RT探伤机校验规程
超声探伤仪校验规程
超声探伤仪校验规程1. 目的：确保UT 检测的质量活动所使用的超声探伤仪性能的符合性和有效性。
2. 范围：本校验属于仪器使用性能年度例行校验，适用于A 型脉冲反射式超声探伤仪的校准和检定，有效期为一年。
3. 引用标准3.1《A 型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件》（JB/T10061－1999）3.2《无损检测名词术语》（JB3111－82）3.3《压力容器无损检测》（JB4730－94）3.4《超声探伤用探头性能测试方法》（JB/T10062－1999）3.5《超声探伤用1号标准试块技术条件》（JB/T10063—1999）3.6《A 型脉冲反射式超声波系统工作性能测试方法》（J B/T92 1 4－1 999）4. 职责4.1 应由中心分管副总师负责领导，并负责对校验报告的签发。
4.2由中心UT川级人员负责组织指导校验人员实施校验，并负责校验报告的审核。
4.3校验人员应由UT川级人员提出，并报中心主任批准。
校验人员应熟悉A型脉冲反射式超声探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程的引用标准，能正确按本规程方法进行校验工作，编制校验报告。
5. 校验用标准试块及器具（应是计量部门检定合格的）5.1 各种不同频率的常用直探头和斜探头（不须检定）5.2 CSK—IA 标准试块。
5.3不同规格的对比试块（均为炭钢锻制件）531 JB4730— 94规定的阶梯试块（DB —D i试块）5.3.2 Z20 —1 （80 225 G1. 25）Z20 —2（80 225 G2 25）Z20 —4 （80 225 G4 25 ）5.4探头压块：保持探头在试块上的固定压力、重量为1kg6. 校验6.1垂直线性误差测试：6.1.1测试设备a .各种频率的常用直探头b对比试块：Z20 —2或Z20 —4c .探头压块6.1.2测试步骤a .连接探头与仪器“发”位置，并用探头压块将探头固定在Z20 —2试块上并对准①2孑L,调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100% （满刻度），且衰减器至少有30d B余量；b .调节衰减器，依次记下每衰减2d B时孔波幅度的百分数，直至衰减到26d B,然后将孔波幅度实测值与表中的理论值相比较，取最大正偏差d（+）与最大负偏差d （-）之绝对值的和为垂直线性误差，如△ d=| d（+）|+|d（-）| ;c .将底波幅度调为垂直刻度的100%，重复b调节衰减器方法，重复测试;d .在工作频率范围内，改用不同频率的探头，重复b、c方法进行测试。
X射线检测仪校验规程
X射线检测仪校验规程一、目的确保RT检测方法控制产品质量活动所使用的X射线检测仪性能的符合性和有效性。
二、适用范围本规程适用于额定管电压小于等于300KVX 射线探伤机的曝光曲线的制作校验及穿透力校验工作。
三、人员要求1、X射线探伤机校验人员都应经过专业培训，并持有国家质量技术监督局的Ⅱ级或Ⅱ级以上的射线检验人员资格证书。
2、X射线探伤机校验人员应熟悉所用设备的基本结构、各部分的作用及操作规程。
3、X射线探伤机校验人员应严格按照本规程操作X射线探伤机，并对设备使用的安全性负责。
四、引用标准JB/T4730-2005 《承压设备无损检测》JJG40-2011 《X射线探伤机检定规程》五、应用器材1、阶梯试块：阶梯级差为2mm，每级宽度不少于15mm，试块长度和宽度应不小于胶片尺寸，且宽度不小于80mm，长度不小于300mm。
2、CR-301黑度计3、胶片及暗室处理4、观片灯六、曝光曲线制作：每台设备的曝光曲线，应不少于3个选定管电压的参数曲线1、设计透照参数每台设备制作3条曲线，每条曲线应设计1张参数表，其管电压的选择应为设备的较低、中等以及较高管电压，如250KVX射线机，推荐选择150KV、200KV、240KV；参数设计表管电压KV 曝光量mA分5 10 15 25 对应厚度mm注：焦距600mm或常用焦距，显影20℃5分钟，胶片：天津Ⅲ型或常用型号胶片，铅增感屏0.03/0.1，取底片黑度为3.0。
2、曝光试验⑴根据选择的曝光参数进行透照,透照时暗盒背面要用1mm的铅板屏蔽。
⑵底片冲洗干燥后,用观片灯观察,并用黑度计测量,选择黑度3.0(或与之最相接近)的部位,填入参数设计表的对应栏.3、绘制曝光曲线⑴根据参数设计表中的数据,绘制曝光曲线。
⑵曝光曲线用对数坐标纸绘制。
纵坐标为曝光量的常用对数，横坐标为透照厚度。
胶片、增感屏、底片黑度、透照焦距、暗室处理条件、射线机型号及编号均在曝光曲线中注明。
超声波探伤校验规程
超声波探伤校验规程1适用范围本规程适用于本公司新购置和使用中的超声波探伤仪与探头的系统性能的检验。
2检验周期2.1探伤仪性能（水平线性、垂直线性、动态范围）每隔半年进行校验一次；2.2探伤仪和探头的系统性能（灵敏度余量、始脉冲宽度及盲区、分辨力）使用前需进行校验，相关数据录入报告即可，不需专门检验报告。
3人员要求3.1超声波探伤仪校验人员都应经过专业培训，并持有国家质量技术监督局的II级或II 级以上的超声波检验人员资格证书；3.2超声波探伤仪校验人员应熟悉设备的各部分的作用及本规程；3.3超声波探伤仪校验人员应严格按照本规程操作超声波探伤仪，并对设备使用的安全性负责。
4认可需用标准器具4.1标准试块CSK-IA试块及200/①2平底孔试块；4.2所用试块必须是具有相应认证企业生产。
5操作步骤5.1.垂直线性5.1.1.5MHZ或其它频率的常用直探头，用压块将探头固定在200/Φ2平底孔试块上并对准中2孔（或其它试块25mm底面）。
调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100%（满刻度），作为“0”dB,且衰减器至少有30dB余量；5.1.2.调节增益，依次记下每衰减2dB时相应的波高值Hi,并将实测相对波高值填入表1中，直至底波消失。
上表中：理论相对波高%=Hi(衰减adB后波高)/H0(衰减OdB时波高)X100%；实测相对波高％=10(-Δi∕20)×100%5.1.3.算垂直线性误差D=(∣d(÷)∣+∣d(-)∣)X100%式中d(+) ---- 最大正偏差；d(-) ---- 最大负偏差。
5.2.水平线性5.2.1..将直探头置于CSK-IA上，对准25mm厚的大平底面。
5.2.2.节探伤仪使示波屏上出现六次底波Bl到B6,且使Bl前沿对准0,B6对准10.0。
记录B2、B3、B4、B5与水平刻度值20、40、60、80的偏差值α2、α3、a4、α5。
RT检测工艺规程
1.1 适用范围本射线检测指导书适用于：碳素钢、低合金钢、不锈钢、铝及铝合金、钛及钛合金材料制作的锅炉、压力容器及工业管道等特种设备构件的熔化焊对接接头的射线透照检测工作。
遇有特殊要求，应按相应的标准、规范执行。
1.2 引用标准1.GB16357-1996《工业X射线探伤放射卫生防护标准》2. GB18465-2001《工业γ射线探伤放射卫生防护》3. GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》4国质检锅（2003）248号《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》。
5.GB3323－2005《钢熔化焊对接接头射线照和质量分级》。
6.JB/T4730－2005《承压设备无损检测》.7.GB/T 12605－90《钢管环缝熔化焊对接接头射线透照工艺和质量分级》.8.DL/T 821－2002《（钢制承压管道对接接头射线检验技术规程）》.9.JB/T7902－1999《线型象质计》10. JB/T7903－1999《工业射线照相底片观片灯》11.HB7684－2000《射线照相用线型象质计》1.3 射线防护1.X射线和γ射线对人体有不良影响，应遵守公司有关检测安全管理制度。
2.在现场进行X射线检测时应按GB16357-1996《工业X射线探伤放射卫生防护标准的规定划定控制区和监督区，设置警告标志，检测工作人员应随身佩带个人剂量计、并携带计量报警仪。
3. 在现场进行γ射线检测时应按GB18465-2001《工业γ射线探伤放射卫生防护》的规定划定控制区和监督区，设置警告标志，检测作业时应围绕控制区边界测定辐射水平，检测工作人员应随身佩带个人剂量计、并携带计量报警仪。
4.确认工作人员均已完成各自工作并离开辐射区，方可开启射线发生器进行透照。
5.每次透照完成后，均应用报警器确认射线或γ源装置是否停止辐射后，方可进入辐射现场。
6.现场作业完成后对仪器进行清点、核对无误后清理现场，撤除警戒标志方可撤离现场。
RT设备校验规程
X射线探伤机校验规程NDE/YYKJ-***-20131.编制依据：《工业X射线探伤机通用技术条件》《ZBY携带式工业X射线探伤机技术条件》。
2. 适用范围：2.1 适用于额定电源电压为交流220V，频率为50HZ的X射线探伤机的校验。
2.2 适用于新购X射线探伤机及维修后重新投入使用的X射线探伤机的校验。
3. 技术条件3.1 允许电源电压波动为额定电压的±10%。
3.2 穿透力：200kV，≥16mm钢；250kV，≥24mm钢；300kV，≥30mm钢。
3.3 灵敏度：≤2%。
3.4 低压回路绝缘电阻≥2MΩ。
4. 校验项目4.1 外观4.2 允许电源波动范围4.3 穿透力4.4 灵敏度4.5周向机辐射场的均匀性4.6 峰值电压稳定性4.7 毫安最大值（携带式X射线探伤机）4.8 低压电路绝缘电阻5. 校验用主要器材5.1 万用表5.2 500V兆欧表5.3 调压器（3kVA）5.4 像质计、阶梯块、AGFA-C7胶片、铅箔增感屏（0.03mm）5.5 观片灯6. 校验方法6.1 外观检查配件齐全，外表不得有硬的碰伤和变形，所有紧固件不得松动和脱落。
6.2 允许电源电压波动范围校验6.2.1 将万用表和调压器接于电源与X射线机之间，如下：电源→调压器→万用表→操作箱→机头6.2.2 调整调压器，使电压表指示值在额定电压（220V）的±10%范围内波动，在5分钟曝光时间内，X射线机应正常工作。
6.3 穿透力校验6.3.1 用300mm×80mm胶片，0.03/0.03的铅箔增感屏，试块周围用2mm厚的铅板屏蔽散射线。
6.3.2 用额定管电压，额定管电流曝光5分钟，焦距600mm，透照阶梯试块，试块阶梯上放置厚度标记。
6.3.3 曝光后胶片进行标准暗室处理。
显影液，定影液的配制按所用胶片推荐配方，用黑度计测量底片黑度，取黑度为2.0±0.1部位的厚度为该机的穿透能力。
X射线检测仪校验规程
X射线检测仪校验规程一、目的确保RT检测方法控制产品质量活动所使用的X射线检测仪性能的符合性和有效性。
二、适用范围本规程适用于额定管电压小于等于300KVX射线探伤机的曝光曲线的制作校验及穿透力校验工作。
三、人员要求1、X射线探伤机校验人员都应经过专业培训，并持有国家质量技术监督局的n级或n级以上的射线检验人员资格证书。
2、X射线探伤机校验人员应熟悉所用设备的基本结构、各部分的作用及操作规程。
3、X射线探伤机校验人员应严格按照本规程操作X射线探伤机，并对设备使用的安全性负责。
四、引用标准JB/T4730-2005《承压设备无损检测》JJG40-2011《X射线探伤机检定规程》五、应用器材1、阶梯试块：阶梯级差为2mm,每级宽度不少于15mm,试块长度和宽度应不小于胶片尺寸，且宽度不小于80mm,长度不小于300mm。
2、CR-301黑度计3、胶片及暗室处理4、观片灯六、曝光曲线制作：每台设备的曝光曲线，应不少于3个选定管电压的参数曲线1、设计透照参数每台设备制作3条曲线，每条曲线应设计1张参数表，其管电压的选择应为设备的较低、中等以及较高管电压，如250KVX射线机，推荐选择150KV、200KV、240KV；参数设计表管电压KV曝光量mA分5101525对应厚度mm注：焦距600mm或常用焦距，显影20℃5分钟，胶片：天津III 型或常用型号胶片，铅增感屏0.03/0.1,取底片黑度为3.0。
2、曝光试验⑴根据选择的曝光参数进行透照，透照时暗盒背面要用1mm的铅板屏蔽。
⑵底片冲洗干燥后，用观片灯观察，并用黑度计测量,选择黑度3.0（或与之最相接近）的部位,填入参数设计表的对应栏.3、绘制曝光曲线⑴根据参数设计表中的数据，绘制曝光曲线。
⑵曝光曲线用对数坐标纸绘制。
纵坐标为曝光量的常用对数，横坐标为透照厚度。
胶片、增感屏、底片黑度、透照焦距、暗室处理条件、射线机型号及编号均在曝光曲线中注明。
七、曝光曲线的校验1、在用设备每年应对曝光曲线进行一次校验。
无损检验规范-RT指导书(1)
射线检测操作工艺规程（指导书）1.适用范围1.1本规程适用于压力容器焊缝及其热影响区的射线检测。
1.2除非其他程序经批准、有关具体要求经认可，RT有关方法、评定、要求应按本规程。
2.参考文献2.1按NB/T47013-2015要求编制。
3.无损探伤人员3.1从事射线检测的人员应满足NB/T47013.1的有关规定。
3.2从事射线检测的人员再上岗前应进行辐射安全知识培训，并按照有关法规的要求取得相应证书。
3.3射线检测人员的未经矫正或经矫正的近（小数）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0），测试方法应符合GB11533的规定；从事评片的人员应每年检查一次视力。
4检测时机4.1焊缝的检测时机应在焊缝完成24小时以后，或在火焰校正24小时以后。
4.2如焊缝需进行修补，应在修补完成24小时后进行检测。
5检测设备5.1射线探伤机仪器型号制作单位XXG-2505丹东市东方仪器厂XXG-3005丹东市东方仪器厂XXH-3005丹东市东方仪器厂5.2射线胶片、观片灯、黑度计、增感屏、像质计符合NB/T47013-2015.2要求。
6.操作准备工作：6.1将控制器的“电源开关”打到“off”位置，接好电源电缆。
电源应满足射线探伤工艺的要求。
6.2将接地线一端接到控制器的接地端子上，另一端接到比较潮湿的地方或专用接地线上。
6.3用低压连接电缆将控制器和X射线发生器连接起来，应保证接触良好。
6.4X射线发生器上的压力真空表应符合“技术指示”中的要求。
若不符合，严禁开机，防止损坏X射线发生器。
6.5将报警灯接到X射线发生器上，以显示X射线的发生。
6.6使用仪器应有X射线防护措施，如在野外现场使用，可用2mm厚的铅板进行防护。
无条件时，以X射线发生器焦点为中心，半径20m内不应有人，方可透照。
7.开机与拍片：7.1将控制器开关电源打开，控制器“电源”灯亮，数码管显示与拔码盘一致（当拔码盘数字大于5.0，数码管显示5.0），约30s后，“准备”灯亮。
超声探伤仪校验规程
超声探伤仪校验规程1. 目的：确保UT 检测的质量活动所使用的超声探伤仪性能的符合性和有效性。
2. 范围：本校验属于仪器使用性能年度例行校验，适用于A 型脉冲反射式超声探伤仪的校准和检定，有效期为一年。
3. 引用标准3.1《A 型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件》（JB/T10061－1999） 3.2《无损检测名词术语》（JB3111－82） 3.3《压力容器无损检测》（JB4730－94）3.4《超声探伤用探头性能测试方法》（JB/T10062－1999） 3.5《超声探伤用1号标准试块技术条件》（JB/T10063－1999）3.6《A 型脉冲反射式超声波系统工作性能测试方法》（JB/T9214－1999）4. 职责4.1应由中心分管副总师负责领导，并负责对校验报告的签发。
4.2由中心UT Ⅲ级人员负责组织指导校验人员实施校验，并负责校验报告的审核。
4.3校验人员应由UT Ⅲ级人员提出，并报中心主任批准。
校验人员应熟悉A 型脉冲反射式超声探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程的引用标准，能正确按本规程方法进行校验工作，编制校验报告。
5. 校验用标准试块及器具（应是计量部门检定合格的） 5.1各种不同频率的常用直探头和斜探头（不须检定） 5.2 CSK －IA 标准试块。
5.3不同规格的对比试块（均为炭钢锻制件）5.3.1 JB4730－94规定的阶梯试块（DB －D 1试块） 5.3.2 Z20－1（25122580Φ⨯⨯φ）Z20－2（25222580Φ⨯⨯φ） Z20－4（25422580Φ⨯⨯φ）5.4探头压块：保持探头在试块上的固定压力、重量为1kg6.校验6.1垂直线性误差测试：6.1.1测试设备ａ.各种频率的常用直探头ｂ.对比试块：Z20－2或Z20－4ｃ.探头压块6.1.2测试步骤ａ.连接探头与仪器“发”位置，并用探头压块将探头固定在Z20－2试块上并对准Φ2孔，调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100%（满刻度），且衰减器至少有30d B余量；ｂ.调节衰减器，依次记下每衰减2d B时孔波幅度的百分数，直至衰减到26d B，然后将孔波幅度实测值与表中的理论值相比较，取最大正偏差d(+)与最大负偏差d(-)之绝对值的和为垂直线性误差，如△d=| d(+)|+|d(-)| ；ｃ.将底波幅度调为垂直刻度的100%，重复b调节衰减器方法，重复测试；ｄ.在工作频率范围内，改用不同频率的探头，重复b、c方法进行测试。
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X射线探伤仪校验规程
1.目的：确保RT检测的质量活动所使用的X射线探伤仪性能的符合性和有效
性。
2.范围：本规程适用于额定管电压小于等于300KVX射线探伤机的首次和后续
校准和检定工作，有效期为一年。
3.引用标准
3.1 JB/T7413-1994《携带式工业X射线探伤机》
3.2 JB/T7902-1995《线型像质计》
3.3 JB4730-94《压力容器无损检测》
3.4 JJG40-2001《X射线探伤机检定规程》
4.职责
4.1应由锅检站总师负责领导，并负责对校验报告的签发。
4.2由中心RTⅢ级人员负责组织指导校验人员实施校验，并负责校验报告的审核。
4.3校验人员应由RTⅢ级人员提出，并总师批准。
校验人员应熟悉X射线探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程的引用标准，能正确按本规程方法进行校验工作，编制校验报告。
5.校验用标准试块及器具（应是计量部门检定合格的）
5.1线型像质计：校准检定用线型像质计应符合JB/T7902-1995。
5.2标淮试块：材质应为A3钢，规格为200mm×100mm，表面粗糙度Ra≤
6.3，试块厚度应满足表1至表2的相应要求，其厚度的允差为±4％。
5.3支架系统定位误差应小于1mm。
5.4 黑度计或测微光度计测量误差应小于±4％。
5.5 X射线防护水平剂量率计：校准检定用剂量率计的性能应符合二级要求。
5.6 X光胶片和观片灯：结合照像质量及曝光时间等因素对其类型进行选择。
5.7其他检定设备见表3
5.8环境条件：检定时的环境应满足剂量计的工作环境条件温度为（20±5）℃，相对湿度小于75％。
6. 校准检定
6.1校准检定项目和检定方法 6.1.1 检定项目
6.1.1.1首次校准检定：可引起性能显著变化的修理后的X 射线探伤机，如：更换X 光管高压变压器等应进行首次检定。
首次检定项目有：空气比释动能率、穿透力、重复性、辐射角、计时器误差、透照灵敏度，漏射线空气比释动能率。
首次校准检定应由修理单位进行，使用单位现场确认验收。
6.1.1.2后续校准检定：正常年度校准检定，检定项目有：穿透力，重复性，辐射角，计时器误差、透照灵敏度、整机绝缘电阻的测定。
6.1.2 检定方法 6.1.2.1穿透力校准
a 将X 光胶片裁成100mm ×225mm ，至焦点600mm ，胶片长边方向与X 射线管轴线方向平行。
定向机胶片中心偏离辐射中心（146±5）mm 处拍片；周向机中心沿周向辐射场中心线绕管轴线每90°拍一张胶片，穿透力取其中最低值。
b 胶片前方紧贴放置表
1～表2要求的相应的标准试块，增感屏用0.03mmPb ，试块四周按表4规定的铅当量遮挡。
c 采用额定管电压、额定管电流进行曝光，携带式X 射线探伤机曝光5min 。
d 将曝光后的胶片进行暗室处理，显影定影液的配制及冲洗时间和温度等，按X 光胶片规定的要求进行。
E 干燥后的胶片用黑度计或测微光度计测量黑度值Di 。
在胶片中心区域至少测5点，取其算术平均值D 。
胶片本底黑度应不大于0.3，D 应不小于1.5。
6.1.2.2重复性校准
测量要求同7.1.2.1条，每开机1次测量1次，得到1个数据，连续开机次数不
少于5次，并用公式V=)
()(11
1
2
-'-⨯
'
∑=n M M
M n i i
计算单次测量的相对标准偏
差，v 表示其重复性。
式中：Mi 为第I 次升机的测量值；M ′为n 次开机测量的平均值。
6.1.2.3辐射角的校准
a 定向X 射线探伤机辐射角的校准
将检定的X 射线探伤机放置在支承架上，窗口对准地面，地面应用厚度为6mm 的铅板屏蔽，使X 光管轴线（射线机长度方向轴线和宽度方向）与地面平行，焦点距铅板表面600mm ；在铅板上找出窗口正投影的中心点，并通过此点划出与射线机长度方向和宽度方向的平行线，两平行线交于窗口在铅板上正投影的中心点；训练X 射线机至额定值，将装好胶片的暗袋（胶片为360mm ×80mm 、增感屏前后屏均为0.5mm ）放置在铅板划好的两条线上，每条线上各放三个暗袋，两线交点处的暗袋上应摆放中心标记，暗袋搭接处应摆放搭接标记。
调整X 射线机管电压至额定值的50％，管电流为额定值进行透照，将已透照好的胶片进行暗室处理并干燥处理在观片灯上进行测量底片上中心标记至底片黑度变化区
黑度较大的边界处的距离Sj （径向）和Sh （横向）并按θ＝tg -1
600s 分别计算X 射线机的径向和横向辐射角。
式中θ角为X 射线机的辐射角。
B 周向X 射线探伤机的径向辐射角校准检定
将射线机立放于地面，测量机壳红色带中心距地面高度，并以此高度在距焦点600mm 的0°、90°、180°、270°位置各放置一个装好胶片的暗袋，胶片长度方向应平行于射线机长轴方向，其他程序及方法同定向机校准检定。
6.1.2.4计时器误差校准检定
将机带计时器分别调到0.5，1.0，5min 等位置，开机的同时启动秒表，机带计时器停止同时停止秒表，每个位置上测量3次，计算其算术平均值与设定值之差。
取其与设定值之比最大者为计时器误差 6.1.2.5透照灵敏度校准检定
a 测量要求同穿透力校准，采用JB/T7902-1995《线型像质计》中的R ′10系列，用2个规格相同、材质标记为FE 的线型像质计（见附录A ），贴附在按表1～表2要求的相应试块边缘区域X 射线机一侧，像质计的细线朝外。
按要求曝光并处理胶片。
b 在背景光亮度不低于215cd/m 2的观片灯下用肉眼观察底片找出像质计影像中
可以分辩的最细的直径按公式S=
d
100%。
式中：S-以百分数表示的透照灵敏
度，％；δ-透照试块的厚度，mm ；d-底片上可辩认的最细线码直径，mm 。
6.1.2.6整机绝缘电阻的测试
a 测试设备：兆欧表（输出电压值按被测仪器产品标准的规定选取）
b 测试步骤：.将兆欧表输入线分别与仪器产品标准中规定的测试部位及机壳连接，然后测出其绝缘电阻（一般测出电源输入端对壳电阻）。
7. 校验记录及报告： 7.1校验记录
7.1.1校验人员应按记录表式内容对测试数据认真记录，复校人员应核对测试步骤、方法及所有测试信息数据，并对不符合项进行复校
7.1.2校验人员应依据验收标准或产品标准规定指标逐项对测试数据进行评定，做出评价结论。
7.1.3 RT Ⅲ级人员应对校验结论不符合项进行复校监督，并对复校评价结论意见
进行确认。
7.2校验报告
7.2.1校验报告由校验人员编制和填写，并对报告内容的准确性、客观性负责。
7.2.2报告应由负责该项工作的RTⅢ级人员审核，并对报告结论正确性负责。
7.2.3报告应由总师批准（签发），并对报告的有效性负责。
8.记录、报告表式
9.附录A：参阅JB4730-2005《压力容器无损检测》象质计的选用。
X射线探伤机性能年度校验报告
X射线探伤机性能年度校验记录。