基于众包数据的逆加速寿命试验研究
加速退化试验与加速寿命试验技术综述

( .Mitr A prtsR sac ntue H ri Istt o T c nlg , ri 10 0 , hn ; 1 lay p aa eerhIstt , abn ntue f eh o y Habn 0 C i i u i i o 5 1 a
2 c o lo lcrnc n nomain, in s iest fS in e a d T c n lg , .S h o fE e to isa d Ifr t o Ja g u Unv ri o ce c n e h oo y y
Z ej n 0 3 C ia h ni g2 0 , hn ) a 1 2
A sr c :A c l ae e rd t n t t g ( D b ta t c e rt d ga ai e i e d o s n A T)a d a c l a d le ts n ( L n c e rt i e t g A T) w r t o i p r n e e f i ee w m ot t a
K yw rs ce rtdd ga aint t g A e o d :acl ae er d t e i ( DT) a cl ae f s n ( L ;rl bly e o sn ; ce rtdlet t g A T) ei it e i ei a i
0 引 言
随着可 靠性 水 品的 不 断 提 高 , 现 了许 过 高 出 可 靠性 、 寿命 的产 品 , 高 可靠性 的航 天 电子 产 长 如 品, 其使 用 寿命 和贮存 寿命 都 比较 长 , 获得 此类 要
及寿命预测技术 。
Re i w f Ac e e a e g a to si nd Ac e e a e Lie Te tn v e o c l r t d De r da i n Te tng a c l r t d f s i g
加速寿命实验设计

加速寿命实验设计
实验设计关键因素
实验设计关键因素
实验目标定义
1.明确实验目的:确定实验目标,明确希望通过实验解决什么问题或验证什么假设。 2.量化实验指标:将实验目标量化,以便更准确地衡量实验结果。 3.考虑实验限制:考虑实验资源、时间和预算等方面的限制,确保实验设计具有可行性。
实验样本选择与处理
1.样本来源:确定样本来源,确保样本具有代表性和可靠性。 2.样本数量:根据实验需求和统计方法,确定所需的样本数量。 3.样本处理:确定样本处理方法,以消除干扰因素或确保实验条件的一致性。
实验设计关键因素
▪ 实验变量与控制
1.变量识别:识别实验中的所有变量,包括自变量、因变量和 潜在干扰变量。 2.变量控制:确定控制变量的方法,以减少干扰因素对实验结 果的影响。 3.变量测量:选择可靠的测量工具或方法,以确保变量测量的 准确性和客观性。
实验结果的可靠性评估
1.对实验过程进行回顾,确认是否存在可能影响实验结果可靠 性的因素。 2.对实验数据进行交叉验证,确保实验结果的稳定性和可重复 性。 3.对实验结果的不确定性进行评估,为后续决策提供可靠的依 据。
实验结果应用与探讨
▪ 实验结果的应用前景探讨
1.根据实验结果,探讨可能的应用场景和实际价值。 2.分析实验结果的应用前景,评估其推广潜力和市场前景。 3.针对实验结果的应用,提出改进和优化建议,提高其实用性和竞争力。
实验数据与结果分析
▪ 数据分析方法
1.掌握常用的数据分析方法,如回归分析、方差分析等。 2.根据实验目的选择合适的数据分析方法。 3.利用数据分析软件进行分析,得出结果。
▪ 实验结果展示
1.将实验结果以清晰、简明的方式展示出来。 2.对比不同实验条件下的结果,分析差异。 3.对实验结果进行解释和说明。
定量加速寿命试验数据分析

定量加速寿命试验数据分析在典型的寿命数据分析中,从业者通过在正常的条件下,获取产品样本的寿命数据,然后估算出产品寿命特征量,从而对母体中所有产品进行预测。
由于很多原因,相比于正常的条件下,厂商希望能更快地得到产品可靠性数据。
他们用定量加速寿命试验的方法来替代,即产品在加速应力的条件下,来获取寿命数据,这种方法通常会引起产品更快的失效。
此文阐述了在定量加速寿命试验数据分析中基础理论概况和研究该主题的某些建议。
我们假设你已经有了寿命数据分析理论的基本了解。
ReliaSoft的ALTA 软件提供了一系列完整的加速寿命数据分析工具。
定量加速寿命试验加速寿命试验方法可以是定性的或者定量的。
定性加速寿命试验(如HALT, HAST试验) 起初是为识别失效模式而设计的,以至于能提高产品的设计。
定量加速寿命试验(QALT) 是为确定产品的寿命而设计的,分析人员利用定量加速寿命试验的得到的数据可以预计产品在正常使用条件下的寿命,推断出概率密度函数(pdf)。
定量加速寿命试验能通过使用率加速或者过应力加速,来加速产品快速失效。
在使用率加速下,是指适合在正常的条件下不是连续工作的产品,分析者在正常的条件下加大使用率,使其在一大段时间内连续工作。
从这种试验类型得到的数据可以用标准的寿命数据分析技术来分析。
在过应力加速下,在正常的条件下,一个或多个环境因素如(温度,电压,湿度)引起产品失效,通过提高这些环境应力来促使产品更快的失效。
从这种试验类型得到的数据要求特殊加速寿命试验分析技术,这种分析技术是通过建立一种数学模型,利用加速应力寿命数据来外推在正常应力条件下的寿命。
这种过应力的定量加速寿命试验将在以下讨论。
) m;应力类型和应力水平在一个有效的定量加速寿命试验下,分析者可以选择在正常使用条件能引起产品失效的一种或多种应力类型。
应力类型可以包括温度,电压,湿度,振动或者任何能直接影响产品寿命的其他应力。
然后提高你所选择应力的水平并且在加速寿命试验条件下,记录产品的失效时间。
加速寿命试验的理论模型与试验方法

产品可靠性试验6.2.1 可靠性试验的意义与分类可靠性试验是为分析、评价、提高或保证产品的可靠性水平而进行的试验。
产品的研制者通过试验获得产品设计、鉴定所需的可靠性数据(可靠性测定试验)。
通过试验暴露产品缺陷,改进设计并获得可靠性增长信息(可靠性增长试验)。
产品的制造者通过试验剔除零件批中的不合格品或暴露整机缺陷,消除早期故障(可靠性筛选或老化试验老化试验不是消除早期故障的)产品使用者通过试验验证产品批可靠性水平以保证接收的产品批达到规定要求(可靠性接收试验)。
政府或行业管理部门通过试验获得数据库所需基础可靠性数据(可靠性测定试验),认证产品可靠性等级(可靠性验证试验),进行产品的可靠性鉴定与考核(可靠性鉴定试验)。
本节主要介绍可靠性测定试验,这是为获得产品可靠性特征量的估计值而进行的试验,根据需要可由试验结果给出可靠性特征量的点估计值和给定置信度下的区间估计。
由于可靠性试验往往是旷日持久的试验,为节省时间与费用常采用加速试验的方式。
本节将介绍某些加速寿命试验的理论模型与试验方法。
6.2.2 指数分布可靠性测定试验大多数电子元器件、复杂机器及系统的寿命都服从指数分布。
其待估参数为故障率λ,其他可靠性指标可利用估计值进行计算MTBF 已经有平均的意思了1.定时截尾试验(1)点估计试验进行至事先规定的截尾时间t c停止试验,设参与试验的n个样本中有r个发生关联故障,则由极大似然估计理论得出的故障率点估计值为式中t i——第I个关联故障发生前工作时间(i=1,…,r)。
若在试验过程中及时将已故障产品修复或替换为新产品继续试验,则为有替换的定时截尾试验。
此时λ的点估计为(2)区间估计对于无替换和有替换的定时截尾试验,其给定置信度为1-α的双侧置信区间为[λL,λU],则式中——自由度为υ的分布的概率为的下侧分位点;T——总试验时间(3)零故障数据的区间估计当定时截尾试验在(0,t c)内的故障数r=0时,可由式(4)给出。
加速寿命试验知识摘录

加速寿命试验寿命试验(包括截尾寿命试验)方法是基本的可靠性试验方法。
在正常工作条件下,常常采用寿命试验方法去估计产品的各种可靠性特征。
但是这种方法对寿命特别长的产品来说,就不是一种合适的方法。
因为它需要花费很长的试验时间,甚至来不及作完寿命试验,新的产品又设计出来,老产品就要被淘汰了。
所以这种方法与产品的迅速发展是不相适应的。
经过人们的不断研究,在寿命试验的基础上,找到了加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法。
加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法,加快产品失效,缩短试验周期。
运用加速寿命模型,估计出产品在正常工作应力下的可靠性特征。
下面就加速寿命试验的思路、分类、参数估计方法及试验组织方法做一简单介绍。
1 问题高可靠的元器件或者整机其寿命相当长,尤其是一些大规模集成电路,在长达数百万小时以上无故障。
要得到此类产品的可靠性数量特征,一般意义下的载尾寿命试验便无能为力。
解决此问题的方法,目前有以下几种:(1)故障数r =0的可靠性评定方法。
如指数分布产品的定时截尾试验θχαL S t =2202()())(20t S 为总试验时间。
α为风险, α=0.1时,21.0χ(2)=4.605≈4.6;当α=0.05时,205.0χ(2)=5.991≈6。
(2)加速寿命试验方法如,半导体器件在理论上其寿命是无限长的,但由于工艺水平及生产条件的限制,其寿命不可能无限长。
在正常应力水平0S 条件下,其寿命还是相当长的,有的高达几十万甚至数百万小时以上。
这样的产品在正常应力水平0S 条件下,是无法进行寿命试验的,有时进行数千小时的寿命试验,只有个别半导体器件发生失效,有时还会遇到没有一只失效的情况,这样就无法估计出此种半导体器件的各种可靠性特征。
因此选一些比正常应力水平0S 高的应力水平1S ,2S ,…,k S ,在这些应力下进行寿命试验,使产品尽快出现故障。
(3)故障机理分析方法研究产品的理、化、生微观缺陷,研究缺陷的发展规律,从而预测产品的故障及可靠性特征量。
加速寿命试验(7)

加速寿命试验一般执行寿命试验之目的在评估产品于既定环境下之使用寿命,耗时较久,且须投入大量的金钱,而产品可靠度信息又不能实时获得并加以改善,导致失去许多"商机"与"竞争力"。
因此,如何在实验室中以加速寿命试验(Accelerated Life Testing; ALT)的方法,在可接受的试验时间内评估产品的使用寿命,便成为整体可靠度试验工作中相当重要的一环,亦为可靠度试验中最具挑战性的课题。
基本上,加速寿命试验是在物理与时间上,加速产品的劣化肇因,以较短的时间试验,并据以推定产品在正常使用状态的寿命或失效率。
如果产品的劣化机构单纯,拟订加速寿命试验计划较容易。
但实际产品失效往往牵涉到很多失效机构,即使欲同时加速,加速程度也因失效机构而异,可能发生迥异于实际操作上的失效模式。
因此,加速寿命试验之基本条件是不能破坏原有特性,要尽量选择失效机构不变化的试验条件,或失效机构容易单纯化的试验条件,使加速寿命试验结果之适用范围明确化。
例如某信息设备的输入电压限制为100~130V,若规划以200V为输入,当然就破坏了原有的设计特性。
一般说来,加速寿命试验考虑的三个要素为「环境应力」、「试验样本数」及「试验时间」。
假如产品既复杂又昂贵,则样本数将较少,相对的须增加试验时间或环境应力,以加速其试验;反之如果产品造价较便宜,且数量多,则欲缩短试验时间的情况下,可考虑增加样本数或环境应力。
惟如前面所叙述,加速寿命试验下的失效模式.必须与正常操作环境下之寿命试验相同,其试验结果才有意义。
谈加速寿命试验,最重要的是如何掌握其加速因子(Accelerated Factor)。
假使相同产品,做二种不同应力(加速)条件的试验,其结果可得二个不同的特征寿命η1设为低应力试验条件)及η2(为高应力条件),则η1/η2即为加速因子(高、低应力间相对的加速程度),图6.20即为此种加速观念的示意图。
加速寿命试验理论依据

加速寿命试验理论依据加速试验电子元器件的失效原因与器件本身所选用的材料、材料之间、器件表面或体内、金属化系统以及封装结构中存在的各种化学、物理的反应有关。
器件从出厂经过贮存、运输、使用到失效的寿命周期,无时无刻不在进行着缓慢的化学物理变化。
在各种外界环境下,器件还会承受了各种热、电、机械应力,会使原来的化学物理反应加速,而其中温度应力对失效最为敏感。
实践证明,当温度升高以后,器件劣化的物理化学反应加快,失效过程加速,而Arrhenius模型就总结了由温度应力决定的化学反应速度依赖关系的规律性,为加速寿命试验提供了理论依据。
1. 以温度应力为加速变量的加速方程由Arrhenius总结的经验公式如下(8.5)式中,dM/dt是化学反应速率,A是常数,E a是引起失效或退化过程的激活能,k是玻尔兹曼常数,T是绝对温度。
当器件在t0时刻处于正常状态数为M0,到t1时刻,器件处于失效状态数为M1。
如果温度与时间无关,则积分式(8.1)得(8.6)令DM=M1-M0,t=t1-t0,得到(8.7)取对数(8.8)可写成(8.9)其中(8.10)上式就是根据Arrhenius模型得到的以温度应力为加速度变量的加速方程。
用此方程来解释器件的高温贮存寿命试验是非常成功的。
式中,t表示器件产品达到某一F(t)的时间,它的对数与绝对温度的倒数成线性关系。
若用t~1/T单边对数坐标纸绘图,则可得到一条直线,然后用图估计法或数值法推算出器件在不同温度下的寿命值。
由式(8.1)可计算得到方程的斜率b、截距α和激活能Ea ,当T1>T2时(8.11)激活能E a与方程的斜率b与器件的失效模式与失效机理有关。
根据多年来的实践积累,有关半导体器件与微电路不同失效模式与机理的激活能数据列于表8.8。
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图8.3 不同激活能时温度与寿命的关系以激活能E a作为参数,可以绘出不同E a时温度与寿命的关系,如图8.3所示。
加速寿命试验公示计算汇总

加速寿命试验公示计算汇总一、前言新研究的医疗器械在上市前应确保在储存期( 通常 1 到5 年) 内产品的质量不应发生任何影响安全性和有效性变化,新产品一般没有实时和储存周围环境条件下确定有效期的技术资料。
如果按实际储存时间和实际环境储存条件进行检测需要很长的时间才能获得结果,为了在实时有效期结果获得以前,有必要进行加速老化实验提供确定有效期的实验数据。
医疗器械设计人员能够准确地预计聚合物性能的变化对于医疗器械产业化是非常重要的。
建立聚合物材料退行性变的动态模型是非常困难和复杂的,事实上材料短期产生的变化或变性的单速率表达形式可能不能充分反映研究的产品或材料在较长有效期的真实情况。
为了设计试验方案能准确模拟医疗器械时间相关的退行性变,有必要对材料的组成、结构、成品用途、组装和灭菌过程的影响、失效模型机制和储存条件有深入的了解。
一个给定的聚合物具有以各种方式( 晶体、玻璃、不定形等) 组成的许多化学功能基团,并含有添加剂如抗氧化剂、无机充填剂、色素和加工助剂。
所有这些变量的总和结合产品使用和储存条件变量决定了材料的化学性能的退行性变。
得庆幸的是,生产医疗器械的大部分都是采用常用的几种高分子材料,这些材料已经广泛使用并且都进行了良好的表征。
根据以碰撞理论为基础的阿列纽斯(Arrhenius) 模型建立的老化简化实验方案(Simplified Protocol for Accelerated Aging) ,也称“10 度原则”(10-degree rule) ,可在中度温度范围内适用于良好表征的聚合物,试验结果可以在要求的准确度范围内。
医疗器械或材料的老化是指随着时间的延长它们性能的变化,特别是与安全性和有效性有关的性能。
加速老化是指将产品放置在比正常储存或使用环境更严格或恶劣的条件下,在较短的时间内测定器械或材料在正常使用条件下的发生变化的方法。
采用加速老化实验合格测试的主要原因是可以将医疗器械产品尽早上市。
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Figure 5. Schematic diagram of temperature accelerated life test modeling 图 5. 温度加速寿命试验建模原理图
Open Access
1. 引言
随着科学技术的不断发展,高质量、长寿命、高可靠的试样产品寿命评估成为一个广受关注的课题。 按传统的寿命试验技术评估试样寿命,寿命试验则很难在可行的时间内完成。为此,Yurkowsky W.等人 在 1967 年首次提出加速寿命试验(Accelerated Life Test, ALT) [1]方法。ALT 方法通过在不改变试样失效 机制的前提下,适当提高诱发其失效的应力条件,从而使产品加速失效或退化[2]。随着加速寿命试验的 深入研究,目前加速寿命类型主要分为恒定应力、步进应力、和序进应力[3],其相关成果已被我国广泛 应用到半导体[4] [5] [6]、机械电子[7] [8] [9] [10]、航天[11] [12]等各个领域。
加速寿命试验研究主要都是基于非常规应力不同的加速方式开展相关的试验设计和研究。其主要目 标是解决常规应力下试样寿命数据采集周期长的瓶颈问题。常规应力下试样寿命数据采集周期长,但非 常规应力下试样寿命数据采集成本一般也偏高。随着大数据时代的发展,借助网络采集方式,使得某些 产品常规应力条件下寿命数据采集难的问题迎刃而解。JeffHowe 于 2006 年在《连线》杂志上首次提出了 “众包”的概念[13],即指一个公司或机构把过去由员工执行的工作任务,以自由自愿的形式,外包给非 特定大众网络。通过众包模式,数据采集的任务难度进一步降低,并且有效降低了数据采集的成本[14] [15] [16] [17],尤其是对于一些放置在日常环境中的产品,产品使用人往往掌握这些产品的寿命数据信息而因 信息的单一性无法有效地把它们利用起来。
域内的应力水平开展的试验,由此我们称 D2 为加速寿命试验区(如图 2 寿命试验区示意图所示)。如果试 验只采用 D1 区域内的应力水平开展对应的寿命试验,我们则称对应寿命试验为逆加速寿命试验,相应的 区域 D1 称为逆加速寿命试验区(如图 2 寿命试验区示意图所示)。
Figure 2. Schematic diagram of life test area 图 2. 寿命试验区示意图
正常应力水平条件下,样品的使用寿命比较长,导致观测难度大。所以工程界一般采用超过正常应 力水平下的寿命试验,对应试验称之为加速寿命试验。假设 C0 为正常应力水平与超过正常应力水平的分
界阈值,从而把应力区域分割为= D1 {C | C ≤ C0} 和= D2 {C | C > C0} 两部分。加速寿命试验为只采用 D2 区
李沛然 等
摘要
由于科学技术的高速发展,产品更新换代的速度越来越快,人们迫切需要在较短的时间内、甚至在产品 的设计阶段就能获得产品的寿命信息。加速寿命试验就是利用加速应力开展样品试件的寿命试验,从而 在可行的时间内获得产品的寿命信息。但加速寿命试验仍然无法在产品的设计阶段获取产品的寿命信息。 为解决设计阶段的产品寿命信息获取问题,本文提出了基于大数据背景的逆加速寿命试验概念和方法。 该方法主要基于众包模式获取的常规应力下的相关产品寿命数据,建立产品的逆加速寿命模型,从而达 到预测产品寿命信息和降低寿命实验成本的目标。以隔热服为例,本文利用在电商平台采集的相关产品 寿命数据和乘积限生存分析方法,建立阿伦尼斯寿命模型,并开展隔热服在加速应力下的寿命评估。
标(如图 3 加速寿命试验示意图所示)。
Figure 3. Schematic diagram of accelerated life test 图 3. 加速寿命试验示意图
2.2. 逆加速寿命试验
逆加速寿命试验的主要任务就是利用逆加速寿命试验区的应力水平下样品寿命观测值来估计参数θ ,
从而建立逆加速寿命模型 T (C;θ ) 。根据逆加速寿命模型,可以外推超过正常应力水平下的产品寿命和其
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应用数学进展
李沛然 等
2.1. 加速寿命试验 加速寿命试验的主要任务就是利用加速寿命试验区的应力水平下样品寿命观测值来估计参数θ ,从
而建立加速寿命模型 T (C;θ ) 。根据加速寿命模型,可以外推正常应力水平下的产品寿命和其它可靠性指
关键词
加速寿命试验,众包模式,阿伦尼斯模型,逆加速寿命试验,寿命模型
Copyright © 2020 by author(s) and Hans Publishers Inc. This work is licensed under the Creative Commons Attribution International License (CC BY 4.0). /licenses/by/4.0/
过正常应力下的寿命。如对最常见的应力条件有温度,加速寿命试验为了让产品提早老化,往往采取高
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应用数学进展
李沛然 等
温实验的方式以收集高温条件下的数据,通过设置不同的温度值,可以得到不同温度下的寿命数据,从 而拟合寿命曲线并预测常规温度下的产品寿命(如图 5 温度加速寿命试验建模原理图所示)。
Keywords
Accelerated Life Test, Crowdsourcing Pattern, Arrhenius Model, Inverse Accelerated Life Test, Life Model
基于众包数据的逆加速寿命试验研究
李沛然,徐圣兵*,黄枢林,林映青,蔡 炜 广东工业大学应用数学学院,广东 广州
它可靠性指标(如图 4 逆加速寿命试验示意图所示)。
Figure 4. Schematic diagram of inverse accelerated life test 图 4. 逆加速寿命试验示意图
2.3. 众包模式 加速寿命试验为了获取超过正常应力条件下的数据,需要在实验室做对应实验以观测产品在不同超
Research on Inverse Accelerated-Life-Test Based on Crowdsourcing Data
Peiran Li, Shengbing Xu*, Shulin Huang, Yingqing Lin, Wei Cai School of Applied Mathematics, Guangdong University of Technology, Guangzhou Guangdong
2. 逆加速寿命试验动机
为了评价产品的寿命特征,提取产品的各项可靠性指标,研究产品的失效机制,都要进行寿命试验。
DOI: 10.12677/aam.2020.96107Leabharlann 903应用数学进展
李沛然 等
寿命实验一般是指把若干样品放在观测应力 C (如温度、湿度、电压、电流、功率、振动、负载等工作条 件)的若干个应力水平下进行的试验,通过观察每个样品的对应使用寿命 T (样品第一次失效发生的时间),
建立带参数θ 的寿命模型 T (C;θ ) (如图 1 寿命试验示意图所示)。
Figure 1. Schematic diagram of life test 图 1. 寿命试验示意图
寿命试验一般分为现场寿命试验和模拟寿命试验[18]。现场寿命试验是指把样品放在实际应用条件下 来获取失效数据的试验。这种现场试验最有说服力,但其投资大、时间长、管理工作负担大。模拟寿命 试验是指将现场使用的工作条件在实验室内模拟,并人工设计应力水平来获取失效数据的试验。模拟寿 命试验投资小、有重复性、管理简便,便于产品之间的比较,工程界大都采用这种试验获取寿命模型。
收稿日期:2020年5月31日;录用日期:2020年6月15日;发布日期:2020年6月22日
*通讯作者。
文章引用: 李沛然, 徐圣兵, 黄枢林, 林映青, 蔡炜. 基于众包数据的逆加速寿命试验研究[J]. 应用数学进展, 2020, 9(6): 902-910. DOI: 10.12677/aam.2020.96107
Received: May 31st, 2020; accepted: Jun. 15th, 2020; published: Jun. 22nd, 2020
Abstract
With the rapid development of science and technology, the speed of product renewal is getting faster and faster and the people urgently need to obtain the life information of the product in the short time and even in the design phase of the product. The accelerated life test is to carry out the life test of the samples by using the accelerated stress to obtain the life information of the product in the feasible time. But it is difficult for the accelerated life test to obtain the product’s life information at the design stage of the product. In order to solve the acquisition problem of product life information in the design phase, this paper proposes the concept and method of the inverse acceleration life test according to the background of big data. This method, which can achieve the target of predicting product life information and reducing the cost of life test, is to establish the inverse accelerated life model of the product based on the relevant product life data under the normal stress of the mode, In this paper, the survival analysis method of the related product life data and product limit is used to establish the Arrhenius life model, and carry out the life evaluation of the heat insulation suit under accelerated stress.