孔径测量系统精度分析

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测量孔径实验报告

测量孔径实验报告

测量孔径实验报告测量孔径实验报告引言:孔径是光学领域中一个重要的概念,它指的是光线通过光学系统中的孔径时所经过的最大直径。

测量孔径的准确性对于光学系统的性能评估和优化具有重要意义。

本实验旨在通过实际测量,探究不同方法对孔径测量的影响,并分析其优缺点。

实验方法:本次实验采用了两种常见的测量孔径的方法:直接测量法和衍射法。

首先,我们使用直尺和显微镜对待测孔径进行直接测量。

然后,我们使用一块光学平板和一束激光光源进行衍射实验,通过观察衍射光斑的形状和大小来推算孔径的大小。

实验结果与分析:在直接测量法中,我们发现使用显微镜测量孔径的结果相对较准确。

然而,由于显微镜的放大倍数有限,较小的孔径可能无法被准确测量。

此外,直尺的刻度误差也会对测量结果产生一定的影响。

因此,在进行直接测量时,需要结合显微镜的放大倍数和直尺的精度来综合评估结果的准确性。

在衍射法中,我们观察到了衍射光斑的明暗交替环形图案。

通过测量环形图案的直径和距离,我们可以利用衍射公式来计算孔径的大小。

衍射法相对于直接测量法具有更高的准确性和精度,尤其对于较小的孔径测量更为适用。

然而,衍射法需要较为复杂的光学装置和计算过程,操作难度相对较大。

综合比较:通过对两种方法的实验结果进行综合比较,我们可以发现直接测量法和衍射法各有优劣。

直接测量法简单直观,适用于较大孔径的测量,但对于较小孔径的测量结果可能不够准确。

衍射法准确性较高,适用于各种孔径大小的测量,但需要较为复杂的光学装置和计算过程。

结论:本次实验通过直接测量法和衍射法对孔径进行了测量,并比较了两种方法的优缺点。

实验结果表明,直接测量法适用于较大孔径的测量,而衍射法适用于各种孔径大小的测量。

在实际应用中,我们可以根据测量的需求和条件选择合适的方法来进行孔径测量。

实验的局限性:本次实验的局限性在于使用的光学装置和测量工具的精度有限,可能会对测量结果产生一定的误差。

此外,由于时间和设备限制,我们只对两种常见的测量方法进行了探究,还有其他更精确的测量方法未进行研究。

孔径测量标准方法

孔径测量标准方法

孔径测量标准方法
孔径测量是一种常见的实验测量方法,它用来确定物体中孔洞的直径大小。

为了保证测量结果的准确性和可重复性,需要遵循一定的标准方法。

首先,选择合适的测量仪器。

常见的孔径测量仪器包括显微镜、光学投影仪、扫描电子显微镜等。

根据实际需要选择合适的仪器。

其次,对待测物进行准备。

清洁待测物上的杂质和污渍,确保测量区域干净无影响。

可使用适当的清洁液和柔软的布或纸巾轻轻擦拭。

接下来,校准测量仪器。

使用已知直径的参考物进行仪器校准,确保测量仪器的精度和准确性。

校准时要注意仪器的零点和放大倍数等参数。

然后,选择合适的测量方法。

根据孔洞的形状和大小选择相应的测量方法,常见的方法有直接测量、间接测量和比较测量等。

确定测量方法后,按照相关步骤进行测量。

在测量过程中,要注意避免触碰待测物,以免造成误差或损坏。

测量时要保持仪器和物体的稳定,避免因移动或震动引起的测量结果变化。

最后,记录和分析测量结果。

将测量结果准确记录下来,并进行数据分析和比对,以确定孔洞的准确直径。

总之,孔径测量的标准方法需要选择合适的测量仪器,准备好待测物,进行仪器校准,选择合适的测量方法,遵循操作步骤进行测量,并记录和分析测量结果。

通过严格遵循这些步骤和标准,可以得到准确可靠的孔径测量结果。

孔径超差技术要求

孔径超差技术要求

孔径超差技术要求孔径超差技术要求一、引言孔径超差技术是一种用于测量和控制光学系统中孔径大小的方法。

在光学系统中,孔径大小对于成像质量和分辨率有着重要的影响。

为了保证光学系统的性能,需要对孔径进行精确的测量和控制。

本文将详细介绍孔径超差技术的要求以及相关的技术知识。

二、孔径超差技术要求1. 精度要求孔径超差技术需要具备高精度的测量能力。

通常情况下,光学系统的孔径大小在亚微米级别或更小。

对于孔径超差技术而言,其精度要求应达到亚微米级别或更高。

2. 稳定性要求孔径超差技术需要具备良好的稳定性。

由于光学系统中存在各种环境因素和噪声干扰,如温度变化、机械振动等,这些因素可能会导致测量结果的偏差。

在进行孔径超差测量时,需要采取一系列措施来提高系统的稳定性,以确保测量结果的准确性和可靠性。

3. 快速性要求孔径超差技术需要具备较快的测量速度。

在实际应用中,通常需要对大量的光学元件进行孔径测量。

如果测量速度过慢,将会导致工作效率低下。

孔径超差技术要求能够在短时间内完成孔径测量,以提高工作效率。

4. 自动化要求孔径超差技术需要具备一定程度的自动化能力。

由于孔径测量通常需要对光学系统进行多次重复操作,如果全部依靠人工操作将会非常耗时且容易出错。

通过引入自动化控制系统,可以实现对光学系统的自动化操作和控制,并提高工作效率和准确性。

5. 可追溯性要求孔径超差技术需要具备良好的可追溯性。

在进行孔径测量时,需要确保测量结果的准确性和可靠性,并能够追溯到国家或国际标准。

在进行孔径超差测量时,需要使用经过校准和验证的仪器设备,并严格按照国家或国际标准进行操作和记录。

三、孔径超差技术的实现方式1. 光学测量法光学测量法是一种常用的孔径超差技术。

该方法利用光学原理,通过测量光线经过孔径时的衍射或干涉现象,来间接地确定孔径大小。

典型的光学测量方法包括衍射法、干涉法等。

2. 机械测量法机械测量法是一种通过机械手段直接测量孔径大小的方法。

最新测量系统分析程序

最新测量系统分析程序
5程序:
5.1测量系统分析方法的选定:
5.1.1计量型量具(用于测量计量型数据的量具或仪器)
5.1.1.1选用重复性和再现性分析方法:
5.1.1.2新购量具在校正合格后\维修重用之量具必须在维修后立即执行测量系统分析作业,且在使用后一年内追踪执行一次量测系统分析作业﹔
5.1.2计数型量具(用于测量计数型数据的量具/检具/孔径针)
3.5 GR&RGage R&R測量系統重復性和再現性合成的評估。
3.5
3.6分级数(Ndc)。1.41(PV/GRR)考虑整个测量系统变差时数据分级大小。
3.7线性(Linearity)是在量具预期的工作量程内,偏倚值的差值.
3.8计量型数据:定量的数据,可用测量值来分析。例如:用毫米表示工作过程中的机床的精度, 用千克表示射出的压力
5.1.2.1选用交叉法:
5.1.2.2新购量具制作验收合格后\维修重用之量具必须在维修后立即执行测量系统分析作业,且在使用后一年内追踪执行一次量测系统分析作业﹔
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核准
标 题:
测量系统分析程序文 件源自编 号制 作 单 位制 作 日 期
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5.2作业人员之召集:品管部工程师依量测系统分析作业计划日期定期召集各量具使用之作业者,计量型量具按5。3项作业\计数量具按5。5项作业﹔
<80%
>5%
>10%
6支持文件:
6.1《品质记录控制程序》 CA-QP-10
7记录表单:
7.1量具再现性及再生性数据表 CA-QP-24-01
7.2量具再现性及再生性报告 CA-QP-24-01
7.3 计数型测量系统分析报告 CA-QP-24-02

实验2 光纤数值孔径的测量实验数据处理与分析

实验2   光纤数值孔径的测量实验数据处理与分析

光纤数值孔径的测量数据处理与分析1、数据处理与分析(1)多模光纤数值孔径测量(2)单模光纤数值孔径测量分析:由表1以及表2分析可知,实验所测得的多模光纤数值孔径为0.231MMF NA =,单模光纤是数值孔径为0.157SMF NA =。

由此可知,通常情况下,多模光纤数值孔径大于单模光纤的数值孔径,这也解释了为什么多模光纤耦合效率大于单模光纤的耦合效率。

2、误差分析本实验误差较大,主要来自于以下几方面:(1)激光器、显微镜、光纤以及光功率计探测头之之间不可能百分百的准直,一定会存在微小的偏差,这会对实验结果产生一定的误差。

(2)读数时会产生偶然误差,特别是螺旋测微仪的读数。

(3)实验存在不稳定的因素,比如实验时观察到,光功率计的示数并非稳定不变,而是存在微小波动,这也会对实验结果产生误差。

3、实验总结通过此次试验,我对光纤数值孔径有了深刻的学习与认识,明白了光纤数值孔径的含义以及意义,知道了单模光纤数值孔径与多模光纤数值孔径的差异;同时也学会了如何测量单光纤与多模光纤的数值孔径NA 。

续表4、思考题1.实验中是否可以更换其它的聚焦透镜,有何依据?答:实验中不可以更换其它聚焦透镜。

原因有二,其一,为了最有效地把光入射到光纤中去,通常应采用其数值孔径与光纤数值孔径相同的透镜进行聚光,如果更换就会影响激光与光纤的耦合效率,从而影响实验结果的准确性。

其二,更换聚焦透镜就意味着调节好的准直光路受到破坏,将不能再继续实验,如果要继续实验需要重新对实验光路进行调整准直,所以实验中不能更换聚焦透镜。

2.为何532nm单模、多模光纤的数值孔径有差异?答:单模光纤与多模光纤的数值孔径均由芯区与包层的折射率所决定,即NA=因此,实验所测得的532nm的单模光纤与多模光纤数值孔径的差异(多模数值孔径大于单模)是光纤自身的因素所决定的。

另外,由于多模光纤可以同时传输多种模式的光,而单模光纤只能传输一种模式的光,这也可能会对实验结果产生一定影响。

测量系统分析、尺寸公差

测量系统分析、尺寸公差

2) 3) 4) 5)
Linearity线性 Stability稳定性/漂移 Repeatability重复性 Reproducibility再现性
1) Bias / Accuracy 偏倚/准确度
偏倚(Bias)——对同样零件的同样特性重复测量均值与真值(基 准值)的偏差(即准确度)。
Accuracy True Value 真值(基准值) 同样特性重复测量均值
夹紧所有夹头 后测量10次:
(6)打开夹头,取下所有待验证零件,然后重新将零件 按照工艺卡放在焊接夹具上,夹紧所有夹头,使用未通电 焊钳进行模拟点焊。 (7)测量钻孔的直径,并记录在重复性登记表上;使用 孔规检查钻孔的偏差情况,如果孔径小于3mm,则调整焊 接夹具。 (8)重复第6步、第7步过程共5次。 使用未通电焊钳进行模 拟点焊,重复5次,测5次:
时间1 稳定性 时间2
时间2 时间1
稳定性
稳定性
4) Repeatability 重复性
重复性(Repeatability)——由同一操作者、同一测仪分 多批重复测量同一零件某特性获得的测量变差。一般指仪器 变差(EV——Equipment Variation)
Same operator Same set-up procedure & instrument Same part Same environmental conditions
0Hale Waihona Puke 再现性x一、试验目的和原理 准确客观地评价车身制造质量的首要前提是要保证测量数据 的质量。而测量数据的准确性在很大程度上依赖于测量设备 的能力状况。汽车制造业普遍采用R&R方法对测量设备能力 进行研究,也即采用设备可重复性和可再生性研究方法,对 测量设备偏差造成的影响进行评价。 测量数据总的偏差包括两部分,即产品制造偏差和测量 设备本身的偏差,见式(1)。 σ2total=σ2product+σ2gage (1)

准确解析BET孔径分析

准确解析BET孔径分析

— 第3部分:气体吸附分析微孔法 (GB/T 21650.3-2008 )
参考资料 Characterization of Porous Solids and Powders: Surface Area, Pore Size and Density.
该书为<颗粒技术丛书>的第16卷, ISBN 1-4020-2302-2
迟滞回线类型
按照IUPAC 13.2节中的约定,划分出了4种特征类型 H3型迟滞回线由片状颗粒材料,如粘土,或由裂隙孔材料给出,在较高相对压力区域没有表现出任何吸附限制。
迟滞回线类型
按照IUPAC 13.2节中的约定,划分出了4种特征类型 H4型迟滞回线出现在含有狭窄的裂隙孔的固体中,如活性炭中见到,在较高相对压力区域也没有表现出吸附限制。
公司介绍 背景知识 吸附理论 BET理论的适用范围 全自动一键测定好? 含微孔样品的BET计算 气体吸附法测量孔径分布 经典方法的局限 氩吸附和CO2吸附 NLDFT和QSDFT 分形理论及分形维数 化学吸附-用TCD和质谱同步检测 压汞法测大孔技术
多孔材料的孔分析理论及实验技术
孔的类型
交联孔(开孔)
极低压力下的吸附行为(微孔填充) Very Low pressure behavior (micropore filling)
单击此处添加标题
相对压力
单击此处添加标题
吸附量
单击此处添加标题
在非常低的相对压力(<0.01)下微孔被顺序充填。微孔样品的等温线初始段呈明显大而陡的上升,然后弯曲成平台。用微孔体积和微孔分布表征微孔。
多孔材料的孔分析理论及实验技术
吸 附 原 理
“Adsorptive and Adsorbate”

孔的测量实验报告

孔的测量实验报告

一、实验目的1. 熟悉孔的测量方法及工具。

2. 掌握内径百分表的使用方法。

3. 理解互换性原理在孔测量中的应用。

4. 提高对孔径测量精度及误差分析的能力。

二、实验原理孔的测量是加工制造过程中不可或缺的环节,其精度直接影响到产品的质量。

本实验主要采用内径百分表进行孔径的测量,利用互换性原理,通过调整测量头,实现对不同尺寸孔径的测量。

三、实验器材1. 内径百分表2. 标准孔3. 深孔孔径样板4. 钢卷尺5. 计算器四、实验步骤1. 准备阶段:检查实验器材是否完好,了解内径百分表的使用方法。

2. 测量标准孔:(1)将内径百分表置于标准孔内,调整活动测量头,使测量头与孔壁接触。

(2)观察百分表读数,记录下孔径尺寸。

(3)重复上述步骤,进行多次测量,求平均值。

3. 测量深孔孔径样板:(1)将深孔孔径样板放入深孔内,调整活动测量头,使测量头与孔壁接触。

(2)观察百分表读数,记录下孔径尺寸。

(3)重复上述步骤,进行多次测量,求平均值。

4. 误差分析:(1)将测量结果与标准孔尺寸进行比较,计算相对误差。

(2)分析误差产生的原因,如测量工具精度、操作误差等。

五、实验结果与分析1. 测量标准孔:- 平均孔径:$\Delta D = \frac{D_1 + D_2 + D_3 + D_4}{4} =10.2\text{mm}$- 相对误差:$\frac{\Delta D}{D_0} \times 100\% = \frac{0.2}{10}\times 100\% = 2\%$2. 测量深孔孔径样板:- 平均孔径:$\Delta D = \frac{D_1 + D_2 + D_3 + D_4}{4} =50.2\text{mm}$- 相对误差:$\frac{\Delta D}{D_0} \times 100\% = \frac{0.2}{50}\times 100\% = 0.4\%$由实验结果可知,内径百分表在孔径测量中具有较高的精度,且互换性原理在孔径测量中得到了有效应用。

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孔径测量系统精度分析
摘要:随着现代工业技术的迅猛发展,对孔类零件的测量提出越来越高的要求,尤其是深小盲孔的精密测量一直是在长度测量领域的难题,本文提出了一种基于反射式强度调制型光纤传感器的深孔内径光电检测系统,分析了影响深孔内径光电检测系统精度的各种因素,定量计算各项误差的极限值,并介绍提高检测系统精度的几种方法。

关键词:深孔内径光电检测精度分析
1.光电检测系统的总体设计方案
发光二极管(led)经方波发生器调制驱动后,发出一定频率的脉冲光并耦合入光纤探头。

光纤探头由多根光纤紧密排列而成,并根据其作用分为三束,其中一束为入射光纤束,负责传输光源发出的光并照射在被测对象,另两束分别为同轴型和随机型反射光纤束,负责接收和传输被测对象的反射光。

基于此原理,本传感器采用两个红外光电二极管(pin)分别对两束光信号进行光电转换,再分别通过两路模拟信号处理电路进行放大、带通滤波、相敏检波等处理后,最后由嵌入式微控制单元(mcu)进行采样、a/d转换、两路信号相除、线性校正等处理,得到一个与光纤探头位移量为正比的电压值。

2.精度理论分析
1.光纤传感探头在被测孔中倾斜产生的测量误差
光纤传感探头在被测孔中倾斜,引入的误差为
δ1=bc-ab=dcosα-d=2dsin2α2cosα
此项误差随着间隙变化量的增加而增加,因此从性质上仍属于变值系统误差。

但由于标定仪器及实际测量时的α具有随机性,故通常把它按随机误差来处理。

由于α越大,δ1越大,因此应对传感器安装定位时的α加以限制。

2.光纤传感探头在被测孔中偏心产生的测量误差
光纤传感探头在被测孔中放置偏心引入的最大误差为
δ2=2ab=2(ao-bo)
3.光纤传感器不确定度产生的测量误差
假设采用的光纤传感器的不确定度为0.5μm,考虑使用三个光纤传感器的情况,所以由传感器造成误差最大为
δ3=0.52+0.52+0.52μm=0.94μm
4.标准件极限误差产生的测量误差
假设采用的标准环规的极值误差为,它所带来的误差最大为
δ4=0.5μm
5.a/d转换的量化误差
系统采用12位a/d转换器,经adc采样精度实验验证可知采样精度可达到1/(216-2)=1/4094=0.0244%,所以模数转换时引入的量化误差δ5约为0.0244%fsr,即
δ5=0.5μm
6.其它因素
由电源、光源、温度、湿度变化以及被测孔表面特性等引起的误
差通过补偿以及数据处理相对于上述因素来说非常小,为了在设计时给可能出现的其它随机误差留有余地,设其它各种因素带来的误差最大为
δ6=2μm
7.测量误差的估计值
δ合=δ21+δ22+δ23+δ24+δ25+δ26=8.34μm
δ合=8.34μm<10μm,满足设计要求。

3.提高检测系统精度的基本方法
提高机械系统与结构的精度是保证精密设各质量的核心技术问题。

它的基本途径有三种:减少误差源和误差值、误差补偿和采用误差校正。

1.减少误差源和误差值
一是减少误差源;二是合理地分配精度。

三是采用运动学结构。

四是采用巧妙的测量机构及装置,来抵消和削弱各个影响环节的误差影响,可适当降低对各个环节的精度要求。

2.在安装定位中补偿误差
设计中为了保证设备的精度,并在此前提下降低零件的加工精度要求,达到减少或消除误差影响的措施,统称“误差补偿”。

误差补偿的方法可归纳为工艺补偿和设计补偿两类。

在实际中,除光纤传感器本身的制造误差外,安装误差的影响也很大,如光纤传感器本身安装产生的倾斜与偏心及其相对于被测孔的倾斜与偏心。

测量过程中产生的这些都是定位误差的主要组成部分,都会引起测量误
差。

因此,在装配调整过程中,通过修配或校正,使这个误差值达到最小。

3.对测量结果进行校正误差。

软件误差补偿是根据被补偿误差修改测量结果的值,主要是预先标定误差补偿。

先对误差进行辨识然后利用它标定或修改随后测量数据。

预先标定误差补偿在目前机床误差补偿中被普遍采用。

它只能补偿系统误差,并要求机床及误差辨识系统的精度都有很好的重复性。

4.结论
本文针对具体的孔径检测系统的光电部分进行了误差源分析,理论上分析了检测系统光电部分的测量误差,满足本系统精度要求10μm,并在如何提高测量系统的精度方面作了一定的研究。

参考文献
[1]叶树亮,谭久彬.基于动态阿贝原则的高精度激光深孔孔径测量.光电子.激光,2004,15(8):971~974.
[2]柴艳波.细长小孔孔径精密测量系统的设计及精度分析:[硕士学位论文].西安:西北工业大学机械制造及其自动化专业,2007,03.
[3]齐峰,雷沅忠,王秋良等.安装误差对反射式光纤位移传感器特性的影响.光纤与电缆及其应用技术,2006,4:39~42.。

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