材料分析技术作业题(含答案)
材料现代分析方法练习题及答案(XRD,EBSD,TEM,SEM,表面分析)
8. 什么是弱束暗场像？与中心暗场像有何不同？试用Ewald图解说明。
答：弱束暗场像是通过入射束倾斜，使偏离布拉格条件较远的一个衍射束通过物镜光阑，透射束和其他衍射束都被挡掉，利用透过物镜光阑的强度较弱的衍射束成像。
与中心暗场像不同的是，中心暗场像是在双光束的条件下用的成像条件成像，即除直射束外只有一个强的衍射束，而弱束暗场像是在双光阑条件下的g/3g的成像条件成像，采用很大的偏离参量s。
中心暗场像的成像衍射束严格满足布拉格条件，衍射强度较强，而弱束暗场像利用偏离布拉格条件较远的衍射束成像，衍射束强度很弱。
采用弱束暗场像，完整区域的衍射束强度极弱，而在缺陷附近的极小区域内发生较强的反射，形成高分辨率的缺陷图像。
图：PPT透射电子显微技术1页10. 透射电子显微成像中，层错、反相畴界、畴界、孪晶界、晶界等衍衬像有何异同？用什么办法及根据什么特征才能将它们区分开来？答：由于层错区域衍射波振幅一般与无层错区域衍射波振幅不同，则层错区和与相邻区域形成了不同的衬度，相应地出现均匀的亮线和暗线，由于层错两侧的区域晶体结构和位相相同，故所有亮线和暗线的衬度分别相同。
层错衍衬像表现为平行于层错面迹线的明暗相间的等间距条纹。
孪晶界和晶界两侧的晶体由于位向不同，或者还由于点阵类型不同，一边的晶体处于双光束条件时，另一边的衍射条件不可能是完全相同的，也可能是处于无强衍射的情况，就相当于出现等厚条纹，所以他们的衍衬像都是间距不等的明暗相间的条纹，不同的是孪晶界是一条直线，而晶界不是直线。
反相畴界的衍衬像是曲折的带状条纹将晶粒分隔成许多形状不规则的小区域。
层错条纹平行线直线间距相等反相畴界非平行线非直线间距不等孪晶界条纹平行线直线间距不等晶界条纹平行线非直线间距不等11.什么是透射电子显微像中的质厚衬度、衍射衬度和相位衬度。
形成衍射衬度像和相位衬度像时，物镜在聚焦方面有何不同？为什么？答：质厚衬度：入射电子透过非晶样品时，由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异，导致透过不同区域落在像平面上的电子数不同，对应各个区域的图像的明暗不同，形成的衬度。
八年级下册材料分析(含答案)题
八年级思想品德下册材料分析题1．王某自幼没了父母，他在政府的帮助下读完了中学。
之后，他响应国家的号召，自愿到部队服兵役。
在部队，因表现出色他多次受到表扬。
退役后，他自己开了个小批发部，干起了个体经营。
由于认真守法，积极纳税，他多次被税务部门评为纳税先进个体。
后来，他又带领村民走上了富裕之路。
他的举动得到了全村的好评，被村民选为乡人大代表。
阅读材料，回答下列各题：(9分)(1)王某享受了宪法赋予的哪些权利?(2分)(2)王某履行了宪法规定的哪些义务?(2分)(3)公民的权利和义务的关系是怎样的?(2分)(4)公民该如何履行自己的义务?(3分)答：(1)受教育权、荣誉权、劳动权、选举权和被选举权。
(2分)(2)受教育，依法服兵役，依法纳税。
(2分)(3)我国公民权利义务是一致的，权利义务具有统一性．对等性，制约性。
(2分)(4)法律鼓励做的，我们积极去做；法律要求做的，我们必须去做；法律禁止做的，我们坚决不做。
(3分)2、卢勇的一天：早晨，八年级学生卢勇背起书包上学。
到了学校，卢勇把吃剩的早餐随手往教学楼的楼梯边一扔，走进了课室。
午饭后，卢勇到邮局寄信，回校的路上，看到有两名社会青年在持刀敲诈勒索一名低年级的同学，卢勇急忙到附近的公用电话亭打“110”报警。
放学后，卢勇用自己的零花钱给生病的妈妈买了一块她喜欢吃的蛋糕。
晚上，他就前两天社会调查中了解到的“六合彩”赌博泛滥的现象，向有关部门提出综合治理的书面建议。
请根据上述材料，运用所学知识回答：（1）卢勇享受了哪些权利?履行了哪些义务（至少共写出四项）。
（2）请你当一回小法官，说说在卢勇的一天活动中，哪些行为是不正确的？并就公民权利和义务问题对卢勇说几句话。
（1）卢勇享受了受教育权、通信自由权、建议权；履行了同违法犯罪作斗争的义务、扶助父母的义务、受教育的义务。
（2）卢勇随手乱扔垃圾的行为是不正确的。
我国公民权利和义务具有一致性。
保护环境是每一个公民的义务。
材料分析 题库 含答案
材料分析试题库选择题:一、1。
M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（ B )A.Kα；B. Kβ；C. Kγ；D。
Lα.2. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选（ C )A．Cu；B. Fe；C. Ni；D。
Mo。
3. 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称( A ）A.短波限λ0；B。
激发限λk；C。
吸收限；D。
特征X射线4.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生( D )A.光电子；B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. （A+C）二、1。
最常用的X射线衍射方法是（ B )。
A. 劳厄法；B. 粉末法；C. 周转晶体法;D. 德拜法。
2.射线衍射方法中，试样为单晶体的是（D ）A、劳埃法B、周转晶体法C、平面底片照相法D、 A和B3。
晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（ B）A、(364)B、（234)C、(213)D、（468)4.立方晶系中，指数相同的晶面和晶向(B ）A、相互平行B、相互垂直C、成一定角度范围D、无必然联系5。
晶面指数（111）与晶向指数（111）的关系是（ C ）。
A. 垂直；B. 平行； C。
不一定。
6.在正方晶系中,晶面指数{100}包括几个晶面（ B ).A。
6； B. 4; C. 2 D. 1；.7.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是( B )A.X射线透射学；B.X射线衍射学;C.X射线光谱学；D。
其它三、1、对于简单点阵结构的晶体，系统消光的条件是（ A ）A、不存在系统消光B、h+k为奇数C、h+k+l为奇数D、h、k、l为异性数2、立方晶系{100}晶面的多重性因子为( D ）A、2B、3C、4D、63、洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是（ A ）A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响4、洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是（ B )A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响5、洛伦兹因子中，第三几何因子反映的是（ C ）A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响6、对于底心斜方晶体，产生系统消光的晶面有( C ）A、112B、113C、101D、1117、对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有（ C )A、200B、220C、112D、1118、热振动对x—ray衍射的影响中不正确的是（E )A、温度升高引起晶胞膨胀B、使衍射线强度减小C、产生热漫散射D、改变布拉格角E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为( C )A、结构因子B、角因子C、多重性因子D、吸收因子四、1、衍射仪的测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30度角时，计数管与入射线成多少度角?（B）A. 30度； B。
材料分析测试技术习题及答案
第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它2. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（）A.Kα；B. Kβ；C. Kγ；D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（）A．C u；B. Fe；C. Ni；D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（）A.短波限λ0；B. 激发限λk；C. 吸收限；D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（）（多选题）A.光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）二、正误题1. 随X射线管的电压升高，λ0和λk都随之减小。
（）2. 激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。
（）3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。
（）4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
（）5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。
（）三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、、、、。
3. 经过厚度为H的物质后，X射线的强度为。
4. X射线的本质既是也是，具有性。
5. 短波长的X射线称，常用于；长波长的X射线称，常用于。
习题1.X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？2.分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；（2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；（3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
3.什么叫"相干散射”、"非相干散射”、"荧光辐射”、"吸收限”、"俄歇效应”、"发射谱”、"吸收谱”？4.X射线的本质是什么？它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在？用哪些物理量描述它？5.产生X射线需具备什么条件？6.Ⅹ射线具有波粒二象性，其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中？7.计算当管电压为50 kv时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
(完整版)材料分析方法试题及答案07
材料现代分析方法试题7（参考答案）一、基本概念题（共10题，每题5分）1．欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？答：欲使Cu样品产生荧光X射线辐射,V =1240/λCu=1240/0.15418=8042,V =1240/λCu=1240/0。
1392218=8907激发出荧光辐射的波长是0。
15418nm激发出荧光辐射的波长是0.15418nm2．判别下列哪些晶面属于［11]晶带：（0），（1），(231），（211）,(01），（13），(12），（12)，（01），(212)。
答：（0）（1）、（211）、（12)、(01)、（01）晶面属于［11]晶带，因为它们符合晶带定律:hu+kv+lw=0。
答：（0）(1）、（211）、(12）、（01）、（01）晶面属于[11］晶带,因为它们符合晶带定律：hu+kv+lw=0。
3．用单色X射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成什么图案?为摄取德拜图相,应当采用什么样的底片去记录？答:用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案；为摄取德拜图相,应当采用带状的照相底片去记录.4．洛伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的？答:洛伦兹因数是表示掠射角对衍射强度的影响。
洛伦兹因数表达式是综合了样品中参与衍射的晶粒大小，晶粒的数目和衍射线位置对衍射强度的影响。
5．给出简单立方、面心立方、体心立方以及密排六方晶体结构电子衍射发生消光的晶面指数规律。
答：常见晶体的结构消光规律简单立方对指数没有限制（不会产生结构消光）f. c. c h。
k. L. 奇偶混合b. c。
c h+k+L=奇数h。
c。
p h+2k=3n, 同时L=奇数体心四方 h+k+L=奇数6．透射电镜的成像系统的主要构成及特点是什么?答：透射电镜的成像系统由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜（1、2）和投影镜组成。
《材料分析测试技术》课程试卷答案
一、选择题:（8分/每题1分）1。
当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）。
A. 光电子；B. 二次荧光；C。
俄歇电子；D。
（A+C）2。
有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0。
194nm）照射该晶体能产生（B）衍射线。
A。
三条; B 。
四条；C. 五条；D. 六条.3。
.最常用的X射线衍射方法是（B )。
A。
劳厄法；B. 粉末多晶法；C. 周转晶体法；D。
德拜法。
4. 。
测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析,常用方法是（C )。
A。
外标法；B。
内标法；C。
直接比较法；D。
K值法。
5。
可以提高TEM的衬度的光栏是（B )。
A。
第二聚光镜光栏；B。
物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。
6. 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是( D）。
A。
六方结构；B。
立方结构；C。
四方结构；D. A或B。
7。
将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（C）.A。
明场像;B. 暗场像；C. 中心暗场像;D.弱束暗场像。
8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（B）。
A. 背散射电子；B. 二次电子;C。
吸收电子；D。
透射电子。
一、判断题：(8分/每题1分）1.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态.（√)2.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。
（√）3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。
（×）4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。
( ×）5.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平。
（√）6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。
（×)7.实际电镜样品的厚度很小时，能近似满足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像。
人教版七年级历史上册材料分析题训练及答案
人教版七年级历史上册材料分析题训练1.材料一：中华开国五千年，神州轩辕自古传。
创造指南车，平定蚩尤乱。
世界文明，唯有我先。
———孙中山材料二：材料三：（1）材料一中的“轩辕”指的是谁？（2）是哪两个部落联合起来平定了蚩尤部落？（3）结合材料一和材料二，说说这个人物对人类做出哪些贡献？被后人尊称为什么？2.材料一：夏朝的国王把人当做坐骑，还把自己比为太阳，人们对他恨之入骨，纷纷咒骂他。
材料二：后赋税以实鹿台之钱，而盈巨桥之粟。
（1）材料二出自哪部书？（2）材料一中所描写的“夏朝的国王”和材料二中所描写的“商朝的国王”分别是谁？（3）他们的所作所为最终导致了怎样的后果？给你的启示或者你最想说的一句话是什么？3.材料一：管仲相桓公，霸诸侯，一匡天下。
——《论语》材料二：治世不一道，便国不法古。
——商鞅材料三：（1）材料一，齐桓公任用管仲为相。
采取了哪些措施发展本国的势力？（改革措施）这些措施起到了什么作用？（2）材料二“治世不一道，便国不法古”的意思是什么？商鞅变法是在什么时间进行的？是在谁的支持下开始变法的？变法的内容是什么？具有什么作用？（3）材料三是描绘了什么场景？请说说：战国时期的各国变法是当时社会发生了怎样的变化？4.材料一：长太息以掩涕兮，哀民生之多艰！……路漫漫其修远兮，吾将上下而求索。
材料二：（1）这首诗的作者是谁？他被世界和平理事会定为什么？（2）作者生活在什么时期的哪个国家？他创作了一种新体诗歌是什么？他的代表作是什么？（4）这句话是什么意思？表达了作者什么样的思想感情？（5）我国的哪个传统节日和这位诗人有关？（6）结合材料，谈谈你觉得应该学习他什么样的品质？5.材料一：学而时习之，不亦说乎？知之为知之，不知为不知三人行，必有我师焉。
——《论语》（1）上图的人物是谁？（2）他是哪个学派的创始人？他所创立的学说在战国时期的主要代表人物是谁？（3）他的主张是什么?（4）他对教育的贡献有哪些？（5）请用一句话评价该人物？（6）读了材料一的三句话，你受到什么启发？6、材料一:秦王扫六合，虎视何雄哉！材料二：材料三：材料四：材料五：（1）料一的这句话是谁说的？这句话的意思是什么？（2）材料二的人物是谁？你如何评价他？（3）材料三、材料四、材料五反映了秦朝的哪些方面的措施？（4）这些措施的实施有何积极作用？7.材料一：材料二：壮士不死则已，死即举大名耳，王侯将相宁有种乎？（1）材料一反映的历史事件是什么？领导者是谁？这一事件发生的原因是什么？（2）材料二的这句话出自哪？是哪位农民领袖说的话？（3）请说出这次起义的时间和地点？（4）请用一句话来评价这次农民起义？8.材料一：材料二：（1）材料一中的中间人物是哪位皇帝？请你结合史实谈谈他在位时的统治措施有哪些？（2）材料二反映的是什么场景？我国古代最高的学府是什么？其地点在哪？其主要教材是什么？（3）材料二的现象说明了什么？9.材料一：造作水排，铸为农器，用力少，见功多，百姓便之。
材料分析技术知识点例题精析练习题(附答案)
材料分析技术知识点例题精析练习题(含答案) 第一章节知识点1.名词解释：晶面指数用于表示一组晶面的方向，量出待定晶体在三个晶轴的截距并用点阵周期a,b,c度量它们，取三个截距的倒数，把它们简化为最简的整数h,k,l，就构成了该晶面的晶面指数。
晶向指数表示某一晶向（线）的方向。
干涉面为了简化布拉格公式而引入的反射面称为干涉面。
2下面是某立方晶系物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重新排列：（123），（100），（200），（311），（121），（111），（210），（220），（130），（030），（221），（110）。
排序后：（100）（110）（111）（200）（210）（121）（220）（221）（030）（130）（311）（123）3当波长为λ的x射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl）反射线的波程差是多少？相邻两个（hkl）反射线的波程差又上多少？相邻两个（hkl）晶面的波程差为nλ，相邻两个（HKL）晶面的波程差为λ。
4原子散射因数的物理意义是什么？某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系？原子散射因数f是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个原子散射波的振幅。
它表示一个原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下散射波振幅的f倍。
它反应了原子将X射线向某一方向散射时的散射效率。
关系：z越大，f越大。
因此，重原子对X射线散射的能力比轻原子要强。
第二章节知识点1、名词解释：（1）物相在体系内部物理性质和化学性质完全均匀的一部分称为“相”。
在这里，更明白的表述是：成分和结构完全相同的部分才称为同一个相。
（2）K系辐射处于激发状态的原子有自发回到稳定状态的倾向，此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量的降低。
原子从高能态变成低能态时，多出的能量以X射线形式辐射出来。
当K电子被打出K层时，原子处于K激发状态，此时外层如L、M、N……层的电子将填充K层空位，产生K系辐射。
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第一章1、名词解释:(１)物相:在体系内部物理性质与化学性质完全均匀得一部分称为“相”。
在这里,更明白得表述就是：成分与结构完全相同得部分才称为同一个相。
(２)Ｋ系辐射:处于激发状态得原子有自发回到稳定状态得倾向,此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量得降低。
原子从高能态变成低能态时，多出得能量以X射线形式辐射出来。
当K电子被打出Ｋ层时，原子处于K激发状态，此时外层如L、M、N……层得电子将填充K层空位,产生K系辐射。
（3）相干散射:由于散射线与入射线得波长与频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件(4)非相干散射:X射线经束缚力不大得电子（如轻原子中得电子)或自由电子散射后，可以得到波长比入射Ｘ射线长得Ｘ射线,且波长随散射方向不同而改变。
（5)荧光辐射:处于激发态得原子,要通过电子跃迁向较低得能态转化,同时辐射出被照物质得特征X射线,这种由入射Ｘ射线激发出得特征X射线称为二次特征X射线即荧光辐射。
(6)吸收限:激发K系光电效应时,入射光子得能量必须等于或大于将K电子从K层移至无穷远时所作得功WK,即将激发限波长λＫ与激发电压ＶK联系起来。
从X射线被物质吸收得角度，则称λK为吸收限。
(7)★俄歇效应:原子中K层得一个电子被打出后,它就处于K激发状态,其能量为EK。
如果一个L层电子来填充这个空位,K电离就变成Ｌ电离,其能量由ＥK变成EL,此时将释放EK－EL得能量。
释放出得能量,可能产生荧光X射线,也可能给予L层得电子,使其脱离原子产生二次电离。
即K层得一个空位被L层得两个空位所代替,这种现象称俄歇效应、２、特征X射线谱与连续谱得发射机制之主要区别？特征X射线谱就是高能级电子回跳到低能级时多余能量转换成电磁波。
连续谱:高速运动得粒子能量转换成电磁波。
3、计算0、071ｎm(ＭoＫα)与0、15４nm(CｕKα）得X射线得振动频率与能量4、ｘ射线实验室用防护铅屏,若其厚度为1mm,试计算其对Cuｋα、Moｋα辐射得透射因子(Ｉ透射/I入射)各为多少？第二章1.名词解释：晶面指数:用于表示一组晶面得方向,量出待定晶体在三个晶轴得截距并用点阵周期a,b,c度量它们，取三个截距得倒数,把它们简化为最简得整数h,k,l,就构成了该晶面得晶面指数。
晶向指数:表示某一晶向(线）得方向。
干涉面：为了简化布拉格公式而引入得反射面称为干涉面。
2下面就是某立方晶系物质得几个晶面,试将它们得面间距从大到小按次序重新排列：(１23）,(１00）,(２00）,(311),(121),(11１）,(2１０),(220),(1３0),(030）,(22１）,（1１0)。
排序后:(100）(1１0）(111）（200)(210)(121)（２２0)(22１）(0３0)(130)(３１1)（１23）3当波长为λ得ｘ射线照射到晶体并出现衍射线时,相邻两个(hkｌ)反射线得波程差就是多少？相邻两个(hkl)反射线得波程差又上多少？相邻两个(hｋl)晶面得波程差为nλ,相邻两个（HKL)晶面得波程差为λ。
4原子散射因数得物理意义就是什么？某元素得原子散射因数与其原子序数有何关系?原子散射因数f就是以一个电子散射波得振幅为度量单位得一个原子散射波得振幅。
它表示一个原子在某一方向上散射波得振幅就是一个电子在相同条件下散射波振幅得f倍。
它反应了原子将X射线向某一方向散射时得散射效率。
关系:z越大，f越大。
因此,重原子对X射线散射得能力比轻原子要强。
第三章1．衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同？入射X射线得光束:都为单色得特征X射线,都有光栏调节光束。
不同：衍射仪法:采用一定发散度得入射线,且聚焦半径随2ɵ变化。
德拜法：通过进光管限制入射线得发散度。
试样形状:衍射仪法为平板状,德拜法为细圆柱状。
试样吸收:衍射仪法吸收时间短,德拜法时间长。
记录方式：衍射仪法采用计数率仪作图,德拜法采用环带形底片成相,而且它们得强度(I）对(2ɵ)得分布曲线也不同。
2．用直径５、73cｍ得德拜相机能使Cuｋα双重线分离开得最小角就是多少?（衍射线宽为０、０3cm,分离开即就是要使双重线间隔达到线宽得两倍）。
３．试述ｘ射线衍射物相分析步骤？及其鉴定时应注意问题？步骤：(1)计算或查找出衍射图谱上每根峰得d值与i值（2）利用i值最大得三根强线得对应d值查找索引,找出基本符合得物相名称及卡片号。
（3）将实测得d、ｉ值与卡片上得数据一一对照,若基本符合,就可以定为该物相。
注意问题:(1)d得数据比i/i0数据重要(2)低角度线得数据比高角度线得数据重要（3)强线比弱线重要,特别要重视d值大得强线(4）应重视特征线(5)应尽可能地先利用其她分析、鉴定手段,初步确定出样品可能就是什么物相,将它局限于一定得范围内。
第四章1、电子束入射固体样品表面会激发哪些信号?它们有哪些特点与用途?1)背散射电子：能量高;来自样品表面几百ｎｍ深度范围;其产额随原子序数增大而增多、用作形貌分析、成分分析以及结构分析。
2）二次电子:能量较低;来自表层5—１0nm深度范围；对样品表面化状态十分敏感。
不能进行成分分析、主要用于分析样品表面形貌。
3)吸收电子:其衬度恰好与ＳE或ＢE信号调制图像衬度相反;与背散射电子得衬度互补。
吸收电子能产生原子序数衬度,即可用来进行定性得微区成分分析、4）透射电子:透射电子信号由微区得厚度、成分与晶体结构决定、可进行微区成分分析。
5)特征X射线: 用特征值进行成分分析，来自样品较深得区域6)俄歇电子:各元素得俄歇电子能量值很低;来自样品表面1—2nｍ范围。
它适合做表面分析。
7)阴极荧光:入射电子束发出材料表面时,从样中激发出来得可见光或红外光。
８)感应电动势:入射电子束照射半导体器件得PN结时,将产生由于电子束照射而引起得电动势。
９)弹性与非弹性散射电子：可以采用不同检测仪器,将其转变为放大得电信号,并在显像管荧光屏上显示出来,测试样品得形貌结构与成分。
2、分析电子衍射与ｘ射线衍射有何异同?电子衍射就是物质波得衍射,就是二维衍射;X射线衍射就是一维，就是一种电磁波。
它们衍射得基本原理与衍射花样得几何特征相似,而且都遵循劳厄方程或布拉格方程。
区别：（1）、电子波得波长短，则受物质散射强。
（2）、电子衍射强度大,要考虑它们之间得相互作用,使得电子衍射花样分析，特别就是强度分析变得复杂。
不能像X射线一样从测量强度来广泛地测定晶体结构。
（3）、由于电子衍射强度高导致电子穿透能力有限，因此较多使用于研究微晶、表面与薄膜晶体。
（4）当晶粒大小只有几微米,甚至更小时,就不能用X射线衍射了,要用透射电镜在放大几万倍下,有目得得选择这些晶体，用选区电子衍射与微束电衍射来确定其物象与结构。
第五章1、透射电镜主要由几大系统构成?各系统之间关系如何?通常透射电镜由电子光学系统、电源系统、真空系统、循环冷却系统与控制系统组成,其中电子光学系统就是电镜得主要组成部分，其她系统为辅助系统。
2、如何测定透射电镜得分辨率与放大倍数?电镜得哪些主要参数控制着分辨率与放大倍数?(1)点分辨率测定方法:Pt或贵金属蒸发法。
将Pt或贵金属真空加热蒸发到支持膜(火棉胶、碳膜)上,可得到粒径0、５－１ｎm、间距０、2-1nm得粒子。
高倍下拍摄粒子像,再光学放大5倍,从照片上找粒子间最小间距,除以总放大倍数,即为相应得点分辨率。
(２)晶格分辨率测定方法：利用外延生长方法制得得定向单晶薄膜做标样,拍摄晶格像。
（3）放大倍数得标定方法:用衍射光栅复型为标样，在一定条件下(加速电压、透镜电流),拍摄标样得放大像,然后从底片上测量光栅条纹像间距，并与实际光栅条纹间距相比即为该条件下得放大倍数。
(４)透射电镜得放大倍数随样品平面高度、加速电压、透镜电流而变化。
３、说明多晶、单晶及非晶衍射花样得特征及形成原理。
答:单晶花样就是一个零层二维倒易截面,其倒易点规则排列,具有明显对称性，且处于二维网络得格点上。
因此表达花样对称性得基本单元为平行四边形。
多晶面得衍射花样为：各衍射圆锥与垂直入射束方向得荧光屏或照相底片得相交线，为一系列同心圆环、每一族衍射晶面对应得倒易点分布集合而成一半径为1/d得倒易球面,与Ewａｌd球得相惯线为园环,因此，样品各晶粒{hｋl}晶面族晶面得衍射线轨迹形成以入射电子束为轴，2Ｒi为半锥角得衍射圆锥，不同晶面族衍射圆锥2R i不同,但各衍射圆锥共顶,共轴、非晶得衍射花样为一个圆斑、第六章1.扫描电镜得分辨率受哪些因素影响?用不同得信号成像时,其分辨率有何不同?所谓扫描电镜得分辨率就是指用何种信号成像时得分辨率？（1)在其她条件相同得情况下(如信噪比、磁场条件及机械振动等)电子束得束斑大小、检测信号得类型以及检测部位得原子序数就是影响扫描电子显微镜分辨率得三大因素。
（2)成像分辨率（nｍ）:二次电子５－10，背散射电子50-2０0，吸收电子1０0-100０特征Ｘ射线100-10０0,俄歇电子5-１0（３)所谓扫描电镜得分辨率就是指二次电子像得分辨率。
2.二次电子像与背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处?二次电子像与背散射电子像都可以利用信号得强弱作表面形貌衬度分析。
但就是二次电子得分辨率高,能量低,因而可以得到层次清晰,细节清楚得图像，而背散射电子就是在一个较大得作用体积内被入射电子激发出来了,成像单元变大,因此分辨率低,而且其能量大,会形成很强得衬度，失去细节。
3、★波谱仪与能谱仪各有什么优缺点?波谱仪分析得元素范围广、探测极限小、分辨率高，适用于精确得定量分析。
其缺点就是要求试样表面平整光滑,分析速度较慢，需要用较大得束流,从而容易引起样品与镜筒得污染。
能谱仪虽然在分析元素范围、探测极限、分辨率等方面不如波谱仪,但其分析速度快,可用较小得束流与微细得电子束,对试样表面要求不如波谱仪那样严格,因此特别适合于与扫描电子显微镜配合使用。
第七章1、俄歇电子谱仪得基本原理与特点基本原理:入射电子束或Ｘ射线使原子内层能级电子电离,外层电子产生无辐射俄歇跃迁,发射俄歇电子,用电子能谱仪在真空中对它们进行探测。
(1)提供固体表面0-３ｎm区域薄层得成分信息；（2）除H、He以外得所有元素;(3）对轻元素敏感;(4）分析≦50nm 区域范围内得成分变化;（5)提供元素化学态;（６)可测深度－成分分布得变化；(7)对于多数元素,定量检测得灵敏度为0、1﹪-1、0﹪;采用元素敏感系数计算时,定量分析得精度局限在所存元素得30﹪;2、X射线光电子能谱仪得基本原理与特点基本原理:用一定能量得光子束(X射线）照射样品,使样品原子中得内层电子以特定几率电离,产生光电子，光电子从样品表面逸出进入真空,被收集与分析。