横向剪切干涉实验 (3)

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基于四波横向剪切干涉法的超表面光学表征

基于四波横向剪切干涉法的超表面光学表征

基于四波横向剪切干涉法的超表面光学表征自从J. B. Pentry教授在1996年开始提出超材料结构的负折射原理,Roger M. Walser教授1999年正式提出了超材料metamaterial的名词。

现如今,超材料已经从最初材料性研究,慢慢的过度到器件方向,而由于微纳工艺的发展,亚微米乃至纳米级周期性结构得以实现,超材料在可见光和近中红外等区域的研究近年来也逐渐增多,由此衍生的超表面、超透镜等也变成了光学前沿和技术热点,甚至于被誉为光学领域新的革命性技术。

原理知识超表面是由大量亚波长单元在二维平面上周期或非周期排布而构成的人工结构阵列,能够对电磁波进行灵活操控。

由于超表面具有超薄结构和较强的可自主设计性而受到广大研究者青睐。

超透镜是一种二维平面透镜结构,其体积极小,重量轻,易于集成,可实现对入射光振幅、相位、偏振等参量的灵活调控,在超分辨显微成像、全息光学、消色差透镜等方面有重要应用。

业内痛点超表面的目前发展主要局限于光学设计能力,在宏观基底材料上的制造数十亿纳米级结构的非均匀组装的能力以及加工成型后测量能力。

对于成型后的测量,学术界主要使用以下几种方法:第一椭偏法,该方法应用面较窄,仅适用于基于正交光偏振之间的相位差测量;第二干涉测量法,通常是基于两束光(其中一束用作参考)交汇在检测平面上进行干涉。

但是该方法对实验环境要求高,抗震能力低,导致灵敏度差,而且对机械结构要求很严格,不易于实施。

业界有提出三光束干涉的方法,其中第三束光用于分析实验期间的环境变化,但是这样会使设备结构更为复杂。

第三扫描近场光学显微镜法,该方法提供接近衍射极限的分辨率,并允许对任意复杂纳米颗粒阵列的近场相位响应进行成像,但是这种方法是一种侵入式测量方法,而且太依赖于纳米探针针尖的性能。

第四间接测量方法,如针对超透镜的偏振转换效率的测量等方法。

上述的几种方法均为部分表征或间接测量,那么有没有一种更有效的能直接的测量手段呢?今天借着本文,和大家介绍一下Phasics公司的基于四波横向剪切干涉技术的波前传感器在超表面方面的测量方案。

相移雅满横向剪切干涉仪

相移雅满横向剪切干涉仪

1158中国激光36卷得到被测相位差为一arctan矬.㈣,利用公式(10)即可求解干涉图中每一点的相位差凹,经计算机处理即町获得高精度的波面检测结果‘9|。

剪切平板前两块起偏器的厚度很容易实现相等。

若起偏器选用偏振片,由于偏振片的面积可以很大,将一块大面积的偏振片分割成两块偏振片使用可以使两块起偏器的厚度相等。

若起偏器选用偏振棱镜,则选用相同结构、尺寸的偏振棱镜即可使两块起偏器的厚度相等。

合束后的光束共同通过1/4波片与检偏器,可见偏振相移器不会破坏等光程干涉特性,同时起偏器,1/4波片与检偏器易于实现消色差,故该相移雅满横向剪切干涉仪可仍然适应于低相干性光束,如白光的波面检测。

同时,相移过程中只需要旋转检偏器,且剪切量的改变与相移器不相关,因此该相移雅满横向剪切干涉仪的结构简单且操作方便。

3实验实验光路足存已有的稚满横向剪切干涉仪中插入偏振相移光路来实现的。

雅满横向剪切干涉仪中雅满平板与楔形剪切平板的光学材料均为K9玻璃,两块雅满平板的光学尺寸完全相同,均为155mm×70mrnX40mm.两块楔形剪切平板的光学尺寸也完全相同,其厚度为40n'llTl,楔角为20”。

偏振相移光路中所用起偏器与检偏器均为消光比为100:1的偏振片,其中起偏器的口径为乒40into,检偏器的口径为650mm。

1/4波片是相位延迟量精度为A/300(A为632.8rim)的石英波片,其口径为壬50mm。

干涉图由CCD相机接收。

被测光束是口径为声40mm准直的氦氖激光束,由氦氖激光器出射的激光经过聚焦透镜、针孔和准直透镜所形成。

首先调整楔形剪切平板前两块起偏器的透光轴相互垂直并与第一雅满平板的入射面平行或者垂直,检偏器的透光轴,1/4波片的快轴与两块起偏器的透光轴分别成45。

角,此时采集的剪切干涉图如图3(a)所示。

然后依次将检偏器旋转45。

,90。

和135。

,所采集到的剪切干涉图分别如图3(b)~(d)所示。

横向剪切干涉原理

横向剪切干涉原理

横向剪切干涉原理
我们知道,当两束光相互垂直时,它们将会被叠加在一起,形成干涉。

但在现实生活中,我们总是可以看到两束光互相平行,而不会发生干涉。

这是为什么呢?
这就要提到我们今天要介绍的横向剪切干涉了。

横向剪切干涉是一种新的干涉现象,它是在光的横向方向上发生的干涉。

首先我们来了解一下光的三大基本波动现象:衍射、干涉和衍射积分。

当光在两个界面发生散射时,发生了衍射现象。

当光通过界面时,部分能量被界面散射出来,部分能量被界面吸收,而另一部分能量则被界面反射回来。

这样,两束光的波长就会发生干涉。

在光学中,干涉现象一般可以分为平面干涉和曲面干涉两类。

平面干涉是指平面上的两个光学元件(如透镜、棱镜等)在空间上平行排列时,在同一平面内所产生的两个或两个以上不同波长的光波之间相互干涉的现象;曲面干涉则是指同一平面内不同曲面之间存在的光波相互干涉的现象。

那么我们有没有办法可以让光在平面上发生横向剪切呢?当然是有的。

—— 1 —1 —。

透镜初级球差的横向剪切干涉条纹研究

透镜初级球差的横向剪切干涉条纹研究

透镜初级球差的横向剪切干涉条纹研究
横向剪切干涉条纹是一种重要的望远镜配置以及测量仪器附件,其利用透镜组
的球面曲面分光情况,实现对镜体的精细检测。

本研究是针对透镜初级球差的横向剪切干涉条纹进行的深入分析。

首先,本研究着重于球差及横向剪切干涉条纹之间的关联关系。

通过深入探究、理论计算及实验测量,发现透镜初级球差由球形衍射和椭圆衍射两种情况构成,而横向剪切干涉条纹中,前者生成两条条纹,后者四条条纹,且对应各自的球差度。

其次,本研究以光学设计及检测技术为基础,进行了横向剪切干涉条纹形成的
模拟分析,得出相应的结论:当测试物镜体的透镜初级球差为正时,在1座标面上产生的横向剪切干涉条纹将会成为两部分;当球差变为负时,横向剪切干涉条纹将逐渐消失,并产生了向外扩展的椭圆条纹。

最后,本研究也开展了新型测量仪器的设计,以便准确地测量出镜片的横向剪
切干涉条纹,以及提高测量效率。

研究结果表明,透镜初级球差与横向剪切干涉条纹之间的关系可以通过精确的测量与计算而实现,对提升镜体制造工艺的质量,为望远镜学及光学测量技术提供了重要的参考依据。

横向剪切干涉实验

横向剪切干涉实验

横向剪切干涉实验实验目的利用一个焦距为190毫米的单薄透镜的剪切干涉条纹的分布求出该透镜的轴向离焦量及初级球差比例系数。

实验元件HeNe激光、反射镜、小焦距透镜、薄透镜(190mm)、平行玻璃扳、白屏、带变焦镜头的CCD、处理软件准直镜实验原理剪切干涉是利用待测波面自身干涉的一种干涉方法,在横向剪切干涉测量中,从相互垂直方向上剪切干涉图获得的差分波前可以恢复待测的二维波前。

本次实验是利用平行平板来产生横向剪切干涉的装置,由于平行平板有一定厚度和对入射光束的倾角,因此通过被检测透镜后的光波被玻璃平板前后表面反射后形成的两个波面发生横向剪切干涉,剪切量为s ,'cos 2i dn s =,其中d 为平行平板的厚度,n 为平行平板的折射率,'i 为光线在平行平板内的折射角。

S 一般为1到3毫米左右。

当使用光源为氦氖激光时,由于光源的良好的时间和空间相干性,就可以看到很清晰的干涉条纹。

条纹的形状反映波面的象差。

(一)扩束镜焦点A 与被测准直透镜焦点F 不重合(即物点与F 不重合),但只有轴向离焦( ∆z 不为零,y0=0):)(),(221ηξηξ+=a W (7)由于剪切方向在ξ方向,所以:s a s W ξηξ∆12),,(= (8) 所以干涉条纹方程为:12m a s λξ=(m=0,±1, ±2,…)(为平行于η轴,间隔为12a s λ的直条纹,剪切条纹的零级条纹在0=ξ)。

(二) 扩束镜焦点A 与被测准直透镜焦点F 不重合,只有轴向离焦( ∆z 不为零,y0=0),透镜具有初级球差(b3不为零),.剪切方向在ξ方向:2223221)()(),(ηξηξηξ+++=b a W (9)所以波象差方程为332231))(2(2),,(s b b a s s W ηηξηηξ∆+++= (10)此时亮条纹方程为:λξηξξm s b b a s =+++332231))(2(2(m=0,±1, ±2,…)(a) (b) (c)实验装置如图2所示,剪切量取2.5毫米,凸薄透镜焦距为f '=190mm 。

横向大剪切干涉应用于水平圆管自然对流换热

横向大剪切干涉应用于水平圆管自然对流换热

i f ie s a e wi i e e twa l e e a u e r m 0 ℃ t ℃ we e o t i e a e n lt r l h a i g n i t p c t d f r n l t mp r t r s f o 4 0 n h f o1 3 r b an d b s d o a e a e rn s
A b ta t The r a— i e i t r e om e rc f i ge fna u a o e ton a ou orz nt lcr ul rc ln ri sr c : e ltm n e f r ti rn s o t r lc nv c i r nd h io a ic a y i de n
换 热 分 析 造 成 显 著 影 响 。与 文献 中 主流 准 则 关 系 式 对 比 可 知 ,利 用 横 向 大 剪 切 干 涉 技 术 仅 需 简 单 的 后 处 理 即可
得 到 具 有 很 高 的 时 间 、空 问 分辨 率 的 自然 对 流 换 热 的 可 信 数 据 。研 究 结 果 为 今 后 热 管 换 热 器 的理 论 研 究 和 工 程 应 用 提 供 了参 考 。 关 键 词 :水 平 圆 管 ; 自然 对 流 ;换 热 ;横 向剪 切 干 涉 ;剪切 量
DOI 1 . 9 9 j is . 4 8 1 5 . 0 2 1 . 0 : 0 3 6 /.s n 0 3 — 7 2 1 . 0 0 4 1
中 图分 类 号 :T 1 ;T 2 K 31 K 14
文 献 标 志 码 :A
文章 编 号 :0 3 — 1 5 ( 0 2 1 — 3 3 —0 48 17 21) 0 04 6
( 北 工 业 大 学 理 学 院 ,湖 北 武 汉 4 0 6 ; 湖 3 0 8 清华 大学 热能 系热 能 动 力 仿 真 与 控 制 研 究 所 ,北 京 1 0 8 ) 00 4

横向剪切干涉的波前重构新方法

横向剪切干涉的波前重构新方法
ck
(0) (1) (1) (0) (0) (1) (1) (0)
( )
=
∑h
n
k - 2n n
c
(1)
+
∑g
n
k - 2n
dn
(1)
( 9)
通常情况下, 离散小波取有限支撑小波, 即 {h i } 和{g i } 只有有限个值不为 0, 如D aubech ies 小波[ 12 ]。 很明显, DW T 为线性运算, 可以用一矩阵表示, 设一维 DW T 分解算子矩阵为M W , 已证明M W 为正交矩
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第 13 卷
利用最小二乘法从 ∃W i 拟合得系数 C l , 从而重构波前W ( x ) 。实际上, 已知 W ( x ) 在 S 个点上的值是很 难做到的, 并且某些情况下波前并不是光滑函数, 还有可能为突变函数, 例如平面波从某粗糙表面反射, 光束通过流场空间[ 7, 8 ] 等。另外, 多项式拟合还有能否收敛及收敛速度等问题。针对这些实际情况, 考虑 到小波分析在突变信号处理中的成功应用, 我们尝试利用小波变换实现剪切干涉的波前重构。 1. 2 小波变换与波前剪切 设小波母函数、 小波父函数 ( 尺度函数) 分别为 7 ( x ) 和 Υ( x ) [ 9 ]。 考虑二进小波有 7 且 7 ( x ) 和 Υ( x ) 满足如下关系 Υ( x ) =
- 1 重构出的 W 必定是不稳定的, 因而直接利用 S W P∃ W
p
重构是行不通的。 考虑到信号的 DW T 既能反映

基于横向剪切干涉测量光场空间相干性的研究

基于横向剪切干涉测量光场空间相干性的研究

基于横向剪切干涉测量光场空间相干性的研究完全相干光场与完全非相干光场只是部分相干光场的两个极端情况,实际光场总是部分相干的。

近年来,部分相干光场由于具有自修复,自聚焦,自分裂等特殊性质,越来越受到人们关注。

作为部分相干光场的重要参量之一,空间相干性描述了光场两个点之间光振动的关联程度。

如何测量空间相干性一直是部分相干光研究的重要课题之一,本文提出了一种基于空间调制器的横向剪切干涉方法,用于测量光场的空间相干性。

横向剪切干涉装置是一种利用物光波与其复制光波进行干涉的自干涉装置,并且物光波与复制光波之间有一个横向的错位。

横向剪切干涉装置一般用于测量相干光场的相位信息,事实上,借助于傅里叶变换条纹分析法,它还能测量部分相干光场的空间相干性。

然而,传统的横向剪切干涉系统需要引入机械移动实现物光波和其复制光波的横向错位,因此会影响实验的测量。

为了克服上述缺陷,我们提出了一种基于4f系统和空间光调制器相结合的横向剪切干涉系统,可以便捷地测量不同间隔两点间的光场相关性。

在该系统中,位于4f系统输入平面的衍射光栅将入射的待测光波分成多个衍射级次,空间滤波器通过其中的±1级次,从而得到两个复制光波。

在4f系统傅里叶平面上放置相位型空间光调制器,利用加载的复合闪耀光栅可以控制两个复制光波的横向错位,横向错开的间距通过调节闪耀光栅的周期进行控制。

最后,通过对输出平面上记录的干涉图进行傅里叶变换条纹分析,我们就能得到待测光场的空间相干性分布。

此外,通过改变空间光调制器上闪耀光栅的闪耀方向,我们的干涉装置可以测量光场相干性沿不同方向的分布。

该方法不仅能测出表达相干性量度的复相干度的绝对值(模)的分布,同时也获得了复相干度的相位值。

本文给出了利用该装置分别测量具有圆对称和非圆对称光场的空间相干性实验结果,我们发现实验测量结果与理论模拟数据基本一致,证明了该测量系统的可行性。

相比传统的横向剪切干涉装置,我们的装置中横向剪切量的调控基于电脑控制,没有引入机械移动,因此相干性的测量更便捷并且测量结果更准确。

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横向剪切干涉实验
PB05210153 蒋琪
实验目的
利用一个焦距为190毫米的单薄透镜的剪切干涉条纹的分布求出该透镜的轴向离焦量及初级球差比例系数。

实验元件
HeNe激光、反射镜、小焦距透镜、薄透镜(190mm)、平行玻璃扳、白屏、带变焦镜头的CCD、处理软件
准直镜
实验原理
剪切干涉是利用待测波面自身干涉的一种干涉方法,在横向剪切干涉测量中,从相互垂直方向上剪切干涉图获得的差分波前可以恢复待测的二维波前。

本次实验是利用平行平板来产生横向剪切干涉的装置,由于平行平板有一定厚度和对入射光束的倾角,因此通过被检测透镜后的光波被玻璃平板前后表面反射后形成的两个波面发生横向剪切干涉,剪
切量为s ,'cos 2i dn s =,其中d 为平行平板的厚度,n 为平行平板的折射率,'i 为光线在平行平板内的折射角。

S 一般为1到3毫米左右。

当使用光源为氦氖激光时,由于光源的良好的时间和空间相干性,就可以看到很清晰的干涉条纹。

条纹的形状反映波面的象差。

(一)扩束镜焦点A 与被测准直透镜焦点F 不重合(即物点与F 不重合),但只有轴向离焦( ∆z 不为零,y0=0):
)(),(221ηξηξ+=a W (7)
由于剪切方向在ξ方向,所以:
s a s W ξηξ∆12),,(= (8) 所以干涉条纹方程为:12m a s λξ=
(m=0,±1, ±2,…)(为平行于η轴,间隔为12a s λ
的直条纹,剪切条纹的零级条纹在0=ξ)。

(二) 扩束镜焦点A 与被测准直透镜焦点F 不重合,只有轴向离焦( ∆z 不为零,y0=0),透镜具有初级球差(b3不为零),.剪切方向在ξ方向:
2223221)()(),(ηξηξηξ+++=b a W (9)
所以波象差方程为3
32231))(2(2),,(s b b a s s W ηηξηηξ∆+++= (10) 此时亮条纹方程为:
λξηξξm s b b a s =+++332231))(2(2(m=0,±1, ±2,…)
(a) (b) (c)
实验装置如图2所示,剪切量取2.5毫米,凸薄透镜焦距为f '=190mm 。

由[1]可知,初级球差L 'δ与孔径的关系式为:
2
⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛'='f h A L δ (11)
其中222ηξ+=h ,ξ和η为孔径坐标,f '为透镜的焦距 f ,A 为初级几何球差比例系数。

而对应的波象差为其积分[1],
⎰'''=h f h d L n W 02
)(2δ (12)
将(11)代入(12)积分结果为,
2
22344
)(4)(ηξδ+='='b f Ah L W (13)
由于222ηξ+=h ,所以由(13)可以求出3b 与L 'δ、A 的关系式为:
422344f A h f L b '=''
=δ (14)
表1 理论计算的三种不同轴向离焦量下凸薄透镜的∆z 、A
图4 只有轴向离焦和初级球差,剪切量为2.5mm ,焦距为190mm 的凸透镜,发光点分别在焦点前6mm(a)、焦点前0.8mm (b)和焦点后2mm(c)时的计算模拟的剪切干涉图,透镜的通光口径为34mm ,透镜的初级几何球差比例系数A=-250/mm3。

(a) (b) (c)
下面再简单介绍怎样由干涉条纹图求得轴向离焦量和初级球差波象差系数∆z 、A 。

公式(10)令12
W m λ∆=就得到实验中的暗条纹方程,即:323133312442sa sb sb b s m ξξξηξλ+++=。

利用计算机编程(本文采用VB6编程)和最小二乘法拟合由实验图上暗条纹的分布解出1a 和3b ,由公式(6)的说明和公式(14)可以求得
∆z 、A. 实验内容
1.按图排好光路, 在插入透镜之前先放好剪切用的平行平板和白屏,并使两者平行,激光束要穿过平行平板中心,此时白屏上应该出现两个光点,记录两光点间的距离即为剪切量(一般在1~3mm )。

2.在光路中预定位置分别插入扩束镜(短焦距透镜)和准直透镜(焦距为190mm ),调整光路,使扩束镜的光轴、准直镜的光轴与激光束基本重合,对扩束镜焦距的要求是在距其焦点190mm 处光斑大小略大于准直镜的通光口径,则激光束能够平行射出,这时在白屏上可以看到剪切干涉条纹图。

3.沿光轴方向使扩束镜作微小位移,使白屏上的剪切干涉条纹形成近似图5(b)的形状(。

这时可以认为物点A 与准直镜的前焦点F 基本重合,再使扩束镜沿光轴方向向准直镜移动3、5mm 和背向准直镜移动3、2mm (调节短焦距透镜支架的微调旋钮,具体可视图象而定,),启动AVercap 采集程序,分别拍摄得到5个干涉图。

拍摄时可以调节变焦镜头,使采集到的图象为一个完整的圆形的清晰的干涉图象(如果图象不完整,会影响后面对图象的计算处理),图象的大小应满足
354x288(capture capture setup),记录相应的扩束镜移动的方向和距离。

启动桌面上的“剪切干涉图预处理应用程序”对采集的图象(类似图象a和c的)进行预处理,调入图形时要输入完整的文件名(*.bmp)(下同),记录结果。

4.启动桌面上的“剪切干涉图应用程序”对预处理的图象进行处理,先是调入文件,然后是点“确定坐标值”,按序输入剪切量、干涉图的圆心坐标、x方向的半径(Xmax)、y方向的半径(Ymax)值,接着以干涉图中心亮条纹为0级,分别点击1级、3级和5级条纹(应为暗条纹),并按提示输入相应级数(在同级条纹上可点击多点);最后点击“求解”,记录处理后的最终结果,并与测量的轴向离焦量及理论值初级球差比例系数比较。

实验图像处理
原点的图像为:
图像为:
图像为:
图像为:
图像为:
思考题
1 .得到理想图形时,各光学元件必须严格同心,为什么?
答:必须用平行光入射到平行平板上,才能得到理想图形,然后再由平行平板的两面反射到白屏上。

各光学元件必须严格同心同光轴,即让扩束境均匀扩散氦氖激光束,然后由准直镜处理成平行光。

2 .个实验可以有哪些实际应用?
剪切干涉的优点是非接触、灵敏度高和精度高,同时干涉条纹稳定,对环境要求低,仪器结构简单,造价低,在实际应用中一般用于精密测量透镜等光学仪器的球差、像差等参数。

实验体会
1.本实验的核心就是调节平行光,开始没能调出,后来在老师的帮助之下终于得以调出。

掌握了调节平行光的方法。

2.实验耗时较长,中间有一段时间曾想放弃,但最终还是静下来分析原因最终在老师的帮助下完成实验。

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