2018 薄膜材料与技术 第1章 真空技术基础

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第1章 薄膜技术基础

第1章 薄膜技术基础

3、气体分子的通量 、
真空及薄膜技术中常碰到的另一个物理量, 真空及薄膜技术中常碰到的另一个物理量,是气体分子对于单位面积表 面的撞频率,即单位时间内单位面积表面受到气体分子碰撞的次数, 面的撞频率,即单位时间内单位面积表面受到气体分子碰撞的次数,称为 气 nυa 体分子的通量Φ 体分子的通量 Φ= 4 (1-6) ) 在薄膜材料的制备过程中,薄膜的沉积主要是通过气体分子对于衬底 在薄膜材料的制备过程中, 的 碰撞过程来实现的。此时,薄膜的沉积速度正比于气体分子的通量。 碰撞过程来实现的。此时,薄膜的沉积速度正比于气体分子的通量。 将式1-3和式 代入上式后, N A p 和式1-4代入上式后 将式 和式 代入上式后,可以求出气体分子的通量
4、真空区域的划分
低真空 中真空 高真空 >102 Pa: 真空干燥,低压化学气相沉积。 真空干燥,低压化学气相沉积。 : : 低压化学气相沉积,溅射沉积。 102 ~ 10-1: 低压化学气相沉积,溅射沉积。 10-1 ~ 10-5 :溅射沉积,真空蒸发沉积,电子 溅射沉积,真空蒸发沉积, 显微分析,真空浇铸。 显微分析,真空浇铸。 表面物理,表面分析。 超高真空 < 10-5 : 表面物理,表面分析。
2 nπMυa nRT p= = 8N A NA
(1-4) )
式中,n 单位体积内的分子数;NA 为阿伏加德罗(Avogadro)常数;n/NA 即等 常数; 式中, 单位体积内的分子数; 为阿伏加德罗( 常数 于单位体积内气体分子的摩尔数。 于单位体积内气体分子的摩尔数。 真空:宇宙空间所存在的“自然真空” 利用真空泵抽取所得的“ 真空:宇宙空间所存在的“自然真空”;利用真空泵抽取所得的“人为真 空”。 绝对真空:完全没有气体的空间状态。 绝对真空:完全没有气体的空间状态。 一般意义上的“真空”并不是指“什么物质都不存在” 目前, 一般意义上的“真空”并不是指“什么物质都不存在”。目前,即使用最 先进的真空制备手段所能达到的最高真空度下, 先进的真空制备手段所能达到的最高真空度下,每立方厘米体积中仍有几百个 气体分子。因此,平常所说的真空均指“相对真空状态” 气体分子。因此,平常所说的真空均指“相对真空状态”。 在真空技术中,常用“真空度”习惯用语和“压强”物理量表示真空程度, 在真空技术中,常用“真空度”习惯用语和“压强”物理量表示真空程度, 通常说成“某空间的真空度为多大的压强” 通常说成“某空间的真空度为多大的压强”。某空间的压强越低意味着真空度 越高,反之,压强高的空间则真空度低。 越高,反之,压强高的空间则真空度低。

薄膜物理与技术复习范围

薄膜物理与技术复习范围

第一章真空技术基础真空:指低于一个大气压的气体状态。

托(Torr) =1/760atm = 133.322Pa对真空的划分:1、粗真空:105-102Pa特性和大气差异不大,目的为获得压力差,不要求改变空间性质,真空浸渍工艺2、低真空:102-10-1Pa 1016~1013个/cm3动力学性质明显,粘滞流状态→分子流状态,对流消失,气体导电,真空热处理,真空冷冻脱水3、高真空:10-1-10-6Pa 1013~1010个/cm3气体分子自由程大于容器线度,直线飞行,热传导和内摩擦性质与压强无关,蒸镀4、超高真空:<10-6Pa分子间碰撞极少,主要用途:得到纯净的气体,获得纯净的固体表面真空的获得:真空系统包括真空室、真空泵、真空计以及必要的管道、阀门和其他附属设备。

真空的测量热偶真空计:是利用低气压强下气体的热传导与压强有关的原理制成的真空计。

散热与气体压强相关加热丝的温度与气体压强相关用热偶测量加热丝的温度 压强20 ~10-3Torr热阻真空计:散热与气体压强相关加热丝的温度与气体压强相关加热丝的电阻与温度相关用平衡电桥测量加热丝的电阻 压强电离真空计:是利用气体分子电离的原理来测量真空度。

电离真空计用于高真空的测量热丝发射热电子热电子加速并电离气体,离子被离子收集极收集形成电流电流与压强成正比1 x 10-9 Torr to 10-11 Torr第二章真空蒸发镀膜法真空蒸发镀膜法(简称真空蒸镀)是在真空室中,加热蒸发容器中待形成薄膜的原材料,使其原子或分子从表面气化逸出,形成蒸气流,入射到基片表面,凝结形成固态薄膜的方法。

基本过程:(1)加热蒸发过程,凝聚相→气相该阶段的主要作用因素:饱和蒸气压(2)输运过程,气化原子或分子在蒸发源与基片之间的输运该阶段的主要作用因素:分子的平均自由程(工作气压),源—基距(3)基片表面的淀积过程,气相→固相凝聚→成核→核生长→连续薄膜饱和蒸气压:在一定温度下真空室内蒸发物质的蒸气与固体或液体平衡过程中所表现出的压力称为该物质的饱和蒸气压。

《薄膜物理与技术》课程教学大纲

《薄膜物理与技术》课程教学大纲

《薄膜物理与技术》课程教学大纲课程代码:ABCL0527课程中文名称: 薄膜物理与技术课程英文名称:Thin film physics and technology课程性质:选修课程学分数:1.5课程学时数:24授课对象:新能源材料与器件专业本课程的前导课程:《材料表面与界面》、《近代物理概论》、《材料科学基础》、《固体物理》、《材料物理性能》一、课程简介本课程主要论述薄膜的制造技术与薄膜物理的基础内容。

其中系统介绍了各种成膜技术的基本原理与方法,包括蒸发镀膜、溅射镀膜、离子镀、化学气相沉积、溶液制膜技术以及膜厚的测量与监控等。

同时介绍了薄膜的形成,薄膜的结构与缺陷,薄膜的电学性质、力学性质、半导体特性、磁学性质以及超导性质等。

通过本课程的讲授,使学生在薄膜物理基础部分,懂得薄膜形成物理过程及其特征,薄膜的电磁学、光学、力学、化学等性质。

在薄膜技术部分初步掌握各种成膜技术的基本内容以及薄膜性能的检测。

二、教学基本内容和要求掌握物理、化学气相沉积法制膜技术,了解其它一些成膜技术。

学会对不同需求的薄膜,应选用不同的制膜技术。

了解各种薄膜形成的过程及其物理特性。

理解并能运用热力学界面能理论及原子聚集理论解释薄膜形成过程中的一些现象,了解薄膜结构及分析方法,理解薄膜材料的一些基本特性,为薄膜的应用打下良好的基础。

以下分章节介绍:第一章真空技术基础课程教学内容:真空的基础知识及真空的获得和测量。

课程重点、难点:真空获得的一些手段及常用的测量方法。

课程教学要求:掌握真空、平均自由程的概念,真空各种单位的换算,平均自由程、碰撞频率、碰撞频率的长度分布率的公式,高真空镀膜机的系统结构及抽气的基本过程。

理解蒸汽、理想气体的概念,余弦散射率,真空中气体的来源,机械泵、扩散泵、分子泵以及热偶真空计和电离真空计的工作原理。

了解真空的划分,气体的流动状态的划分,气体分子的速度分布,超高真空泵的工作原理。

第二章真空蒸发镀膜法课程教学内容:真空蒸发原理,蒸发源的蒸发特性及膜厚分布,蒸发源的类型,合金及化合物的蒸发,膜厚和淀积速率的测量与监控。

2018--薄膜材料与技术-第1章-真空技术基础

2018--薄膜材料与技术-第1章-真空技术基础

薄膜在基片上 形成,可分为
凝结 形核 长大
阶段
伴随复杂物理化学过程
涉及
材料学 物理学 化 学
薄膜材料与技术
制备技术

主要研究:各种薄膜材 料的
形成机制 成分结构
特性性能
西安理工大学
Xi'an University of Technology
教学要求和考核方式:
1、不缺课,杜绝迟到,认真听讲,独立思考; 2、要复习并独立完成作业,作业要评分; 3、开卷考试,考核成绩 = 作业(10%)+ 课堂(10%)+ 考试(80%)。
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薄膜材料与技术
材料科学与工程学院 2018 ©
Thin Film Materials & Technologies
薄膜材料与技术 Thin Film Materials & Technologies
武涛 副教授 2018年 秋季学期
西安理工大学
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■ 换句话说,由于液柱形成的压力与环境气压互相平衡, 可以用 水银柱产生的压力 作为 大气压 的量度 ! 把高度为760 mm的水银柱所产生的压力定义为1个大气压 (1 atm) 1 atm = 760 mmHg(Torr,托)
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1 真空技术基础

薄膜物理与技术-1 真空技术基础

薄膜物理与技术-1 真空技术基础
2 dN m 2 mv 4 v 2 dv exp 2kT N 2 kT N 容器中气体分子总数,m为气体分子质量,T为温度。 3


dN 麦克斯韦速度分布函数 m确定,温度确定, f (v )dv N 3 2 m 2 2 m v f (v) 4 exp v 2kT 2kT
(1/1.013×105)
1 PSI
51.7149
6.8948×103
6.8948×10-2
6.8046×10-2
说明:1、mmHg是人类使用最早、最广泛的压强单位; 1958年为纪念托里切利,用托(torr)代替了mmHg:1 torr=1 mmHg 2、早期的真空度计量常以 torr 或 mbar 为单位; 目前随着标准化进程的推进,SI(MKS)制单位应用日渐广泛 真空度用 Pa 作单位
1 真空技术基础
不同真空度单位制间的换算关系:
torr/mmHg 1 torr (1 mmHg) 1 Pa 1 bar 1 atm 7.501×10-3 7.501×102 760.0
(760/1.013×105)
1.1 真空的基本知识
法定计量单位
bar 1.333×10-3
(1.013/760)
va

m

M
1.59
M
3. 均方根速率
计算分子平均动能
vr :va :vm =1.225: 1.128: 1
3kT 3RT RT vr 1.73 m M M
1 真空技术基础
1.2.2 气体分子的速度分布
1.2 稀薄气体的性质
例1. 计算400K温度下氧气的方均根速率、平均速率和最可 几速率。

薄膜物理与技术-1真空技术基础PPT课件

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目录
• 真空技术基础 • 真空获得技术 • 真空测量技术 • 真空镀膜技术 • 薄膜性能检测技术
01 真空技术基础
真空定义与特性
真空定义
真空是指在给定的空间内,气体压力 低于一个大气压的状态。在真空技术 中,通常使用托斯卡或帕斯卡作为压 力单位。
真空特性
而实现气体的压缩和排除。
分子泵特性
抽气速率高、工作压力范围广、无 油污染、维护简单等。
分子泵分类
直联型分子泵、侧流型分子泵、复 合型分子泵等。
扩散泵抽气原理与特性
扩散泵抽气原理
利用加热的吸气剂将气体分子吸 进吸气剂表面,再通过扩散作用 将气体分子从吸气剂表面传递到 泵的出口,从而实现气体的排除。
扩散泵特性
真空技术的分类与应用
真空技术的分类
根据应用需求,真空技术可分为真空镀膜、真空热处理、真空电子器件制造等。
真空技术的应用
真空技术在科学研究、工业生产、航空航天、电子工业等领域有广泛应用,如 电子显微镜、太阳能电池、平板显示器的制造等。
02 真空获得技术
机械泵抽气原理与特性
机械泵抽气原理
机械泵分类
真空具有低气体压力的特性,这使得 物质在真空中表现出不同的物理和化 学性质。例如,气体分子间的碰撞减 少,气体分子的平均自由程增加。
真空的度量与单位
真空度
真空度是指真空空间内的气体压 力,通常用压力范围来表示,如 低真空、中真空、高真空和超高 真空。
真空单位
常用的真空单位有帕斯卡(Pa)、 托斯卡(Torr)和巴(bar)。1 Torr = 133.322368 Pascal。
利用高速旋转的叶轮将气体吸入,通 过压缩和排出来实现气体压缩和排除。

第一章 薄膜制备的真空技术基础

第一章 薄膜制备的真空技术基础

公式得到:
≈50nm。表明在常温常压下,气体分子的平均自由程是
极短的。
(2)由气体分子的平均自由程还可以求出其平均碰撞频率 =va/λ(常温常压时,va=460m/s)。所以常温常压下,每个 空气分子每秒内要经历1010次碰撞。运动轨迹并不是直线, 而是不断碰撞改变方向。
1.1 气体分子运动论的基本概念
*思考题:平均自由程在制膜中的重要作用?
答影响气体分子到达衬底的分子能量,能量对成膜结构质量有很多影响。 自由程小→碰撞多→气体分子能量↓→薄膜疏松、不致密
1.1 气体分子运动论的基本概念
3 . 气体分子的平均自由程----补充
(1) 在常温常压条件下,空气分子的有效截面直径d ≈0.5nm。
由T=298K,P=nKT(P=101325Pa),代入
1.1 气体分子运动论的基本概念
2 气体分子运动速度及其分布 (Maxwell分布)
真空容器中气体分子运动是混乱的。气体分子进行无规
则热运动的每一时刻,每个分子的运动速率有偶然性,然而,
对于大量气体分子而言,其速率分布遵循统计规律。
1.1 气体分子运动论的基本概念
2 气体分子运动速度及其分布 (Maxwell分布)
为(GB3163-82):

低真空: 102Pa 中真空: 102~10-1Pa 高真空: 10-1~10-5Pa 超高真空: 10-5Pa
工业应用(包装) CVD沉积技术 溅射沉积技术 原子表面和界面分析
4. 真空及制膜设备

超高真空条件下,气体分子以在固体上吸附停留为主, 其它真空度时,气体分子以空间飞行为主。
2 气体分子运动速度及其分布 (Maxwell分布)
为了更深入地理解速率分布函数所表达的意义,以下图 H2和N2分子为例,对其速率分布进行了定量描述。

薄膜制备的真空技术基础

薄膜制备的真空技术基础
通过各种测量仪器和测量方法对真空状态下的气 体压力进行测量。
真空应用技术
将真空技术应用于各个领域,如电子、冶金、化 工、航空航天等。
02
真空镀膜技术
真空蒸发镀膜
总结词
真空蒸发镀膜是一种基于加热蒸发材料的镀膜技术,通过将材料加热至熔融状态 ,然后在真空中蒸发并凝结在基材表面形成薄膜。
详细描述
在真空蒸发镀膜过程中,蒸发源可以是电阻加热、电子束加热或激光加热等。蒸 发材料在高温下升华或熔化,然后在基材表面凝结形成薄膜。该技术适用于制备 金属、非金属、化合物等薄膜材料,具有操作简单、成膜速度快等优点。
磁控溅射镀膜
总结词
磁控溅射镀膜是一种基于溅射现象的镀膜技术,通过在真空 环境中利用磁场控制带电粒子轰击靶材表面,使靶材原子或 分子从表面溅射出来并在基材表面沉积形成薄膜。
详细描述
磁控溅射镀膜技术具有高沉积速率、高附着力、高纯度等优 点,广泛应用于制备各种金属、非金属、化合物等薄膜材料 。该技术可以通过改变工艺参数和靶材种类来控制薄膜的成 分和性能。
技术挑战
需要解决制备过程中材料的选择、成膜机制、界面反应等问题,以确 保获得高性能的薄膜。
低成本高效制备技术
总结词
详细描述
低成本高效制备技术是未来薄膜制备的重 要发展方向。
随着市场对薄膜材料需求的增加,低成本 高效制备技术将有助于降低生产成本,提 高生产效率,满足大规模应用的需求。
发展趋势
技术挑战
详细描述
通过优化真空系统的气体成分和压力,可以改变薄膜与 基材之间的相互作用,从而提高附着力。此外,对基材 进行适当的预处理,如清洗、表面活化等,也有助于增 强附着力。
薄膜性能优化
总结词
优化薄膜性能是薄膜制备的最终目标,涉及多个方面 。
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薄膜材料与技术
Thin Film Materials & Technologies
1 真空技术基础
1.1 真空的基本知识
回顾:中学物理内容
1643年 托里切利 (Torricelli) 著名的大气压实验 为人类首次揭示了 真空 这个 物理状态 的存在! ■ 管内水银柱上方空间内,因已排除空气的存在 而形成 真空 (托里切利真空) ■ 右图中 A、B、C 三点压力相等,其中: A、C点:环境气体产生的大气压;B点:水银柱产生的流体压力 ■ 换句话说,由于液柱形成的压力与环境气压互相平衡, 可以用 水银柱产生的压力 作为 大气压 的量度 ! 把高度为760 mm的水银柱所产生的压力定义为1个大气压 (1 atm) 1 atm = 760 mmHg(Torr,托)
教学要求和考核方式:
1、不缺课,杜绝迟到,认真听讲,独立思考; 2、要复习并独立完成作业,作业要评分; 3、开卷考试,考核成绩 = 作业(10%)+ 课堂(10%)+ 考试(80%)。
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结果:得到了“真空”的定义、大气压的定义以及 量度 依据 !
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Thin Film Materials & Technologies
1 真空技术基础
1.1 真空的基本知识
概念:利用外力将 一定密闭空间内 的气体分子移走,
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1 真空技术基础
1.1 真空的基本知识
1.1.2 真空区域的划分
真空区域:指不同的真空度范围;
划分目的:为了研究真空和实际应用的便利; 划分依据:按照各个压强范围内气体运动特征的不同进行划分; 划分准则:理论上,可依据Knudsen数的不同进行划分。
思考题:常温常压下,每 cm3 空间内有多少个气体分子?
提示:可由Avogadro常数推算: (6.02×1023个/22.4×103 cm3 2.7×1019 个/cm3)
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薄膜材料与技术
第 4 章 薄膜的形成与生长(6 学时)
薄膜形核、生长、形成理论;典型生长机制及对应结构特征
第5章 薄膜表征(5 学时)
薄膜材料现代表征方法的分类、原理和适用范围
第6章 先进薄膜材料简介(1 学时)
超硬薄膜、纳米薄膜及功能薄膜材料简介
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0.01
粘滞-分子流 Kn = 0.01~1
1
分子流(自由分子流、Knudsen流) Kn >> 1
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Thin Film Materials & Technologies
1 真空技术基础
2、真空泵的分类及工作气压范围; 常用真空泵的结构工作原理、特点、应用范围及局限性。 3、真空测量仪表的分类及总体特点; 典型真空计的测量原理、适用范围、应用特点及局限性。
本章重点
1、不同单位制真空度换算; 2、真空区域划分-气体流动特征关系; 3、典型真空泵工作原理及适用范围; 4、常用真空计工作原理及特点。
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课程简介
主要参考书:
1、田民波,薄膜技术与薄膜材料,清华大学出版社,2006 2、M.Ohring,薄膜材料科学(第2版影印本),世界图书出版公司,2006 3、杨帮朝,薄膜物理与技术,电子科技大学出版社,2006 4、戴达煌,现代表面技术科学,冶金工业出版社,2004
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Thin Film Materials & Technologies
1 真空技术基础
1.1 真空的基本知识
1.1.1 真空度的单位 说明:
1、mmHg是人类使用最早、最广泛的压强单位; 1958年为纪念托里切利,用托(torr)代替 mmHg:1 torr=1 mmHg 2、早期的真空度计量常以 torr 或 mbar 为单位;目前随着标准化进程的推进, SI(MKS)制单位应用日渐广泛 真空度用 Pa 作单位 ! 现代真空技术的极限:每 cm3 空间内仅有数百个气体分子 对应 P 10-11 Pa
(1.013×105/760)
bar 1.333×10-3
(1.013/760)
atm 1.316×10-3
(1/760)
PSI 1.9337×10-2 1.4504×10-4
10-5
9.869×10-6
(1/1.013×105)
1 bar
1 atm 1 PSI
7.501×102
760.0 51.7149
本课程的研究内容
凝结 材料学 薄膜在基片上 伴随复杂物理化学过程 形核 阶段 涉及 物理学 形成,可分为 化 学 长大
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制备技术 形成机制 主要研究:各种薄膜材料的 成分结构 特性性能
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1 真空技术基础
本章主要教学内容
1、薄膜/真空的定义与关系;真空度的物理意义、单位制及换算方法; 真空区域的划分与气体流动特征对应关系。
1.1 真空的基本知识
1.1.2 真空区域的划分
3)理想气体状态方程: P nkT, PV 式中:n — 分子密度 (个/m3); P — 气体压强 (Pa); V — 气体体积 (m3); M — 气体分子量 (kg/mol);
m RT M
k — 玻尔兹曼常数,1.38×10-23 J/K; T — 气体温度 (K); m — 气体质量 (kg); R — 普适气体常数,R = NA· k = 8.314 J/mol· K; 23 NA — Avogadro常数,6.02×10 个/mol;
国际单位制(MKS制,即SI制) 1 Pa=1 N / m 2 厘米克秒制(CGS 制) 1 bar=106 dyne/cm 2 ■ 主要单位制 1 PSI =1 lbf / inch 2 英制(FPS制) 毫末汞柱制(mmHg 制) 1 torr =1 mmHg =1 / 760 atm
真空与 薄膜材料与技术 有何关系 ?
制备现代薄膜材料
—— 大部分情况下需要在 真空或较低气压条件下 进行,
涉及 真空下气相产生、输运、反应、凝聚、沉积 等过程 !
因此:
了解 真空的基本概念和知识 ; 掌握 真空的获得和测量技术 基础知识 是了解 薄膜材料制备技术 的必要基础 !
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课程简介
总学时数:24 学时,每周 4 学时,1-6 周
课程性质:材料类专业 院级任选课
学习:薄膜材料的合成制备、形成机制、成分结构、性质性能 掌握:薄膜材料的基本概念、一般规律 和 工艺方法 !
教材:
唐伟忠:薄膜材料制备原理、技术及应用(第2版), 冶金工业出版社,2003 郑伟涛:薄膜材料与薄膜技术(第2版), 化学工业出版社,2008
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薄膜材料与技术 Thin Film Materials & Technologies
武涛 副教授 2018年 秋季学期
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Thin Film Materials & Technologies
本课程讨论的对象:
什么是薄膜(Thin film)?
① 相对尺度:某一维尺寸 << 其余二维尺寸; ② 绝对尺度:在此维度上材料厚度 < 1~5 m
厚度 > 5 m 的沉积层叫什么 ?
薄膜材料与技术
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1 真空技术基础
1.1 真空的基本知识
1.1.1 真空度的单位 不同真空度单位制间的换算关系:
torr/mmHg 1 torr (1 mmHg) 1 Pa 7.501×10-3
(760/1.013×105)
Pa 1.333×102
一般称为涂层 (Coatings)
本课程的讨论对象是什么 ? 具有结构/功能特性的固态薄膜(thin solid films)!
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