坏); 8、PCI所有AD线对地有3根以上为零(南桥坏); 六、北桥好坏判断 1、Q1或电感对地阻值为零(正常40欧左右);不上CPU时测量; A、20—30欧(北桥有轻微损坏) B、10欧以下为北桥损坏 2、AGP或内存插槽AD线有3根以上对地为0欧,北桥损坏;

主板关键测试点及电压

主板关键测试点供大家参考 来源:迅维网 触发故障1: 1:ATX第9脚5VSB,PCI槽A14脚3.3VSB,3,3VSB一般由1117或1084MOS管转换 ?2:CMOS跳帽2.5V以上电压 ?3:触发排针2.5V以上电压 ?4:南桥晶振32.768是否起振(有压差) ?5:查IO ?6:查南桥 触发后主板必须有的电压(775主板为例) 1:待机3.3VSB 2:VDDQ/AGP倒数第三脚(inter芯片组南北桥供电1.5V)(SIS芯片组1.85V)(nvidia 芯片组1.5V)VIA芯片组2.5V)??注:只有inter芯片组VDDQ电压同时供给南北桥,其他芯片组VDDQ只给北桥。 ?3:内存供电(VCC-DDR)DDR2.5V-7脚DDR2-184脚<倒数第三脚> ?4:VTT-1.2V(前端总线上拉电压1.2V) ?5:vcore(CPU供电电压)478主板为0.9V-1.9V,775主板为1.0V-1.5V,AMD主板一般?为1.2V-1.5V 主板全部电压正常后测试点: 1:时钟芯片两侧的电感是否有电压,14.318晶振是否起振,(两脚电压压差) 2:PCI槽B16脚1.6V电压 复位关键测试点: 1:PCI槽A15脚3.3V电压 2:IDE槽第一脚5V电压 3:BIOS芯片倒数第二脚3.3V 4:CPU假负载PG信号2.5V电压 5:短接复位排针,同时测PG信号测试点是否有高到底电压跳变 电压时钟复位全部正常后测试点 1:上CPU假负载测AD线对地值 2:南北桥总线对地值 3:PCI总线对地值 4:涮BIOS 北桥芯片损坏的判断方法 一、通过测PCI槽、AGP槽对地打阻值可判定南北桥有无损坏 1、PCI槽中所有的AD复合线对地打阻值都为300~800之间数值,说明南桥好;若由无穷大,说明南桥虚焊;若有3根或3根以上导通,说明南桥坏; 2、AGP槽对地所有AD复合线对地打阻值都为300~800之间数值,说明北桥好;若由无穷大,说明北桥虚焊;若有3根或3根以上导通,说明北桥坏; 3、内存槽,通过对数据线进行打阻值判断,都为300~800之间数值,说明北桥好;

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