chroma测试系统培训资料.ppt
Chroma 8000培训资料课件(1)
汇报人：任老师 2023-12-28
目录
• Chroma 8000简介 • Chroma 8000技术原理 • Chroma 8000操作指南 • Chroma 8000案例分析 • Chroma 8000与其他产品的比较 • Chroma 8000售后服务与支持
Chroma 8000支持定制化开发，可根据客户需求进行定制和优化 。
Chroma 8000操作
03
指南
安装与配置
硬件安装
按照产品说明书，正确连接Chroma 8000的电源 和信号线，确保设备正常运行。
软件安装
在计算机上安装Chroma 8000的驱动程序和软件 ，以便进行设备控制和数据采集。
Chroma 8000能够提高生产效率和实 验效率，帮助用户更快地完成任务。
使用Chroma 8000可以降低用户的运 营成本和维护成本。
Chroma 8000技术
02
原理
工作原理
色彩管理
Chroma 8000采用先进的色彩管 理技术，通过色彩空间转换和色 彩校正，实现精准的色彩还原和
匹配。
硬件加速
解决方案
效果
根据客户需求，定制Chroma 8000颜色检 测设备，并为其提供专业培训和技术支持 ，确保客户能够熟练使用设备。
客户在使用Chroma 8000后，有效提高了 产品质量和生产效率，降低了人工检测成 本和误差率。
成功案例二
客户背景
某食品生产企业，产品种类繁多，对食品包装颜色检测有较高要求。
科研实验
Chroma 8000也适用于各 种科研实验，如化学分析 、生物实验等。
其他领域
除了工业控制和科研实验 ，Chroma 8000还应用于 医疗设备、航空航天等领 域。
chroma8000质量认证管理培训资料_REJ(PPT 85页)
20) Total Regulation Test : 用以量測在改變測待物輸 入電源及負載大小，至最壞 狀況時之輸出特性。
Td 测试
HOLD UP TIME TEST
FALL TIME TEST
過載保護測試
输入电压 极限测试
數位式萬用電表
(HP 34401A)
直 流 電 子 負 載 (6334、63303、63302、63307)
時序及雜訊分析儀
(6011)
工業級電腦
(IPC)
可 程 式 直 流 電 源 供 應 器 ( 62012P-80-60 )
過 電 壓 保 護 及 短 路 測 試 器 (6012、80612)
電源控制器
• 9) Chroma 6013「電源控制器」可以同時控制AC 與DC 輸入，此
外，它還可以控制AC電源的開/關機角度，並可以量測待測物 （UUT）的輸入湧浪電流。
2.操作介紹
此為使用者權限設定視窗 ※op及supervisor為預設的使用 層級,是無法被刪除或修改的。
此處為測試程式的發行 此頁為測試程式發行視窗
ATS的測試程式控制，無法用一般IEEE-488指令來驅動它，也無外加的 鍵盤可以控制
安裝EMU注意事項:
• 通常EMU背面板上的4個輸入端口中1﹑2﹑3為AC輸
入口,4為DC輸入口.
• 在從AC或DC Source輸出接入EMU時,必須注意極性,
必須H對H,L對L,GND對GND,否則易損壞601.
(6013、80613)
功率分析儀
(6630)
可程式交流電源供應器
(6530)
chroma63212编程手册
Chromaxxx编程手册一、概述Chromaxxx是一款先进的电子测试与测量仪器，广泛应用于电子设备制造、航空航天、通讯等领域。
为了更好地发挥Chromaxxx的功能，掌握其编程方法至关重要。
本手册将详细介绍Chromaxxx的编程接口、指令集和使用方法，帮助用户轻松实现自动化测试与数据采集。
二、编程接口介绍1. 通讯接口Chromaxxx支持多种通讯接口，包括GPIB、USB、LAN等。
用户可以根据实际需求选择合适的通讯接口，方便与PC或其他设备进行数据交互。
2. 编程语言支持Chromaxxx提供了丰富的编程语言支持，包括LabVIEW、C/C++、C#、VB等。
用户可以根据自己的熟悉程度和项目需求选择合适的编程语言，实现与Chromaxxx的无缝集成。
三、指令集介绍1. 基本指令Chromaxxx的基本指令包括初始化连接、设置参数、发送指令、接收数据等。
用户可以通过这些基本指令实现对Chromaxxx的控制和数据采集。
2. 高级指令Chromaxxx还提供了丰富的高级指令，包括自动测试程序的执行、数据分析和报告生成等。
用户可以利用这些高级指令实现更复杂的功能，提高测试效率和数据处理能力。
四、编程实例以下是一个简单的LabVIEW编程实例，演示了如何使用Chromaxxx进行电压测量：1. 初始化连接：使用GPIB接口初始化与Chromaxxx的连接；2. 设置参数：设置电压测量的范围和精度；3. 发送指令：发送测量指令给Chromaxxx，触发电压测量；4. 接收数据：接收Chromaxxx返回的电压测量结果；5. 数据显示：将测量结果显示在LabVIEW界面上，方便用户观察和分析。
五、编程注意事项1. 错误处理在编程过程中，用户应注意加入错误处理机制，及时捕获和处理Chromaxxx返回的错误信息，确保编程的稳定性和可靠性。
2. 资源释放在编程结束后，用户应注意及时释放Chromaxxx所占用的资源，包括关闭通讯接口、释放内存等，以避免资源泄漏和系统不稳定性。
8000ATE培训教程
9. Over Load Protection Test 过电流保护测试：用以量测在过载保护点瞬 间待测物的输出特性。 10. Voltage Regulation Test 电源及负载效应测试（CC模式）：用以量测在 负载大小及输入电源之电压同时改变时，对于待测物输出电压所产生的影响。 11. Current Regulation Test （CV模式）：用以量测在负载大小及输入电源 之电压同时改变时，对于待测物输出电流所产生的影响。 12. Load Pre Setup负载设定：设定负载的拉载模式（CC，CV，CR ） 。 13. OVP/UVP Test 过电压/欠电压保护测试：用以量测在过压或欠压保护点 瞬间待测物的输出特性。 14. Dynamic Test 动态测试：用以量测待测物在动态负载条件下的输出特性。 15. Sync Dynamic Test 同步动态测试：同 Dynamic Test，适用与多组输出 的开关电源。
ENG-TE 刘栋
CHROMA 8000 ATE培训教材
ENG-TE
DESIGNED BY TE(DONG.LIU)
ENG-TE 刘栋
一 CHROMA 8000 基本配置： 系统控制器（工业计算机及外围设备）IPC 可程序交流电源供应器（Programmable AC Source） 直流电子负载（DC Load） 功率分析仪（Power Analyzer） 纹波时序分析仪 （ Timing & Noise Tester） 电源控制器(ON/OFF Analyzer) Short / Ovp控制器（Short/OVP Test Analyzer）
若联机成功则此处会 出现successfully字 样。
ENG-TE 刘栋
·执行界面介绍(2)
Chromera 现场培训教程(A 版)
双击桌面上的如下图标进入软件
耐心等待软件登录
进入软件后界面如下
双击Instrument列表上的不同用户名下的想要 操作的LC名，进入该LC的操控界面
双击要用的LC后，Chromera将从硬件配置界面 （Chromera manager)进入用户操作界面，请耐心等 待，下图显示正在登陆中
• •
4,冲洗进样器 (Flash Autosampler)
• • • • • • • • • • • • • • • 何时执行？ 改变溶剂时。 发现注射器及其管路内有气泡时。 每天开机和关机的时候。 操作步骤： 确保洗针液瓶中有洗针液，同时取液管路在液面以下。 双击桌面上的 Chromera manager图标，登陆相应的仪器系统，进入手动控制manual control状 态。 在冲洗自动进样器Flash Autosampler处, 输入冲洗体积Flush Volume 和冲洗次数Number of Flush Cycles，并点击 应用按键，仪器将按所设参数执行自动冲洗过程。 冲洗进样器时，请观察此处是否有气泡 在仪器执行自动冲洗过程，请观察 并确保注射器syringe和自动进样器 的管路内无气泡。
如下为例：对Flexar仪器编了一个LiTest方法，在左上角显示了该方 法的四项内容，点击任意一项，在中间会显示该项的所有参数
以Instruments为例：双击后，仪器 操控参数显示如下图
下一页我们开始建立一个方法,准备 做样了
• 方法文件（Method )包含了我们做样所需的 • 仪器在线信息和样品采集后的离线信息
装样量应为小瓶容积的1/3至2/3
7,三步法操作或的定量结果
• 1.建立新的方法文件 • 2.建立序列表 • 3.运行序列 •
Chroma6000测试参数讲解
4 . LOAD REG：
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4 . LOAD REG：
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說明：LOAD REG 測試是固定輸入電壓條件、變動輸出負載、量測輸出電壓的變動狀況、以I/R-1為 基準、量測與計算 I/R2 與 I/R-1輸出電壓差異、量測與計算 I/R3 與 I/R-1輸出電壓差異、無論 是向上或向下偏移不可超出dv﹝+﹞/dv﹝-﹞的規格。 1.dv﹝+﹞/﹝-﹞：出電壓變動率的上下規格設定。 ﹝Vdc2﹞-﹝Vdc1﹞ ﹝Vdc1﹞ ﹝Vdc3﹞-﹝Vdc1﹞ ﹝Vdc1﹞
五. Delay Time ﹝延遲時間﹞
Overshoot Ring
V
Delay Time 必須在電氣回復後 才不會量測出奇怪的電氣特性。
Von
T
Delay time
Measurement time
六. RiseTime ﹝爬升時間﹞
文字說明： Vout(DC) Vb Va就是輸出電壓的 10% 。 Vb就是輸出電壓的 90% 。 Va--Vb的時間就是出電壓上升的時間。 Va 時間 ﹝T﹞
4.Trig Port ： 觸發信號量測點選擇﹝M1~M10 OR L1~L6﹞“M=METER L=LOAD＂ 5.Vtrig ： 觸發電壓的設定、簡易說當輸出電壓等於Vtrig時視同OPP發生。
Байду номын сангаас
6.Trig Type：定義觸發電壓的形式﹝AC / DC﹞。 7. Trig Slope：宣告觸發信號是上升的﹝Rise﹞、還是下降的﹝Fail﹞。
1. PAUSE function ﹝Y/N﹞：選擇是否要執行中斷功能。 2. Display message during PAUSE： 暫停 / 中斷期間是否要顯示訊息﹝訊息是閃爍的、必須按 下ENTER鍵才會繼續執行下面測試步驟﹞。
EZChrom现场培训教材_New
Agilent1120HPLC工作站EZChrom Compact3.3.0现场培训简明教材安捷伦科技有限公司生命科学与化学分析事业部2008年4月目录1概述 (4)手册目的 (4)仪器准备1120HPLC (4)仪器结构组成 (5)1120仪器的可用连接口 (5)溶剂准备 (6)计算机要求 (6)2开机和平衡系统 (7)启动EZChrom工作站 (7)仪器状态监控和开关 (8)冲洗(灌注)系统,排除气泡 (10)3编辑采集方法 (11)启动方法向导来创建方法 (11)设置柱式加热炉(柱温箱)的参数 (12)设置泵的参数 (13)设置VWD检测器的参数 (15)设置自动进样器的参数 (16)辅助谱图的参数设置 (17)触发器 (17)积分事件/参数的设置 (18)峰/组表的设置 (18)高级方法选项 (19)创建和编辑报告 (20)方法属性 (20)下载方法 (21)前处理 (22)4单次运行 (24)预览运行 (24)单次运行 (24)提前结束运行或延长运行时间 (26)样品排队 (27)5建立和编辑序列 (27)序列向导 (28)序列向导--方法 (28)序列向导--未知样品 (29)序列向导--校正 (31)序列向导--报告 (32)编辑和保存序列表 (32)序列属性 (34)6序列运行 (36)开始运行 (36)运行过程中的操作 (37)提前停止序列 (38)运行队列 (39)7色谱图的常用操作及积分 (41)打开色谱数据文件 (41)色谱图的修饰和标注 (43)积分事件 (43)应用积分参数分析当前数据 (46)8定量分析 (47)定义峰 (47)色谱峰表格中各栏的意义 (50)外标的单级校正 (55)内标的单级校正 (58)多级外标校正 (61)9编辑报告模板 (65)打开并修改面积百分比报告模板 (65)打开并修改外标法报告模板 (69)打开并修改内标法报告模板 (71)10实验室监控和诊断软件 (73)添加要监控的仪器 (73)正常开启实验室监控和诊断软件 (75)系统信息 (75)测试 (76)校正 (77)状态报告 (78)日志和结果 (78)工具 (78)停止监控 (79)1概述手册目的了解HPLC的原理和1120HPLC的结构。
CHROMA6000测试程式项目分类.ppt
一般測試 ：
1. Input/Output 2. Dynamic 3. Sync Dynamic
12. Hold on adjust 14. Static 25. Sync Dynamic2
Regulation 測試 ：
4. Load REG. 5. Cross REG. 6. Line REG.
EMU亦同時可量 測在輸入電源加 到待測物前360ms 內之輸入湧浪電 流。
WORKING
ON
BETTER
SOLUTIONS
1998.1.23 ver. E-02
Turn ON & SEQUENCE TEST (3)
AC SOURCE OUTPUT 0
ON PHASE DELAY
UUT AC INPUT
丁
SOLUTIONS
1998.1.23 ver. E-02
Cross Regulation (1)
交叉負載效應測試 用以量測當待測物
中其他組輸出電源 的負載變化時對某 一特之輸出電壓的 影響。
WORKING
ON
BETTER
SOLUTIONS
1998.1.23 ver. E-02
Cross Regulation (2)
電源效應測試 用來量測輸出
Load 負載固定， 而輸入Line Voltage變動， 來觀察Vin 的 變化對輸出的 電壓特性的影 響。
WORKING
ON
BETTER
SOLUTIONS
1998.1.23 ver. E-02
Line Regulation Test (2)
所有的待測物 在測試全程中 依指定負載大 小加載。
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直流输出电压 DC Output Voltage 输出峰值噪声 Peak to Peak Noise 输出噪声有效值 RMS Noise 动态响应 Dynamic Response ( Max. 125KHz rate ) 输入调整率 Line Regulation 负载调整率 Load Regulation 交叉调整率 Cross Regulation
可扩充性
其它
LEKE
®
系統硬件組成
开关电源分析仪
6000 SMPS ATE
扩展测量单元
- model 601
可程控交/直流源
OVP
可程控直流源
其它测试设备
LEKE
®
系统硬件组成
开关分析仪
可程控 电子负载
4 1/2 DMM
电流变化率 (2.5A/us) Von control 动态负载 (125KHz) Voltage : Vdc, dV Current : Idc Noise : Vpp, Vn
®
系统硬件组成
开关分析仪
Overshooting
UUT Output Voltage
Output disabled by OVP circuit
Active Load Sink Current
t
LEKE
®
系统硬件组成
开关分析仪
UUT Output Voltage
Output disabled by OVP circuit
LOAD X
Relay Matrix
Measurement Circuit
LEKE
®
传统的测试系统
测试速度慢
无法全面的模拟动态测试功能
继电器组切换容易产生不知名的干 扰信号。干扰正常的輸出信号的测 量。 因继电器组的延时，会造成时序量 测出现误差
LEKE
®
Chroma 6000 SMPS ATE
LEKE
®
系统硬件
Dos Version PowerPro / Windows Version
Windows 95 Windows NT
LEKE
®
系统软件
测试参数
Complete Testing Capabilities for AC/DC Power Supplies and DC/DC Converters
LEKE
®
系统硬件组成 扩展测量单元 - 601
可测量短路时的短路电流 过压保护测试的保护点及保护时间 内建10组电压量测点，可分别量测被 测物内的任意点的直流电压及均方根 电压。 通过6组内建继电器和16 –bit的逻辑 控制信号，可与其它仪器设备连线作 业。
LEKE
®
系统硬件组成 扩展测量单元 - 601
AC and DC Power Source
Input Power Source
Including AC and DC sources for applying power to the UUT during test execution.
OVP Power Source
The DC Power Source for implementing Over Voltage / Under Voltage protection tests.
LEKE
®
系统硬件组成
开关分析仪
UUT Output Voltage
Vs1
Vs2
Load 1
fall rate
Load Current
rise rate
Load 2 T2 t
T1
LEKE
®系统硬件Biblioteka 成扩展测量单元 - 601
可控制被测物输入交流电源的开机角度和关机 角度 可模拟各种复杂电源输入波形。 可模拟从 0.1mS 到 650mS瞬间电源输入波形 断电状态 可量测被测物输入之特性，包括浪涌电流、均 方根电流、电压、真实功率、功率因素等。
LEKE
®
Chroma 6000 测试系 统培训资料
制作：周正
LEKE
®
系统结构介绍 测试程序编写
LEKE
®
一，系统结构介绍
系统硬件介绍 测试参数介绍
LEKE
®
传统的测试系统
DC OUTPUT
LOAD 1 LOAD 2 LOAD 3
LOAD 4
AC INPUT
Switching Power Supply
时序分析 系统控制 测试软件
8组时序定时器 外部/內部控制信号 CPU 控制 IEEE-488 通讯接口 标准打印机接口 完善标准的测试项目 全自动测试
LEKE
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系统硬件组成
开关分析仪
可模拟被测物开机瞬间各种状态 如开机角度的控制，带载点的控制
负载电流变化的快慢
LEKE
Active Load Sink Current
t
LEKE
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系统硬件组成
开关分析仪
UUT Output Von
Rated Load
Rise Rate t
LEKE
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系统硬件组成 开关分析仪
可模拟高速动态负载状态
可以根据被测物负载应用特性，仿真被 测物负载电流的实际状态。 负载电流范围：0～50A 负载电流变化率：0.0001 ～ 2.5A/us 负载电流变化时间：4us ～ 10mS
被测物输入真实功率的量测
1 True Power = T
T
0
Vac(t) x Iac(t) dt
LEKE
®
系统硬件组成 扩展测量单元 - 601
Input On/Off Phase Control & Inrush Current Measurement
Voltage
Current
t
LEKE
®
系统硬件组成
LEKE
®
系统架构
DC Source
AC Source
负载 负载 负载 负载 1 2 3 4
负载 N
EMU 601
OVP SOURCE
SPS
N: Max=12
LEKE
®
系统特性
测量准确度
测试速度
测试可靠性 及稳定性
输出电压量测采用了14-bit A/D转换器, 输出电压噪声的量测采用了8段低通滤波 器，进行差模放大方式来量测的。时序 量测采用了24-bit 计数器. 同步平行测试。比传统测试方法快约3倍 由MOSFET构成的电子负载，可以更真实 更快速更准确的模拟被测物的实际工作 状态(如负载电流大小、电流变化率、动 态负载状态等各种状态模拟 系统可测试1~12组输出的多种AC/DC、 DC\DC 电源产品； 可以通过系统中的6 组内建继电器和16 –bit的逻辑控制信 号及10组电压量测点与其它仪器设备连 接作业； 模块化的系统架构及图形界面；操作简 单；内建41测试参数。