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电子元器件标准精选

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电子元器件标准精选电子元器件标准精选收集了以下类别的标准:1.电子元器件综合标准2.半导体器件标准3.集成电路标准4.集成电路卡标准5.电容器与电感器标准6.电阻器与电位器标准7.液晶与电真空器件标准8.压电陶瓷与石英晶体器件标准9.印制电路板与电连接器标准代号标准名称邮价1.电子元器件综合标准G4210《GB/T4210-2001电工术语:电子设备用机电元件》G5597《GB/T5597-99固体电介质微波复介电常数的测试方法》G16523《GB/T16523-96圆形石英玻璃光掩模基板规范》G16524《GB/T16524-96光掩对准标记规范》G16525《GB/T16525-96塑料有引线片式载体封装引线框架规范》G16526《GB/T16526-96封装引线间电容和引线负载电容测试方法》G16527《GB/T16527-96硬面感光板中光致抗蚀剂和电子束抗蚀剂规范》G16595《GB/T16595-96晶片通用网格规范》G16596《GB/T16596-96确定晶片坐标系规范》G16879《GB/T16879-97掩模嚗光系统精密度和准确度的表示准则》G16880《GB/T16880-97光掩模缺陷分类和尺寸定义的准则》G17564.1〈GB/T17564.1-98电气元器件的标准数据元素:定义-原则和方法〉G17564.2〈GB/T17564.2-2000电气元器件的标准数据元素:EXPRESS 字典模式〉G17564.3〈GB/T17564.3-99电气元器件的标准数据元素:维护和确认的程序〉G17564.4《GB/T17564.3-99电气元器件的标准数据元素:IEC标准数据元素》GJ360A《GJB360A-96电子及电子器件试验方法》GJ546A《GJB546A-96电子元器件质量保证大纲》GJ548《GJB548-96微电字器件试验方法和程序》GJ2823《GJB2823-97电子元器件产品出厂平均质量水平评定方法》GJ3404《GJB3404-98电子元器件选用管理要求》GJ4027〈GJB4027-2000军用电子元器件破坏性物理分析方法〉SJ11126《SJ/T11126-97电子元器件用酚醛系包封材料》SJ11153《SJ/T11153—99磁性氧化物制成的PQ磁芯尺寸系列》SJ11165《SJ/T11165—98用于光纤系统的PIN-FIT模块空白详细规范:》SJ11215《SJ/T11215-1999电子元件自动编带机通用规范》2.半导体器件标准G1553〈GB/T1553-97硅和锗体内少数载流子寿命测定〉G1555〈GB/T1555-97半导体单晶晶向测定方法〉G1558〈GB/T1558-97硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法〉G4023《GB/T4023-97半导体分立器件:整流二极管》G6217〈GB/T6217-98高低频放大环境额定的双极型晶体管:空白详细规范〉G6218〈GB/T6218-98开关用双极型晶体管:空白详细规范〉G6219〈GB/T6219-981GHz、5W以下的单栅场效应晶体管:空白详细规范:〉G6351〈GB/T6351-98100A以下环境或管壳额定整流二极管:空白详细规范:〉G6352〈GB/T6352-98100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管:空白详细规范:〉G6495.1〈GB/T6495.1-96光伏器件:光伏电流—电压特性的测量〉G6495.2〈GB/T6495.2-96光伏器件:标准太阳电池的要求〉G6495.3〈GB/T6495.3-96光伏器件:地面用光伏器件的测量原理〉G6495.4〈GB/T6495.4-96晶体硅光伏器件的I-V实测特性的修正方法〉G6495.5〈GB/T6495.5-97光伏器件:用开路电压法确定光伏器件的等效电池温度〉G6588 G6589《GB/T6589-2002半导体器件:调整二极管和电压基准二极管空白详细规范》G6590 G8646《GB/T8646-98半导体键合铝合金%硅细丝》G8750《GB/T8750-97半导体器件键合金丝》G7149〈GB7149~7150-87开关用双极型晶体管〉G7153《GB/T7153-2002直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器:总规范》G7576《GB/T7576-98高频放大管壳额定双极型晶体管:空白详细规范:》G7577《GB/T7577-96低频放大管壳额定双极型晶体管:空白详细规范:》G9535《GB/T9535-98地面用晶体硅光伏组件设计鉴定和定型》G11499《GB/T11499-2001半导体分立元件文字符号》G12560《GB/T12560-99半导体器件分立元件分规范》G12962《GB/T12962-96硅单晶》G12963《GB/T12963-96硅多晶》G12964《GB/T12964-96硅单晶抛光片》G12965《GB/T12965-96硅单晶切割片和研磨片》G16468《GB/T16468-96静电感应晶体管系列型谱》G16822《GB/T16822-97介电晶体介电性能的试验方法》G16894《GB/T16894-97大于100A,环境和管壳额定的整流二极管空白详细规范:》G17007《GB/T17007-97绝缘栅双极型晶体管测试方法》G17008《GB/T17008-97绝缘栅双极型晶体管的词汇及文字符号》G17169《GB/T17169-97硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法》G17170《GB/T17170-97非掺杂半绝缘砷化镓单晶红外吸收测试方法》G18904.1《GB/T18904.1-2002光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范》G18904.2《GB/T18904.2-2002光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范》G18904.3《GB/T18904.3-2002光电子器件显示用发光二极管空白详细规范》G18904.4《GB/T18904.4-2002光电子器件纤维光学系统用带/不带尾纤的Pin-FET模块空白详细规范》G18904.5《GB/T18904.5-2003光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范》GJ33A《GJB33A-97半导体分立元件总规范》GJ128A《GJB128A-97半导体分立元件试验方法》GJ3157《GJB3157-1998半导体分立器件失效分析方法和程序》GJ3519《GJB3519-99半导体激光二极管总规范》SJ10585《SJ/T10584—94半导体分立器件表面安装器件外形尺寸》SJ11225《SJ/T11225-2000电子元器件详细规范:3DA504型S波段硅脉冲功率晶体管》SJ11226《SJ/T11226-2000电子元器件详细规范:3DA505型L波段硅脉冲功率晶体管》SJ11227《SJ/T11227-2000电子元器件详细规范:3DA98型NPN硅高频大功率晶体管》SJ20756《SJ20756-1999半导体分立器件结构相似性应用指南》SJ20757《SJ20757-1999微波电路系列和品种微波开关系列的品种》SJ20744《SJ20744-1999半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则》SJ20782《SJ20782-2000充气整流管总规范》SJ20784《SJ20784-2000微型杜瓦总规范》SJ20785《SJ20785-2000超辐射发光二极管组件测试方法》SJ20786《SJ20786-2000半导体光电组件总规范》SJ20787《SJ20787-2000半导体桥式整流器热阻测试方法》SJ20788《SJ20788-2000半导体二极管热阻测试方法》SJ20789《SJ20789-2000MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法》J9684《JB/T9684-2000电力半导体器件用散热器选用导则》J10096《JB/T10096-2000电力半导体器件用管壳选用导则》J10097《JB/T10097-2000电力半导体器件用管壳》DB723〈电力半导体器件和半导体变流器标准〉(93电工版)103.50.00DB735〈电力半导体器件标准〉(93电工版)DB795〈电力半导体器件和整流设备标准(1)〉(94电工版) DB827〈电力半导体器件和整流设备标准(2)〉(95电工版) DB827〈电力半导体器件和整流设备标准(3)〉(96电工版) DB887〈电力半导体器件和整流设备标准(4)〉(97电工版) DB930〈电力半导体器件和整流设备标准(5)〉(98电工版) DB982〈电力半导体器件专业卷(1)〉(2000电工版)3.集成电路标准G4377〈GB/T4377-96半导体集成电路电压调整器测试方法和基本原理〉G5965〈GB/T5965-2000集成电路:双极型单片数字集成电路门电路空白详细规范〉G6798《GB/T6798-1996半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》G8976《GB/T8976-96膜集成电路和混合膜集成电路总规范》G9424《GB/T9424-98半导体器件集成电路:CMOS数字集成电路4000B和4000UB》G16464《GB/T16464-96半导体器件集成电路总则》G16465《GB/T16465-96膜集成电路和混合膜集成电路分规范》G16466《GB/T16466-96膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范》G16878《GB/T16878-97用于集成电路制造技术的检测图形单元规范》G17023《GB/T17023-97HCOMS数字集成电路系列族规范》G17024《GB/T17024-97HCOMS数字集成电路空白详细规范》G17572〈GB/T17572-99半导体CMOS集成电路:4000B和4000UB系列族规范〉G17573〈GB/T17573-99半导体分立元件和集成电路:总则〉G17574〈GB/T17574-99半导体分集成电路:数字集成电路〉G17940《GB/T17940-2000半导体集成电路:模拟集成电路》G18500.1《GB/T18500.1-2001半导体集成电路:线性数字/模拟转换器(DAG)》G18500.2《GB/T18500.2-2001半导体集成电路:线性模拟/数字转换器(ADC)》GJ597A《GJB597A-96半导体集成电路总规范》GJ3203《GJB3233-1998半导体集成电路失效分析程序和方法》SJ10741《SJ/T10741-2000半成品集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》SJ10804《SJ/T10804-2000半成品集成电路电平转换器测试方法的基本原理》SJ10805《SJ/T10805-2000半成品集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ20674《SJ20674-1998微波电路系列和品种微波信号检波器系列的品种》SJ20675《SJ20675-1998微波电路系列和品种微波固态噪声源系列的品种》SJ20676《SJ20676-1998通信对抗固态宽频带功率放大模块通用规范》SJ20677《SJ20677-1998微波集成PIN单刀开关模块通用规范》SJ20678《SJ20678-1998交换网络模块通用规范》SJ20679《SJ20679-1998通信用户接口模块通用规范》SJ20680《SJ20680-1998通信群路接口模块通用规范》SJ20711《SJ20711-1998分步投影曝光机通用规范》SJ20750《SJ20750-1999军用CMOS电路用抗辐射硅单晶片规范》SJ20758《SJ20758-1999半导体集成电路CMOS门阵列器件规范》SJ20759《SJ20759-1999混合集成电路系列与品种DC/DC变换器系列的品种》SJ20802《SJ20802-2001集成电路金属外壳目检标准》SJ20804《SJ20804-2001微波电路系列和品种微波衰减器系列的品种》4.集成电路卡标准G15694.2《GB/T15694.2-2002识别卡发卡者标识:申请和注册规程》G16649.1〈GB/T16649.1-96识别卡带触点的集成电路卡:物理特性〉G16649.2〈GB/T16649.2-96识别卡带触点的集成电路卡:触点尺寸和位置〉G16649.3〈GB/T16649.3-96识别卡带触点的集成电路卡:电信号和传输协议〉G16649.5《GB/T16649.5-2002识别卡带触点的集成电路卡:应用标识符的编号体系》G16649.6〈GB/T16649.6-2001识别卡:行业间数据元〉G16649.8《GB/T16649.8-2002识别卡带触点的集成电路卡:与安全相关的行业间命令》G16649.10《GB/T16649.10-2002识别卡带触点的集成电路卡:同步卡的电信号和复位应答》G16790.1《GB/T16790.1-97金融交易卡:卡的生命周期》G16791.1《GB/T16791.1-97金融交易卡:概念与结构》G17550.1〈GB/T17550.1-98识别卡光记忆卡:物理特性〉G17550.2〈GB/T17550.2-98识别卡光记忆卡:可访问光区域的尺寸和位置〉G17550.3《GB/T17550.3-98识别卡光记忆卡:光属性和特性》G17550.4《GB/T17550.4-2000识别卡光记忆卡:逻辑数据结构》G17551《GB/T17551-98识别卡光记忆卡一般特性》G17552《GB/T17552-98识别卡金融交易卡》G17553.1《GB/T17553.1-98识别卡无触点集成电路卡:物理特性》G17553.2《GB/T17553.2-2000识别卡无触点集成电路卡:耦合区域的尺寸和位置》G17553.3《GB/T17553.3-2000识别卡无触点集成电路卡:电信号和复位规程》G17554《GB/T17554-98识别卡测试方法》G18239《GB/T18239-2000集成电路(IC)卡读写机通用规范》SJ11166《SJ/T11166—98集成电路卡(IC卡)插座总规范》SJ11220《SJ/T11220-2000集成电路卡通用规范:卡片基本规范》SJ11221《SJ/T11221-2000集成电路卡通用规范:行业间交换用命令》SJ11222《SJ/T11222-2000集成电路卡通用规范:测试方法》SJ11230《SJ/T11230-2001集成电路卡通用规范:接口电路基本应用编程接口规范》SJ11231《SJ/T11231-2001集成电路卡通用规范:带触点的IC卡模块》SJ11232《SJ/T11232-2001集成电路卡通用规范:安全规范》CJ166〈CJ/T166-2002建设事业IC卡应用技术〉5.电容器与电感器标准G2693〈GB/T2693-2001电子设备用固定电容器:总规范〉G2900.16《GB/T2900.16-96电工术语:电力电容器》G3615《GB/T3615-99电解电容器用铝箔》G3616《GB/T3616-99电力电容器用铝箔》G5596〈GB/T5596-96电容器用陶瓷介质材料〉G5966〈GB/T5966-96电子设备用固定电容器:1类瓷介固定电容器〉G5967〈GB/T5967-96电子设备用固定电容器:1类瓷介固定电容器评定水平E〉G5968〈GB/T5968-96电子设备用固定电容器:2类瓷介固定电容器〉G5969〈GB/T5969-96电子设备用固定电容器:2类瓷介固定电容器评定水平E〉G6115.1《GB/T6115.1-98电力系统用串联电容器:总则》G6115.2《GB/T6115.2-2002电力系统用串联电容器:串联电容器组用保护设备》G6115.3《GB/T6115.3-2002电力系统用串联电容器:内部熔丝》G6261〈GB/T6261-98电子设备用固定电容器:额定电压不超过3000V的直流电容器〉G6262〈GB/T6262-98额定电压不超过3000V的直流云母固定电容器:评定水平E〉G6916〈GB/T6916-97湿热带电力电容器〉G7209《GB7209-87CD15型固定铝电解电容器》G7332〈GB/T7332-96电子设备用固定电容器第2部分:分规范〉G7333〈GB/T7333-96电子设备用固定电容器第2部分:空白详细规范:〉G7338〈GB/T7338-96电子设备用固定电容器第6部分:分规范〉G9324《GB/T9324-96多片式瓷介电容器》G9325《GB/T9325-96多层片式瓷介电容器:评定水平E》G11024.1《GB/T11024.1-2001标称电压1KV以上交流电力系统并联电容器:总则》G11024.2《GB/T11024.2-2001标称电压1KV以上交流电力系统并联电容器:耐久性》G11024.3《GB/T11024.3-2001标称电压1KV以上交流电力系统并联电容器:保护》G11024.4《GB/T11024.4-2001标称电压1KV以上交流电力系统并联电容器:内部熔丝》G14472《GB/T14472-98抑制电源电磁干扰用固定电容器:分规范》G14473《GB/T14473-98抑制电源电磁干扰用固定电容器:评定水平D》G16467《GB/T16467-96金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流片式固定电容器》G16512《GB/T16512-96抑制射频干扰固定电容器:总规范》G16513《GB/T16513-96抑制射频干扰固定电容器:分规范》G17206《GB/T17206-98固体与非固体电解质片式铝固定电容器》G17207《GB/T17207-98固体(MnO2电解质片式铝固定电容器:评定水平E)G17208《GB/T17208-98非固体电解质片式铝固定电容器:评定水平E》G17702.1〈GB/T17702.1-99电力电子电容器:总则〉G17702.2〈GB/T17702.2-99电力电子电容器:熔丝〉G17886.1《GB/T17886.1-99标称电压1KV及以下交流电力并联电容器:总则》G17886.2《GB/T17886.2-99标称电压1KV及以下交流电力并联电容器:试验》G17886.3《GB/T17886.3-99标称电压1KV及以下交流电力并联电容器:内部熔丝》G18504〈GB/T18504-2001管形荧光灯和其他放电灯线路用电容器:性能要求〉G18939.1《GB/T18939.1-2003微波炉电容器第1部分:总则》GJ63B《GJB63B-2001有可靠性指标的固定电解质钽电容器:总规范》GJ3516《GJB3516-99铝电解电容器:总规范》J1811《JB18911-92压缩气体标准电容器》DL840《DL/T840-2003高压并联电容器使用技术条件》DL842《DL/T842-2003低压并联电容器装置使用技术条件》DB802〈电力电容器标准(1)〉(94电工版)DB980〈电力电容器专业卷(1)〉(2000电工版)6.电阻器与电位器标准G7154.1《GB/T7154.1-2003直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器:限流用》G7154.2《GB/T7154.2-2003直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器: 加热元件用》G7154.3《GB/T7154.3-2003直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器:浪涌电流用》G7154.4《GB/T7154.4-2003直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器:敏感用》G10193《GB/T10193-97电子设备用压敏电阻器:总规范》G10194《GB/T10194-97电子设备用压敏电阻器:浪涌抑制型压敏电阻器》G10195《GB/T10195-97电子设备用压敏电阻器:碳化硅浪涌抑制型压敏电阻器》G10196《GB/T10196-97电子设备用压敏电阻器:氧化锌浪涌抑制型压敏电阻器》G15883《GB/T15883-95电子设备用膜固定电阻网络空白详细规范::评定水平E》G16515〈GB/T16515-96电子设备用电位器:分规范〉G17025《GB/T17025-97单圈旋转功率电位器分规范》G17026《GB/T17026-97单圈旋转功率电位器评定水平E》G17027《GB/T17027-97单圈旋转功率电位器评定水平F》G17028《GB/T17028-97单圈旋转低功率电位器评定水平E》G17029《GB/T17029-97单圈旋转低功率电位器评定水平F》G17034《GB/T17034-97低功率非线绕固定电阻器评定水平F》G17035《GB/T17035-97带散热器的功率型固定电阻器评定水平H》GJ601A《GJB601A-98热敏电阻器总规范》SJ10774《SJ/T10774-2000电子元器件详细规范:RT14型碳膜固定电阻器评定水平E》SJ10775《SJ/T10775-2000电子元器件详细规范:RT14型金属膜固定电阻器评定水平E》SJ10798《SJ/T10798-2000电子元器件详细规范:MF11型直热式温度系数热敏电阻器评定水平》SJ10799《SJ/T10799-2000电子元器件详细规范:MF53-1型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平E》SJ10872《SJ/T10872-2000电子元器件详细规范RJ15型金属膜固定电阻器评定水平E》SJ11113《SJ/T11113-1999电子元器件详细规范RJ型金属膜固定电阻器评定水平E》SJ11267《SJ/T11267-2002电子设备用压敏电阻器安全要求》SJ11255《SJ/T11255-2001叠层型片式电感器详细规范》SJ11267《SJ/T11267-2002电子设备用压敏电阻器安全要求》SJ20647《SJ20647-97铂热敏电阻器总规范》SJ20765《SJ20765-1999实验室用28Vd.c电感器总规范》7.液晶与电真空器件标准G4619《GB/T4619-96液晶显示器件测试方法》G2987〈GB/T2987-96电子管参数符号〉G3306《GB/T3306-2001小功率电子管电性能测试方法》G4597《GB/T4597-96电子管词汇》G6255〈GB/T6255-2001空间电荷控制电子管总规范〉G12852〈GB/T12852-2001磁控管总规范〉G12853〈GB/T12853-2001连续波磁控管空白详细规范:〉G18680《GB/T18680-2002液晶显示器用氧化铟锡透明导电玻璃》GJ616A《GJB616A-2001电子管试验方法》SJ198《SJ/T198-2001计数管总规范》SJ10157〈SJ/T10157-2001脉冲磁控管空白详细规范:〉SJ10732《SJ/T10732-2000电子管型号命名方法》SJ11082《SJ/T11082-2000电子管热丝或灯丝电流和电压的测试方法》SJ11152《SJ/T11152—99交流粉末致光显示器件空白详细规范:》SJ11246《SJ/T11246-2001真空开关用陶瓷管壳》SJ11248《SJ/T11248-2001液晶和固态显示器件:液晶显示(LCD)屏空白详细规范》SJ11260《SJ/T11260-2001真空开关管系列》SJ11261《SJ/T11261-2001真空开关管型号命名方法》SJ11249《SJ/T11249-2001计数管空白详细规范》SJ20023《SJ20023-2000行波管总规范》SJ20746《SJ20746-1999液晶材料性能测试方法》SJ20783《SJ20783-2000小型白炽灯泡总规范》8.压电陶瓷与石英晶体器件标准G2414.1《GB/T2414.1-98压电陶瓷材料性能试验方法:圆片径向伸缩振动》G2414.2《GB/T2414.2-98压电陶瓷材料性能试验方法:长条横向伸缩振动》G3241《GB/T3241—98倍频程和分数倍频程滤波器》G3353《GB/T3353-95人造石英晶体使用指南》G3388《GB/T3388-2002压电陶瓷材料型号命名方法》G3389.1《GB/T3389.1-96铁电压电陶瓷词汇》G3389.2《GB/T3389.2-99压电陶瓷纵向压电应变常数的静态测试》G3389.3《GB/T3389.3-99压电陶瓷居里温度TC的测试》G3389.6《GB/T3389.6-97压电陶瓷长方片厚度切变振动模式》G5593〈GB/T5593-96电子元器件结构陶瓷材料〉G6426〈GB/T6426-99铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法〉G6427〈GB/T6427-99压电陶瓷振子频率温度稳定性的测试方法〉G6628〈GB/T6628-96人造石英晶体制材〉G12273《GB/T12273-96石英晶体元件质量评定体系规范:总规范》G12864《GB/T12864-97电子设备用压电陶瓷滤波器质量评定:鉴定批准》G12865《GB/T12865-97电子设备用压电陶瓷滤波器质量评定:评定水平E》G16304《GB/T16304-96压电陶瓷电场应变特性测试方法》G16516《GB/T16516-96石英晶体元件质量评定体系规范:能力批准》G16517《GB/T16517-96石英晶体元件质量评定体系规范:鉴定批准》G16528《GB/T16528-96压敏电阻器用氧化锌陶瓷材料》G17190《GB/T17190-97电子设备用压电陶瓷滤玻器:总规范鉴定批准》SJ10707《SJ/T10707—96石英晶体元件—质量评定体系规范第二部分》SJ10708《SJ/T10708—96石英晶体元件—质量评定体系规范第三部分》SJ10709《SJ/T10709-96压电陶瓷蜂鸣片总规范》SJ11136《SJ/T11136-97电子陶瓷二氧化锆材料》SJ11199《SJ/T11199—99压电石英晶体片》SJ11210《SJ/T11210-1999频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和RL的测量方法》SJ11212《SJ/T11212-1999石英晶体元件参数的测量:激励电平相关性(DLD)的测量》SJ11224《SJ/T11224-2000电子元器件详细规范WIW141型螺杆驱动预调电位器评定水平E》SJ11256《SJ/T11256-2001有质量评定的石英晶体振荡器:总规范》SJ11257《SJ/T11257-2001有质量评定的石英晶体振荡器:分规范》SJ11258《SJ/T11258-2001有质量评定的石英晶体振荡器:空白详细规范》SJ20764《SJ20764-1999介电滤波器总规范》9.印制电路板与电连接器标准G1303.1《GB/T1303.1-98环氧玻璃布层压板》G1303.2《GB/T1303.2-2002对三聚氰胺树脂硬质层压板的要求》G1360〈GB/T1360-98印刷电路网格体系〉G4588.1〈GB/T4588.1-96无金属化孔单双面印制板分规范〉G4588.2〈GB/T4588.2-96有金属化孔单双面印制板分规范〉G4588.12《GB/T4588.12-2000预制内层层压板规范》G5130〈GB/T5130-97电气用热固性树脂工业硬质层压板试验方法〉G10244《GB10244-88电视广播接收机用印制板规范》G15157.2《GB/T15157.2-98基本网格2.54mm(0.1in)的印制板用两件式连接器》G16261《GB/T16261-96印制板总规范》G16315《GB/T16315-96印制电路用限定燃烧性的覆铜箔玻璃布层压板》G16317《GB/T16317-96多层印制电路用限定燃烧性的薄覆铜箔玻璃布层压板》G17562.1《GB/T17562.1-98频率低于3MHz的矩形连接器:有质量评定要求的连接器》G18334《GB/T18334-2001有贯穿连接的挠性多层印制板规范》G18335《GB/T18335-2001有贯穿连接的刚性多层印制板规范》G18381《GB/T18381-2001电工用热固性树脂硬质层压板规范:一般要求》G18501.1《GB/T18501.1-2001有质量评定的直流和低频模拟及处理用连接器:总规范》G18501.2《GB/T18501.2-2001有质量评定的圆形连接器分规范》GJ362A《GJB362A-96钢性印制板总规范》GJ2830《GJB2830-1997 挠性和刚性印制板设计要求》GJ2895《GJB2895-97碳纤维复合材料层合板和层合件通用规范》J8149.1〈JB/T8149.1-2000酚醛纸层压板〉J8149.2〈JB/T8149.2-2000酚醛棉布层压板〉SJ10715《SJ/T10715-96无金属化孔单双面印制板能力详细规范》SJ10716《SJ/T10716-96有金属化孔单双面印制板能力详细规范》SJ10717《SJ/T10717-96多层印制板能力详细规范》SJ10723《SJ/T10723-96印制电路辅助文件照相底版指南》SJ11171《SJ/T11171-98无金属化孔单双面碳膜印制板规范》SJ20439《SJ20439-94印制板组装设计要求》SJ20604《SJ20604-96挠性和刚挠印制板总规范》SJ20747《SJ20747-1999热固性绝缘塑料层压板总规范》SJ20748《SJ20748-1999刚性印制板及刚性印制板组件设计标准》SJ20749《SJ20749-1999阻燃性覆铜箔聚四氟乙烯玻璃布层压板详细规范》SJ20766《SJ20766-99面板型和印制线路型检测插口总规范》SJ20779《SJ20779-2000热固性绝缘塑料层压板试验方法》SJ20780《SJ20780-2000阻燃型铝基覆铜层压板规范》SJ20781《SJ20781-2000热固性绝缘塑料层压管、棒总规范》SJ20810《SJ20810-2002印制板尺寸与公差》LY1278〈LY/T1278-98电工层压木板〉。

元件封装库设计规范

元件封装库设计规范

文件编号:CHK-WI-JS-00制订部门:技术中心版本版次:A/0生效日期:2012-11-22受控印章:文件修ffiBt目录一、库文件管理41•目的42. 适用范围43. 引用标准44. 术语说明45.库管理方氏56.库元件添加逍程5二、原理图元件建库规范6 1•原理图元件库分类及命名62.原理图图形耍求73.原理图中元件値标注规剧8三、PCB对装建際规范81. PCBM装库分类及命名92. PCB封装图形8*11四、PCBS装焊盘设廿规范111 •通用要求112. AI元件的封装gtm3. DIP元件的封装Sit 124. SMT元件的封装设it 125. 特殊元件的封装设it 131.目的《元件器討芸库设it 规范》(以卞简祢《规范》)力电路元件库、对装库设it 规范文甘。

本文档规 定设it 中需要注恿的一些事坝,目的是便设廿规范化,并通过垢经验固化力规范的方式,为企业内所 有设itiSIO 整、规范、统一的电子元器件图形符号相封装库,U 而实现节省设计时间,编现严品 研发周期,I?低设计差缁率,提高电路设廿水平的目的。

2•埴用范围适用于公司内部研发、生严等各环节中绘制的电子电路原理图、电路板图。

3・引用标准3.1•采用国际电气制图林旌和国家军用规范 3.2. GB/T4728-2007《电气简图用图形符号》 3.3. GB/T7092-1993《半导体集成电路外形尺寸》 3.4. GB7581-1987《半导U 分立器件外形尺寸》3.5. GB/T 15138-1994《膜集成电路和視合集成电路外形尺寸》 3.6. GJB3243-1998《电子元器件表面安装要求》3.7. JESD30-B-2006《半导体器件計装的描述性指定系统》 38 IPC-7351A-2005《表面安装设计和焊盘图形标准的通用要求》4.4. description 简要描述4.5. Component Tpye 器件类璽 4.6. Footprint 真正库封装名称4.7. SorM Footprint 标准或厂家用对装名称 4.8. Footprint path 封芸库路径 4.9. Value 标注4.10. PCB3D 3D 图形名称 4.11. PCB3D path 3D 库路径 4.12. Availability 库存量 4.13. LT 供货期 4.14. Supplier 生产商 4.15. Distributer 舗售商 4.16. Order Information ij 货号 4.17. ManufacturerP/N 物 fl 编码 4.18. RoHS 是否无舟4.19. UL 是否U LUli (尽量加人UL 号) 4.20. Note 备注4.21. SMD: Surface Mount Devices/表面貼装元件° 4.22. RA : Resistor Arrays/排田 °4.23. MELF : Metal electrode face components/金属电机无引找端面元件. 4.24. SOT: Small outline transistor/小外形晶U 管。

Cadence元件库介绍

Cadence元件库介绍

Cadence ORCAD CAPTURE元件库介绍-Cadence OrCAD Capture 具有快捷、通用的设计输入能力,使Cadence O rCAD Capture 线路图输入系统成为全球最广受欢迎的设计输入工具。

它针对设计一个新的模拟电路、修改现有的一个PCB 的线路图、或者绘制一个HDL 模块的方框图,都提供了所需要的全部功能,并能迅速地验证您的设计。

OrC AD Capture 作为设计输入工具,运行在PC 平台,用于FPGA 、PCB 和C adence? OrCAD? PSpice?设计应用中,它是业界第一个真正基于Windows 环境的线路图输入程序,易于使用的功能及特点已使其成为线路图输入的工业标准。

本文介绍在Cadence OrCAD Capture 设计的时候,在不同的元件库中,包含的元件资料,都是介绍Cadence OrCAD Capture 本身自带的元件库,所以大家在自己的软件中,都可以看到,方便的选择自己的元件了AMPLIFIER.OLB共182个零件,存放模拟放大器IC,如CA3280,TL027C,EL4093等。

ARITHMETIC.OLB共182个零件,存放逻辑运算IC,如TC4032B,74LS85等。

ATOD.OLB共618个零件,存放A/D转换IC,如ADC0804,TC7109等。

BUS DRIVERTRANSCEIVER.OLB共632个零件,存放汇流排驱动IC,如74LS244,74LS373等数字IC。

CAPSYM.OLB共35个零件,存放电源,地,输入输出口,标题栏等。

CONNECTOR.OLB共816个零件,存放连接器,如4 HEADER,CON AT62,RCA JACK等。

COUNTER.OLB共182个零件,存放计数器IC,如74LS90,CD4040B。

DISCRETE.OLB共872个零件,存放分立式元件,如电阻,电容,电感,开关,变压器等常用零件。

电子元器件的质量标准及检验方法

电子元器件的质量标准及检验方法

电子元器件的质量标准及检验方法电子元器件作为电子产品的重要组成部分,其质量标准和检验方法的准确性和严格性直接影响到整个电子产品的质量和可靠性。

本文将介绍电子元器件的质量标准及常用的检验方法。

一、电子元器件的质量标准电子元器件的质量标准主要包括以下几个方面:1. 外观标准:电子元器件的外观应无明显的划痕、氧化、损坏等不良现象,并且应符合制造商提供的样品、图纸和规范要求。

2. 尺寸标准:电子元器件的尺寸应符合制造商提供的图纸和规范要求,如焊盘大小、引脚间距、外壳大小等。

3. 材料标准:电子元器件的材料应符合相关标准和要求,如导电材料的电导率、介质材料的绝缘强度等。

4. 结构标准:电子元器件的结构应符合相关标准和要求,如通孔的位置和数量、引脚与焊盘的连接方式等。

5. 功能标准:电子元器件的功能应符合相关标准和要求,如电容器的电容值、电阻器的阻值、二极管的正向电压等。

二、电子元器件的检验方法电子元器件的质量检验是确保产品质量的重要环节,以下是常用的几种电子元器件的检验方法:1. 外观检验:用肉眼检查电子元器件的外观,包括是否有划痕、氧化、变形等不良现象。

2. 尺寸检验:使用量规、卡尺等工具测量电子元器件的尺寸,与制造商提供的图纸和规范要求进行比对。

3. 材料检验:通过仪器测量材料的物理、化学性质,如电导率、绝缘强度等。

4. 结构检验:对电子元器件的结构进行检验,如通孔的位置和数量、引脚与焊盘的连接方式等。

5. 功能检验:使用相应的测试仪器对电子元器件的功能进行测试,如电容器的电容值、电阻器的阻值、二极管的正向电压等。

6. 可靠性测试:对电子元器件进行各种可靠性测试,如高温、低温、湿热、振动等环境试验,以评估元器件在各种工作条件下的可靠性。

以上只是电子元器件质量检验的一部分方法,不同的元器件类型和制造商可能有不同的检验要求和方法。

在实际工作中,还需要参考相关的标准和规范,以确保检验过程的准确性和可靠性。

总结电子元器件的质量标准及检验方法是确保电子产品质量和可靠性的重要保证。

原理图元件库编辑

原理图元件库编辑
原理图元件库编辑
原理图元件库编辑是电子设计过程中非常重要的一环。本节将介绍元件库编 辑的定义、步骤、常见问题和解决方法,以及提高工作效率的技巧和注意事 项。
定义与重要性
原理图元件库编辑是指在电子设计软件中编辑和管理电子元件的数据库。它 的重要性在于准确和高效地创建和使用元件,从而提高设计质量和工作效率。
总结与结论
原理图元件库编辑是电子设计中不可或缺的步骤,正确和高效地进行元件库编辑可以提高设计质量和工作效率。 借助最佳实践和技巧,设计工作将更加顺利和愉快。
提高工作效率的案例
优化工作环境
创建舒适和高效的工作环境,减 少干扰和浪费的时间。
任务管理
使用任务管理工具和方法,合理 安排工作和提高效率。
时间管理
有效利用时间,设置合理的工作 时间表和优先级。
注意事项和常见误区
数据准确性
确保元件参数的准确性和与设计需求的匹配。
元件一致性
保持元件库中元件的一致性,避免重复和混淆。编辑 Nhomakorabea骤和工具
步骤一
分析设计需求,确定所需元件类型和参数。
步骤三
验证元件的正确性和可用性。
步骤二
使用元件编辑工具创建新元件或修改现有元件。
常用工具
常见的元件库编辑工具包括电子设计软件的内 置编辑器和第三方元件库管理工具。
常见问题及解决方法
1 问题一
元件参数错误或不完整。
3 问题二
元件库缺少特定类型的元件。
2 解决方法
仔细核对元件参数,并参考相关规范和数据 手册。
4 解决方法
使用元件编辑工具创建新的元件,或从可靠 的供应商网站下载符合要求的元件。
最佳实践和技巧
标准化
制定元件库标准,包括命名规 范、参数设置和元件分类。

关键元器件进货检验标准

关键元器件进货检验标准

江门市伊科迈特电子科技有限公司关键元器件进货检验标准文件号:SL-JY-03 版本号:A/1一、检测项目及要求:1 带插头电源线、内部线1.1外观、标志、一致性:电源线、内部线、插头应有齐全的型号规格参数、认证标志、制造厂名或代号等标志,并应清晰、正确,符合认证产品一致性要求;外表面洁净、色泽均匀、无污垢斑点、等现象,绝缘层无破损,线尾接插端子型号规格符合一致性要求。

1.2电气强度:把电线浸入水中,任两极之间施加2500V的电压、历时3s,无击穿、闪络现象,设备的整定电流为5mA。

1.3尺寸、结构:测量每根线芯的直径,乘以线芯根数换算成的总截面积,偏差应在标称值的±0.02 m㎡,长度符合图纸或封样要求,用万用表电阻档测试,线体无断路。

1.4网上查询证书有效性。

2 微动开关、设备用断路器2.1 外观、标志:外观整洁干净无破损无污迹,连接件无锈蚀、毛刺以及变形;型号参数及制造商信息清晰、正确,符合订单要求和认证产品一致性要求。

2.2 耐压:在导电连接件和外壳之间施加2000V/10s应无闪络击穿。

2.3尺寸、性能:尺寸符合要求,试装与相关连接件连接牢固,不松脱;用万用表的电阻档检测,通断状态符合要求。

2.4网上查询其证书有效性。

3 单相串励电动机3.1 外观、标志:电机表面光亮,电机表面叠片层无碰凹无划伤,转动轴平直,无碰撞痕迹;型号参数及制造商信息清晰、正确,符合订单要求和认证产品一致性要求。

3.2 耐压:电源任一极与可触及金属部件间加AC1250V/1min 10mA无击穿无飞弧。

3.3尺寸、结构:尺寸符合要求,试装与配合件连接牢固,位置贴合,不松脱,轴体转动顺畅;所配热保护器的生产厂、型号规格、参数符合一致性要求。

3.4网上查询其证书有效性。

4 控制板4.1外观、标志:电控制板正反表面无划伤,污迹;正面元件排列整齐,焊点光亮、无连焊和虚焊;型号符合一致性要求。

4.2 性能及一致性:在试验样机上试用,功能应符合整机性能要求,抗干扰电容、熔断体等关键件符合一致性要求,且证书处于有效状态。

PDMS管道元件库及等级库介绍

PDMS管道元件库及等级库介绍
PDMS管道元件库及等级库介绍
¨ (1)显示元件 * 确认SCOM FAEA200HH为当前元件, 点击Display>Component. 因为还没有建立点集和型集,图形中只缺 省显示X、Y、Z轴 * 将Ppoints框选中
PDMS管道元件库及等级库介绍
PDMS管道元件库及等级库介绍
(2) 确认PTSE->FAEA200HH为当前元素 Creat>Point Set>Primitives>Axial P-point(PTAX)
原则:力求形似,比例协调
PDMS管道元件库及等级库介绍
7. 生成材料描述
(1)生成SECTION /TRAIN-MATERIAL,用于存放 材料描述
(2)Creat>Material text
PDMS管道元件库及等级库介绍
6. 生成元件描述文字
用于描述元件的几何形状和特征,在生成等级,生 成材料报表都要用到。 在CATE /FAEA200HH层次下面,生成详细描述 Creat->Detail text
¨ 点集可以被不同直径的一类管件或几类管件共用, 这意味着每一个P-point点相对管件原点的位置必 须是可变的,在这里就要用到之前输入的参数。
PDMS管道元件库及等级库介绍
点集的生成规则
– P0 自动定义为元件的定位点(origin) – P1 元件的入口点 – P2 元件的出口点 – P3 3-Way元件的分支点或阀门的手轮方向
PDMS管道元件库及等级库介绍
¨ 采用编码系统的优点
* 通过有意义的命名为设计带来方便 * 通过命名可以很容易在PDMS层次结构中定位,查找 元件
* 避免重名
* 在管道元件库中,重要的是元件命名和连接 形式代码

标准单元库设计流程

标准单元库设计流程

标准单元库设计流程标准单元库是一个关键的设计资源,用于存储和提供可重复使用的电子元件和电路布局。

设计高质量的标准单元库是实现电子设计自动化的关键步骤之一。

下面是标准单元库设计的流程:1. 确定需求:确定标准单元库的目标应用和功能需求。

这需要与设计团队和使用者合作,明确库中元件的类型、性能要求和特性。

2. 元件选择与整理:根据所需功能和性能,从现有的元件库中选择适合的元件,或者根据需要,由设计团队开发新的元件。

对于每个选择的元件,进行完整的整理和记录,包括元件的参数、特性和模型。

3. 元件建模:对于每个选择的元件,进行精确的数学建模和电路仿真。

这些模型可以用于后续的电路设计和验证过程。

4. 元件验证:通过电路仿真和实际的电路测试,验证所选元件的准确性和可靠性。

这些验证步骤有助于评估所选元件是否满足标准单元库的设计要求。

5. 标准单元设计:根据需求,将验证通过的元件组合成标准单元,如逻辑门、存储器单元等。

设计过程需要考虑元件的连接方式、性能和功耗等因素。

6. 标准单元验证:使用标准单元进行电路仿真和测试,以确保设计的正确性和可靠性。

验证过程包括验证标准单元的电气特性和工作在不同工艺、温度和电压条件下的可靠性。

7. 文档编写:为标准单元库中的每个元件和标准单元编写详细的文档。

文档应包括元件或标准单元的规格、特性、接口和使用方法等信息。

8. 批量生产:当标准单元库得到验证并且每个元件和标准单元都有适当的文档时,可以进行批量生产。

生产包括制造所需的芯片和电路板,并对其进行测试和质量控制。

9. 更新和维护:随着技术的进步和新的需求出现,标准单元库需要定期更新和维护。

这包括添加新元件、修改现有元件的参数以及更新文档和验证流程。

以上是标准单元库设计的流程。

通过按照这个流程进行,可以确保标准单元库的质量和可重复使用性,提高电子设计的效率和准确性。

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0.65 0.50 0.40
7.10 7.10 7.10
14 14 14
Note: An Odd Pin Qty = Thermal Tab in Center
P
L
LAND PATTERN NAMING CONVENTION
SOP = Small Outline Package Pitch = Two places past both sides of the decimal point followed by a “P” (50P = 0.50mm)
LAND PATTERN ORIGIN
The land pattern origin is the component “Center of Gravity” so in most cases it’s the Center of the library part. An example of where it’s not the center is the DPAK or TO-252 component.
PLACEMENT COURTYARD
The primary use of the placement courtyard was to provide the PCB designer a guideline for placing land patterns next to each other with enough room to compensate for component tolerances.
G
HEEL
G Z
TOE
SIDE
Z
Explain LP Calculator Min / Max for “T” & impact on “G”
SOLDER JOINT ANALYSIS
Solder Joint Toe, Heel and Side Goal
The chart below provides an example of the Gull Wing component lead Solder Joint Goal
JEDEC Component Lead Forms
SOLDER JOINT TOLERANCE
Component Lead Space Tolerance
This Solder Joint Tolerance is for the inside dimension between the component terminal. It is normally represented by the “S” symbol. This is used to calculate the “HEEL” solder joint.
STANDARDS ORGANIZATIONS
World Standard CAD Library
LAND PATTERN NAMING CONVENTION
Family SO SOP Pitch 1.27 0.80 Lead Span 7.10 7.10 Pin Qty 14 14
SOP SOP SOP
SOLDER JOINT ANALYSIS
Solder Joint / Land Protrusion
MANUFACTURING TOLERANCE

Fabrication Tolerances Assembly Tolerances Component Terminal Tolerances
Presented By: Tom Hausherr
Director of Technology PCB Libraries, Inc.
Tom.Hausherr@
INTRODUCTION
Every electronic component requires a solder land pattern for PCB layout. The solder pattern can be placed into two categories….. 1. Meet all the industry standard requirements for the sole purpose of electronic product automation.
The silkscreen can be drawn by the PCB designer very complex to illustrate their creative talent or very simple. In the end, it really doesn’t matter because you can only see it when the physical PC board passes between the fabrication facilities to the assembly shop. Once the parts are assembled, all the silkscreen outlines are covered up and cannot be seen. When PCB designers start to use all the principles discussed in this outline, the manufacturing assembly process can be fully automated and silkscreen component outlines will not be required.
Describe “Duplication” of Fabrication Tolerance
Solder Joint Goals
ZERO COMONENT ORIENTATION


The Component Zero Orientation relates to the Pick & Place machine tape and reel and component tubes. The rotation of the actual component in the tube or tape & reel is referred to as the Zero Orientation for the CAD Library part and how it should be built in the CAD library. All CAD Library parts should be built in the CAD system in the same rotation that the component is packaged in the tape and reel or assembly feeder tube. The JEDEC JEP95 & EIAJ 481 are the industry guidelines for component packaging information and Component Zero Orientation.
The CAD Library of the Future
What PCB Designers need to know about building CAD Library Parts that will help automate the future of all Electronic Product Development
ZERO COMONENT ORIENTATION
1 2
1) Chip Capacitors, Resistors and Inductors – Pin 1 on Left 2) Molded Capacitors, Resistors and Inductors – Pin 1 (Positive or Cathode) on Left 3) MELF Resistors and Diodes – Pin 1 (Positive or Cathode) on Left 4) SOT Devices (SOT23, SOT223, SOT89, SOT143) – Upper Left 5) TO252 & TO263 (DPAK Type) Devices – Upper Left 6) Small Outline Gullwing ICs (SOIC, SOP, TSOP, SSOP) – Upper Left 7) Ceramic Flat Packs (CFP) – Pin 1 Upper Left 8) Small Outline J Lead ICs (SOJ) – Pin 1 Upper Left 9) Quad Flat Pack ICs (PQFP, SQFP) – Pin 1 Upper Left 10) Ceramic Quad Flat Packs (CQFP) – Pin 1 Upper Left 11) Bumper Quad Flat Pack ICs (BQFP) – Pin 1 Top Center 12) Plastic Leaded Chip Carriers (PLCC) – Pin 1 Top Center 13) Leadless Chip Carriers (LCC) – Pin 1 Top Center 14) Quad Flat No-Lead ICs (QFN) – Pin 1 Upper Left 15) Ball Grid Arrays (BGA) – Pin A1 Upper Left
2. Fail to meet the industry standard requirements and create electronic product creation chaos.
INTRODUCTION
The CAD Library of the Future will be a “One World Standard Library” that will be accepted by the electronics industry to eliminate duplication of effort and automate all of the engineering, PCB design layout, and the manufacturing and assembly processes. The following pages explain the criteria needed to create “The CAD Library of the Future”. But first, let’s meet the key players whose goal is to standardize the electronics product development industry.
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