材料研究方法2

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常见材料的物理化学性能研究方法

常见材料的物理化学性能研究方法

常见材料的物理化学性能研究方法材料科学作为一门独立的学科,研究材料的结构、性质、性能和应用,是支撑现代科技和产业发展的重要基础学科之一。

而材料的物理化学性能是研究材料的重要方面之一,它包括了很多方面,如力学性能、热学性能、光学性能、电学性能等。

为了深入了解材料的物理化学性能,需要运用一些相应的实验和分析方法。

本文将介绍常见的材料的物理化学性能研究方法。

一、力学性能测试力学性能是指材料在外力作用下的表现(变形和破坏)能力,包括硬度、强度、韧性、延展性等。

常见的力学性能测试方法有压缩实验、拉伸实验、弯曲实验等。

1. 压缩实验压缩实验是用方向垂直于试样的外力使之发生塑性变形,从而确定试样的抗压强度。

压缩实验通常使用万能试验机,能够控制压缩速度、载荷等参数。

通过压缩实验可以得出试样的力-位移曲线和应力-应变曲线等数据。

2. 拉伸实验拉伸实验是将试样置于两夹持头之间,以一定速率拉伸试样,使之产生塑性变形并伸长,达到抗拉强度的测试目的。

拉伸实验通常使用万能试验机,能够测量拉伸力和伸长量,从而得出应力-应变曲线和塑性区应变等数据。

3. 弯曲实验弯曲实验是通过对试样进行三点或四点弯曲的方式来测量其弯曲应变和应力。

在实验中,需要确定弯曲曲率半径、弯曲角度和外加载荷等参数。

通过弯曲实验可以得出试样的弯曲应力-应变曲线和变形硬度等数据。

二、热学性能测试热学性能是指材料在热作用下的反应能力和表现能力,包括热膨胀、热导率、比热容等。

常见的热学性能测试方法有热膨胀实验、热导率实验、比热容实验等。

1. 热膨胀实验热膨胀实验是测量材料在温度变化时的膨胀量变化。

可通过光杠杆、电子传感器、位移传感器等仪器进行测量。

通过热膨胀实验可以得到试样的温度膨胀系数和热膨胀曲线等数据。

2. 热导率实验热导率实验是测量材料在热传导过程中传递热量的能力。

可通过热流法、转动式法、相互引导法等方法进行测量。

通过热导率实验可以得出试样的热导率和热传导曲线等数据。

材料研究方法作业答案

材料研究方法作业答案

材料研究方法第二章思考题与习题一、判断题√1.紫外—可见吸收光谱是由于分子中价电子跃迁产生的。

×2.紫外—可见吸收光谱适合于所有有机化合物的分析。

×3.摩尔吸收系数的值随着入射波光长的增加而减少。

×4.分光光度法中所用的参比溶液总是采用不含待测物质和显色剂的空白溶液。

×5.人眼能感觉到的光称为可见光,其波长范围是200~400nm。

×6.分光光度法的测量误差随透射率变化而存在极大值。

√7.引起偏离朗伯—比尔定律的因素主要有化学因素和物理因素,当测量样品的浓度极大时,偏离朗伯—比尔定律的现象较明显。

√8.分光光度法既可用于单组分,也可用于多组分同时测定。

×9.符合朗伯—比尔定律的有色溶液稀释时,其最大吸收波长的波长位置向长波方向移动。

×10.有色物质的最大吸收波长仅与溶液本身的性质有关。

×11.在分光光度法中,根据在测定条件下吸光度与浓度成正比的比耳定律的结论,被测定溶液浓度越大,吸光度也越大,测定的结果也越准确。

()√12.有机化合物在紫外—可见区的吸收特性,取决于分子可能发生的电子跃迁类型,以及分子结构对这种跃迁的影响。

()×13.不同波长的电磁波,具有不同的能量,其大小顺序为:微波>红外光>可见光>紫外光>X射线。

()×14.在紫外光谱中,生色团指的是有颜色并在近紫外和可见区域有特征吸收的基团。

()×15.区分一化合物究竟是醛还是酮的最好方法是紫外光谱分析。

()×16.有色化合物溶液的摩尔吸光系数随其浓度的变化而改变。

()×17.由共轭体系π→π*跃迁产生的吸收带称为K吸收带。

()√18.红外光谱不仅包括振动能级的跃迁,也包括转动能级的跃迁,故又称为振转光谱。

()√19.由于振动能级受分子中其他振动的影响,因此红外光谱中出现振动偶合谱带。

()×20.确定某一化合物骨架结构的合理方法是红外光谱分析法。

材料研究分析方法(研究生)-第1-2讲

材料研究分析方法(研究生)-第1-2讲
化学组成
晶体结构 形状
水泥混凝土
水泥浆体
骨料
宏观结构
内容: 研究材料的(亚)显微结构: 物相的种类、大小、形状和分布
化学组成 晶体结构 形状
水泥混凝土
水泥浆体
骨料
宏观结构
内容: 研究材料的(亚)显微结构: 物相的种类、大小、形状和分布
化学组成 晶体结构 形状 45
水泥混凝土
水泥浆体
Transmittance (%)
性能 Property
工艺 Technology
原材料 Raw Materials
重要性:材料性能与其结构及其随时间的变化有关
材料科学二要素关系示意图
微观结构 宏观性能
抗压强度
重要性:材料性能与其结构及其随时间的变化有关
材料科学三要素关系示意图
合成与工艺制备
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
组成与结构
性能
滚压7.5min
滚压15min
x,y, z, 以晶胞点阵矢量的长度作为坐标轴的长度单位。

2)过原点O作一直线OP,使其平行于待定晶向。 3)在直线OP上选取距原点O最近的一个阵点P,确定P点 的3个坐标值。 4)将这3个坐标值化为最小整数u,v,w,加以方括号,


[u v w]即为待定晶向的晶向指数。
晶向指数的例子

正交晶系一些重要晶向的晶向指数
c
a
b
g-Fe, fcc
Cu3Au, simple cubic

点阵方向与点阵平面
在点阵中任一阵点的位置可以用它的坐标来表示。 阵点坐标可以用U、V、W表示 表示阵点位置亦可以通过一个矢量来表示,此矢量称 为位矢。位矢的表达式位:

(完整版)材料研究方法

(完整版)材料研究方法

材料研究方法(王培铭,许乾慰)第二章光学显微分析2什么是贝克线?此移动规律如何?有什么作用?贝克线:在轮廓附近可以看到一条比较明亮的细线,当升降镜筒时,亮线发生移动,这条较亮的细线称为贝克线。

提升镜筒,贝克线向折射率大的介质移动。

可以比较相邻两晶体折射率的相对大小3什么是晶体的糙面、突起、闪突起?决定晶体糙面和突起等级的因素是什么?在但偏光镜下观察晶体表面时,可发现某些晶体表面较为光滑,某些晶体表面显得粗糙呈麻点状,这种现象称为糙面;某些晶体显得高些某些晶体显得低平一些,这种现象称为突起;双折射率很大的晶体,在单偏光镜下,旋转物台,突起高低发生明显变化,这种现象称为闪突起因素是周围树胶折射率的不同引起的4什么叫干涉色?影响晶体干涉色的因素有那些?有七种单色光的明暗条纹相互叠加而形成的光程差相对应的特殊混合色,称为干涉色,他是有白光干涉而成。

第一是光程差第二是光片厚度第三是双折射率的大小11 如何提高光学显微镜分析的分辨能力?第一:波长更短的照明光源第二:选用折射率大的材料12 阐述光学显微分析用光片制备方法1 取样:取样应该具有代表性,不仅包括研究的对象而且包括研究的特殊条件2 镶嵌:对于一些形状特殊或尺寸细小而不宜握持的样品,需进行样品镶嵌。

3磨光:去除取样时引入的样品表层损伤,获得平整光滑的样品表面4抛光:去除细磨痕,以获得平滑无疵的镜面并去除样品表层,得以观察样品的显微组织 5浸蚀:清晰的看到样品的显微结构13分析近场光学显微分析的原理及与传统光学显微分析技术的异同原理:用纳米局域光源在纳米尺度的近场距离内照明样品,然后由光电接收器接受这些信号,再借助计算机才能把来自样品各点的局域光信号勾画出样品的图像。

异同:照明光源的尺度和照明方法:传统光学显微镜用扩展光源在远场照明样品,近场光学显微镜是用纳米局域光源在纳米尺度的近场距离内照明样品;成像方法:传统光学显微镜可以用肉眼或成像仪器直接观察或放大了的物体图像。

材料研究方法作业答案

材料研究方法作业答案

材料研究方法作业答案 Company number:【WTUT-WT88Y-W8BBGB-BWYTT-19998】材料研究方法第二章思考题与习题一、判断题√1.紫外—可见吸收光谱是由于分子中价电子跃迁产生的。

×2.紫外—可见吸收光谱适合于所有有机化合物的分析。

×3.摩尔吸收系数的值随着入射波光长的增加而减少。

×4.分光光度法中所用的参比溶液总是采用不含待测物质和显色剂的空白溶液。

×5.人眼能感觉到的光称为可见光,其波长范围是200~400nm。

×6.分光光度法的测量误差随透射率变化而存在极大值。

√7.引起偏离朗伯—比尔定律的因素主要有化学因素和物理因素,当测量样品的浓度极大时,偏离朗伯—比尔定律的现象较明显。

√8.分光光度法既可用于单组分,也可用于多组分同时测定。

×9.符合朗伯—比尔定律的有色溶液稀释时,其最大吸收波长的波长位置向长波方向移动。

×10.有色物质的最大吸收波长仅与溶液本身的性质有关。

×11.在分光光度法中,根据在测定条件下吸光度与浓度成正比的比耳定律的结论,被测定溶液浓度越大,吸光度也越大,测定的结果也越准确。

()√12.有机化合物在紫外—可见区的吸收特性,取决于分子可能发生的电子跃迁类型,以及分子结构对这种跃迁的影响。

()×13.不同波长的电磁波,具有不同的能量,其大小顺序为:微波>红外光>可见光>紫外光>X射线。

()×14.在紫外光谱中,生色团指的是有颜色并在近紫外和可见区域有特征吸收的基团。

()×15.区分一化合物究竟是醛还是酮的最好方法是紫外光谱分析。

()×16.有色化合物溶液的摩尔吸光系数随其浓度的变化而改变。

()×17.由共轭体系π→π*跃迁产生的吸收带称为K吸收带。

()√18.红外光谱不仅包括振动能级的跃迁,也包括转动能级的跃迁,故又称为振转光谱。

扫描电子显微镜-SEM-2 材料研究方法与实验

扫描电子显微镜-SEM-2 材料研究方法与实验
▪ Al(Z=13), X射线产额:k=0.04, Auger电子 产额:k=0.96
▪ C(Z=6), k =0.001, k=0.999
离子探针
IMMA(Ion Microprobe Mass Analyser) 全元素分析(H, He…..),灵敏度高(10 -8-10-14),分析直径1m-2 m, 有损分析。定量分析模型不完善,主要 用作微量元素分析,绝对感量为10-18 -10-19g,分析表面一般要剥离,可进 行深度分析。
analysis based upon electron-excited x-ray spectrometry with a focused electron probe and an electron interaction volume with micrometer to sub-micrometer dimensions
透射电镜
分辨率高(JEM-2010F点分辨率:0.19nm) , 放大倍率高,可放大一百多万倍。可 进 行形貌观察,成分分析,微区晶体结构( 晶 格像,结构像),晶界分析。
制样困难,分析区域小,代表性差。 定量结果准确度较差,无标准样品。
扫描探针显微镜(SPM)
是利用一种小探针(如Si3N4)在试样表面上扫描, 能提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称 (镜群)。例如:原子力显微镜(AFM)、扫 描隧道显微镜(STM,86年获诺贝尔奖)、扫 描热显微镜(SThM)等。
EPMA比SEM价格贵2-3倍。
发展历史
1913年:MOSELY定律:√= K(Z-σ) 1949年:Castaing博士用TEM改装成 电子探
针 1956年:法国CAMECA公司制成商品 1960年:扫描型电子探针问世 1965年:SEM问世 70年代后:EPMA与SEM、EDS组合,并用计

材料研究分析方法课件2-2

材料研究分析方法课件2-2

sin 2 j sin 2 1
1 1.328 2.642 3.624 3.952 5.262 6.234 —— 6.5609 —— 7.8668 —— 8.843
3
sin sin
2 2
j 1
3
3.984
7.926
10.892
11.892
15.796
18.702
化整
hkl
h2 k2 l2
3
110
一、立方晶系衍射谱的标定
1、晶胞参数未知 根据布拉格方程和立方晶系面间距表达式:
2d sin
d hkl
a h2 k2 l2
sin 2
2
4a 2
h2 k2 l2
考虑在同一实验中,2
4a 2
为常数,在写出sin
2
比值数列时,
为共同因子,可以消除,则sin 2 比值数列可以写成:
sin 2 1 : sin 2 2 :
则试样具有简单立方点阵,相应的衍射面指数分别为: (100)、(110)、(111)、(200)、(210)、(211)、(220)……
若能得到 sin 2 1 : sin 2 2 : 3 : 4 : 8 :11 :12 :16 :19 (5-3)
则试样具有面心立方点阵,相应的各衍射指数分别为: (111)、(200)、(220)、(311)、(222)、(400)、(331)……
(9)第9区间是该物相所对应晶体晶面间距d(Å);相对 强度I/I1及衍射指标hkl。
在该区间,有时会出现下列意义的字母: b — 宽线或漫散线;d —双线; n — 并非所有资料来源中均有; nc — 与晶胞参数不符; np — 给出的空间群所不允许的指数; ni — 用给出的晶胞参数不能指标化的线; β— 因β线存在或重叠而使强度不可靠的线; tr — 痕迹线;t —可能有另外的指数。

材料测试与研究方法

材料测试与研究方法

材料测试与研究方法材料测试和研究方法是材料科学和工程领域中的关键技术,用于评估和了解材料的性能、结构、制备方法和应用。

在材料测试和研究方法领域,有各种各样的技术和方法可以用于测试和研究材料的各种特性。

本文将介绍一些常见的材料测试和研究方法。

一、材料测试方法:1.机械测试:机械测试是评估材料力学性能的一种常见方法。

常用的机械测试方法包括拉伸测试、压缩测试、硬度测试和冲击测试。

通过这些测试方法,可以得到材料的杨氏模量、屈服强度、断裂韧性等重要力学性能参数。

2.热性能测试:热性能测试是评估材料导热性和热膨胀性的一种方法。

常见的热性能测试方法包括热导率测试、热膨胀系数测试和热稳定性测试。

通过这些测试方法,可以得到材料在不同温度下的热性能参数,为材料的热应用提供数据支持。

3.电性能测试:电性能测试是评估材料导电性和介电性的一种方法。

常见的电性能测试方法包括电导率测试、介电常数测试和剪切模量测试。

通过这些测试方法,可以得到材料的电性能参数,用于材料在电器、电子领域的应用中。

4.化学性能测试:化学性能测试用于评估材料与化学物质的相容性和耐腐蚀性。

常见的化学性能测试方法包括溶解性测试、腐蚀性测试和耐久性测试。

通过这些测试方法,可以得到材料与不同化学物质之间的相互作用情况,为材料的选材和应用提供参考。

5.非破坏性测试:非破坏性测试是一种不破坏材料的测试方法,常用于评估材料的缺陷、内部结构和性能。

常见的非破坏性测试方法包括超声波检测、磁粉检测和红外热像仪检测。

通过这些测试方法,可以检测到材料的缺陷或异常,帮助确定材料的可靠性和可用性。

二、材料研究方法:1.显微结构分析:显微结构分析是研究材料微观结构的重要方法。

常见的显微结构分析方法包括光学显微镜、扫描电子显微镜和透射电子显微镜。

通过这些方法,可以观察到材料的微观形貌、晶体结构和组织状态。

2.表面分析:表面分析是研究材料表面性质和组成的方法。

常见的表面分析方法包括原子力显微镜、X射线光电子能谱分析和扫描电子显微镜能谱分析。

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材料现代分析方法试题7(参考答案)一、基本概念题(共10题,每题5分)1.欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少?答:欲使Cu 样品产生荧光X 射线辐射,V =1240/λCu=1240/0.15418=8042,V =1240/λCu=1240/0.1392218=8907激发出荧光辐射的波长是0.15418nm 激发出荧光辐射的波长是0.15418nm2.判别下列哪些晶面属于[-111]晶带:(-1-10),(-2-31),(231),(211),(-101),(1-33),(1-12),(1-32),(0-11),(212)。

答:(-1-10)(321)、(211)、(1-12)、(-101)、(0-11)晶面属于[111]晶带,因为它们符合晶带定律:hu+kv+lw=0。

答:(-1-10)(321)、(211)、(1-12)、(-101)、(0-11)晶面属于[111]晶带,因为它们符合晶带定律:hu+kv+lw=0。

3.用单色X 射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成什么图案?为摄取德拜图相,应当采用什么样的底片去记录?答:用单色X 射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案;为摄取德拜图相,应当采用带状的照相底片去记录。

4.洛伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响?其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的?答:洛伦兹因数是表示掠射角对衍射强度的影响。

洛伦兹因数表达式是综合了样品中参与衍射的晶粒大小,晶粒的数目和衍射线位置对衍射强度的影响。

5.给出简单立方、面心立方、体心立方以及密排六方晶体结构电子衍射发生消光的晶面指数规律。

答:常见晶体的结构消光规律简单立方 对指数没有限制(不会产生结构消光)f. c. c h. k. L. 奇偶混合b. c. c h+k+L=奇数h. c. p h+2k=3n, 同时L=奇数体心四方 h+k+L=奇数6.透射电镜的成像系统的主要构成及特点是什么? kk k V eV hc 24.1==λk eV hc ≤λ答:透射电镜的成像系统由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜(1、2)和投影镜组成。

各部件的特点如下:1)物镜:强励磁短焦透镜(f=1-3mm),放大倍数100—300倍。

作用:形成第一幅放大像2)物镜光栏:装在物镜背焦面,直径20—120um,无磁金属制成。

作用:a.提高像衬度,b.减小孔经角,从而减小像差。

C.进行暗场成像3)选区光栏:装在物镜像平面上,直径20-400um,作用:对样品进行微区衍射分析。

4)中间镜:弱压短透镜,长焦,放大倍数可调节0—20倍作用a.控制电镜总放大倍数。

B.成像/衍射模式选择。

5)投影镜:短焦、强磁透镜,进一步放大中间镜的像。

投影镜内孔径较小,使电子束进入投影镜孔径角很小。

小孔径角有两个特点:a.景深大,改变中间镜放大倍数,使总倍数变化大,也不影响图象清晰度。

b.焦深长,放宽对荧光屏和底片平面严格位置要求。

并且有些电镜还装有附加投影镜,用以自动校正磁转角。

7.说明多晶、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。

答:单晶衍射的特点:1)电子束方向B近似平行于晶带轴[uvw],因为θ很小,即入射束近似平行于衍射晶面,2)反射球很大,θ很小,在0*附近反射球近似为平面。

电子束照射多晶、纳米晶体时,衍射成像原理与多晶X射线衍射相似,如图样及其标定样特征米晶体,当电子束照射时,被照射区域其衍射花样与单晶不同。

纳米晶体多晶X射示。

有机会产多晶的衍射花样为:各衍射圆锥与垂直入射束方向的荧光屏或照相底片的相交线,为一系列同心圆环。

8.试述用合成电子衍射图法如何确定两相间的取向关系?答:用合成电子衍射图法确定两相间的取向关系的步骤如下:(1)从合成的电子衍射图中分离出两套衍射斑点,分别标定两套衍射斑点指数,并确定晶带轴指数〔uvw〕A和[u/v/w/]B(2)找出互相平行的两相的矢量R A和R B,指数分别为(hkl)A和(h/k/l/)B。

(3)可以确定两相的取向关系为(hkl)A//(h/k/l/)B[uvw]A//[u/v/w/]B9.解释红外光谱图的一般程序是什么?答:运用红外光谱解谱的四要素,分析吸收峰对应的基团;若是单纯物质可对照SADLTER标准图谱;还可从数据库查相应发表文献的红外光谱信息。

10.红外光谱的近期发展有哪些?答:付立叶红外及差谱技术,红外二向色性,二维相关红外,动态红外光谱和表面红外技术等。

二、综合及分析题(共5题,每题10分)1.讨论下列各组概念中二者之间的关系:1)同一物质的吸收谱和发射谱;答:λk吸收〈λkβ发射〈λkα发射2)X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。

答:λkβ发射(靶)〈λk吸收(滤波片)〈λkα发射(靶)。

任何材料对X射线的吸收都有一个Kα线和Kβ线。

如Ni 的吸收限为0.14869 nm。

也就是说它对0.14869nm波长及稍短波长的X射线有强烈的吸收。

而对比0.14869稍长的X射线吸收很小。

Cu靶X射线:Kα=0.15418nm Kβ=0.13922nm。

3)X射线管靶材的发射谱与被照射试样的吸收谱。

答:Z靶≤Z样品+1 或Z靶>>Z样品X射线管靶材的发射谱稍大于被照射试样的吸收谱,或X射线管靶材的发射谱大大小于被照射试样的吸收谱。

在进行衍射分析时,总希望试样对X射线应尽可能少被吸收,获得高的衍射强度和低的背底。

2.叙述X射线物相分析的基本原理,试比较衍射仪法与德拜法的优缺点?叙述X射线物相分析的基本原理,试比较衍射仪法与德拜法的优缺点?答:X射线物相分析的基本原理是每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构,即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。

因此,从布拉格公式和强度公式知道,当X射线通过晶体时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,衍射花样的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d和反射线的强度I来表征。

其中晶面网间距值d与晶胞的形状和大小有关,相对强度I则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。

通过与衍射分析标准数据比较鉴定物相。

与照相法相比,衍射仪法的优缺点。

(1)简便快速:衍射仪法都采用自动记录,不需底片安装、冲洗、晾干等手续。

可在强度分布曲线图上直接测量2θ和I值,比在底片上测量方便得多。

衍射仪法扫描所需的时间短于照相曝光时间。

一个物相分析样品只需约15分钟即可扫描完毕。

此外,衍射仪还可以根据需要有选择地扫描某个小范围,可大大缩短扫描时间。

(2)分辨能力强:由于测角仪圆半径一般为185mm远大于德拜相机的半径(57.3/2mm),因而衍射法的分辨能力比照相法强得多。

如当用CuKa辐射时,从2θ30o左右开始,Kα双重线即能分开;而在德拜照相中2θ小于90°时Kα双重线不能分开。

(3)直接获得强度数据:不仅可以得出相对强度,还可测定绝对强度。

由照相底片上直接得到的是黑度,需要换算后才得出强度,而且不可能获得绝对强度值。

(4)低角度区的2θ测量范围大:测角仪在接近2θ= 0°附近的禁区范围要比照相机的盲区小。

一般测角仪的禁区范围约为2θ<3°(如果使用小角散射测角仪则更可小到2θ=0.5~0.6°),而直径57.3mm的德拜相机的盲区,一般为2θ>8°。

这相当于使用CuKα辐射时,衍射仪可以测得面网间距d最大达3nmA的反射(用小角散射测角仪可达1000nm),而一般德拜相机只能记录d值在1nm以内的反射。

(5)样品用量大:衍射仪法所需的样品数量比常用的德拜照相法要多得多。

后者一般有5~10mg样品就足够了,最少甚至可以少到不足lmg。

在衍射仪法中,如果要求能够产生最大的衍射强度,一般约需有0.5g 以上的样品;即使采用薄层样品,样品需要量也在100mg 左右。

(6)设备较复杂,成本高。

显然,与照相法相比,衍射仪有较多的优点,突出的是简便快速和精确度高,而且随着电子计算机配合衍射仪自动处理结果的技术日益普及,这方面的优点将更为突出。

所以衍射仪技术目前已为国内外所广泛使用。

但是它并不能完全取代照相法。

特别是它所需样品的数量很少,这是一般的衍射仪法远不能及的。

3.(1)为什么f.c.c.和b.c.c.结构发生二次衍射时不产生额外的衍射斑点?(2)当两相共存且具有对称取向关系时,其一幅衍射花样中常常出现许多斑点群,这时,可能怀疑其为二次衍射,请问应该如何鉴定其为二次衍射。

答:(1)对于 bcc 结构F ≠0的条件:h + k + l = 偶数若(h 1k 1l 1)和(h 2k 2l 2)之间发生二次衍射,二次衍射斑点(h 3k 3l 3)=(h 1k 1l 1)+(h 2k 2l 2)h 3 + k 3 + l 3 = 偶数(h 3k 3l 3)本身F h 3k 3l 3≠0,即应该出现的。

即不会出现多余的斑点,仅是斑点强度发生了变化。

对于fcc 结构F ≠0的条件是:h, k, l 全奇数或全偶数(h 3k 3l 3)=(h 1k 1l 1)+(h 2k 2l 2)显然h3、k3、l3 为全奇数或全偶数,本身是存在的。

因此,不会出现多余的斑点,仅是斑点强度发生了变化。

4.说明孪晶与层错的衬度特征,并用各自的衬度形成原理加以解释。

答:孪晶的衬度特征是:孪晶的衬度是平直的,有时存在台阶,且晶界两侧的晶粒通常显示不同的衬度,在倾斜的晶界上可以观察到等厚条纹。

层错的衬度是电子束穿过层错区时电子波发生位相改变造成的。

其一般特征是:1)平行于薄膜表面的层错衬度特征为,在衍衬像中有层错区域和无层错区域将出现不同的亮度,层错区域将显示为均匀的亮区或暗区。

2)倾斜于薄膜表面的层错,其衬度特征为层错区域出现平行的条纹衬度。

3)层错的明场像,外侧条纹衬度相对于中心对称,当πα32=时,明场像外侧条纹为亮衬度,当πα32-=时,外侧条纹是暗的;而暗场像外侧条纹相对于中心不对称,外侧条纹一亮一暗。

4)下表面处层错条纹的衬度明暗场像互补,而上表面处的条纹衬度明暗场不反转。

5.分别指出谱图中标记的各吸收峰所对应的基团?答:3250 –含氢键的O-H. 伸缩振动, 2820 –可能是醛的C-H,1690 –对应C=O 但共轭存在,3120和1200—分别是芳香族C-H和酚C-O吸收带,1600 & 1500 --芳香核,780 和 720对应定位取代基。

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