仪器设备台账模板.

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仪器设备台帐

序号设备名

称

设

备

编

号

型号规格

数量

（台）

出厂时

间

生

产厂名

技术资料

1 原子荧光

光度计

(AFS

JC-

AFS-3100 1

2008-4-

北京科创

海光仪器

有限公司

精密度≤2%，

检出限≤0.09ug/L。

2 原子吸收

分光光度

计(AAS

JC-

WFX-310 1

2006-10-

北京瑞利

分析仪器

公司

190nm—900nm，不确定度

RSD≤1%。

3 原子吸收

分光光度

计(AAS

JC-

WFX--320 1

2006-3-

北京瑞利

分析仪器

公司

测量波长范围：190nm—

900nm，不确定度

RSD≤1%。

4 电感等离

子发射光

谱仪

(ICP-OES

JC-

ICP Optimal

2100DV

2008-7-

美国铂金

埃尔默公

司

测量波长范围：190nm—

900nm；分辨率：200nm处

0.003nm。

5 电感耦合

等离子体

质谱仪

(ICP-MS

JC-

Nexion300Q 1

2011-9-

美国铂金

埃尔默公

司

1.质量数范围：3-

280amu。 2.灵敏度：低质

量数59Co:> 50 M

cps/ppm；中质量数 115

In:>80M cps/ppm；高质量

数 238U:> 80 Mcps/ppm。

3.检测限：低质量数元素

Co（59）:<5ppt；中质量

数元素In (115:< 0.5

ppt。4.不确定度

RSD≤3%。

6 平面光栅

摄谱仪

（ES）

JC-

WSP—1型 1

1978-12-

北京光学

仪器厂

测定波长范围：200nm—

400nm，光谱定量、半定量

分析

7 平面光栅

摄谱仪

(ES

JC-

WP1型 1 1979-2-3

北京第二

光学

仪器厂

测定波长范围：200nm—

400nm 批准：时间：