扫描电镜SEM制样步骤
扫描电镜制样
扫描电子显微镜(SEM)常规样品制备技术SEM常规制样方法（一）——试样的取材、固定、脱水和置换一、实验目的掌握扫描电镜制样过程：从取材、固定、脱水、置换、干燥、喷涂这一过程中样品怎样保持生活状态，从而得出接近生活状态的样品。
二、实验原理不论动物或植物组织，要求取材时操作必须快速，组织表面要清洁，必要时需超声波清洗，原理同TEM取材，但需强调的是SEM观察表面结构，所以应注意表面结构的清洁、完整和电镜下反应真实的形貌。
取材时动作要快、轻、准、大小在1mm-1cm之间，所用的器械要锋利、洁静，避免任何牵拉和挤揉样品表面的损伤，常用的固定剂有2-4%戊二醛和1%锇酸。
三、实验器材样品（动物或植物）、双面刀片、培养皿、l.5ml离心管、牙签、2-4%戊二醛、1%锇酸、0. 1M PBS缓冲液，乙醇、乙酸异戊酯。
四、实验步骤1、取材要求动作轻、迅速、准确，为了保持生活状态，应在固定前清洗掉表面杂质，即，迅速将标本放在PBS缓冲液中冲洗，也可超声波器中超10s-30s，使样品所带的污物除去（如：气管内壁上的粘液、植物叶上的灰尘等）。
2、固定（前固定）经过清洗的样品迅速投入2-4%戊二醛囤定液中，间歇振荡且室温固定约2-4小时即可。
样品固定的目的：使样品细胞的微细结构完整真实地保存下来。
如果样品没有很好地固定，那么样品在脱水时可能变形，破坏了样品的生活状态，也就是说，固定不好的材料，电镜下不能反映真实结构，所以这一步很重要。
3、冲洗0. 1M PH7.2 PBS缓冲液洗：30分钟中间换3-4次，因戊二醛与锇酸反应生成细微的沉淀，所以在后固定之前，用0. IM PBS缓冲液洗去多余的戊二醛之后，样品才可能进入锇酸固定液。
4、后固定：1%四氧化锇后固定1-2小时。
5、冲洗：重蒸水冲洗30分钟中间换3-4次，因四氧化锇与乙醇反应，所以在脱水前充分洗去残留的四氧化锇，样品才能进行脱水。
6、脱水脱水剂为乙醇，室温进行为了减少人工损伤，需要梯度脱水：30%、50%、70%、80%、90%、95%、100%，每级15-20分钟，如果是动物样品，脱水时间可5-10分钟，脱水要充分完全地进行直到除尽样品中的水份为止，最后100%乙醇要重复2-3次，保证样品绝对无水。
sem的实验方法
sem的实验方法
SEM（扫描电子显微镜）是一种常用的显微镜技术，用于观察和分析样品的表面形貌和微观结构。
下面是SEM实验的基本方法：
1. 样品制备：根据需要观察的物体或材料，选择合适的样品制备方法。
常见的方法包括金属蒸发覆盖、碳薄膜覆盖、冷冻断裂、超声清洗等。
2. 样品固定：将样品固定在SEM的样品台上。
通常可以使用导电胶或双面导电胶带将样品固定在样品台上，并确保样品与样品台之间有良好的电导性。
3. 真空处理：将样品放入SEM的真空室中，并进行真空处理，以确保在SEM观察过程中减少气体干扰。
4. 调节参数：在开始观察之前，需要根据样品的性质和要观察的目标，设置适当的加速电压、束流亮度、探针电流等参数。
5. 扫描观察：调整SEM的对焦和扫描参数，使电子束在样品表面扫描。
观察过程中可以通过调整探针电流和探针尺寸来获得所需的表面细节。
6. 图像获取：使用SEM中的二次电子或反射电子检测器，捕捉样品表面反射出的电子信号，并将其转换成图像。
可以通过调整对比度、亮度等参数来优化图像质量。
7. 数据分析：对获得的SEM图像进行分析和解读，可以使用图像处理软件进行形貌特征、颗粒分布、晶体结构等的测量和分析。
需要注意的是，SEM操作需要在专门的实验室环境下进行，并且
需要遵循安全操作规程，以确保操作人员和设备的安全。
此外，不同样品的性质和要求可能需要不同的处理方法和参数设置，因此在实验前应充分了解样品的特性和研究目标，以便选择合适的实验方法。
利用聚焦离子束双束扫描电镜制备透射样品的主要流程
利用聚焦离子束双束扫描电镜制备透射样品的主要流程聚焦离子束双束扫描电镜（Focused Ion Beam Dual Beam Scanning Electron Microscope，简称FIB-SEM）是一种高分辨率的表面形貌和微结构分析技术，可以实现对样品进行原位观察和制备。
利用FIB-SEM可以制备透射电镜（Transmission Electron Microscopy，简称TEM）样品，即通过FIB切割和修整样品，使其达到适合TEM观察的薄片形态。
本文将详细介绍利用FIB-SEM制备透射样品的主要流程。
1. 样品准备首先需要准备待制备的样品。
这些样品可以是固体材料、生物组织或其他需要进行透射电镜观察的材料。
为了便于FIB切割和修整，样品应具有一定的硬度和稳定性。
2. 样品固定将待制备的样品固定在一个小型支撑台上，并使用导电胶或其他导电材料将其牢固地粘附在支撑台上。
导电胶能够提供良好的导电性，以便在后续的FIB切割和修整过程中排除电荷积累的干扰。
3. FIB切割将固定在支撑台上的样品放入FIB-SEM设备中，调整好样品位置。
然后使用离子束对样品进行切割。
离子束由高能离子组成，可以精确地切割样品表面。
通过控制离子束的扫描速度和电流密度，可以实现不同形状和尺寸的切割区域。
4. FIB修整在完成初始切割后，需要对样品进行进一步的修整以达到透射电镜观察的要求。
使用较低能量和较小电流密度的离子束，在已经切割好的区域上进行精细修整。
通过逐渐去除样品表面的材料，可以获得更加平坦、光滑且薄片形态良好的透射样品。
5. 清洗和抛光经过FIB修整后，样品表面可能存在一些污染物或残留物。
为了获得更好的透射图像质量，需要对样品进行清洗和抛光处理。
这可以通过离子束轰击、溅射或化学腐蚀等方法来实现。
清洗和抛光的目的是去除样品表面的污染物，并使其更加平整和透明。
6. TEM观察完成清洗和抛光后，将样品转移到透射电镜中进行观察。
环境扫描电镜操作流程
环境扫描电镜操作流程英文回答：Scanning Electron Microscopy (SEM) is a powerful tool used to investigate the surface morphology and composition of materials. It allows for high-resolution imaging and analysis, making it widely used in various fields such as materials science, biology, and nanotechnology. In this response, I will outline the general steps involved in conducting an SEM operation.1. Sample Preparation: The first step is to prepare the sample for analysis. This involves cleaning the sample and ensuring it is properly mounted on a sample holder. The sample should be conductive or coated with a thin layer of conductive material to prevent charging during imaging.2. Chamber Preparation: Before placing the sample in the SEM chamber, the chamber needs to be prepared. This involves pumping down the chamber to create a vacuumenvironment. The vacuum helps to minimize the scattering of electrons and improves image quality.3. Sample Loading: Once the chamber is ready, the sample can be loaded into the SEM. The sample holder is carefully inserted into the chamber, ensuring that it is properly aligned and secured.4. Electron Beam Alignment: The next step is to alignthe electron beam. This involves adjusting the beam's focus, astigmatism, and aperture settings to optimize image quality. The beam should be properly centered and focusedon the sample surface.5. Imaging and Analysis: With the sample loaded and beam aligned, the SEM can now be used for imaging and analysis. The electron beam scans across the sample surface, and the resulting signals (secondary electrons, backscattered electrons, etc.) are detected and used to generate an image. The operator can adjust various imaging parameters to enhance contrast and resolution.6. Data Interpretation: Once the images are obtained, they need to be interpreted and analyzed. This may involve measuring dimensions, identifying features, or comparing samples. Specialized software can be used to analyze the data and extract quantitative information.7. Maintenance and Cleaning: After the analysis is complete, it is important to properly shut down and clean the SEM. This includes venting the chamber, removing the sample, and cleaning any contamination that may have accumulated during the operation.中文回答：环境扫描电镜（SEM）是一种用于研究材料表面形态和成分的强大工具。
扫描电镜SEM样品制备
二、实验用品
1. 材料
2.
植物的的根、茎、叶或动物的脏器等。
3. 2. 试剂
4.
丙酮、乙醇、2％戊二醛溶液、1％锇酸、
磷酸缓冲液、醋酸异戊酯、液体二氧化碳、导
电胶等。
5. 3. 器材
6.
扫描电镜、 临界点干燥法、真空喷镀仪、
6. 样品的干燥
常规临界点干燥法。
临界点干燥法
• 临界点干燥法是一种消除了物相界面(液相／气相)，也就是 消除了表面张力来源的干燥方法。这种方法由于没有表面 张力的影响，所以样品不易收缩和损伤。具体处理步骤如 下：
• 装样： 将样品从醋酸异戊酯中挑入(或倒入)样品笼中，用 滤纸吸去样品笼外围的醋酸异戊酯，然后连笼移入仪器的 样品杯(高压容器)内，盖上盖并拧紧以防漏气。(注：在装 样前，应先打开仪器电源，将温度调节设定在0℃处预冷 10～15min，以保证液态二氧化碳有足够量进入样品杯中)。
• 排气：在保持温度不变的条件下(即不关电源)，打开流量 计的排气阀门，以1.0～1.51／min的速度排气(速度慢些 更好)。约经45～60min后，排气完毕，样品杯的压力下降 到零，将温度调节至室温约5rain后，即可取出样品装台镀 膜(若不能立即装台，应置于干燥器内保存)。
临界点干燥操作时的注意事项： • 在样品放进样品杯前，样品杯应预先冷却至0～10℃。 • 样品不宜过湿，但也不能让其表面干涸，应在半干半湿时
离子溅射镀膜法:
在低真空中进行辉光放电时，由于离子冲击，阴极金 属物质有飞溅现象称为溅射。利用离子溅射仪对样品进行 金属镀膜的方法，称为溅射镀膜法。溅射镀膜法的装置很 简单，主要由真空部分(真空泵)和溅射部分(真空罩)组成， 在真空罩内装有阴极和阳极，阴极对着阳极的一面装有用 于溅射用的金属靶(黄金靶、铂靶、白金靶或钯靶等)，样 品放在阳极的样品座上面。当真空罩内的真空度抽到10～ 1Pa时，在阴极与阳极之间加上1000～3000V的直流电压， 两极之间产生弧光放电的电场。在电场的作用下，罩内残 余的气体分子被电离为正离子和电子，正离子被阴极吸引 轰击金属靶，激发出金属颗粒和电子，并被阳极吸引附着 在样品表面而形成金属导电膜。
sem制样方法及注意事项
sem制样方法及注意事项以SEM制样方法及注意事项为标题，我将介绍SEM制样方法的基本原理和操作步骤，并提供一些在实践中需要注意的事项。
SEM（扫描电子显微镜）是一种常用的表面形貌观察和分析技术，可以在纳米至微米尺度下观察样品的形貌和结构。
SEM制样是实施SEM观察的前提，它的目的是将样品制备成适合SEM观察的形式。
一、SEM制样方法1. 样品选择：首先需要确定要观察的样品类型，包括材料、形状、尺寸等。
不同样品可能需要不同的制样方法。
2. 样品固定：根据样品的特性和尺寸，选择合适的固定方法。
常见的固定方法包括化学固定、机械固定和冷冻固定等。
3. 前处理：根据需要，对样品进行预处理，如去除杂质、修整表面等。
这一步骤可以改善SEM观察的效果。
4. 制备导电层：由于SEM需要对样品进行电子束照射，所以样品表面需要制备导电层以避免电荷积累。
常用的导电层材料有金属薄膜、碳薄膜和导电胶等。
5. 制备薄片：将样品制备成适合SEM观察的薄片。
常用的制备方法有机械剥离、切割、研磨和离心等。
制备薄片的目的是获得样品的横截面或断面信息。
6. 脱水和干燥：对于水溶性样品，需要进行脱水处理以避免SEM 观察时的水蒸气干扰。
常用的脱水方法有自然蒸发、冷冻干燥和真空脱水等。
7. 导入SEM：将制备好的样品放入SEM中进行观察。
在导入过程中要注意样品的定位和对焦，以确保观察的准确性和清晰度。
二、SEM制样注意事项1. 样品处理时要注意避免污染和损坏。
使用无尘室或洁净台进行制样操作，避免灰尘和其它杂质的污染。
对于易损样品，要采取适当的操作方法和保护措施。
2. 制备导电层时要注意均匀涂覆和适当厚度。
导电层的均匀性和良好的导电性能对于SEM观察结果的准确性和清晰度非常重要。
3. 制备薄片时要控制厚度和平整度。
薄片的厚度和平整度对于SEM 观察的分辨率和细节展示有着重要影响。
制备过程中要小心操作，避免样品的破损和变形。
4. 脱水和干燥过程中要避免过度处理。
利用聚焦离子束双束扫描电镜制备透射电镜样品的主要流程
利用聚焦离子束双束扫描电镜制备透射电镜样品的主要流程一、前言透射电镜（Transmission Electron Microscopy, TEM）是一种用于观察物质内部结构和原子级别的技术。
为了制备TEM样品，需要使用聚焦离子束双束扫描电镜（Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope, FIB-SEM）进行切割和处理。
本文将介绍利用FIB-SEM 制备TEM样品的主要流程。
二、样品准备1. 样品制备：首先需要选择合适的样品，通常选择的是薄片或纤维。
将样品固定在金属支架上，并使用导电胶粘贴。
2. 预处理：在进行TEM样品制备之前，需要对样品进行预处理。
这包括去除表面污染物、涂覆保护层等步骤。
三、FIB-SEM操作1. 定位：在FIB-SEM中，首先需要对样品进行定位。
使用扫描电镜观察样品表面，并确定需要切割的位置。
2. 切割：使用离子束在定位好的位置上进行切割。
切割过程中，需要根据所需厚度和形状调整离子束参数，并不断观察切割进度。
3. 清理：完成切割后，需要清理掉切割过程中产生的碎屑。
使用离子束和扫描电镜观察样品表面，并清理掉残留的碎屑。
4. 薄化：在清理完毕后，需要对样品进行薄化处理。
使用离子束在切割过的位置上进行薄化，直到达到所需厚度。
在薄化过程中，需要不断调整离子束参数，并观察样品表面。
5. 制备TEM样品：完成薄化后，需要将样品制备成TEM样品。
这包括使用离子束在薄片上进行打孔、切割等操作，以便将其放入TEM中观察。
四、后续处理1. 清洗：完成TEM样品制备后，需要对其进行清洗处理。
这包括去除导电胶和保护层等步骤。
2. 观察：最后，将TEM样品放入透射电镜中观察。
通过透射电镜可以观察到物质内部结构和原子级别的细节。
五、总结利用FIB-SEM制备TEM样品是一项复杂的工作，需要精密的仪器和操作技巧。
本文介绍了制备TEM样品的主要流程，包括样品准备、FIB-SEM操作和后续处理。
扫描电镜的样品制备
扫描电镜的样品制备
扫描电镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种高分辨率的显微镜，对于复杂的样品结构、微观形态和表面形貌的分析非常有用。
然而，要获得良好的扫描电镜显像效果，样品的制备至关重要。
下面将介绍几种常用的扫描电镜样品制备技术。
1. 金属喷涂法
金属喷涂法是扫描电镜样品制备的经典方法。
该方法使用金属喷涂仪将金属颗粒喷在样品表面，使其形成一层均匀、导电性良好的金属膜，以便在扫描电镜中观察样品的表面结构。
该方法适用于非导电样品，如细胞、生物组织、聚合物等。
2. 离子切割法
离子切割法利用离子切割机将样品切割成纤细的薄片，以便于在扫描电镜中观察。
这种方法适用于非常薄的样品，如材料薄片、芯片等。
它可以提供非常高分辨率的图像，并且可以通过纵向切割获得样品的三维结构。
3. 冷冻切片法
冷冻切片法是一种用于生物样品的扫描电镜制备方法。
该方法使用超低温技术将样品冻结，并使用超薄刀片切割成极薄的切片，通常为50~200纳米。
这可以保留样品的水感性和原始形态，并使其在扫描电镜中观察更加清晰。
4. 化学蚀刻法
化学蚀刻法是用于金属样品的扫描电镜制备方法。
该方法使用酸或碱对样品表面进行蚀刻，以去除不需要观察的材料，形成清晰的样品结构。
该方法适用于金属薄膜、晶体和合金等金属材料。
总之，良好的扫描电镜样品制备是获得高品质扫描电镜图像的关键。
每种样品都有其独特的制备方法，为了获得最好的结果，在选择合适的制备方法时需要谨慎选择。
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扫描电镜S E M制样步
骤
-CAL-FENGHAI-(2020YEAR-YICAI)_JINGBIAN
扫描电镜观察制样步骤
固定：
1、用灭菌镊子挑出少量的的样品（碳粒/碳毡）,放入 5ml 的离心管中,
2、加入2.5%戊二醛, 加量为淹没碳粒/碳毡样品为宜,室温固定1小时
3、置于 4℃冰箱中固定12小时。
冲洗：
用 0.2mol pH 7.4的磷酸缓冲溶液冲洗 3 次，每次 10 分钟。
每次冲洗时先用注射器缓慢吸走上一步骤的冲洗液。
Or 离心
脱水：
分别用浓度为30%， 50%，75%，90%, 95%, 100% v/v 的乙醇进行脱水，每次10分钟，
干燥：
将样品放在离心管里，置入干燥器中干燥 12 小时。
粘样：用双面胶将样品观察面向上粘贴在扫描电镜铜板上
预处理好的样品放入干净离心管中待检。
SEM上机测样--测定条件参数设置
分子克隆实验指南第三版，1568页：
25度下0.1mol/L磷酸钾缓冲液的配制；
先配0.1mol/L K2HPO4，0.1mol/L KH2PO4
配PH7.4，100ml磷酸钾缓冲液需：
0.1mol/L K2HPO4，80.2ml
0.1mol/L KH2PO4，19.8ml
混合即是，不用酸碱调PH。
参考文献：
DOI:?10.1021/es902165y
Microbial fuel cell?based on Klebsiella pneumoniae biofilm
Selecting?anode-respiring bacteria based on?anode?potential: phylogenetic, electrochemical, and?microscopic?characterization
A severe reduction in the cytochrome C content of?Geobacter sulfurreducens?eliminates its capacity for extracellular electron transfer
2。