SoC系统测试与分析

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伺服控制系统soc芯片功能分析及测试的研究

伺服控制系统soc芯片功能分析及测试的研究

伺服控制系统soc芯片功能分析及测试的研究伺服控制系统soc芯片,简称soc,是一种集成了硬件和软件的多功能处理器,它专为特定产品或应用而设计,具有多项功能,完成复杂的控制任务。

soc芯片具有高度灵活性、低功耗优势,是现代控制系统不可或缺的重要组成部分,诸多控制产品和系统的制作都需要它的帮助完成。

本文旨在探讨soc芯片的功能特性,以及如何对其进行性能分析及测试,以便更好地应用在控制系统中,以实现得到更好的效果。

二、系统soc芯片的功能特性1.芯片的逻辑功能soc芯片具备众多逻辑功能,其中包括双精度数学器件、多模式数字控制器、模拟控制器、控制数据流器件等复杂部件。

以及集成的外设功能,包括时钟发生器、数据存储器件、接口器件和可编程输入输出器件等。

使用这些功能,可以实现复杂的数据处理任务,提供准确可靠的性能。

2.芯片的硬件特性soc芯片的硬件特性是重要的,它们具有良好的电气特性、抗干扰能力、低功耗、可靠性、高可用性、可扩展性等一系列优异的性能,满足不同的应用需求。

三、soc芯片的性能分析与测试1.soc芯片性能分析soc芯片的性能分析主要涉及其硬件功能、软件功能、逻辑功能、抗干扰能力、可靠性、传输速率、存储容量等方面。

在分析测试过程中,将对芯片各个方面的性能进行详细的测量,以期更好地评估芯片的效果。

2.soc芯片的测试方法soc芯片的测试方法主要有三类:综合测试法、结构性测试法和特征性测试法。

综合测试法包括对芯片任务运行能力、存储功能、I/O 功能及通信性能等功能和性能进行全面测试;结构性测试法是衡量系统芯片结构稳定性和可靠性;而特征性测试法是检测芯片设计中特性参数是否符合要求,是否满足设计要求等。

3.性能分析及测试所需工具soc芯片的性能分析及测试所需要的工具有:硬件和软件的调试器,用于进行芯片的硬件功能和软件功能的调试;电路分析仪,用于测量和分析芯片电路的电性能;热模拟器,用于测量芯片的热特性;软件设计工具,用于分析软件功能和程序。

单北斗soc技术要求和测试方法

单北斗soc技术要求和测试方法

单北斗soc技术要求和测试方法
北斗SOC(系统芯片集成电路)技术是指集成了北斗导航卫星
系统功能的芯片技术。

北斗SOC技术要求主要包括以下几个方面:
1. 定位精度,北斗SOC技术需要具备较高的定位精度,能够在
各种复杂环境下实现厘米级甚至毫米级的定位精度。

2. 多模式支持,北斗SOC技术需要支持多种导航卫星系统,包
括北斗、GPS、GLONASS等,以实现多模式定位和增强定位的功能。

3. 低功耗设计,北斗SOC技术需要具备低功耗设计,以满足移
动设备和便携式设备对电池续航能力的要求。

4. 抗干扰能力,北斗SOC技术需要具备良好的抗干扰能力,能
够在高速移动、多路径传播等复杂环境下保持稳定的定位性能。

测试方法包括:
1. 定位精度测试,通过在不同环境下进行定位测试,包括城市、郊区、山区等,验证北斗SOC技术的定位精度。

2. 多模式支持测试,测试北斗SOC技术在接收北斗、GPS、GLONASS等多种卫星系统信号时的切换和融合性能。

3. 低功耗测试,通过实际使用场景下的功耗测试,验证北斗SOC技术的低功耗设计是否符合要求。

4. 抗干扰能力测试,在干扰环境下对北斗SOC技术进行测试,包括模拟干扰信号和实际干扰环境测试,验证其抗干扰能力。

综上所述,北斗SOC技术要求包括定位精度、多模式支持、低功耗设计和抗干扰能力,测试方法则需要针对这些要求进行相应的定位精度测试、多模式支持测试、低功耗测试和抗干扰能力测试,以确保北斗SOC技术的稳定性和可靠性。

soc测试方法

soc测试方法

soc测试方法SOC测试方法是一种用于评估软件系统安全性的方法。

它通过模拟真实攻击场景,测试系统的漏洞和弱点,以确保系统在面临各种威胁时能够保持稳定和安全。

在SOC测试中,首先需要确定测试的目标和范围。

这包括确定测试的系统组件和功能,以及测试的时间和资源限制。

然后,测试团队将根据系统的设计和实现文档,分析系统的安全需求和威胁模型,并制定测试策略和计划。

在测试策略中,测试团队将选择合适的测试方法和技术,以评估系统的安全性。

常用的SOC测试方法包括黑盒测试、白盒测试和灰盒测试。

黑盒测试是在没有系统内部信息的情况下进行的,模拟真实攻击者的行为,测试系统的安全性。

白盒测试则是基于系统的内部信息进行的,测试系统的实现是否符合安全标准和最佳实践。

灰盒测试则结合了黑盒测试和白盒测试的特点,既考虑系统的外部行为,又考虑系统的内部结构和实现。

在具体的SOC测试过程中,测试团队将根据测试策略和计划,执行一系列的测试用例和攻击场景。

测试用例是一组输入和预期输出的组合,用于评估系统的功能和安全性。

攻击场景则是模拟真实攻击者的行为,测试系统的弱点和漏洞。

在测试过程中,测试团队将记录和分析测试结果,并根据结果调整测试策略和计划。

测试结果包括系统的漏洞和弱点,以及相应的修复建议。

测试团队还将评估系统的安全性能和可靠性,以确保系统在面临威胁时能够保持稳定和安全。

SOC测试方法是一种评估软件系统安全性的方法,通过模拟真实攻击场景,测试系统的漏洞和弱点。

它是确保系统安全性的重要手段,可以帮助组织保护其信息资产和业务运行的安全。

通过合理的测试策略和计划,以及准确的评估和分析,SOC测试可以提高系统的安全性,并帮助组织及时发现和修复系统中的安全问题。

电池soc测试标准

电池soc测试标准

电池soc测试标准
电池SOC(State of Charge)测试标准通常包括以下内容:
1. 测试方法:测试方法通常包括恒流充放电、恒压充放电、恒功率充放电、恒能量充放电等。

2. 测试设备:测试设备通常包括电池测试仪、数据采集器、测试夹具等。

3. 测试条件:测试条件通常包括温度、湿度、气压等环境因素的控制和测量。

4. 测试数据:测试数据包括电池的电压、电流、温度等参数的记录和计算,以及SOC的计算方法和精度要求等。

5. 测试流程:测试流程通常包括样品准备、测试前准备、测试执行、数据记录和分析等步骤。

6. 测试结果:测试结果通常包括电池SOC的测试曲线、测试数据表、测试报告等。

具体的测试标准可以根据不同的应用场景和需求而有所不同,例如电动汽车、储能系统、无人机等领域的SOC测试标准也有所不同。

SOC可测试性设计与测试技术

SOC可测试性设计与测试技术

SOC可测试性设计与测试技术【摘要】本文分析了SOC芯片发展的情况及其发展的趋势,同时,阐述了SOC设计和测试所需要的工具。

在这些理论的基础上,本文开始重点分析研究了SOC可测试性设计和测试技术,得出了进一步的研究结果。

【关键词】SOC;可测试性设计;测试技术一、前言SOC可测试性设计对于我们更好地利用SOC具有非常重要的意义,因此,我们有必要SOC可测试性设计进行研究和分析,与此同时,对于SOC的测试技术,我们也需要从科学的角度展开分析和研究,以便于我们更好的利用SOC。

二、SOC芯片发展及趋势 集成电路的发展一直遵循摩尔所指示的规律推进。

由于信息市场的需求和微电子自身的发展,引发了以微细加工(集成电路特征尺寸不断缩小)为主要特征的多种工艺集成技术和面向应用的系统级芯片的发展。

IC设计者已经可以把越来越复杂的功能(系统)集成到同一个芯片上。

由于SOC可以充分利用已有的设计积累, 并在降低耗电量,减少面积,增加系统功能,提高速度,节省成本5个方面具有较高的优势,因此发展非常迅速。

目前,就大众所熟知的消费类电子中,机顶盒(Set Top Box)、移动电话(mobile phones)和个人数字助理(PDA)等等,其核心芯片就是SOC芯片。

这类产品不仅在市场上占有重要地位,而且其销售量还在不断的增长当中,已经越来越成为消费性电子的主流产品。

 三、SOC设计和测试工具 可测性设计中需增加专门用于管理测试的工具,其主要任务是按照自动和标准化的方法将设计芯片的测试问题分割成一系列可以管理的部分。

将芯片分割成一系列可测试的模块,设计出每一个模块的测试方法,并将其集成于一个完整的计划中,改计划既包括内部测试方法学,也包括外部测试方法学;计划也应提供选取芯片中埋层功能的方法以及测试结果引出的方法;该计划还应该提供诊断以及可能将其定位于单个的位(bit)故障。

基于SoC规范的存储器内建自测试设计与对比分析

基于SoC规范的存储器内建自测试设计与对比分析

Ab t a t s r c :W i h a i e e o m e t o e p s m ir n me e a u a t r e h o o y a d d sg e h o o y o n e t t er pd d v lp h n f d e ub c o t r m n f c u e t c n l g n e i n t c n l g f i t — g a e ic is t e t s fm e re mb d e n S C h s b e h h k o n ft c n l g e e o me to o I r r t d c r u t , h e t o mo i s e e d d i o a e n t e c o e p i to e h o o y d v l p n n S C. n o — d r t o v h r b e so h mo y a i n e ta d t e t s f M u t I o e t e p p r i t o u e n e b d e o e e o s l e t e p o l m ft e me r l m n n h e to g li P c r , h a e n r d c s a m e d d c r — t s t n a d I e ts a d r EEE P1 0 . mb n d wih t e s a d r t eh r wa e c n rc a p o c e o mb d e e r d p — 0 Co 5 i e t h t n a d, h a d r — e t i p r a h sf r e e d d m mo y i a o t s
Co p r tv na y i n e i n f r m e o y m a a i e a l ss a d d sg o m r

Verigy 93000 SOC 测试系统

Verigy 93000 SOC 测试系统

Verigy 93000 SOC测试系统随着半导体设计技术的进步,越来越多的功能模块被设计在同一块芯片中,也就是我们经常提到的SOC(system on a chip,系统芯片)技术。

高速(high speed),模拟(analog), 嵌入式内存(embedded memory)和射频(RF)等不同功能模块的集成使SOC 芯片的功能越来越强大,同时也对测试设备的能力及可扩展能力提出了更高的要求。

测试设备必须具有SOC 的整体测试能力,这成为业界对SOC 测试机台品质考量的共识。

Verigy 93000 SOC 测试系统,正是考虑到当前及未来SOC 技术全面集成的需要所提供的芯片测试的系统解决方案。

Verigy 93000 SOC 系统的功能模块93000 SOC 测试系统是由Verigy 在业界享有盛誉的三大系列测试机台整合改进而成。

它们是在数字功能和模拟功能分别具有领先地位的83000和94000测试机台, 以及在射频(RF)和微波方面领导业界标准的84000测试机台。

93000 SOC 将数字,模拟和射频三种测试功能和谐的整合在同一个测试机台中, 并且延续了Verigy 一贯的自由灵活化升级配置,即保留大部分硬件配置,仅通过部分数字测试通道板(channel board),模拟模块(analog module),射频模块(RF module)等的增加或改变,实现向更高性能的升级。

93000 SOC 在整合三种测试机台的基础上,还对高速,模拟,嵌入式内存,扫描测试(Scan)以及射频等多种测试功能分别进行了扩展和改进。

目前,93000 提供PS800 和PS400两种系列的数字通道板,速率从PS400 的100Mb/s 到PS800 的800Mb/s。

用户可根据芯片的实际需要选择不同速率的数字通道板,并可实现不同系列的混合配置。

每片数字通道板包含32 或64个数字I/O 通道,每个数字通道具有各自的测试向量内存,其测试向量深度最高达56M。

SOC系统集成测试用例和记录文本

SOC系统集成测试用例和记录文本

地铁交通6号线自动售检票系统(AFC)SOC系统集成测试用例和记录编写人员:方亚敏编写日期:2011.12.22目录1用户管理51.1用户更改51.2用户签退61.3用户超时退出72SOC监控 82.1设备事件信息监控(需详细列出每个终端设备会出现的所有状态)82.2设备状态信息监控(需详细列出每个终端设备会出现的所有状态)92.3SNC状态监控103系统管理113.1操作日志113.2数据迁移123.3时钟同步133.4网络诊断143.5启动VNC 153.6关闭SNC 163.7关闭SOC 174设备操作184.1命令下发184.2模式切换244.3寄存器查询304.4状态查询314.5当前参数版本查询 324.6将来参数版本查询 344.7软件版本查询354.83014重新下发364.9参数重新下发374.10交易数据补发384.11软件更新394.12图片更新404.13系统当前状态414.14启动紧急模式425数据查询435.1BOM签到/签退查询435.2操作员查询446设备日故障统计456.1GATE故障报告统计456.2BOM故障报告统计466.3TVM故障报告统计476.4ISM故障报告统计487参数查看(LC下发)与AGM、TVM、BOM相关的参数下发后需增加下发设备端的用例497.11041-车站配置497.22000-线路部通讯参数507.33002-AFC设备运营参数 517.43003-TVM运营参数527.53004-BOM运营参数537.63005-闸机运营参数547.73006-车站名称/线路设备表557.83007-线路名称表567.93008-系统故障代码表577.103009-操作员表587.113010-线路本地语言资源文件597.123011-清分系统本地语言资源文件 607.133014-设备节点标识码设置表617.143082-站换乘映射关系表627.153085-出站换乘站映射关系表637.164001-节日表647.174002-车票类型表657.184003-费率表667.194004-区域表677.204006-非高峰时刻表687.214007-车票黑表-全量697.224008-车票黑表-增量707.234009-车票类型关系对应表717.244015-移动手机票类型关系对应表 728报表738.1报表731用户管理1.1用户更改1.2用户签退1.3用户超时退出2SOC监控2.1设备事件信息监控(需详细列出每个终端设备会出现的所有状态)2.2设备状态信息监控(需详细列出每个终端设备会出现的所有状态)2.3SNC状态监控3系统管理3.1操作日志3.2数据导出(导出未发送的中央的SC数据)3.3数据导入3.4时钟同步3.5网络诊断3.6启动VNC3.7关闭SNC3.8关闭SOC4设备操作4.1命令下发4.1.1上传寄存器数据-审计4.1.2关闭设备4.1.3打开设备4.1.4上传设备状态4.1.5使用主IP通信(保留)4.1.6使用备用IP通信(保留)4.2模式切换4.2.1紧急模式4.2.2进站出站免检模式4.2.3日期免检模式4.2.4时间免检模式4.2.5列车故障模式4.2.6超程免检模式4.3寄存器查询4.4状态查询4.5当前参数版本查询4.6将来参数版本查询4.7参数同步4.8软件版本查询4.93014重新下发4.10参数重新下发4.11交易数据补发4.12软件更新4.13图片更新4.14系统当前状态4.15启动紧急模式5数据查询5.1BOM签到/签退查询5.2操作员查询6设备日故障统计6.1GATE故障报告统计6.2BOM故障报告统计6.3TVM故障报告统计6.4ISM故障报告统计7参数查看(LC下发)与AGM、TVM、BOM相关的参数下发后需增加下发设备端的用例7.11041-车站配置7.21041-车站配置-下发7.32000-线路部通讯参数7.42000-线路部通讯参数-下发7.53002-AFC设备运营参数7.63002-AFC设备运营参数-下发7.73003-TVM运营参数7.83003-TVM运营参数-下发7.93004-BOM运营参数7.103004-BOM运营参数-下发7.113005-闸机运营参数7.123005-闸机运营参数-下发7.133006-车站名称/线路设备表7.143006-车站名称/线路设备表-下发7.153007-线路名称表7.163007-线路名称表-下发7.173008-系统故障代码表7.183008-系统故障代码表-下发7.193009-操作员表7.203009-操作员表-下发7.213010-线路本地语言资源文件7.223010-线路本地语言资源文件-下发7.23 3011-清分系统本地语言资源文件7.243011-清分系统本地语言资源文件-下发7.25 3014-设备节点标识码设置表。

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JTAGJT接AG(口Join与t Te启st A动ctio配n 置
Group,联合测试行动小组)
JTAG大致分两类, 一类用于测试芯片的电气 特性一,个检含测有芯JT片A是G否D有eb问ug接口模块的 题;CPU,只要时钟正常,就可以通过 一类J和T用挂A于G在D接Ce口PbUu访总g 问线C上PU的的设内备部,寄如存R器AM,
第七讲 SOC系统测试与分析
• SoC系统验证方法 • SoC系统测试原理及方法
SoC系统验证方法
在系统芯片的设计过程中,系统规约确定之后 进行系统级设计。首先对系统行为进行建模,根 据功能规范要求对行为模型进行验证;然后将行 为模型映射到由芯核和功能块组成的架构之上。 目的就是去验证该架构的功能和性能。
VLSI与系统的可测性设计
• 边界扫描可测性设计 边界扫描测试是一种可应用于数字器件的 具有结构化特性的测试技术,它通过在集 成电路的设计阶段采取一些措施,能在很 大程度上简化印制电路板级的测试,从而 降低测试费用问。
VLSI与系统的可测性设计
• 数摸混合电路的边界扫描测试 • 通过数模或模数转换器(ADC或DAC)将
模拟电路的模拟信号转换为数字信号,并 由边界扫描链输出,或者把测试模拟电路 的模拟信号先把其数字信号形式由边界扫 描管脚输入,加到相应的模数转换器上, 完成对模拟器件的测试。 • 专用集成电路设计中的边界扫描 • 对规模较小的FPGA器件,若它未含有边 界扫描测试端口,则进行可测性设计时应 为其设计边界扫描测试端口,并连入边界 扫描链。
• 时序分析有动态分析和静态分析两种类型。 • 动态时序分析使用仿真向量去验证;对于给定的
输入,电路的输出结果是否符合时序的规定。 • 静态时序分析检查电路中的所有时序路径
物理验证
• 物理设计是在逻辑设计或电路设计之后实现物理 版图的过程。
• 物理版图是由各层次的版图编辑而成,形成晶体 管和其他器件相互间的连线。
(如Hopfield神经网络用于TSP问题的求解)。 • 根据组合电路测试生成的特点,选用Hopfield神
经网络作为电路建模的基础,用神经网络的能量 函数来表征电路的逻辑特性。
二元判定图BDD
• 二元判定图(BDD)就是一种较有效的方法,它将 布尔函数的功能用有向无环图来表示,图中从根 节点到叶节点的路径对应了布尔函数值为1的一个 输入矢量。
SoC系统验证方法
• 对SoC功能块的细节进行验证时,可以采用如下 多种方法:硬件建模、接口验证、软/硬件协同验 证、随机测试、基于应用程序的验证、门级验证 等。
• 硬件建模
– 为了达到足够高的无故障率,需要运行大量的应用程 序来进行测试。
– 对于规模较小的设计,可以使用单个FPGA对整个芯片 进行建模
硬件仿真
• 在协同仿真中,包括HDL仿真器和软件仿真器 在内的两个或多个仿真器需要互相链接,因此不 同仿真器之间的通信是关键问题,可以采用主/从 模式、分布式模式两种方案。
系统级时序验证
• 时序验证是用来检查设计对象是否满足预期的时 序要求。对所设计电路中的每一个存储单元和锁 存器都存在需要满足的时序要求,如建立时间、 保持时间、延迟时间等。
SoC系统验证方法
在功能设计和架构映射之后,都需要进行验证,分 别是功能验证和性能验证。 功能验证:
目的是检查行为设计是否满足功能需求。 性能验证:
目的是检查所选出的架构是在满足功能需求之 外是否能满足性能需求。
SoC系统验证方法
在整个验证过程中,都将使用测试平台来检验设 计对象的功能,系统级测试平台是整个验证过 程的一个关键。
SoC系统测试原理及方法
计算机主要用于为被测电路生成测试矢量;数据信 号发生器根据计算机的要求产生测试波形,并加载 到被测电路上;逻辑分析仪采集被测电路的响应信 号并进行一定的分析,然后将结果送到计算机中进 行处理。
基于神经网络的电路测试生成 方法
• 人工神经网络(ANN)由于其优良的特性,能较 好的处理目前串行计算机难于解决的NP完全问题
Hale Waihona Puke 大规模集成电路与系统的可测 性设计
• 电路的可测性一般定义为测试的简便性或经济而 有效测试的能力,主要涉及如下三个基本方面: 测试矢量的产生、测试的评估和计算、测试的施 加。
• 电路可测性设计的基础是可测性的度量方法
VLSI与系统的可测性设计
• 边界扫描可测性设计 • 数摸混合电路的边界扫描测试 • 专用集成电路设计中的边界扫描
协同验证与仿真
• 在设计阶段的早期建立协同验证环境,进行软件/ 硬件协同验证。使用协同验证可以达到如下目标: 让电路工程师们能够同时设计、开发和调试软件 和硬件,同时在系统集成和制造芯片之前将设计 错误去除。
协同验证与仿真
协同验证与仿真
从理论上讲,在协同仿真中,硬件可以用C/C++建 模,整个系统可以像单个C/C++程序一样执行。实 际上,对硬件的实现,仍是采用HDL/RTL描述。因 此,协同仿真需要一个或多个HDL仿真器和一个 C/C++平台(编译器、装入程序、链接器和计算机 操作系统的其他部分)。
SoC系统验证方法
从系统规约中提取出一项 功能要求,并定义出检验 其功能的具体测试,重复 进行,直至为每一项功能 都建立了测试。
SoC系统验证方法
• 在实际中对SoC进行验证时,由于它是由多个功 能块组成,可以将SoC的整个系统级测试平台运 用于系统芯片的每一个子模块(功能块),实现 对每个功能块的细节进行验证。
– 对于规模较大的设计,可以使用多个FPGA进行建模, 配合专门开发的软件,构建硬件仿真器
硬件仿真器
硬件仿真器提供了对可重配置逻辑、可编程互连、 大容量逻辑以及特殊存储器和处理器的支持。 对SoC的设计,若要使用硬件仿真,就需要提供适 合于硬件仿真器的各种模型,如微处理器、存储器、 总线功能模型、监控器、时序产生器等。这些模型 的建立应该在SoC设计阶段的早期就开始进行,可 以与芯核的提供商一起来共同解决。
• 物理验证是物理设计的一个重要环节。
物理验证
物理验证
• 物理验证阶段的任务是对最后结果进行验证,主 要有功耗分析、设计规则检查、版图逻辑图一致 性检查、物理效应分析等工作。
SoC系统测试原理及方法
现在人们对电路的测试通常是在测试系统所提供的 硬件、软件环境下实现的。 测试矢量是影响测试效果的关键,它可通过测试生 成(ATPG)算法获得。
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