方块电阻测量方法
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一、检验项目：纳米银线导电膜方块电阻
二、定 义：利用四探针法在一定的压力之下测得的面电阻值。
三、适用范围：本标准检验方法适用于纳米银线导电材料方阻的测量。
四、目 的：测量纳米银线导电材料的方阻以判定其品质。
五、检验方法：
Ⅰ、原理及方法
※方法一
1.样品准备：SNWFilm
2.使用装置：四探针测试头、导线、万用表、稳压电源
※方法二
1.样品准备：SNWFilm
2.使用装置：方阻仪
3.操作步骤：
a)Film按TD*300mm切割
b)将稳压电源调至ON，电压调至1V
c)将方阻仪置ON挡
d)将试片有效区域等距分成N点，开始测试并记录数值。
e)将所测得数值输入表（一），计算其方阻。
4.操作步Hale Waihona Puke Baidu：
a)Film按TD*355mm切割材料
b)将稳压电源调至ON，电压调至1V
c)将稳压电源正极接至探针一端、负极接至探针另一端，如图
d)将万用表置直流电流档，一表笔接至探针一端，一表笔接至探针另一端，如图
e)将试片有效区域等距分成N点，开始测试并记录数值。
f)将所测得数值输入表（一），计算其方阻。
3.测量原理
a)给四探针测试头两探针施加DC1V电压，另外两探针接万用表直流电流挡，如图2
b)依公式算出方块电阻
计算公式：
RS=2π*V/(ln2*I)
RS：方块电阻Ω/□
V：施加的电压
I：测得的电流
注意：探头的表面弧度为SR0.9mm
探头压力0.45±0.15N或50±15gf
探头间距3mm，如图1
二、定 义：利用四探针法在一定的压力之下测得的面电阻值。
三、适用范围：本标准检验方法适用于纳米银线导电材料方阻的测量。
四、目 的：测量纳米银线导电材料的方阻以判定其品质。
五、检验方法：
Ⅰ、原理及方法
※方法一
1.样品准备：SNWFilm
2.使用装置：四探针测试头、导线、万用表、稳压电源
※方法二
1.样品准备：SNWFilm
2.使用装置：方阻仪
3.操作步骤：
a)Film按TD*300mm切割
b)将稳压电源调至ON，电压调至1V
c)将方阻仪置ON挡
d)将试片有效区域等距分成N点，开始测试并记录数值。
e)将所测得数值输入表（一），计算其方阻。
4.操作步Hale Waihona Puke Baidu：
a)Film按TD*355mm切割材料
b)将稳压电源调至ON，电压调至1V
c)将稳压电源正极接至探针一端、负极接至探针另一端，如图
d)将万用表置直流电流档，一表笔接至探针一端，一表笔接至探针另一端，如图
e)将试片有效区域等距分成N点，开始测试并记录数值。
f)将所测得数值输入表（一），计算其方阻。
3.测量原理
a)给四探针测试头两探针施加DC1V电压，另外两探针接万用表直流电流挡，如图2
b)依公式算出方块电阻
计算公式：
RS=2π*V/(ln2*I)
RS：方块电阻Ω/□
V：施加的电压
I：测得的电流
注意：探头的表面弧度为SR0.9mm
探头压力0.45±0.15N或50±15gf
探头间距3mm，如图1