结构与性能 第六章
第六章纱线的分类与结构

S(logλ) S(logλ) S(logλ)
S(logλ)
(a)理论不匀谱
logλ
(b)正常不匀谱
logλ
(c)牵伸波不匀谱
logλ
(d)机械波不匀谱
logλ
❖ 四变异长度曲线
❖ (纱线细度不匀率与片段长度间的关系) ❖ 纱线的细度不匀率与试样的片段长度密切相关。将纱线分成很多等长片段: ❖ 外不匀(片段间不匀):称重后求得的不匀率,为外不匀 ❖ 内不匀(片段内不匀):将其中任一片段纱线再分成很多更长小片段,
❖ 1环锭纱 ❖ 传统纺纱方法,占比例大。 (纺纱特点;须条两端握持,有加捻三角区,加捻
与卷绕同时完成,成纱结构较紧密,纱线强度高、 毛羽少,纤维伸直度高) ❖ 2自由端纺纱:转杯(气流)纺纱、静电纺纱、 涡流纺纱等。 ❖ 纺纱特点:加捻与卷绕分开,纤维一端自由,纺 纱速度高,成纱结构分纱芯和外包纤维,纱线强 度较低) ❖ 3非自由端纺纱
❖五按纱的用途分
❖ 1.机织用纱 又分经纱和纬纱。 ❖ 2.针织用纱 一般要求粗细均匀,结头和粗、
细节少。 ❖ 3.起绒用纱
❖ 4.特种工业用纱 如轮胎帘子线等。
❖ 六.按纱线的粗细分
❖ 例:棉型纱按粗细不同可以分为: ❖ 1.特低线密度纱(特细特纱)指线密度在10tex及以上很细
的纱。 ❖ 2.低线密度纱(细特纱) 指线密度在11~20tex较细的纱。 ❖ 3.中线密度纱(中特纱) 指线密度在21~31tex,介于粗
❖ 由高收缩性和低收缩性的两种腈纶纤维按一定比例(前者占40%~
❖ 45%,后者占55%~60%)混纺成纱,经松弛热定型处理后,高收缩 纤维收缩形成纱芯,低收缩纤维收缩被挤压在表面形成圈形,从而制
最新-棉纤维的化学组成与主要性质Back 精品

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第二节 麻纤维的结构与性能
• 一、麻纤维的物质组成与化学性能 • 二、麻纤维的种类 • 三、麻纤维的基本特征
• • 其他:果胶质、半纤维素、木质素、脂肪 蜡质等非纤维物质(统称为“胶质”) • 脱胶:使纤维素和胶质分离,取出可用的 纤维。
一、麻纤维的物质组成与化学 性能 基本化学成份:纤维素
• 彩棉(天然具有色彩的棉花)
二、棉纤维的形态特征
• 1.初生层:纤维外 层,外皮是蜡质与 果胶 • 2.次生层:由微原 纤堆砌而成 • 3.中腔:停止生长 后留下的空隙
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二、棉纤维的形态特征
• 纵向:一端封闭、呈扁平的转曲带状的 管状体。 • 截面:棉纤维干涸后呈腰圆形
三、棉纤维的化学组成与主要性 质
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第六章 天然短纤维
• 第一节 棉纤维的结构与性能 • 第二节 麻纤维的结构与性能 • 第三节 毛纤维的结构与性能
BackBiblioteka 第一节 棉纤维的结构与性能
• 一、棉纤维的种类 • 二、棉纤维的形态特征 • 三、棉纤维的化学组成与主要性质
一、棉纤维的种类
• (一)按棉花的品种分 • 陆地棉(高原棉、美棉、细绒棉):发现于南美洲大 陆西北部的安第斯山脉区 • 海岛棉(长绒棉):发现于美洲西印度群岛 • 亚洲棉(粗绒棉)、非洲棉(草棉)
• 纤维素的性能: • 1 .纤维素的酸性水解性能:在适当氢离子浓 度、温度和时间下,纤维素大分子中的1,4— β 甙键发生断裂 。 • 2 .纤维素的碱性降解(包括碱性水解和剥皮 反应 )及碱纤维素生成 (与浓碱作用 ) • 3 .纤维素的氧化:纤维素与氧化剂作用时, 其大分子中的羟基很容易被氧化剂氧化,形成 氧化纤维素,聚合度也同时下降,产生氧化降 解。
第六章钢结构的正常使用极限状态

第6章钢结构的正常使用极限状态6.1常使用极限状态的特点正常使用极限状态对应于结构或构件达到正常使用或耐久性能的某项规定限值。
《建筑结构可靠度设计统一标准》 (GB50068-2001 )规定,当结构或构件出现下列状态之一时,即认为超过了正常使用极限状态:1) 影响正常使用或外观的变形;2) 影响正常使用或耐久性能的局部破坏(包括裂缝)3) 影响正常使用或耐久性能的振动4) 影响正常使用或耐久性能的其它特定状态。
正常使用极限状态可以理解为适用性极限状态,常见的适用性问题有以下七类:1) 由荷载、温度变化、潮湿、收缩和徐变引起的非结构构件的局部损坏(如顶棚、隔墙、墙、窗) ;2) 荷载产生的挠度防碍家具或设备(如电梯)的正常使用功能;3) 明显的挠度使居住者感到不安;4) 由剧烈的自然现象(如飓风、龙卷风)造成的非结构构件彻底损坏;5) 结构因时效和服役而退化(如地下停车场结构因防水层破坏而损坏) ;6) 建筑物因活荷载、风荷载、或地震荷载造成的运动,导致居住者身体或心理上不舒适感;7) 使用荷载下的连续变形(如高强螺栓滑移) 。
长期以来,正常使用极限状态不如承载极限状态那样受到重视,认为只不过是适当限制一下挠度和侧移。
随着结构材料强度的提高和构件的轻型化 (包括围护结构和非承重结构构件),情况已经有所改变,研究工作日趋活跃,包括分析正常使用极限状态的可靠指标取值问题。
不过我国的设计规范和规程中仍然只有变形和振动限制两个方面。
6.2 拉杆、压杆的刚度要求1. 轴心受力构件刚度验算按照结构的使用要求,钢结构的轴心拉杆、轴心压杆以及拉弯构件都不应过分柔弱而应该具有必要的刚度,保证构件不产生过度的变形。
这种变形可能因其自重而产生,也可能在运输或安装构件的过程中产生。
承受轴线拉力或压力的构件其刚度用长细比控制,即:入max= (L0/i) max < [入]式中入ma --杆件的最大长细比L0——杆件的计算长度I —截面的回转半径[入]—容许长细比2. 轴心受力构件长容许细比规定一般而言,压杆由于对几何缺陷的影响较为敏感,所以对它的长细比要求较拉杆严格得多。
《结构化学第六章》

产生磁性的原因: 物质具有不同的磁性,首先是源于物质内部的电子组
态,即电子在原子轨道和分子轨道上的排布情况;其次是 源于化学成分、晶体结构、晶粒组织和内应力等因素,这 些因素引起磁矩排列的情况不同。
.
物质的磁结构分类:
.
6.6.2 顺磁共振
顺磁共振是研究具有未成对电子的物质,如配合物、 自由基和含有奇数电子的分子等顺次性物质结构的一种重 要方法,它又称为电子顺磁共振(EPR)或电子自旋共振 (ESR)。 原理:
.
三种成键方式(自由基反应):
6.5.3 簇合物的催化性能(自学)
.
6.6 物质的磁性和磁共振
磁性是普遍存在的一种物质属性,任何一种物质材料 都有磁性,只不过表现形式和程度有所不同。物质的磁性 常用磁化率х或磁矩μ表示。磁化率是在外磁场H中物质 磁化强度M和磁场强度H的比值:
M/H
Χ是一个无量纲的量。
因子是为了使δ得到一个便于表达的数值。
对于扫频仪器,δ可以如下表达成
Δ是i 无量v纲 v参的,1由0于6 乘10v6因i v子参v,参所以1单0位6为ppm。
.
影响化学位移的因素: (1)核外电子分布 (2)抗磁各向异性效应 (3)溶剂效应和氢键的影响
.
3.磷、砷、锑、铋的三价化合物,如PF3、PCl3、AsCl3、 SbCl3、PR3等也可作为配位体形成σ—π配键。P、As等原子除 有一孤对电子可以作为电子对的供给者,与M形成σ键外,它还 有空的d轨道可和M形成反馈π键,使配位化合物稳定存在,例如 Pd(PF3)4、HCo(PF3)4、Ni(PF3)4、(R3P)4Mo(CO)2等。
.
6.3.2 不饱和烃配位化合物
以不饱和烃为配位体,通过σ—π配键与过渡金属形成的 配位化合物,在石油化工中占有重要地位。
二级注册建筑师建筑结构与建筑设备考题预测班第六章 建筑结构与结构选型及第七章 荷载及结构设计(一)

第六章建筑结构与结构选型第一节概述一、建筑结构的基本概念(一)基本术语(二)建筑结构的组成二、建筑结构基本构件与结构设计基本构件是组成结构体系的单元。
按受力特征来划分主要有以下三类:轴心受力构件、偏心受力构件和受弯构件。
(一)轴心受力构件(二)偏心受力构件的分类偏心受力构件分为两种:偏心受拉和偏心受压构件。
(三)受弯构件(3)梁截面内的应力分布1)弯曲应力弯曲应力沿截面高度为三角形分布,中和轴处应力为零;顺时针弯曲时中和轴以上为压应力,中和轴以下为拉应力;逆时针弯曲时,中和轴以上为拉应力,以下为压应力。
3)剪应力剪应力沿截面分布具有如下特征:1)剪应力在梁高方向的分布是中和轴处最大,以近抛物线的形状分布,在截面边沿处剪应力为零。
2)沿梁长度方向,支座处剪力最大,剪应力也最大;3)截面的抗剪主要靠腹板(即梁的截面中部)。
第二节多层建筑结构体系一、多层砌体结构(三)砖砌体房屋的墙体布置方案1.横墙承重方案优点:横墙较密,房屋横向刚度较大,整体刚度好。
外纵墙不是承重墙,因此立面处理比较方便,可以开设较大的门窗洞口。
抗震性能较好。
缺点:横墙间距较密,房间布置的灵活性差,故多用于宿舍、住宅等居住建筑。
2.纵墙承重方案优点:房间的空间可以较大,平面布置比较灵活。
缺点:房屋的刚度较差,纵墙受力集中,纵墙较厚或要加壁柱。
3.纵横墙承重方案根据房间的开间和进深要求,有时需采取纵横墙同时承重的方案。
横墙的间距比纵墙承重方案小。
但一般可比横墙承重方案大,房屋的刚度介于前两者之间。
4.内框架承重方案5.底部框架抗震墙结构方案在砌体结构的底部1~2层砌体墙不落地,而采用框架一抗震墙支承上部砌体承重墙。
适用于:住宅带底商的建筑。
(四)砌体房屋的构造要求1.要满足墙体的高厚比2.要注意控制横墙的间距3.纵墙尽可能贯通。
(五)多层砖砌体房屋的楼盖二、框架结构体系三、钢筋混凝土结构关于伸缩缝、沉降缝、防震缝的要求第三节单层厂房的结构体系略第四节木屋盖的结构形式与布置略例:1.影响房屋静力计算方案的主要因素为()。
酶工程第6章酶的结构与功能

3.X-光衍射分析法
用X射线衍射研究蛋白质的构象时,蛋白质 必须结晶。用波长很短的X射线(λ=0.154nm)照 射蛋白质晶体,发生散射,底片曝光后,得到衍 射图,再经计算机处理,绘出电子密度图,从中 构建出三维分子图像。
通过多种方法相互印证,可得出正确的结论。
肌红蛋白的X射线衍射图
部 分肽链的电子密度肌红蛋白分子中 图
某些常用的修饰剂
鉴别化学修饰剂是否已经 引入酶活性中心的标准
a.酶活性的丧失程度与修饰的程度成正比。 b.底物或可逆抑制剂可保护共价修饰剂的抑制作用。
分析化学修饰结果时 应注意的问题
对化学修饰实验得出的结论应非常慎重,因为 可能被修饰的基团位于活性中心以外的附近,由于 空间位阻使得底物无法进入活性中心,从而表现出 酶失去活性。活性中心往往有多个与底物结合的基 团,修饰其中的一个往往不能使酶失去活性,可能 导致结合力减弱,也可能改变被结合底物的专一性。
木瓜蛋白酶的非特异性试剂修饰
通过动力学实验证实,还有一个组氨酸残基的 咪唑基位于木瓜蛋白酶活性中心的催化部位(木瓜 蛋 白 酶 共 有 212 个 氨 基 酸 , 有 His81 和 His159 两 个 His)。Husain和Lowe用1,3-二溴丙酮修饰木瓜蛋白 酶,在pH5.6,1克当量的试剂完全抑制了木瓜蛋白 酶的活性。对修饰后的酶进行氨基酸分析,发现少 一个组氨酸。在用1,3-二溴丙酮(2-14C)的修饰实验 中,发现修饰剂连接了Cys-25和His-159两个残基, 因此知道了这两个基团之间的距离在 5 以内。这个 结论通过x-光衍射分析法又进一步得到了肯定。
第六章 酶的结构和功能
一、酶的活性中心 二、酶活性中心化学基团的鉴定 三、组成酶活性中心的重要化学基团 四、酶促化学修饰和酶活性调节 五、酶的空间结构与功能的关系 六、酶催化作用的机制 七、羧肽酶A催化作用的机制
钢结构第六章 钢桁架与门式刚架

第三节 桁架设计
一、桁架的内力计算 二、桁架的计算长度 三、桁架杆件的截面形式 四、杆件截面设计 五、桁架的节点设计 六、桁架的节点构造和计算 七、桁架的施工图
整理课件
一、桁架的内力计算
一般情况按铰接桁架进行计算。
承受节点荷载时,数解法(节点法或截面法)、图解法或 有限元法。
第六章 钢桁架与门式刚架
整理课件
目录
第一节 概述 第二节 支撑设计 第三节 桁架设计 第四节 门式刚架设计
整理课件
第一节 概述
一、桁架的特点和应用 二、平面钢桁架的外形和腹杆体系 三、门式刚架的特点和应用 四、门式刚架的结构形式 五、结构平面布置
整理课件
一、桁架的特点和应用
桁架是指由直杆在杆端相互连接而组成的以抗弯为主的格 构式结构。桁架中的杆件大多只承受轴向力,材料性能发 挥较好,特别适用于跨度或高度较大的结构。
杆件在桁架平面内和外的计算长度见表。 ➢ 交叉腹杆 >> ➢ 受压弦杆 >>
整理课件
➢ 压杆:与它相交的另一斜杆受拉且二杆皆不中断时,取为0.5l; 与它相交另一斜杆受拉,两杆中有一杆中断并以节点板相搭接 时取为0.7l; 其它情况,如两杆皆受压(此时不宜有杆件中断)时,取为l。
柱间支撑的计算简图可按支承于柱脚基础上的悬臂桁架计算。 支撑的交叉杆按拉杆设计。水平系杆按压杆设计。为了加强
房屋的纵向刚度,柱间交叉支撑有时也可按压杆设计。
整理课件
(3)隅撑
在框架梁中,隅撑设置在下翼缘受压的区段内,隅撑与框 架梁腹板的夹角不宜小于45°,一般在45°~60°之间。
在框架柱中,隅撑一端与框架柱的内翼缘或靠近内翼缘的 腹板用螺栓连接,另一端则与墙梁腹板相连,布置数量应 根据墙梁位置等具体情况而定,构造与框架梁中的隅撑相 同。
第六章 结构拟静力与拟动力试验

(7)裂缝
一、拟静力试验
5. 数据分析
荷载-位移曲线的各级第一 循环的峰点(卸载顶点)连 接起来的包络线作为骨架曲 线
♦ 低周反复加载试验的结果通常由荷载-变形滞回曲线以及相
关参数描述,它们是研究结构抗震性能的基础数据;
♦ 骨架曲线在研究非线性地震反应时,反映了每次循环的荷载
-变形曲线达到最大峰点的轨迹及试验构件的开裂荷载、极 限荷载和延性特征;
环线刚度
i Q j i j i 1 i 1 n n
位移延性系数为j时,第i次 加载循环的峰点荷载值
位移延性系数为j时,第i次加载循环的峰点位移值
一、拟静力试验
5. 数据分析 能量耗散
1 SABC he 2 SOBD
二、拟动力试验
1. 概述
拟动力试验又称联机试验,是将地震实际反应 所产生的惯性力作为荷载施加在试验结构上,使结 构所产生的非线性力学特征与结构在实际地震动作 用下所经历的真实过程完全一致。但是,这种试验 是用静力方式进行的而不是在振动过程中完成的, 故称拟动力试验。
一、拟静力试验
2. 加载设备与加载反力装置 加载装置类型
③.梁柱节点 垂直水平力加于柱顶,梁 有纵向反复位移,但不可上 下移动。竖向荷载用千斤顶 在柱顶施加,属自平衡系统, 在反复水平力作用下其柱顶 上压力不随柱顶位移而改变, 从而能计入几何非线性的影 响。 为此,该装置可模拟实际框架结构节点的受力状态。但为了简 化,取相邻梁(或相邻柱)反弯点间距离为节点的梁长(柱高), 这样节点试件的上下和左右杆端均可按铰接处理。
♦ 滞回环的形状随反复加载循环次数的增加而改变,对混凝
土结构来说,滞回环的形状可以反映钢筋的滑移或剪切变形 的扩展情况,其面积的缩小,标志着耗能能力的退化,因 此可根据滞回环的形状和面积来衡量和判断试验构件的耗 能能力和破坏机制; ♦ 进行结构抗震性能研究时,根据骨架曲线和滞回曲线,可从 结构的承载力、延性、退化以及能量耗散等方面进行综合分 析来评定结构的抗震性能。
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1.布氏硬度(HB)
• 布氏硬度法主要用来测定金属材料中较 软及中等硬度的材料,很少用于陶瓷。
• 原理:以一定的载荷(一般3000kg)把一 定大小(直径一般为10mm)的淬硬钢球压 入材料表面,保持一段时间,去载后, 负荷与其压痕面积之比值,即为布氏硬 度 值 (HB) , 单 位 为 公 斤 力 /mm2 (N/mm2)。
特制的材料测 试专用镜头
相机
与传统方式比较
视频测量仪 安装方式 非接触
传统设备:如:引伸计 应变计
性能
可能存在的问题
接触式
打滑 无法固定在试样上 试样断裂可能破坏引伸计
所有材质的材料; 测量对象
尺寸范围广
特殊材料无法测量 常规尺寸的材料 小试样无法测量
大试样需要贴很多应变片
宽泛; 测量环境 比如:高温、 高
断裂韧性测定
• 1. 单边切口梁法 (Single-Edge-NotchedBeam )
• 2. Vickers 压痕弯曲梁法 (SEPB) • 3. 直接压痕法 (Indentation Method)
单边切口梁法 (SENB)
加载速率:0.05 mm/min,跨距:20 mm 试样尺寸:6(w) × 3(b) × > 30
巴氏裂纹:
K IC 0.5727 H 0.6 E 0.4a2c1.5 (0.25≤c/a≤2.
5)
IM法的优缺点
• 优点:无需特别制样。可利用很小的样品,测 定Hv的同时获得KIC,简单易行。
• 缺点:(1)表面要求高; (2)由于压痕周围应力应变场十分复
杂,目前并没有获得断裂力学的精确解,只有 近似解;
拉伸强度的测定
拉伸强度试样
拉伸法测定涂层附着力
在一个试柱的表面按其相应的涂料产品的技术条件进行涂 装。用胶结剂与另一个试柱胶结。2个试柱可借助于图2的 装置同轴地胶结,连同定中心装置,按其干燥工艺要求进 行固化,然后进行在万能材料试验机上测定涂层附着力。
实例:采用拉伸法测定砂浆和土 聚材料的结合力
mounting
Fine polishing
维氏硬度计
范例1-金属材料(标样)
范例2-陶瓷材料
d2 d1
d=(d1+d2)/2
!载荷选择过大,容易
造成硬度测量值偏高
×
抛光如镜面(致密度高是前提保证), 不是试样抛光了就可以测显微硬度
×
经过表面抛光处理PMCC样品示意图
问题
• 透明陶瓷如何测维氏硬度?
(1) 最大试验力:10000N (2) 最大试样尺寸:600×600mm 、800×800mm、1000×1000mm (3)两支承辊间距160~810mm (每隔10mm调定)
力学性能测试 (万能材料试验机-高温)
抗弯法间接测定 牙科烤瓷材料与金属间结合强度
抗压强度的测定
陶瓷的抗压强度是抗弯强度的十倍左右,一般 只测定陶瓷抗弯强度。如果材料的抗弯强度很 低的情况下,才测抗压强度,如多孔陶瓷、生 物陶瓷。
• 动态压入法(Berkovich
或 Vickers金刚石压头)
测量薄膜和块体材料显微
硬度,弹性模量,接触刚
度
。
加载力0.5~300 mN 加载分辨率 40 nN
原子力显微镜观察微纳米压痕形貌
硅基体表面沉积 TiZrCrAlN 复合膜的硬 度曲线和Berkovich压痕形貌 载荷:50 mN 硬度:2450 Hv
单边切口梁法近似简化为单边尖锐裂纹试样
SENB计算公式
K1c
3Pl 2bw2
Y
a
a—切口深度;Y —几何形状 a/w=0.3~0.6; 切口宽度 ~0.1 mm
Y 1.93 3.07(a / w) 13.66(a / w)2 23.98(a / w)3 25.22(a / w)4
待测样品
土聚材料
砂浆
砂 土聚材料
浆பைடு நூலகம்
弹性模量的测试
• 应变测试技术(the strain measurement technique)
• 共振技术(the resonance technique)
• 超声脉冲-回波技术(the ultrasonic pulseecho method)
应变测试技术
速、辐射条件
常规条件
特殊的环境下无法测量
测量方向 二维空间任何方向 单一方向
测量不同方向需要更多的 应变计
材料领域的优势
• 非接触式(只要摄像机能拍摄到,就能测量) • 安装方便、节省时间、操作简单(无需专业人士即可操作)
• 测量对象:所有材料
如:金属、塑料、橡胶、复合材料、高分子材料、皮革等等
• 测量条件宽泛:高速、高温、有害条件测量 • 测量尺寸宽泛:从细小材料(<1mm)到大型建筑
长棒状试样三点抗弯强度测定
P D
L
8Pl f D3
抗弯强度试样的制备
平面磨床 抛光机
四点抗弯比 三点抗弯更 接近真实 值,工程实 际应用需要 四点抗弯; 写论文三点 抗弯就Ok, 每组试样至 少5根。
工程应用至少每组试样要20根, 并计算韦伯模数
陶瓷材料的力学性能曲线
两种材料的韦伯统计断裂几率图的比较
Vickers 压痕弯曲梁法 (SEPB)的缺点: 预制裂纹的成功率很低,而进一步控 制裂纹的深度以保证计算公式所要求 的尺寸就更困难。
直接压痕法
试样表面要求高,无划痕和缺陷
试样不平
计算公式
计算公式有很多,这里只给出新原皓一提出 的公式
半月型裂纹:
K IC 2.109H 0.6 E 0.4a 2c1.5 ( c/a≥2.5)
陶瓷材料的强度关系: • 拉伸强度=(0.5~0.7)抗弯强度 • 抗压强度=(8 ~ 10)抗弯强度
抗弯强度的测定
精细陶瓷弯曲强度试验方法 GB/T 6569-2006
长条试样三点抗弯强度测定
P w
3Pl f 2bw2
L=30 mm
加载速率:0.5 mm/min, 跨距:30 mm 试样尺寸:3(w) × 4(b) × > 35,抗张面抛 光,并45o倒角
努普硬度(HK)
• 努普硬度(Knoop hardness) 也是采用金刚 石压头,得到非常浅的金刚石形状的压 痕,特别适合于薄膜类材料的硬度测定.
微纳米综合力学测量系统
• Open Plateform微纳米综 合力学测量系统主要由 Open Plateform 微纳米 压入测量系统,显微划痕 测量系统,原子力显微 镜,光学显微镜以及高分 辨彩色CCD及图形采集卡 组成,其具体用途如下:
抗弯强度的测定
混凝土样品
混凝土一般抗弯强 度10MPa, 采用短 纤维或聚合物等措 施可提高到30MPa 甚至50MPa.
国标:试样尺寸=40x40x160;跨距=120; 加载速率=0.5mm/min
陶瓷砖抗折仪
• 国标GB/T3810.4—2006《陶瓷砖试验方 法—第4部分:断裂模数和破坏强度的测 定》:断裂模数与破坏强度的测定方法》
无机材料的力学性能测试方法
饶平根 ☆断裂强度的测试 ☆弹性模量的测试 ☆硬度的测试 ☆断裂韧性的测试
断裂强度的测试 (fracture strength)
• 抗弯强度的测定(bending strength or flexural
strength)
• 抗压强度的测定 (compressive strength) • 拉伸强度的测定 (tensile strength )
(>100m) • 测量分辨率高:位移分辨率0.012m,应变5
• 能够进行静态和动态测试
• 取代传统传感器。如:应变计、引伸计、加速度计等等。
• 实时测量多达100个点(每两个点之间相当于一个传感器) • 同步测量多项指标(如:同时测量位移、应变、加速度)
• 能够录制下实验过程,从而,对实验进行新的测量。
•
ct=c1{(1-2)/2(1-)}2
—待测样品的泊松比
可得弹性模量E:
E=ct{[(3/4)-(ct/cl)2]/[1- (ct/cl)2]}
—试样的密度
剪切模量 G=ct
硬度的测试
• 硬度是材料的一个重要的力学性能,反 映材料表面层抵抗永久形变或破裂的能 力,它与晶体结构、晶体缺陷、结合键 类型、体积密度、晶粒尺寸和材料纯度 有关。 划痕法
• 拉伸法 需要应变仪或引伸计,在试样拉伸强度 测试过程中,测定应力-应变曲线 E=
引伸计测 量精度 ≥0.m
采用12.5mm引伸计、加载0.02 in./mm,室温
抗弯法测陶瓷的弹模 • 满足线弹性
应变仪
跨距>60
加载速率 0.5mm/min
95氧化铝试样测试
非接触式视频应变测量仪
维氏硬度(Hv)
• 陶瓷材料常用。对于普通陶瓷材料,载 荷5~30 Kg。对于脆性材料(如玻 璃),载荷≤1 Kg,也称显微硬度。
• 试样要求:表面平整,抛光如镜面(致 密度高),尺寸大小、形状无要求。
• 计算公式:Hv=1.8544P/d2 • P—载荷;d—压痕两对角线长度平均值
维氏硬度试样的制备
(3)随材料性质不同会产生较大误 差,特别是材料中存在相变增韧效应时误差更 大;
(4)四角裂纹长度由于压痕周围残余 应力的作用会发生变化,产生压痕裂纹后若放 置不同时间,裂纹长度会发生变化,影响测定 值的精度。
牙科烤瓷材料的压痕应力扩展
IM法测定相变增韧材料的修正
• 半月型裂纹:
K IC (1 0.0083V f E) 2.109H 0.6 E 0.4a 2c 1.5
Vickers 压痕弯曲梁法 (SEPB)