材料分析方法 第五章(2)
智慧树知到《材料分析方法》章节测试答案

智慧树知到《材料分析方法》章节测试答案绪论1、材料研究方法分为()A:组织形貌分析B:物相分析C:成分价键分析D:分子结构分析正确答案:组织形貌分析,物相分析,成分价键分析,分子结构分析2、材料科学的主要研究内容包括()A:材料的成分结构B:材料的制备与加工C:材料的性能D:材料应用正确答案:材料的成分结构,材料的制备与加工,材料的性能3、下列哪些内容不属于材料表面与界面分析()A:晶界组成、厚度B:晶粒大小、形态C:气体的吸附D:表面结构正确答案:晶粒大小、形态4、下列哪些内容属于材料微区分析()A:晶格畸变B:位错C:晶粒取向D:裂纹大小正确答案:晶格畸变,位错,晶粒取向,裂纹大小5、下列哪些内容不属于材料成分结构分析()A:物相组成B:晶界组成、厚度C:杂质含量D:晶粒大小、形态正确答案:晶界组成、厚度,晶粒大小、形态第一章1、扫描电子显微镜的分辨率已经达到了()A:0.1 nmB:1.0 nmC:10 nmD:100 nm正确答案: 1.0 nm2、利用量子隧穿效应进行分析的仪器是A:原子力显微镜B:扫描隧道显微镜C:扫描探针显微镜D:扫描电子显微镜正确答案:扫描隧道显微镜3、能够对样品形貌和物相结构进行分析的是透射电子显微镜。
A:对B:错正确答案:对4、扫描隧道显微镜的分辨率可以到达原子尺度级别。
A:对B:错正确答案:对5、图像的衬度是()A:任意两点存在的明暗程度差异B:任意两点探测到的光强差异C:任意两点探测到的信号强度差异D:任意两点探测到的电子信号强度差异正确答案:任意两点存在的明暗程度差异,任意两点探测到的信号强度差异6、对材料进行组织形貌分析包含哪些内容()A:材料的外观形貌B:晶粒的大小C:材料的表面、界面结构信息D:位错、点缺陷正确答案:材料的外观形貌,晶粒的大小,材料的表面、界面结构信息,位错、点缺陷7、光学显微镜的最高分辨率为()A:1 μmB:0.5 μmC:0.2 μmD:0.1 μm正确答案: 0.2 μm8、下列说法错误的是()A:可见光波长为450~750 nm,比可见光波长短的光源有紫外线、X射线和γ射线B:可供照明的紫外线波长为200~250 nm,可以作为显微镜的照明源C:X射线波长为0.05~10 nm,可以作为显微镜的照明源D:X射线不能直接被聚焦,不可以作为显微镜的照明源正确答案: X射线波长为0.05~10 nm,可以作为显微镜的照明源9、 1924年,()提出运动的电子、质子、中子等实物粒子都具有波动性质A:布施B:狄拉克C:薛定谔D:德布罗意正确答案:德布罗意10、电子束入射到样品表面后,会产生下列哪些信号()A:二次电子B:背散射电子C:特征X射线D:俄歇电子正确答案:二次电子,背散射电子,特征X射线,俄歇电子第二章1、第一台光学显微镜是由哪位科学家发明的()A:胡克B:詹森父子C:伽利略D:惠更斯正确答案:詹森父子2、德国科学家恩斯特·阿贝有哪些贡献()A:阐明了光学显微镜的成像原理B:解释了数值孔径等问题C:阐明了放大理论D:发明了油浸物镜正确答案:阐明了光学显微镜的成像原理,解释了数值孔径等问题,阐明了放大理论,发明了油浸物镜3、光学显微镜包括()A:目镜B:物镜C:反光镜D:聚光镜正确答案:目镜,物镜,反光镜,聚光镜4、下列关于光波的衍射,错误的描述是()A:光是电磁波,具有波动性质B:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时,光线将沿直线传播C:障碍物线度越小,衍射现象越明显D:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时,光线将偏离直线传播正确答案:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时,光线将沿直线传播5、下列说法正确的是()A:衍射现象可以用子波相干叠加的原理解释B:由于衍射效应,样品上每个物点通过透镜成像后会形成一个埃利斑C:两个埃利斑靠得越近,越容易被分辨D:埃利斑半径与光源波长成反比,与透镜数值孔径成正比正确答案:衍射现象可以用子波相干叠加的原理解释,由于衍射效应,样品上每个物点通过透镜成像后会形成一个埃利斑6、在狭缝衍射实验中,下列说法错误的是()A:狭缝中间每一点可以看成一个点光源,发射子波B:子波之间相互干涉,在屏幕上形成衍射花样C:整个狭缝内发出的光波在中间点的波程差半波长,形成中央亮斑D:在第一级衍射极大值处,狭缝上下边缘发出的光波波程差为1波长正确答案:整个狭缝内发出的光波在中间点的波程差半波长,形成中央亮斑7、下列关于阿贝成像原理的描述,正确的是()A:不同物点的同级衍射波在后焦面的干涉,形成衍射谱B:同一物点的各级衍射波在像面的干涉,形成物像C:物像由透射光和衍射光互相干涉而形成D:参与成像的衍射斑点越多,物像与物体的相似性越好。
材料分析方法主要内容

数字索引也称Hanawalt 索引,它采用组合法,将最强线 按照面间距的大小进行分组。当检索者完全没有待测样 品的物相或元素信息时,可以使用这种索引。
24
第五章 物相分析及点阵参数精确测定
物相定性分析方法?
通过X射线衍仪获得待测试样各衍射峰的晶面间距d和衍 射峰相对强度I/I1后,物相鉴定可按以下步骤进行: 1. 从前反射区(2<90)中选取强度最大的三根衍射线, 并使其d值按强度递减的次序排列,再将其余线条按强度 递减顺序列于三强线之后。 2. 从Hanawalt索引中找到对应的d1(最强线面间距)组。 3. 按次强线的面间距d2找到接近的几行。在同一组中,各
替的过程称为俄歇效应,跃出的L层电子称俄歇电子,
其能量EKLL也具有吸收元素的特征能量。
5
第一章 X射线物理学基础
由光电效应所造成的入射能量的消耗即为X射线的真吸
收。真吸收中除荧光辐射和俄歇效应外,还包括X射线
穿过物质时引起的热效应。 荧光X射线和俄歇电子都是物质化学成分的信号。荧光
效应通常用于重元素(Z>20)的成分分析,而俄歇效
7. 若待测样第三个d值在索引中找不到对应,说明该衍射花样 的最强线与次强线不属于同一物相,必须从待测花样中选取 下一根线作为次强线,并重复3~5的检索程序。 8. 当找到第一物相之后,可将其线条剔除,并将残留线条的强 度归一化,再按程序1~5检索其它物相。 26
第五章 物相分析及点阵参数精确测定
应则主要用于表层轻元素的成分分析。 单色X射线光源的获得方法:选择原子序比靶元素小 1~2的元素制成滤波片放置在光路上, 可吸收不需要 的辐射而得到基本单色的光源。
6
第一章 X射线物理学基础
X射线在穿过物质后,有一部分偏离了原来的方向,发
第五章物相分析及点阵参数精确测定

三、 PDF卡片的索引
• 卡片索引手册:欲快速地从几万张卡片中找到所需 的一张,须建立一套科学的、简洁的索引工具书。
• 卡片索引:有多种,可分为两类: 1. 以物质名称为索引(即字母索引)
如:化学名索引、矿物名索引。
2. 以d值数列为索引(数值索引)。 如:哈纳瓦特索引(哈氏索引)、芬克(Fink)索 引;
• 当不知所测物质为何物时,用该索引较为方便。
一、数值索引(1)
• ① 哈氏索引:将每一种物质的数据在索引中 占一行,依次为:8条强线的晶面间距及其相 对强度(用数字表示)、化学式、卡片序号、 显微检索序号。如下:
8条强线的晶面间距和相对强度
化学式 卡片序号
哈氏索引样式
一、数值索引(2)
• 哈氏索引:以三强线 d 值来区分各物质,列出 8 强线d 值, 并以三强线 d 值序列排序。
• 1969年,从第14组始,由新成立的国际粉末衍射标准联合委 员会 (Joint Committee on Powder Diffraction Standards 即 JCPDS)主持编辑和出版PDF卡片及其索引。
• 1978年,从第27组始,又由JCPDS的国际衍射数据中心 (International Centre for Diffraction Data,即ICDD)主持出 版。
• PDF-4/矿物2003:共有17535个矿物物相。其中7647个有参 考强度比 I/I1,这有利于做物相定量分析。
• PDF-4/有机物2003:共有218194个有机物相和金属有机物相。 其中24385个是实验谱,191468个由剑桥晶体学数据中心 (CCDC)的单晶数据计算得的粉末谱;其中大于124900个 具有参考强度比I/I1,有利于做定量物相分析。
材料失效分析(第五章-疲劳)

§2
疲劳裂纹萌生与扩展机理(模型)
一、疲劳裂纹萌生机理 1、挤出挤入模型—Wood模型
10
金属表面形成的挤出脊与挤入沟
11
2、位错销毁模型—藤田模型
两列平行的异号刃位错,在相距几个原子间隔 (约10埃)的两平行滑移面上互相对峙塞积;
由于这种位错排列所产生的高拉应力引起原子 面分离,形成孔洞
12
20
锯齿形断口或棘轮花样
轴类零件在交变扭转应力作用下产生的 有应力集中(轴颈)+扭矩作用
多源裂纹
裂纹以螺旋状方式向前扩展,最后汇合于轴的中央 若为单向交变扭转应力——棘轮花样 若为双向交变扭转应力——锯齿状断口
21
锯齿形断口
棘轮花样
22
3、瞬断区
形貌:具有断口三要素(放射区、剪切唇)的特征
对于塑性材料,断口为纤维状、暗灰色 对于脆性材料,断口为结晶状 位置:自由表面 断面中心
7
4、疲劳断裂过程
疲劳裂纹的萌生: 表面(次表面、内部) 疲劳裂纹的扩展(两个阶段)
8
第一阶段:裂纹起源于材料表面,向内部扩展
范围较小,约2—5个晶粒之内 显微形貌不好分辨 与拉伸轴约成45°角,裂纹扩展主要是由于τ 的作用
扩展速度很慢,每一应力循环只有埃数量级
第二阶段:断面与拉伸轴垂直,凹凸不平 裂纹扩展路径是穿晶的 扩展速度快,每一应力循环微米数量级 显微特征:疲劳辉纹
3、空穴模型—Mott模型
由于螺位错围绕着环形通道,进行连续交叉滑移运动, 结果从表面上挤出了材料的一个舌片,并相应地形成 了一个空穴,这个空穴就是疲劳裂纹源
13
4、位错交叉滑移模型—Cottrell和Hull模型
14
二、疲劳裂纹扩展模型
《材料科学基础》课件——第五章相平衡与相图第一节第二节第三节第四节

相和相平衡
Байду номын сангаас四、自由度与相律
1、自由度:平衡系统中独立可变的因素
自由度数:独立可变的强度变量的最大数目
(强度变量与广度变量的区别)
2、相律:自然规律
在平衡系统中由于受平衡条件的制约,系统内
存在的相数有一定限制。 组元数 相数P≥1
吉布斯相律:不可为负数
f=c-p+n
外界影 响因素
通常外界影响因素只考虑T、P,所以f=c-p+2
• 掌握匀晶,包晶,共晶相图的特点,进而了解二元合金的一些平衡凝固,固 相转变的规律。
• 重点难点: • 二元系相图的建立,杠杆定律 • 包晶相图,共晶相图,共晶合金 • 相图分析,各种液固,固相转变的判断
材料的性能决定于内部的组织结构,而组织结构
又由基本的相所组成。
相:均匀而具有物理特性的部分,并和体系的其他 部分有明显界面。
晶型转变过程都是在恒温下进行,并伴随有体 积、密度的变化。 2、SiO2系统相图 α-石英与β-石英相变相当慢, β-石英常因冷却过快而被保留 到室温,在常压下,低于573℃
单元系相图
β-石英很稳定,所以自然界或低温时最常见的是 β-石英。晶型转变时,体积效应特别显著。 Al2O3、ZrO2也具有多晶型转变。 3、聚合物相图 (1)状态由分子间作用力决定,分子间约束力弱
共晶相图,平衡凝固,共晶合金,包晶相图,形成化合物的相图,含有双液 共存区的相图,熔晶相图等 ,二元相图的几何规律 ,单相,双相及三相共 存区,相图特征 ,二元系相图的分析,分析的方法与步骤,分析举例。
• 教学目的: • 学习相平衡与相图的基本知识,了解相图在材料科学学习中的重要性,学会
相图的使用。
材料分析方法 第五章(2)

I
简单立方P格子
o
40o 2q
60o
(2) 计算体心点阵晶胞的FHKL与|FHKL|2 值 每个晶胞中有2个同类原子,其坐标为 (0, 0, 0), (1/2, 1/2, 1/2)。这两个原子散射 因子均为 f ,代入结构因子表达式: FHKL = fj exp[2i(Hxj + Kyj + Lzj)] 得FHKL = f e2i(0+0+0) + f e2i( H/2+K/2+L/2) = f [e2i0 + ei(H+K+L)] = f [1 + (-1)(H+K+L)]
• Z+ • 1s • • 2s • 2p •
•
S0
一般情况下,若O点放一个原子,内有Z个电 子,由于各电子散射在同一方向的位相不同, 将会发生干涉, 而使P点散射强度有所减弱, Ia < Z 2 Ie 比照式Ia = Z2 Ie,引入因子f, 将原子散射强度表达为:Ia = f2 Ie • S 式中:f—原子散射因子, D • S0 •A• 显然 f ≦ Z 2q • f 的物理意义: B• •C f= 一个原子散射波的振幅 一个电子散射波的振幅
由FHKL = f [1 + (-1)(H+K+L)] 可见: ① 当H + K + L =奇数时, FHKL = 0, ∴ |FHKL|2 = 0。 ② 当H + K + L = 偶数时, FHKL = 2f ∴ |FHKL|2 = 4f2。
结论: 在体心点阵中,只有当H+K+L为偶数时才 能产生衍射
体心点阵中,只有当H+K+L=偶数时, 才 能产生衍射, 例: 存在110, 200, 211, 220, 310, 222…等 反射, 其指数平方和(H2+K2+L2)之比: 2:4:6:8:10:12…
材料分析方法教学课件第五章 X射线衍射分析

1992年后的卡片统由国际衍射资料中心(ICDD)出版, 1997年,有卡片47组,包括有机、无机物相67000个。2003 出版,有157048个物相,其中无机物为133370个,有机物为 25609个,92011个实验谱,56614个为计算谱。
JCPDS卡片或ICDD是国际上通用且最为完备的X射线粉 末衍射数据。
第五章 X射线物相分析
一、X射线物相分析的基本原理与思路
我们知道每一种结 晶物质都有自己独特 的晶体结构,即特定 点阵类型、晶胞大小、 原子的类型、数目和 原子在晶胞中的排列 等。
这决定了,当X射线通过晶体时,每一种结晶物质都有自 己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个“反射”晶面 的晶面间距值d和“反射”线的强度来表征。
实验数据较吻合,所 列卡片号为5-586,该 物质为方解石。找出 卡片,将卡片上所有 数据与实验数据一一 比较列表,可以确定 衍射图的物质为方解 石。
表5—1 方解石实验数据与JCPDS卡片中数据比较
实 验 卡 片5-586 实 验 卡 片5-586
d I/I0 d
3.842 9.6 3.86
I/I0 d I/I0 d I/I0
第五章 x射线衍射分析
第五章 X射线物相分析 (P55)
一、X射线物相分析的基本原理与思路
材料分析: 化学成分分析: 如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或 SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% FeO 4%等。 物相分析: 如一材料C,是由金刚石还是由石墨组成。 一个物相是由化学成分和晶体结构两部分所决定的。 X射线的分析正是基于材料的晶体结构来测定物相的。
D.矿物名称索引:按矿物英文名称的字母顺序排列。
材料分析方法思考题解答

复 习 的 重 点 及 思 考 题第一章 X 射线的性质X 射线产生的基本原理。
● X 射线的本质―――电磁波 、 高能粒子 、 物质● X 射线谱――管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等● 高能电子与物质相互作用可产生哪两种X 射线?产生的机理?连续X 射线:当高速运动的电子(带电粒子)与原子核内电场作用而减速时会产生电磁辐射,这种辐射所产生的X 射线波长是连续的,故称之为~特征(标识)X 射线:由原子内层电子跃迁所产生的X 射线叫做特征X 射线。
X 射线与物质的相互作用● 两类散射的性质● 吸收与吸收系数意义及基本计算● 二次特征辐射(X 射线荧光)、饿歇效应产生的机理与条件二次特征辐射(X 射线荧光):由X 射线所激发出的二次特征X 射线叫X 射线荧光。
俄歇电子:俄歇电子的产生过程是当原子内层的一个电子被电离后,处于激发态的电子将产生跃迁,多余的能量以无辐射的形式传给另一层的电子,并将它激发出来。
这种效应称为俄歇效应。
● 选靶的意义与作用第二章 X 射线的方向晶体几何学基础● 晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型 在自然界中,其结构有一定的规律性的物质通常称之为晶体● 晶向指数、晶面指数(密勒指数)定义、表示方法,在空间点阵中的互对应 ● 晶带、晶带轴、晶带定律,立方晶系的晶面间距表达式● 倒易点阵定义、倒易矢量的性质● 厄瓦尔德作图法及其表述,它与布拉格方程的等同性证明(a) 以λ1= 为半径作一球; (b) 将球心置于衍射晶面与入射线的交点。
(c) 初基入射矢量由球心指向倒易阵点的原点。
(d) 落在球面上的倒易点即是可能产生反射的晶面。
(e) 由球心到该倒易点的矢量即为衍射矢量。
布拉格方程● 布拉格方程的导出、各项参数的意义,作为产生衍射的必要条件的含义。
布拉格方程只是确定了衍射的方向,在复杂点阵晶脆中不同位置原子的相同方向衍射线,因彼此间有确定的位相关系而相互干涉,使得某些晶面的布拉格反射消失即出现结构消光,因此产生衍射的充要条件是满足布拉格方程的同时结构因子不为零● 干涉指数引入的意义,与晶面指数(密勒指数)的关系干涉指数 HKL 与 Miller 指数 hkl 之间的关系有 :H= nh , K = nk , L = nl 不同点:(1)密勒指数是实际晶面的指数,而干涉晶面指数不一定;(2)干涉指数HKL 与晶面指数( Miller 指数) hkl 之间的明显差别是:干涉指数中有公约数,而晶面指数只能是互质的整数。
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式中:f—原子散射因子, 显然 f ≦ Z
S0 •A•
f 的物理意义:
•C
f=
一个原子散射波的振幅 一个电子散射波的振幅
•
S
D
•
• 2q B• •
➢如何得到f值? ➢(1) 由sinq/λ值, ➢ 从右图可查到f 值。
➢(2)由sinq/λ值, ➢查本书附录6, ➢可得到f 值。
总结: 一个原子的散射
➢其坐标为(0, 0, 0),原子散射因子为f,
➢代入结构因子表达式:
FHKL = fj exp[2i(Hxj + Kyj + Lzj)] 得 FHKL = f e2i( 0+0+0) = f
则 |FHKL|2 =f2
结论:在简单点阵情况下,FHKL不受HKL 的影响,即HKL为任意整数时,都能产生 衍射。
FHKL = f e2i(0) + f ei(H+K) + f ei(H+L) + f
ei(K+L)
= f [1 + (-1)(H+K) + (-1)(H+L) + (1)(K+L)]
➢可见:
①当H、K、L全为奇数或偶数时,则 (H+K)、(H+L)、(K+L)均为偶数,这时: FHKL = 4f, ∴ |FHKL|2 = 16f2; ②当H、K、L中有2个奇数一个偶数或2个 偶 数 1 个 奇 数 时 , 则 ( H+K) 、 ( H+L) 、
= f [e2i0 + ei(H+K)] = f [1 + (-1)(H+K)]
➢由FHKL = f [1 + (-1)(H+K)] ➢可见:对于底心C点阵:
①当H+K为偶数时,即H,K全为奇数或
全为偶数时, FHKL = 2f, ∴ |FHKL|2 = 4f2 ;
②当H+K为奇数时,即H、K中有一个奇
4
•1
+ cos 22q
2
P
I0 —入射光强
R
e —电子电荷 I0
2q
m—电子质量
O
Y
c—光速
公式讨论:
Ie
=
I0
e4 •R2m2c
4
•1
+ cos 22q
2
➢可知: 入射X射线是非偏振的; ➢相干散射线的强度随2θ变化,是偏振的;
➢偏振化程度取决于(1+cos22q)/2; ➢∴(1+cos22q)/2称为偏振因子。
体心 I 格子
110 200
211 220
310 222
(3) 计算底心C点阵晶胞的FHKL与|FHKL|2 值 ➢晶胞中有2个同类原子,其坐标为(0, 0,
0) 和 (½, ½, 0),原子散射因子均为 f,
➢代入结构因子表达式中: FHKL = fj exp[2i(Hxj + Kyj + Lzj)] 得FHKL = f e2i(0+0+0) + f e2i( H/2+K/2+0)
数和结一论个:偶数时, FHKL = 0, ∴ |FHKL|2 = 0。 在底心C点阵中,FHKL不受L的影响,只
有当H、K全为奇数或全为偶数时才能 产生衍射.
➢C心点阵:当H、K全为偶数或奇数时, 衍射存在
底心C 格子
002 003
112 204 -114 006
(4) 计算面心F点阵晶胞的FHKL与|FHKL|2 值 ➢晶胞中有4个同类原子,坐标为(0, 0, 0)
讨论: 质子对X射线的散射可忽略
Ie
=
I0
•R
e4 2m 2c
4
•1
+ cos 22 q
2
➢X射线照射晶体时,也可使原子中荷电的
质子受迫振动从而产生质子散射;
➢但质子的质量为电子的1846倍,相应的散
射强度也只有电子的1/(1846)2,
➢因此一般仅考虑原子核外的电子对X射线
的散射作用。
二、一个原子对X射线的散射强度 (结论)
,(1/2, 1/2, 0),(1/2, 0, 1/2), (0,
1/2, 1/2) 。
➢散射因子均为f, 代入结构因子表达式中
:
FHKL = fj exp[2i(Hxj + Kyj + Lzj)] 得FHKL = f e2i(0+0+0) + f e2i(H/2+K/2+0)
+ f e2i(H/2+0+L/2) + f e2i(0+K/2+L/2)
➢当X射线照射晶体时,晶胞中各原子会发 射与入射线波长相同的散射波。
➢各原子的散射波用复数表示为: f1exp(iΦ1), f2exp(iΦ2), …,
fjexp(iΦj) , …, fnexp(iΦn)
➢整个晶胞的散射波为各原子散射波的叠加 F = f1 exp(iΦ1) + f2 exp(iΦ2) + … + fj exp(iΦj) + … + fn exp(iΦn)
结论: 在面心点阵中,只有当H、K、L全 为奇数或全为偶数时才能产生衍射。
d (Å) Int h k l
如Al的
2.338 100 1 1 1
2.024 47 2 0 0
衍射数据: 1.431 22 2 2 0
1.221 24 3 1 1
1.169 7 2 2 2
1.0124 2 4 0 0
0.9289 8 3 3 1
1、结构因子公式的推导 ❖取单胞的顶点O为坐标原点, 坐标: (0, 0, 0);
❖A为单胞中任一原子j,坐标: (xj, yj, zj )
❖则矢量OA = rj = xja + yjb + zjc 式中,a、b、 c为点阵基矢。
S0 c
S
NA
S0 a
rj S
O
Mb (HKL)
❖A与O原子间散射波的波程差:
一、一个电子对X射线的散射强度
➢实验室X射线源发射出的X射线都是非偏 振的,其光矢量Eo在垂直于传播方向OY的 平面内可取任意方向。
E0
Io
O
Y
➢当一束非偏振的X射线沿OY方向传播,在
O点与电子碰撞发生散射,
➢那么距O点距离OP=R、 OP与OY夹2q角的
P点的散射强度为:
式中:
Ie
=
I0
•
R
e4 2m 2c
➢一个电子对X射线散射后空间某点强度可
用Ie表示,那么一个原子对X射线散射后该
点的强度:Ia=f2.Ie
➢这里引入了f—原子散射因子
类似地, 一个晶胞对X射线散射后该点的
强度: I晶胞=|F|2 Ie
P
这里引入了F--结构因子 R
I0
2q
O
公式推导:
➢假设一个晶胞中含有3种原子,它们分别占 据单胞的顶角,体心、面心(或其它位置)。 ➢该晶胞的散射波应为晶胞中各原子散射波的 叠加。
第五章 X射线衍射原理
第二节 X射线衍射强度
一、一个电子的散射强度 二、一个原子的散射强度 三、一个晶胞的衍射强度
1、结构因子公式的推导 2、结构因子的计算
❖我们知道,粉末多晶由许多小晶体构成; ❖晶体由晶胞构成; ❖晶胞由原子组成; ❖原子由原子核和电子组成。 ❖因此我们讨论晶体对X射线的衍射强度, 可以从电子、原子、晶胞到整个晶体这样 的顺序进行。
0.9055 8 4 2 0
0.8266 8 4 2 2
例: NaCl为面心立方点阵,只有指数全 为奇数或全为偶数的衍射线存在, 例如, 存 在 1 1 1 , 200, 220, 311, 222, 400… 等衍射, 其指数平方和(H2+K2+L2)之比: 3:4:8:11:12:16…
∵ Eb = |FHKL| Ee , Ee2 ∴ Ib = |FHKL|2 Ie
Ib = Eb2 , Ie =
总结:一个晶胞对X射线的散射
与I原子=f 2Ie类似 I晶胞=|F|2Ie
一个晶胞内全部原子散射波 的振幅 |F| = 一个电子散射波的振幅
F称为结构因子, 由下式计算:
FHKL
=
n
fjexp(i
2(H
xj+K
yj
+
L
zj))
j=1
2. 结构因子的计算
➢ FHKL可按下式计算:
FHKL
=
n
fjexp(i
2(H
xj+K
yj
+
L
zj))
j=1
➢计算时,经常用到关系:eni = (-1)n 式中:n—任意整数。
(1) 计算简单点阵晶胞的FHKL与|FHKL|2 值 ➢简单点阵,每个阵胞只包含一个原子,
若原子序数为Z,核外有Z个电子,原子散射
强度为Ia
衍射角为0时:Ia = Z 2 • Ie S0 •A•
其它情况下:Ia = f 2 • Ie
•C
f=
一个原子散射波的振幅 一个自由电子散射波的振幅
•
S
D
•
• 2q B• •
f 称为原子的散射因子。
利用本书附录6,由sinq/λ值可查f 值
三、一个晶胞对X射线的散射强度 (结论)
➢晶胞衍射波FHKL称为结构因子, ➢FHKL的模|FHKL|称为结构振幅
|FHKL|=Eb/ Ee
式中: Eb —晶胞散射波振幅 Ee —电子散射波振幅
➢|FHKL|物理意义:一个晶胞中全部原子散射 波的振幅/一个电子散射波的振幅