通用集成运算放大器测试方法
集成运算放大器实验报告
集成运算放大器实验报告集成运算放大器实验报告引言集成运算放大器（Integrated Operational Amplifier）是一种常见的电子器件，广泛应用于各个领域，如通信、医疗、工业控制等。
本实验旨在通过实际操作和测量，了解集成运算放大器的基本原理和特性，并探讨其在电路设计中的应用。
一、实验目的本实验的主要目的如下：1. 理解集成运算放大器的基本原理和特性；2. 掌握集成运算放大器的基本参数测量方法；3. 探索集成运算放大器在电路设计中的应用。
二、实验仪器与器件1. 实验仪器：示波器、函数发生器、直流电源、万用表等；2. 实验器件：集成运算放大器、电阻、电容等。
三、实验步骤1. 搭建基本的集成运算放大器电路，并连接相应的仪器；2. 调节函数发生器，输入不同的信号波形，观察输出信号的变化；3. 测量并记录集成运算放大器的增益、输入阻抗、输出阻抗等参数；4. 尝试改变电路中的电阻和电容数值，观察输出信号的变化；5. 根据实验结果，分析集成运算放大器的应用场景和电路设计方法。
四、实验结果与分析1. 在实验中，我们观察到集成运算放大器具有很高的增益，可以将输入信号放大到几十倍甚至几百倍的程度。
这使得它在信号放大和放大器设计中发挥着重要的作用。
2. 通过测量，我们还发现集成运算放大器具有很高的输入阻抗和很低的输出阻抗。
这使得它可以有效地隔离输入和输出电路，提高信号传输的质量。
3. 在实验中，我们改变了电路中的电阻和电容数值，观察到输出信号的变化。
这进一步验证了集成运算放大器的灵活性和可调性，可以根据实际需求进行电路设计和调整。
五、实验总结通过本次实验，我们深入了解了集成运算放大器的基本原理和特性，并掌握了相关的测量方法。
我们还通过实际操作，探索了集成运算放大器在电路设计中的应用。
实验结果表明，集成运算放大器在信号放大、隔离和调节方面具有重要作用，可以在各个领域中发挥重要的作用。
六、参考文献[1] 张三, 李四. 集成运算放大器原理与应用[M]. 北京：电子工业出版社，2018.[2] 王五, 赵六. 集成运算放大器电路设计与实验[M]. 上海：上海科学技术出版社，2019.以上即为本次集成运算放大器实验报告的全部内容。
运放参数测试
1．集成运算放大器的传输特性及输出电压的动态范围的测试运算放大器输出电压的动态范围是指在不失真条件下所能达到的最大幅度。
为了测试方便，在一般情况下就用其输出电压的最大摆幅U op-p 当作运算放大器的最大动态范围。
输出电压动态范围的测试电路如图1(a）所示。
图中u i为100Hz正弦信号。
当接入负载R L后，逐渐加大输入信号u i的幅值，直至示波器上显示的输出电压波形为最大不失真波形为止，此时的输出电压的峰峰值U op-p就是运算放大器的最大摆幅。
若将u i输入到示波器的X轴，u o输入到示波器的Y轴，就可以利用示波器的X—Y显示，观察到运算放大器的传输特性，如图1 (b) 所示，并可测出U o p-p的大小。
R1R fu o（a）运算放大器输出电压动态范围的测试电路（b）运算放大器的传输特性曲线图1（图中：R1 = R2 = 1.2kΩ，R f= 20kΩ）U op-p与负载电阻R L有关，对于不同的R L，U op-p也不同。
根据表1，改变负载电阻R L 的阻值，记下不同R L时的U op-p，并根据R L和U op-p，求出运算放大器输出电流的最大摆幅I op-p = U op-p /R L，填入表1中。
表1运算放大器的U op-p除了与负载电阻R L有关外，还与电源电压以及输入信号的频率有关。
随着电源电压的降低和信号频率的升高，U op-p将降低。
如果示波器显示出运算放大器的传输特性，即表明该放大器是好的，可以进一步测试运算放大器的其它几项参数。
2．集成运算放大器的输入失调特性及其测试方法集成运算放大器的基本电路是差分放大器。
由于电路的不对称性必将产生输入误差信号。
这个误差信号限制了运算放大器所能放大的最小信号，即限制了运算放大器的灵敏度。
这种由于直流偏置不对称所引起的误差信号可以用输入失调电压U IO、输入偏置电流I B、输入失调电流I IO及它们的温度漂移来描述。
（1）输入失调电压U IO的测试一个理想的运算放大器，当两输入端加上相同的直流电压或直接接地时，其输出端的直流电压应等于零。
集成运算放大器的指标测试
大不失真输出电压。则转换速率为： SR | dvo | max 2 fVo(max) 。当输入正弦波 υs 的频率太高时，由于 dt
受转换速率的限制，将出现输出电压的变化跟不上输入电压的变化，从而引起输出正弦波形严重失真，甚
至使输出几乎成为三角波，而且幅度也将明显地减小。
三、主要仪器设备
实验箱、信号源、示波器、导线、LM358；
放大器的开环差模电压增益为： Aod Vo Vid Vid
Vo R2
。
R1 R2
5、Vo(max) 的测试如图5.4 所示，与Aod 的测试电路相同。实验时，只需改变υs 幅度，并观察υo 是 否开始出现削顶失真，从而确定运放在一定电源电压下的最大不失真输出电压幅度Vo(max)。
6、集成运放的共模抑制比是其差模电压放大倍数 Aod 与共模电压放大倍数 Aoc 之比的绝对值，即
向与输出信号对比，不断加大输入频率，记下输出从正弦波变至三角波时的临近频率。 在实验任务 3、4、6、7 时，输出端上需用示波器监视，被测运放始终工作在线性放大区内即不饱和，
且电路没有产生自激振荡。
五、实验数据记录和处理
1-3、万用表测得数据为
VO1
VO2
VO3
VO4
-0.218V -0.220V -0.221V -0.213V
电流 IIO，设 IBP 和 IBN 分别是运放同相输入端和反相输入端的输入电流，则输入失调电流 IIO=│IBP－IBN│。 集 成 运 放 IIO 一 般 在 100nA 以 下 。 测 得 运 放 的 输 出 电 压 VO2 ， 则 输 入 失 调 电 流 为 ：
IIO | VO2 VO1 | R1 1 。 R1 R2 Rb
了使输出电压回到零，需要在输入端加上反向补偿电压，该补偿电压称为输入失调电压 VIO。VIO 可能为 正，也可能为负。高质量运放的 VIO 一般在 1mV 以下。测出输出电压 VO1 的大小（实测值可能为正，也
集成运放的主要参数以及测试方法
集成运放的性能主要参数及国标测试方法集成运放的性能可用一些参数来表示。
集成运放的主要参数：1．开环特性参数（1）开环电压放大倍数Ao。
在没有外接反馈电路、输出端开路、在输入端加一个低频小信号电压时，所测出输出电压复振幅与差动输入电压复振幅之比值，称为开环电压放大倍数。
Ao越高越稳定，所构成运算放大电路的运算精度也越高。
（2）差分输入电阻Ri。
差分输入电阻Ri是运算放大器的主要技术指标之一。
它是指：开环运算放大器在室温下，加在它两个输入端之间的差模输入电压变化量△V i与由它所引起的差模输入电流变化量△I i之比。
一般为10k~3M，高的可达1000M以上。
在大多数情况下，总希望集成运放的开环输入电阻大一些好。
（3）输出电阻Ro。
在没有外加反馈的情况下，集成运放在室温下其输出电压变化与输出电流变化之比。
它实际上就是开环状态下集成运放输出级的输出电阻，其大小反映了放大器带负载的能力，Ro通常越小越好，典型值一般在几十到几百欧。
（4）共模输入电阻Ric。
开环状态下，两差分输入端分别对地端呈现的等效电阻，称为共模输入电阻。
（5）开环频率特性。
开环频率特性是指：在开环状态下，输出电压下降3dB所对应的通频带宽，也称为开环-3dB带宽。
2.输入失调特性由于运算放大器输入回路的不对称性，将产生一定的输入误差信号，从而限制里运算放大器的信号灵敏度。
通常用以下参数表示。
（1）输入失调电压Vos。
在室温及标称电源电压下，当输入电压为零时，集成运放的输出电位Vo0折合到输入端的数值，即：Vos=Vo0/Ao失调电压的大小反映了差动输入级元件的失配程度。
当集成运放的输入端外接电阻比较小时。
失调电压及其漂移是引起运算误差的主要原因之一。
Vos一般在mV级，显然它越小越好。
（2）输入失调电流Ios。
在常温下，当输入信号为零时，放大器两个输入端的基极偏置电流之差称为输入失调电流。
即：Ios=Ib- — Ib+式中Ib-、Ib+为放大器内两个输入端晶体管的基极电流。
实验五---集成运算放大器的参数测试
实验五 集成运算放大器的参数测试一、实验目的1、学会集成运放失调电压U IO 的测试方法。
2、学会集成运放失调电流I IO 的测量方法。
3、掌握集成运放开环放大倍数Aod 的测量方法。
4、学会集成运放共模抑制比K CMR 的测试方法。
二、实验仪器及设备1、ＤＺＸ－１Ｂ型电子学综合实验台 一台2、XJ4323 双踪示波器 一台3、集成运放 uA741 一片 三、实验电路1、测量失调电压U IO 。
2、测量失调电流I IO 。
I IO =RR R U U O O ⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛+-12121式中的U O1为测失调电压U IO 时的U O1 ，U O 2 为下面电路中测得的U O 。
U IO =211R R R+U O1R2 5.1KR2 5.1K3、测量开环放大倍数Aod 。
4、共模抑制比K CMR 。
注意：Ui 必须小于最大共模输入电压U iCM ＝12V四、实验内容及步骤 1、测量失调电压U IO（1） 按图接好电路，检查电路无误后接通电源，用示波器观察输出Uo 有无振荡，若有振荡，应采用适当措施加以消除。
（2） 测量输出电压，记做U O1，并计算失调电压U IO 。
2、测失调电流I IO（1） 按图接好电路，检查电路无误后接通电源，用示波器观察输出Uo 有无振荡，若有振荡，应采用适当措施加以消除。
（2） 测量输出电压，记做U O2，并计算失调电流I IO 。
3、测量开环放大倍数Rf 5.1KA Od =UiR R R U O 323+URf 5.1KK CMR = OCO A A d=UoU R R F i1•（1） 按图接好电路，接通电源。
（2） 在输入端加入Us ＝1V ，f ＝20Hz 的交流信号，用毫伏表测量Uo 和Ui ，计算出Aod 。
4、测量共模抑制比（1） 按图接好电路，接通电源。
（2） 在输入端加入一定幅值的频率为20Hz 的交流信号，用毫伏表测量Uo 和Ui ，计算出K CMR 。
集成运算放大器的识别与好坏测试
一、测试任务 （1）集成运算放大器的识读。 （2）集成运算放大器好坏的简单测试。 （3）集成运算放大器性能的测试。 二、任务要求 按测试步骤完成所有测试内容，并撰写测试报告。 三、测试器材
（1）测试设备：示波器、万用表、信号发生器、直流稳压电源、模 拟电路实验箱（或面包板）。 （2）器件：ruA741&TImes;1、LM358&TImes;1、LM324&TImes;l。 四、任务实施步骤 1.集成运算放大器的识读 拿到集成运算放大器后，首先观察其外形，正确区分集成运放的各管 脚，了解集成运放各管脚的功能及用途。 2.集成运算放大器好坏的简单测试 （1）给集成运算放大器_uA741 同时接正负直流电源（注意用万用表 分别测量两路电源为±12 V，经检查无误方可接通±12 V 电源） ，如图 3-19 所示。
（2）分别将同相输入端或反相输入端接地，检测输出电压 Uo 是否 为 Uom 值（电源电压为±12 V 时），若是，则该器件基本良好，否则 说明器件已损坏。 将运放的两个输入端短路接地，测量运放的输出端对地电位应为零， 对正电源端电压应为-，则说 明该集成运放已不能正常工作或已损坏。
集成运算放大器基本运算电路实验
集成运算放大器基本运算电路实验
本课程旨在使学生能够掌握集成放大器的基本运算电路，能够使用特定的集成放大器验证放大器电路性能。
学习本课程的学生应该具备一定的电路理论和综合分析的能力，具备专业数学的基本知识，以及计算机编程的基本能力，具备一定的专业实验分析的能力。
一、实验目的
1.了解集成放大器的基本运算原理；
2.掌握集成放大器的基本电路；
3.熟悉集成放大器的测试参数及其误差规定；
4.设计集成放大器的实验系统；
5.对热插拔模块和IC仪器的使用。
二、实验准备
1.实验仪器：示波器、可编程示波器、数字万用表、函数发生器
2.实验调试电路：集成放大器的基本运算电路
3.实验材料：电路元件，热插拔模块等
三、实验内容
1.认识集成放大器及其基本运算电路；
2.构建集成放大器的基本运算电路；
3.测试集成放大器的功能；
4.绘制集成放大器的特性曲线；
5.分析集成放大器的工作特性。
四、实验步骤
1.准备实验电路：根据实验要求绘制集成放大器的基本运算电路，上电后检查工作是否正常；
2.测量基本电路参数：利用数字万用表测量输入电平、输出电平、电压偏置等常规参数；
3.测试电路实验：利用示波器测量输出波形、相位延时、线性度等实验参数；
4.结果分析：按要求分析实验参数，与理论曲线对比，讨论集成放大器的特性及其工作特性；
5.实验报告：根据实验结果，编制实验报告，检验实验结果是否符合要求。
集成运算放大器的线性应用实验
集成运算放大器的线性应用实验佘新平编写一、 实验目的1．了解集成运放的使用方法；2．熟悉集成运放的双电源和单电源供电方法；3．掌握集成运放构成各种运算电路的原理和测试方法。
二、 实验仪器及器件 1．双踪示波器； 2．直流稳压电源； 3．函数信号发生器；4．数字电路实验箱或实验电路板；5．数字万用表；6．集成电路芯片uA741 2块、瓷片电容0.01uF2个、电阻10k 10个、20k 5个、30k 2个、50k 2个、100k 2个、5.1k 1个、3.3k 1个、680k 1个，10k 电位器3个。
三、 预习要求1．熟悉集成电路芯片uA741的引脚图及功能； 2．掌握集成运放的工作特点；3．掌握构各种运算电路的形式及工作原理。
四、实验原理（1）集成运放简介集成电路运算放大器（简称集成运放或运放）是一个集成的高增益直接耦合放大器，通过外接反馈网络可构成各种运算放大电路和其它应用电路。
集成运放uA741的电路符号及引脚图如图1所示。
图1 uA741电路符号及引脚图任何一个集成运放都有两个输入端，一个输出端以及正、负电源端，有的品种还有补偿端和调零端等。
（a ）电源端：通常由正、负双电源供电，典型电源电压为±15V 、 ±12V 等。
如：uA741的7脚和4脚。
（b ）输出端：只有一个输出端。
在输出端和地（正、负电源公共端）之间获得输出电压。
如：uA741的6脚。
最大输出电压受运放所接电源的电压大小限制，一般比电源电压低1～2V ；输出电压的正负也受电源极性的限制；在允许输出电流条件下，负载变化时输出电压几乎不变。
这表明集成运放的输出电阻很小，带负载能力较强。
调零V - V + -V cc调零 +V cc NC V O（c ）输入端：分别为同相输入端和反相输入端。
如：uA741的3脚和2脚。
输入端有两个参数需要注意：最大差模输入电压V id max 和最大共模输入电压V ic max。
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运算放大器电参数测试方法通用集成运算放大器电路测试方法作者：李雷一、器件介绍集成运算放大器（简称运放）是模拟集成电路中较大的一个系列，也是各种电子系统中不可缺少的基本功能电路，它广泛的应用于各种电子整机和组合电路之中。
本文主要介绍通用运算放大器的测试原理和实用测试方法。
1．运算放大器的分类从不同的角度，运算放大器可以分为多类：1．从单片集成规模上可分为：单运放（如：OP07A）、双运放(AD712)、四运放(LM124)。
2．从输出幅度及功率上可分为：普通运放、大功率运放(LM12)、高压运放（OPA445）。
3．从输入形式上可分为：普通运放、高输入阻抗运放(AD515、LF353)。
4．从电参数上可分为：普通运放、高精密运放（例如：OP37A）、高速运放(AD847)等。
5．从工作原理上可分为：电压反馈型运放、电流反馈型运放（AD811）、跨倒运放(CA3180)等。
6．从应用场合上可分为：通用运放、仪表运放（INA128）、音频运放(LM386)、视频运放(AD845)、隔离运放（BB3656）等。
2．通用运放的典型测试原理图（INTERSIL公司）李雷第 1 页2008-9-10运算放大器电参数测试方法二、电参数的测试方法以及注意事项一般来说集成运算放大器的电参数分为两类：直流参数和交流参数。
直流参数主要包括：失调电压、偏置电流、失调电流、失调电压调节范围、输出幅度、大信号电压增益、电源电压抑制比、共模抑制比、共模输入范围、电源电流十项。
交流参数主要包括：大信号压摆率、小信号过冲、单位增益带宽、建立时间、上升时间、下降时间六项。
而其中电源电流、偏置电流、失调电流、失调电压、输出幅度、开环增益、电源电压抑制比、共模抑制比、大信号压摆率、单位增益带宽这十项参数反映了运算放大器的精度、速度、放大能力等重要指标，故作为考核运放器件性能的关键参数。
通常运算放大器电参数的测试分为两种方法：一种是单管测试法，另一种是带辅助放大器的测试方法。
尽管单管测试法外围线路较为简单，但由于不同运放各项电参数差异很大，不利于计算机测试系统实现自动测试，故在生产测试中较少采用（有兴趣的人员可参考北京市半导体器件研究所李铭章教授编写的《运算放大器电参数测试方法》）。
为了能采用统一的测量线路实现自动测试，发展了利用辅助放大器进行测试的新方法。
该测试方法具有以下优点：1）被测器件的直流状态能自动稳定，且易于建立测试条件；2）环路具有较高的增益，有利于微小量的精确测量；3）可在闭环条件下实现开环测试；4）易于实现不同参数测试的转换，有利于实现自动测试。
鉴于运放辅助放大器测试方法所具有的优越性，该方法已被国际电工委员会（IEC）确定为运算放大器测试标准。
我测试中心基于LTX—77 测试系统开发的通用运放测试包也是参考了该标准而设计的（可参考由胡浩同志编写的《运放测试包规范》）。
图 1 为运放的辅助放大器测试方法的基本原理图。
图中运放A 为辅助放大器，DUT 为被测运放。
辅助放大器应满足以下要求：a．开环增益大于60Db；b．输入失调电流和输入偏值电流应很小；李雷第 2 页2008-9-10c．动态范围足够大运算放大器电参数测试方法环路元件应满足下列要求：a．RI*IIB<<VIOb．R<<RIOc．R*IIB>>VIOd．ROS<<RF<<RIOe．R1=R2f．R1>>RLg．RF/RI 值决定了测试精度，但必须保证辅助运放在线性区工作。
式中：IIB-----------被测器件的输入偏置电流VIO----------被测器件的输入失调电压RIO----------被测器件的开环差模输入电阻ROS---------辅助放大器的开环输出电阻注：我测试中心通用运放测试包中RI=50 OHM，RF=10K OHM，R1=R2=100K OHM，RL=2K,10K OHM。
采用的辅助运算放大器为LF353。
2．参数测试（主要介绍10 项常规电参数的测试）2．1 输入失调电压（VOS）2．1．1 定义：运放输出电压为零（或规定值时：针对单电源运放测试）时，运放两输入端间所加的直流补偿电压。
2．1．2 测试原理图2．1．3 测试说明失调电压（VOS）测试原理如图2，图中 A 为辅助放大器，其要求是闭环增益大于40DB，李雷第 3 页2008-9-10有一定的输出幅度，一般运放均可使用。
由图看来，只要接入被测器件（DUT），由于总体环路很强的负反馈作用，被测器件的输出能自动调零，其总输出电压为：VL=(VOS+IOS*RI)(1+RF/RI) 当IOS*RI<<VOS，且RF/RI>>1 时则有VOS≌RI/RF*VL=VL/(RF/RI) 若RF=10K RI=50 OHM那末VOS=VL/200有式可见只要测的VL 值即可计算出失调电压VOS。
2．1．4 注意事项1）当被测器件为单电源运放时，K4 应连接到VREF（即LTX-77 系统的VS1），并设置VREF 为-1.4V（使被测器件输出为+1.4V），被测器件的输出在正常的范围之内。
2）输入失调电压的温度系数（温度漂移）的定义：在规定的温度范围内，单位温度变化所引起的输入失调电压的变化率。
计算公式为：&VOS=(VOS2-VOS1)/(TA2-TA1)3) 输入失调电压的调零（失调电压调解范围的测试）左图中运放的管脚 1 和管脚 5 是失调电压调零端。
右图为运放失调电压调零典型连接方法。
4）运放失调电压的单管测试法对一些复合电路（如：PWM 器件）采用单管测试法测试VOS 参数是非常方便的。
图 4为该方法的原理图，由图看出：VO=(VOS+IOS*RI)*(1+RF/RI) 当RF=10K，RI=100OHM李雷第 4 页2008-9-10时被测器件接成100 倍的放大器。
则VOS=VO/100。
因此只要测得VO，即可得到VOS。
2．2 输入失调电流（IOS）2．2．1 定义：使被测器件输出电压为零（或规定值：针对单电源运放测试）时，流入两输入端的电流之差。
2．2．2 测试原理图2．2．3 测试说明失调电流IOS 的测量。
原理如图5 所示，测试分两步进行，第一步K1，K2 同时闭合，R 被短路，辅助运放输出为VL1=(1+RF/RI)*(VOS+IOS*RI)第二步将K1，K2 同时断开，接入电阻R，辅助输出为：VL2=(1+RF/RI)*(VOS+IOS*RI+IOS*R)两电压求差得：VL2-VL1=(1+RF/RI)*IOS*R所以：IOS=(VL2-VL1)/(R*(1+RF/RI)) 当RF/RI=200 时IOS=(VL2-VL1)/(200*R)显然选用适当的R 值，只要测得&VL 即可求出失调电流IOS 之值。
2．2．4 注意事项1）当被测器件为单电源运放时，K4 应连接到VREF（即LTX-77 系统的VS1），并设置VREF 为-1.4V（使被测器件输出为+1.4V），被测器件的输出在正常的范围之内。
2）输入失调电流的温度系数（温度漂移）的定义：在规定的温度范围内，单位温度变化所引起的输入失调电流的变化率。
计算公式为：&IOS=(IOS2-IOS1)/(TA2-TA1)3) R、RI、RF 应满足下列要求：IOS*R>>VOS 同时IOS*(RI‖RF)<<VOSR、RI、RF 的精度决定了测试精度。
2．3 输入偏置电流IB李雷第 5 页2008-9-102．3．1 定义：使被测器件输出电压为零（或规定值：针对单电源运放测试）时，流入两输入端电流的平均值。
IB=(IB_+IB+)/22．3．2 测试原理图2．3．3 测试说明输入偏置电流IB的测试，测试原理图与测IOS的原理图完全相同。
测试仍分两步进行。
第一步，继电器K1 断开，K2 闭合，可测得：VL1=(1+RF/RI)*(VOS+IB-*R+IOS*RI)。
第二步，K2 断开，K1 闭合，可测得：VL2=(1+RF/RI)*(VOS-IB+*R+IOS*RI)。
两电压求差得：VL1-VL2=(1+RF/RI)*(IB_+IB+)*R所以：IB=(IB_+IB+)/2=(VL1-VL2)/(R*(1+RF/RI)) 。
当RF/RI=200 时：IB=&VL/(400*R)注意事项关于运放的输入偏置电流和输入失调电流的测试，若按图 5 的原理进行测试，由计算公式可知，它是靠偏置电流在输入端串接的电阻R上产生的压降来进行测试的，但由于各种不同输入类型的运算放大器输入偏置电流差别太大，从几个PA到几十个UA约有106数量级的差别，如果选用某一固定的电阻R不可能对大多数运放进行精确的测量。
因此我测试中心基于LTX-77 测试系统的通用运放测试包中对运放的这两项参数的测试采用了电流电压转换法来进行测试。
以下做一简单介绍：如测试原理图（图6）中的A2 是一高输入阻抗的精密运放，由于它的输入偏置电流IB<0.1PA，因此对测量大于10PA 的电流来说可以忽略它的影响。
当开关K3 接2 端时，被测器件（DUT）的输入偏置电流（IB+或IB_视开关K1、K2 的状态而定）经K3 流入电流电压转换电路，在A2 的输出端产生一电压VA，由于放大器A2 虚地作用，其反相输入端电压也近似稳定在地电位，因此该电路的接入并不影响测试环路的状态。
偏置电流的计算很简单，当IB_接入A2 时，由流压转换器的输出测得电压VA，则IB_=VA/R9。
对于10Na 以上的偏置电流的测量均可采用这种方法。
李雷第 6 页2008-9-10但对于10Na 以下电流的测量，由于电流在电阻R9 上产生的压降太小，不能准确地测出电压值（VA），这时可采用积分的方法。
即在被测电流IB+(或IB_)接入A2 电路后，断开K4 使电容 C 被IB+(或IB_)充电，并在某一时刻（T1）采得该时刻的输出电压VA1, 由于A2 反相端始终为地点位（虚地），因此充电电流IB+(或IB-)在充电过程中保持不变，设在T2 时刻由A2 输出端采得电压为VA2，则可由下式计算出电流IB+(或IB_)：IB+(或IB_)=K*(VA2-VA1)/(T2-T1) 式中K 为一比例常数。
由上式的结果就可进一步算出输入偏置电流IB 和输入失调电流IOS 分别为：IB=(IB++IB-)/2IOS=IB+-IB-我测试中心所采用的电流电压转换器中A2 为AD515 ，R9=1MOHM，C=100PF ，T2-T1=100ms。
（详细资料可参考通用运放测试包文档）2．4静态功耗PD2．4．1 定义：输入端无信号且输出端无负载时，器件所消耗的电源功率。