SDH电接口参数测试资料
SDH、WDM网元级测试内容及所用仪表
SDH、WDM网元级测试内容及所用仪表：
测试内容使用的仪表
SDH；WDM (OTU) 平均发送光功率图案发生器、光功率计
发送信号波形（眼图）信号分析仪（高速示波器）
光接收灵敏度、最小过载光功率
传输分析仪（图案发生器、误码检测仪）、可变衰耗器、光
功率计
抖动测试SDH分析仪
WDM
OTU
中心频率与偏离多波长计或光谱分析仪
最小边模抑制比光谱分析仪
最小-20dB带宽光谱分析仪
OMU插入损耗及偏差、极化相关损
耗
可调激光器光源、偏振控制器、光功率计
ODU插入损耗及偏差、极化相关损
耗、信道隔离度、中心波长与偏差
可调激光器光源、偏振控制器、光功率计、光谱分析仪OA输入、输出光功率范围、噪声系
数、光监测信道的光功率、工作波长
及偏差
光谱分析仪、光功率计。
SDH测试方法
1、简述SDH测试信号结构TSS1的功能。
答：为了测试提供高阶通道连接功能（HPC）和采用AU-4结构的网络单元（NE），测试信号结构TSS1是一种适用于C-4容器所有字节，其长度为2 23－1比特的PRBS测试序列。
2、简述SDH测试信号结构TSS3的功能。
答：为了测试提供高阶通道连接功能（HPC）和低阶通道连接功能（LPC）的网络单元（NE），测试信号结构TSS3是一种适用于C-3低阶容器所有字节，其长度为2 23－1比特的PRBS测试序列。
3、简述SDH测试信号结构TSS4的功能。
答：为了测试提供高阶通道连接功能（HPC）和低阶通道连接功能（LPC）的网络单元(NE），测试信号结构TSS4是一种通用于C-12低阶容器所有字节，其长度为2 15－1比特的PRBS测试序列。
4、简述TSS5的功能。
答：为了测试提供高阶通道适配功能（HPA-4）和采用AU-4结构的网络单元（NE），测试信号结构TSS5是一种适用于映射入C-4容器所有PDH支路比特，其长度为2 23－1比特的PRBS测试序列。
5、简述TSS7的功能答：（LPA-3），C-36、简述TSS8的功能。
答：LPA-12,C-12，2 15－17、SDH具有哪几类电接口。
答：SDH有155520kbit/s;PDH有2048kb/s,34368kb/s,139264kb/s三种速率；第三类为数字同步网接口，即2048khz和2048kbit/s基准定时源接口。
8、阐述测试SDH平均发送功率时的操作步骤。
(1)接好电路。
(2)对于SDH设备输入口一般不需要送信号，如需要送信号，按输入口的速率等级，图案发生器选择适当的伪随机二元序列（PRBS）或何时的测试信号结构向输入口输入测试信号。
(3)如有需要，测量并记录激光器的偏置电流（或输入功率）及温度。
(4)光功率计设置在被测光波长上，待输出功率稳定，从光功率计读出平均发送光功率。
(5)精细的测试，可以通过多次测试取平均值，然后再用光连接器和测试光纤的衰减对平均值进行修正。
SDH常用指标测试大全
设备测试原理
抖动和漂移 定义： 抖动和漂移与系统的定时特性有关。定时抖动（抖动）是 指数字信号的特定时刻（例如最佳抽样时刻）相对其理 想时间位置的短时间偏离。所谓短时间偏离是指变化频 率高于10Hz的相位变化。而漂移指数字信号的特定时刻 相对其理想时间位置的长时间的偏离，所谓长时间是指 变化频率低于10Hz的相位变化。
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设备测试原理
抖动和漂移指标 4）抖动转移函数——抖动转移特性 在此处是规范设备输出STM-N信号的抖动对输入的STM-N信号 抖动的抑制能力（也即是抖动增益），以控制线路系统的抖动 积累，防止系统抖动迅速积累。 抖动转移函数定义为设备输出的STM-N信号的抖动与设备输入 的STM-N信号的抖动的比值随频率的变化关系，此频率指抖动 的频率。
SDH常用指标测试大全
学习完此课程，您将会： 掌握光口、电口的测试指标概念、测试原理与方法； 掌握误码性能测试指标概念、测试原理和方法； 掌握抖动和漂移的概念、测试原理和方法；
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第1章 光口、电口、误码、抖动和漂移 的概念及测试原理和方法。
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设备测试原理
光接口类型:
应用场合
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设备测试原理
光口指标 3、接收机过载功率 定义：是在R参考点（光板IN口），达到规定的误码（BER=10-10） 所能接收到的最高平均光功率。 测试方法：同接收灵敏度测试方法。 总结： 接收机正常工作的范围是有限制的：光功率太强，会产生误码甚 至可能毁坏收光模块；光功率太弱，也会产生误码或者收无光。 光板接收到的信号太强、太弱都不行。接收光功率只有在一定的 范围内，光板才能稳定工作。
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设备测试原理
光口指标 4、光输入口允许频偏 定义：是指光输入口在接受信号正常时，能够允许输入光信号最大频 偏范围。 指标要求：再生器的内部振荡器在自由运行方式下的长期频率稳定度 不得劣于±20×10-6， 下游SDH设备输入口接收到这样的信号应能正 常工作。 测试配置：
SDH光接口参数测试分解
SDH光接口参数测试一、平均发送光功率A、指标要求：发送机的发送功率定义为发送参考点（S参考点）所测得的发送机发送伪随机序列（PRBS）信号时的平均光功率。
其指标要求见表1：L – 4.3 1480 1580 SLM 2dBm - 3dBmSTM –162488.320Mbit/s I - 16 1266 1360 MLM - 3dBm - 10dBm S –16.11260 1360 SLM 0dBm - 5dBm S –16.21430 1580 SLM 0dBm - 5dBm L –16.11280 1335 SLM 3dBm - 2dBm L –16.21500 1580 SLM 3dBm - 2dBm L –16.31500 1580 SLM 3dBm - 2dBm表1：SDH光接口平均发送光功率指标B、基本测试框图：C、测试步骤：1、按照图1进行配置连接；2、SDH测试设备发送规定传输比特率、码型和长度的伪随机信号；3、用标准测试光纤软线将待测光端机的发送端输出活动连接器与光功率计输入活动连接器相连，在光功率计上读得的光功率数值就是要测的平均发送光功率。
注：该项指标的测试尽管简单，但测量准确度却往往并不太理想，常可能超过0.5dB，因此，必须对光源、检测器（光功率计）、校准程序及环境条件按规定进行严格的要求，以控制测试偏差。
此外，采用标准测试光纤软线进行测试也是减小测试误差的重要手段。
二、眼图模板A、指标要求：在高比特率光通信系统中，发送光脉冲的形状不易控制，常常可能有上升沿、下降沿过冲、下冲和振铃现象。
这些都可能导致接收机灵敏度的劣化，需要严加限制。
为此，ITU-T G.957规定了一个发送眼图的模板，如图2，模板参数列于表2中。
采用眼图模板法比较简便，而且可能捕捉到一些观察单个孤立脉冲所不易发现的现象。
但测试结果与所选择的测试参考接收机（光示波器）密切相关，因此其低通滤波器必须标准化。
SDH测试
同步数字体系(SDH) 测试方法
比特率(kbit/s) 2048 (vc12) 容 差 码 HDB3 型 测试用PRBS 215-1
±50 x 10-6
34368 (vc3)
±20 x 10-6
HDB3
223-1
139264 (vc4)
±15 x 10-6
CMI
223-1
155520
±20 x 10-6
CMI
223-1
CSO_WuWeiqing
Lucent Technologies Information & Communications of Shanghai, Ltd.
3. 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6 3.7 3.8 抖动和漂移性能测试 SDH 设备 STM-N 口输出抖动的产生 SDH 设备 STM-N 输入口的抖动容限 SDH 再生器的抖动传递特性 SDH 数字段的输出抖动 SDH 数字段输入口的抖动和漂移容限 PDH 支路口的输入抖动和漂移容限 PDH 支路口的映射抖动 PDH 支路口的结合抖动 CSO_WuWeiqing
同步数字体系(SDH) 测试方法
1. 1.1 光接口特性测试 光源工作波长 -- 光谱分析仪或光波长计 主纵模中心波长 最大均方根谱宽 σrms ( LED MLM) -- 光谱分析仪 σ2rms表示规定光谱积分区内的总功率，积分区的边界功率相对于主峰跌落 20dB-30dB. 最大 -20dB谱宽 ( SLM) -- 光谱分析仪 选取光功率下降到 - 20dB的点对应的波长 λ１和 λ２，σ -20=λ２- λ１。 最小边模抑制比 ( SLM) -- 光谱分析仪 在最坏反射条件下，全调制时，主纵模的平均光功率与最显著边模的光功率之比得最小值。 平均发送光功率 -- 光功率计 平均发送光功率是发送机耦合到光纤的伪随机数据序列的平均功率在 S 点的测试值。
光纤通信测量电接口的指标和测试
3 嵌入开销测试，包括告警和性能监视功能测 试、协议分析等，用以确认开销功能。
4 线路接口测试，包括一系列电接口和光接口 参数的测试，用以保证光路上的横向兼容性。
光纤通信测量电接口的指标和测试
传送能力测试
虚容器BER测试
3 在外时钟源速率有偏差(在表4.6的容差范围 内)，连接电缆衰减增大(在表4.6的允许衰减 范围内)的不利条件下，误码检测器仍然应检 测不到任何误码。
光纤通信测量电接口的指标和测试
最大允许输入抖动的下限
光端机输入口 不同速率的数字复用设备输入口 测试方法与第六章抖动容限的测试相同
光纤通信测量电接口的指标和测试
由于数字配线架和上游设备输出阻抗的不均匀 性，会产生信号反射，形成对有用信号的干扰， 为了保证光端机的正常工作，避免因干扰信号 进入输入口而引起的误码，要求输入口具有足 够能力指标
比特率
表称值 (kbit/s)
容差 (kbit/s)
2048
码（HDB3），4次群接口码型为传号反转 编码（CMI）
光纤通信测量电接口的指标和测试
接口名称
标称比特率 (kbit/s)
容差(或频率容差Hz)
×10-6
bit/s
一 次 群 2048
±50
±102.4
（基群）
二次群
8448
±30
±253.4
三次群
34368
±20
±687.4
四次群
139264
±15
标准化的信息结构等级，称为同步传送 模块
块状帧结构具有丰富的维护管理比特 开放的标准化光接口，在光路上实现不
SDH电接口参数测试
SDH电接口参数测试SDH（Synchronous Digital Hierarchy）电接口是一种用于光纤通信系统的接口标准，它采用同步传输方式，可以实现高速、稳定的数据传输。
为了保证SDH电接口的正常工作，需要进行一系列的参数测试。
首先，需要测试的参数是SDH电接口的传输速率。
SDH系统采用了多层的速率结构，最常见的速率是STM-1（Synchronous Transport Module level-1），其传输速率为155.52Mbps。
在测试时，需要验证接口的传输速率是否符合标准，同时还需要测试在不同传输速率下的性能表现。
接下来，需要进行带宽测试。
在SDH电接口中，带宽是指每个光纤通道的数据传输能力，通常以Mbps为单位进行衡量。
通过带宽测试，可以确定SDH电接口的实际可用带宽，以及通道的承载能力是否符合设计要求。
此外，还需要进行误码率测试。
误码率是指在传输过程中出现的比特错误率，它可以反映系统的抗干扰能力和传输质量。
在测试中，需要通过发送大量数据，并在接收端进行比对，来计算误码率，并判断系统的稳定性和可靠性。
另外，需要进行时钟同步测试。
在SDH系统中，时钟同步是非常重要的，它保证了传输过程中各个节点的数据同步。
通过时钟同步测试，可以验证SDH电接口是否能够正常接收和传递时钟信号，以及时钟的精确度和稳定性。
此外，还需要进行抗干扰性测试。
在实际使用中，SDH系统可能会受到各种干扰源的影响，例如电磁辐射、电源干扰等。
通过抗干扰性测试，可以验证SDH电接口的干扰抑制能力，以及在干扰环境下的数据传输质量。
最后，需要进行连通性测试。
连通性测试是指验证SDH电接口与其他设备之间的连接是否正常，以及数据传输是否稳定。
在测试中，需要模拟不同的连接情况，例如点对点、多点连接等，以确保SDH电接口的兼容性和通用性。
综上所述，SDH电接口参数测试包括传输速率、带宽、误码率、时钟同步、抗干扰性和连通性等多个方面的测试。
SDH电接口参数测试全解
SDH电接口参数测试1、比特率及容差、接口码型A、指标要求：比特率即二进制信号速率，定义为每单位时间内传送的比特数。
实际数字信号的比特率和规定的标称比特率多少有点差别，ITU-T规定了这种差别允许的范围，即容差。
见下表1。
输入口、输出口都应满足表1要求，输入口满足指能适应相应容差范围内的任何实际比特率，其它参数仍应满足指标；输出口满足指无论上游是何设备，数字信号从输出口送出，其实际比特率应在表1给出的容差之内。
表1：比特率及容差、接口码型指标要求B、测试基本框图:图1:比特率及容差测试框图C、测试步骤：（1）、输入口比特率及容差：---按图1接好电路，配置SDH测试设备使之产生相应表1的比特率及码型，使系统正常运行，确认SDH测试设备检测不到任何误码；---减少SDH测试设备的输出信号比特率，直到SDH测试设备刚好检测到任何误码的临界点，记下此时的频偏值（如到测试设备频偏设置的极限仍无误码，则记下此极限值）；---增加SDH测试设备的输出信号比特率，重复上一步骤；---记录下的频偏值必须超过表1中的容差限值；---更换其它输入口重复以上测试步骤。
（2）、输出口数字信号比特率：---按图1接好电路，配置SDH测试设备使之产生相应表1的比特率及码型，使系统正常运行;---确认SDH测试设备的输出信号比特率无频偏，测试此时接收到的信号比特率频偏，其值应在表1所示容差限之内；---更换其它输入口重复以上测试步骤。
2、出口信号波形A、指标要求:实际工作条件下，输出口通过电缆连接在数字配线架（DDF）上，由于电缆长度和阻抗等不确定因素，无法规范实际工作的输出口信号波形参数指标。
现在的输出口信号波形各参数都是在输出口终结规定的测试负载阻抗条件下所规定的指标，各级数字接口的输出口指标应符合表2的要求。
B、试用滤波器和探头要求：测试用滤波器的带宽要能覆盖被测信号，探头阻抗要高，电容要小，具体要求见表3。
C、测试基本框图:D、测试步骤：---按表3选择示波器和探头，按测试框图接好电路；---将测试负载阻抗（75。
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SDH电接口参数测试
1、比特率及容差、接口码型
A、指标要求：
比特率即二进制信号速率，定义为每单位时间内传送的比特数。
实际数字信号的比特率和规定的标称比特率多少有点差别，ITU-T规定了这种差别允许的范围，即容差。
见下表1。
输入口、输出口都应满足表1要求，输入口满足指能适应相应容差范围内的任何实际比特率，其它参数仍应满足指标；输出口满足指无论上游是何设备，数字信号从输出口送出，其实际比特率应在表1给出的容差之内。
表1：比特率及容差、接口码型指标要求
B、测试基本框图：
图1：比特率及容差测试框图
C、测试步骤：
（1）、输入口比特率及容差：
---按图1接好电路，配置SDH测试设备使之产生相应表1的比特率及码型，使系统正常运行，确认SDH测试设备检测不到任何误码；
---减少SDH测试设备的输出信号比特率，直到SDH测试设备刚好检测到任何误码的临界点，记下此时的频偏值（如到测试设备频偏设置的极限仍无误码，则记下此极限值）；
---增加SDH测试设备的输出信号比特率，重复上一步骤；
---记录下的频偏值必须超过表1中的容差限值；
---更换其它输入口重复以上测试步骤。
（2）、输出口数字信号比特率：
---按图1接好电路，配置SDH测试设备使之产生相应表1的比特率及码型，使系统正常运行；
--- 确认SDH测试设备的输出信号比特率无频偏，测试此时接收到的信号比特率频偏，其值应在表1所示容差限之内；
---更换其它输入口重复以上测试步骤。
2、出口信号波形
A、指标要求：
实际工作条件下，输出口通过电缆连接在数字配线架（DDF）上，由于电缆长度和阻抗等不确定因素，无法规范实际工作的输出口信号波形参数指标。
现在的输出口信号波形各参数都是在输出口终结规定的测试负载阻抗条件下所规定的指标，各级数字接口的输出口指标应符合表2的要求。
B、试用滤波器和探头要求：
测试用滤波器的带宽要能覆盖被测信号，探头阻抗要高，电容要小，具体要求见表3。
表3：接口测试用滤波器和探头要求
C、测试基本框图：
D、测试步骤：
---按表3选择示波器和探头，按测试框图接好电路；
---将测试负载阻抗（75Ω电阻，误差小于±0.5%）或75Ω/50Ω阻抗变换器（若不用低电容高阻抗探头时）的75Ω侧接到待测的输出口上；
---先校准零基线，方法是不给示波器送信号（输入端短路），将水平扫描线调到屏幕适当的位置（模板的标称0伏线）处；
---将被测信号送入示波器，读出表2中各参数，应满足相应的指标；
---对于139264和155520Kbit/s输出口，注意示波器用交流耦合（AC）方式。
CMI码的幅度中线和示波器的零基线之差应不超过±0.05V。
3、阻抗和反射衰减
A、指标要求：
输入口或输出口的实际阻抗与标称阻抗的差异用反射衰减规定，它表示接口失配时反射造成的能量损失，又称回波损耗。
相应各数字接口的反射衰减指标见下表4：
表4：接口阻抗特性指标
B、基本测试框图：
图3：阻抗和反射衰减测试配置
C、测试步骤：
---按图3接好电路，振荡器的阻抗按反射桥的要求设置，输出电平0dB，频率在表4相应的范围内。
电平表阻抗按反射桥的要求设置；
---先将待测接口与反射桥完全断开，此时电平表指示电平为P1（dB）；
---将待测接口接在反射桥上，此时电平表指示电平为P2（dB）；
---反射衰减bρ=P1 - P2，其值应满足表4的要求；
---改变频率，重复以上步骤，可得到整个频率范围内的bρ。
注意：连接被测接口和反射桥的电缆要尽量短。
YB536-92规定，2048Kbit/s及更低速率接口测试所用电缆在10MHz的衰减不得超过0.5dB，8448Kbit/s及更高速率接口测试所用电缆在
200MHz的衰减不得超过0.2dB，这样才能使测得的结果准确。
4、输入口允许衰减和抗干扰能力
A、指标要求：
连接输出口和输入口的电缆和数字配线架会引入衰减，对于减弱的信号，输入口应能正确接收，输入口的这种特性用允许的衰减范围表示。
另外，由于数字配线架和输出口阻抗不均匀性，在接口上可能呈现信号反射，反射信号对有用信号形成干扰，因此必须保证输入口有足够的抗干扰能力。
其指标要求见下表5：
B、测试基本框图：
见下图4。
C、测试步骤：
---按图4接好电路，仪表参数按表5设置；
---调整干扰支路衰减器，使信号/干扰比等于表5所要求的数值；
---SDH测试设备设置相应的速率、码型，连接电缆衰减接近0dB时，SDH测试设备应检测不到误码；
---在SDH测试设备速率有偏差（范围不超过表5所给容差），连接电缆衰减增大（范围不超过表5所给衰减范围）的不利条件下，SDH测试设备仍应检测不到误码。
图4：输入口允许衰减和抗干扰能力测试配置
5、过压保护要求
通过比较输入口经标准闪电脉冲冲击前后各项指标的测试结果，检验闪电脉冲冲击后输入口是否损坏。
由于该项试验带有一定的破坏性，一般作为抽测项目，维护测试中一般不作要求，此出不再繁述。
6、输入口容许抖动容限
输入口抖动容限指标及测试方法详见第五部分《传输性能测试---抖动测试》。
7、输出口输出信号最大峰峰抖动
输出口输出信号最大峰峰抖动指标及测试方法详见第五部分《传输性能测试---抖动测试》。