LCR及阻抗仪测试参数

（整理）LCR测试仪的说明.

8. Hioki 3532-50
Hioki，日置是日本一家非常出名的测试厂商，提供颇为广泛的产品。其生产的LCR HiTESTER系列涵盖了1kHz~120MHz的测试频率范围，除了1kHz的型号3511-50以外，其余型号均提供触摸面板。3532-50在本次对比中提供了最高的测试速度200 次每秒，但测试范围也是本次对比中最差的，详情可看附表。
Chenhwa 3305自动变压器测试仪/零件分析仪，除了提供变压器扫描的测试功能外，也提供LCR Meter功能，可应用於各式零件之进出料检验，研发分析或生产线自动化应用。提供用于良品/不良品判定，10 级分类及总合计数的输出接口HANDLER。提供高达100k的损耗因数D和品质因数Q的测试，并提供 0.01m~100M直流电阻测试功能。 Chroma，中茂或致茂电子，虽不是通用仪器制造商，但在生产测试方面却广有涉猎，并均有建树。其在Chenhwa 3302的基础上做了如下改进，使得该机型适用范围更广。
7. Quadtech 7600
Quadtech是一家提供安规和被动元件测试解决方案的厂商，始创于1991年，创始人Phil Hiarris买下了著名ICT厂商GenRad的精密仪器部门，GenRad后来被Terryda收购。7600测试频率高达2MHz，标准测试电压高达5V，损耗因数低至0.1u，品质因数0.1u~1M，为本次对比中最佳。也提供图形化显示。
6. Wayne kerr 6440B
Wayne kerr是全球有名的元器件测试仪器制造商，LCR尤其出名。Wayne kerr 总部位于伦敦，其产品有个特点，性能十分出众，价格卓越不群。由其生产的423x系列口碑十分的好，4239的测试频率更是高达10MHz，但不知何故官方网站现在不见这个系列的踪影。现在能见到的最好产品就是6440B，频率到3MHz，基本精度0.2%，为本次对比中最好。支持直流电阻测试。

LCR及阻抗仪测试参数

LCR表及阻抗分析仪的测量参数
测量参数|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,Cp,Cs,Lp,Ls,Rp,Rs,D,Q
1)阻抗Z = R + jX = |Z|∠θ
2)R: 称为电阻定义为：电压相量与电流相量之比，是一个复数。

X: 电抗
XL= 2πfL = ωL 电感的电抗
XC= 1/2πfC = 1/ωC 电容的电抗
3)/Y/: (导纳) G:(电导) B:(电纳)
4)Y=G+jB 这个是阻抗并联测量的一种表达方式
电容的电纳Bc=2πfC 电感的电纳BL= 1/2πfL
5)θ:电角度
6)Q:(品质因数)Q =存储能量/损失能量=XS/RS
7)D:(损耗因数) D=1/Q
8)Cs:串联电容Cp:并联电容低阻抗装置大电容,小电感(使用串联)
9)Ls:串联电感Lp:并联电感高阻抗装置小电容,大电感(使用并联)
10)Rp Rs
11) 介电常数测量:
介电常数推导：C=介电常数S/4K∏T
介电常数=C*4K∏T/S
12)磁导率测量:
其中Z*res:为剩余阻抗
Zm:有被测物的测量阻抗
Zsm:无被测物的测量阻抗
U0: 初始磁导率
h; 磁环高度
c;磁环外径。

b;磁环内径
测试夹具：16454A。

LCR 表、阻抗分析仪和测试夹具

自动平衡桥法 I-V 法
射频 I-V 法
阻抗测量范围 (Ω)
测量频率范围 (Hz) 图 1. 阻抗分析仪 /LCR 表的阻抗测量技术
表 1. 阻抗测量产品类型
产品要点扫频测量能力
显示屏其他
优势
LCR 表点 / 列表
只有数字显示方式机械手接口 , 比较器
低成本解决方案 , 容易使用 , 测试速度快
● 用 42941A 阻抗探头可以进行在线器件或接地器件的测量
● 7-mm 射频测试夹具与 42942A 端子适配器
● 内置的 LAN 接口
● 测量参数 : |Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q ● 内置直流偏置 (0 至 ±40 V，最大值 ±100 mA)
4
网络分析仪
E5061B 低频 - 射频网络分析仪LCR 元件Fra bibliotekABB
LCR 元件、材料测试
和半导体测试
ABB
LCR 元件、材料测试
和半导体测试
ABB
LCR 元件、变压器
ABB
MLCC
1. 基本阻抗精度是仪表工作在最佳状态下的值 , 会随测量条件的改变而改变，详细信息需要阅读具体产品的技术资料。
2. 只针对电容的测量 3. 阻抗测量精度为 10% 的测试范围。
● 选件 005 作为入门级型号，除了测量时间不同外 ( 速度较慢 )，其他特性与基本型一样
● 选件 201 和 301 分别增添了机械手接口和扫描仪接口
● 在测试功率电感器和变压器时，应选择使用选件 002、 42841A 和 42842A/B，以实现 20 A 直流偏置电流 1
● 测量参数: |Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q，选件 001 添加了 Rdc、Idc 和 Vdc。

使用 LCR 表和阻抗分析仪测量介电常数和导磁率的决方案

κ* =
ε*r
=
ε* ε0
= ε'r - j ε"r =
ε' ε0
-j
ε" ε0
实部
虚部
ε"r
ε*r
tan δ =
εr" 虚部 εr' 实部
δ
ε'r
tan δ = D (损耗系数)
κ* = 介电常数
ε = * 复数相对介电常数 r
ε = 0
自由空间介电常数
1 36π
X 10-9 [F/m]
图 1. 相对复数介电常数 (εr*) 的定义。
8.854 x 10-12 [F/m]
A.1.4. 主要技术指标 ........................................................................................... 22
A.1.5. 操作方法 ....................................................................................................23
A.1.6. 特殊考虑事项 ........................................................................................... 23
参考文献 ........................................................................................................................... 24

LCR测试基础

LCR测试基础阻抗测量基础一．元件阻抗的测量我们日常使用或工厂生产的无源元件（主要指各种电感、电容、电阻）均标有一定的数值，从使用的角度说已确定了该元件的数值（标称值），实际上存在下列三个因素需要对元件进行测量：电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、损耗D、品质因素Q、相位角θ。

仪器测量时并不直接测量某单个参数，而是测量复阻抗，然后按照其相互关系转换成所需测量Edut×Rs----------------------------------------------------（4）将式（3）代入式（2）得：Zx=?Err这里，Err，Edut均为矢量。

令Edut=V0+jV1，Err=V2+jV3--------------------------------------------------------（5）将式（5）代入式（4）可得：Zx=?V0V2+V1V3V0V3?V1V2Rj+Rs----------------------------------------------------（6）sV22+V32V22+V32比较式（6）与式（1）可得到：Rx=?V0V2+V1V3Rs--------------------------------------------------------------------------------（7）22V2+V3V0V3?V1V2Xx=Rs----------------------------------------------------------------------------------（8）22V2+V3式（7）与（8）即为所需的阻抗参数。

2 阻抗测量基础各类仪器测试电路的实际配置会有很大不同。

宽带高精度LCR表和阻抗分析仪所使用的I-V转换器包括复杂的null检波器、相位检波器、积分器和矢量调制器，以保证在宽频率范围内的高精度。

使用 LCR 表和阻抗分析仪测量介电常数和导磁率的决方案

– 频率范围宽: 从 20 Hz 到 1 GHz – 测量精度高 – 测量的准备工作非常简单 (材料制
备、测量设置)
本指南首先在第 2 部分介绍介电常数的测量方法、测量系统和解决方案，而后在第 3 部分介绍导磁率的测量方法、系统和解决方案，最后在附录中说明适用于液体的电阻率测量系统和导磁率测量系统。
1. 引言
近年来，电子设备技术获得了蓬勃发展，而这也使得电子元器件的材料特征成为决定电路特性的关键因素。例如，在制造数字 (媒体) 设备中常用的高容量多层片式陶瓷电容器 (MLCC) 时，必须要采用高 κ 值 (介电常数) 材料。此外，在选择材料之前还必须执行各项电气性能验证，例如频率和温度响应。
3.2. 电感测量法 ......................................................................................................... 17
3.3. 导磁率测量系统 .................................................................................................. 18
表 1. 介电常数和导磁率参数的测量技术和测量方法
测量参数
测量技术
阻抗分析
介电常数
导磁率
阻抗分析网络分析
测量方法平行板法 S 参数腔体真空电感反射波 S 参数腔体
04 | Keysight | 使用 LCR 表和阻抗分析仪测量介电常数和导磁率的解决方案－应用指南
2. 介电常数测试
2.1. 介电常数的定义
3.4. 使用 16454A 磁性材料测试夹具的测量系统 ..................................................... 18

LCR测量仪

LCR测量仪LCR测试仪能准确并稳定地测定各种各样的元件参数，主要是用来测试电感、电容、电阻的测试仪。

它具有功能直接、操作简便等特点，能以较低的预算来满足生产线质量保证、进货检验、电子维修业对器件的测试要求。

目录测试原理测量步骤测试原理Vx与Vr均是矢量电压表，Rr是理想电阻。

自平衡电桥的意思是：当DUT(Device Under Test)接入电路时，放大器的负反馈配置自动使得OP输入端虚地。

Vx准确测定DUT两端电压（DUT的Low电位是0），Vr与Rr测得DUT电流Ix，由此可计算Zx。

HP4275的测试端Hp,Hc,Lp,Lc（下标c代表current, 下标p代表Potentail)，Guard（接地)的配置可导致测试的误差的差异。

提高精度的方法是:1、Hp,Lp,Hc,Lc尽量接近DUT;2、减小测试电流Ix的回路面积amp;磁通量（关键是分析Ix，要配合使用Guard与Cable最小化回路面积);3、使用Gurard与Cable构建地平面中断信号线间的电场连接，虽然会增加信号线的对地电容（对地电容不影响测试结果），但是会减少信号线的互容。

Guard与Cable的对地寄生阻抗（Zhg,Zlg) 不影响测试结果，电桥平衡时Zlg的两端电压是0，流向Rr的电流不会被Zlg分流，Zhg的分流作用不影响Hp的电压测量。

测量步骤LCR测试仪一般用于测试电感和电容。

测量步骤如下：设置测试频率测试电压或者电流水平选择测试参数，比如Z、Q、LS（串联电感）、LP（并联电感）、CS(串联电容）、CP（并联电容）、D等仪器校准，校准主要进行开路、短路校准，高档的仪器要进行负载校准选择测试夹具夹具补偿将DUT放在夹具上开始测试。

交流阻抗参数的测量实验报告

交流阻抗参数的测量实验报告一、实验目的1、掌握阻抗参数的概念。

2、熟悉阻抗测量仪的使用方法。

3、掌握LCR阻抗测量中的三种方式，分别为串联方式、并联方式、单独测量方式。

4、学会理论电路和实际电路之间的对应关系，并通过电路分析图来理解阻抗的物理意义。

5、了解阻抗测量在实际应用中的真正重要性，并获取实际中的使用经验。

二、实验原理阻抗参数是指电路对交流信号的阻力和抵抗，即电路通过该电路的电流与电压大小的比值。

在进行LCR阻抗测量时，实验人员需要将LCR阻抗测量仪连接到待测试的电路上，通过测量不同电路的电压，测量仪能够产生一个电路阻抗的详细图像。

3、LCR阻抗测量的三种方式：a、串联方式：在串联方式下，测量仪会分别测量电路上的电压和电流；c、单独测量方式：在单独测量方式下，实验人员可以依次测试电路中的电抗、电阻和电容。

阻抗测量实验通过分析电路分析图来理解阻抗的物理意义。

在电路分析中，虚数分析是不可或缺的一部分，可以安全地应用于任何阻抗电路中。

在现实世界中，许多电路是由多个组件组成的复杂电路。

通过阻抗测量的分析，我们可以更好地了解和掌握电路的功能和性能。

如在分析天线在特定频率范围内的发射和接收能力时，就需要进行阻抗测量分析。

三、实验仪器和设备2、交流电源3、待测试的电路4、万用表五、实验步骤1、使用万用表对待测试电路的主要参数进行测量。

3、通过交流电源对待测试电路加以激励，记录电路各处的电压波形。

4、通过LCR阻抗测量仪对待测试电路测量得到的数据进行分析，并绘制出待测试电路的阻抗分析图。

5、在电路分析图的基础上，对电路的性能和功能进行深入讨论。

六、实验结论通过本次阻抗测量实验，实验人员可以更深入地了解电路阻抗的概念和测量方法，同时也可以更好地掌握阻抗测量仪的使用方法。

通过分析待测试电路的阻抗分析图，可以更好地了解电路的性能和功能，为电路设计和优化提供相关的参考和指导。