可靠性国家标准
电子产品可靠性试验国家标准清单
电子产品可靠性试验国家标准清单GB/T 15120、1-1994 识别卡记录技术第1部分: 凸印GB/T 14598、2-1993 电气继电器有或无电气继电器GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则GB/T 5839-1986 电子管与半导体器件额定值制GB/T 7347-1987 汉语标准频谱GB/T 7348-1987 耳语标准频谱GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法GB/T 2689、1-1981 恒定应力寿命试验与加速寿命试验方法总则GB/T 2689、2-1981 寿命试验与加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)GB/T 2689、3-1981 寿命试验与加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689、4-1981 寿命试验与加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 5080、1-1986 设备可靠性试验总要求GB/T 5080、2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则GB/T 5080、4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计与区间估计方法(指数分布)GB/T 5080、5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案GB/T 5080、6-1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验GB/T 5080、7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性与维修性数据收集指南GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法GB/T 6993-1986 系统与设备研制生产中的可靠性程序GB/T 7288、1-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟GB/T 7288、2-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 9414、1-1988 设备维修性导则第一部分: 维修性导言GB/T 9414、2-1988 设备维修性导则第二部分: 规范与合同中的维修性要求GB/T 9414、3-1988 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲GB/T 9414、4-1988 设备维修性导则第五部分: 设计阶段的维修性研究GB/T 9414、5-1988 设备维修性导则第六部分: 维修性检验GB/T 9414、6-1988 设备维修性导则第七部分: 维修性数据的收集分析与表示GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定GB/T 7349-1987 高压架空输电线变电站无线电干扰测量方法GB/T 7432-1987 同轴电缆载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB/T 7433-1987 对称电缆载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB/T 7434-1987 架空明线载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB 7495-1987 架空电力线路与调幅广播收音台的防护间距GB 9254-1988 信息技术设备的无线电干扰极限值与测量方法GB/T 9382-1988 彩色电视广播接收机可靠性验证试验贝叶斯方法GB/T 12190-1990 高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法GB/T 12776-1991 机动车辆点火系统干扰抑制方法及抑制器插入损耗的测量与允许值GB/* 9307-1988 彩色显像管包装GB/* 9380-1988 彩色电视广播接收机包装GB/T 7450-1987 电子设备雷击保护导则GB/* 9381-1988 电视广播接收机运输包装件试验方法GB 8898-1988 电网电源供电的家用与类似一般用途的电子及有关设备的安全要求GB/T 9361-1988 计算机场地安全要求GB 9378-1988 广播电视演播系统的视音频与脉冲设备安全要求GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法GB/* 2776-1981 电子元件单孔安装轴套型式与尺寸GB/T 4210-1984 电子设备用机电元件名词术语GB/T 5076-1985 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量GB/T 5077-1985 电容器与电阻器的最大外形尺寸GB/T 5078-1985 单向引出的电容器与电阻器所需空间的测定方法GB/T 5095、1-1985 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第一部分: 总则GB/T 5095、2-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第二部分: 一般检查电连续性接触电阻测试绝缘试GB/T 5095、3-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第三部分: 载流容量试验GB/T 5095、4-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第四部分: 动态应力试验GB/T 5095、5-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第五部分: 撞击试验(自由元件) 静负荷试验(固定荷试验GB/T 5095、8-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第八部分: 连接器接触件及接端的机械试验GB/T 5095、9-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第九部分: 电缆夹紧试验爆炸危险性试验耐化学腐射频电阻试验电容试验屏蔽与滤波试验磁干扰试验GB/T 6591-1986 电子设备用电容器与电阻器名词术语GB/T 11250、1-1989 复合金属覆层厚度的测定金相法GB/T 11250、2-1989 复合金属覆层厚度的测定X荧光法GB/T 11250、3-1989 复合金属覆镍层厚度的测定容量法GB/T 11250、4-1989 复合金属覆铝层厚度的测定重量法GB/* 12080-1989 真空电容器引出环尺寸系列GB/* 12081-1989 可变真空电容器转动圈数系列GB/T 2472-1981 电子设备用固定式电容器工作电压系列GB/T 2473-1981 电子设备用矩形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2474-1981 电子设备用圆形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2693-1990 电子设备用固定电容器第一部分: 总规范GB/T 3664-1986 电容器非线性测量方法GB/T 4165-1984 电子设备用可变电容器的使用导则GB/T 4166-1984 电子设备用可变电容器的试验方法GB/T 4874-1985 直流固定金属化纸介电容器总规范GB/* 4875、1-1985 CJ10型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、2-1985 CJ11型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、3-1985 CJ30型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、4-1985 CJ40型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、5-1985 CJ41型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/T 5966-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 分规范: 1 类瓷介固定电容器GB/T 5967-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 空白详细规范: 1 类瓷介固定电容器评定水平E(可供认证用) GB/T 5968-1986 电子设备用固定电容器第九部分: 分规范: 2 类瓷介固定电容器(可供认证用)GB/T 5969-1986电子设备用固定电容器第九部分: 空白详细规范: 2 类瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5970-1986 电子元器件详细规范CT1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 5971-1986 电子元器件详细规范CC1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 5993-1986 电子设备用固定电容器第四部分: 分规范固体与非固体电解质铝电容器(可供认证用)GB/T 5994-1986电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5995-1986 电子元器件详细规范CD11型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 6252-1986 电子设备用A类调谐可变电容器类型规范GB/T 6253-1986 电子设备用B类微调可变电容器类型规范GB/T 6254-1986 电子设备用C类预调可变电容器类型规范GB/T 6261-1986电子设备用固定电容器第五部分: 分规范额定电压不超过3000V的固定直流云母电容器(可供认证GB/T 6262-1986 电子设备用固定电容器第五部分: 空白详细规范固定云母电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 6263-1986 电子元器件详细规范CY-0 1 2 3 固定云母电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 6347-1986电子设备用固定电容器第11部分: 空白详细规范: 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流E(可供认证用)GB/* 6348-1986电子元器件详细规范CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 6349-1986电子元器件详细规范CL11型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 6350-1986电子元器件详细规范CL12型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 7207-1987 电子元器件详细规范CD10型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7208-1987 电子元器件详细规范CD13型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7209-1987 电子元器件详细规范CD15型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7210-1987 电子元器件详细规范CD19型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7211-1987 电子元器件详细规范CD26型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7212-1987 电子元器件详细规范CD27型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 7213-1987 电子设备用固定电容器第十五部分: 分规范非固体或固体电解质钽电容器(可供认证用)GB/T 7214-1987电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范固定电解质与多孔阳极钽电容器评定水平E(可GB/* 7215-1987 电子元器件详细规范CA42型固体电解质固定钽电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 7332-1987 电子设备用固定电容器第二部分: 分规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器(可供认证用)GB/T 7333-1987电子设备用固定电容器第二部分: 空白详细规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E(可GB/* 7334-1987 电子元器件详细规范CL20型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 7335-1987 电子元器件详细规范CL21型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 7336-1987 电子元器件详细规范CC52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 7337-1987 电子元器件详细规范CT52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 8555-1987 CKTB 400/7、5/60 型可变陶瓷真空电容器GB/T 9320-1988 电子设备用固定电容器第八部分(1): 分规范1类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9321-1988电子设备用固定电容器第八部分(1): 空白详细规范1 类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用GB/T 9322-1988 电子设备用固定电容器第九部分(1): 分规范2 类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9323-1988电子设备用固定电容器第九部分(1): 空白详细规范2类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 9324-1988 电子设备用固定电容器第十部分: 分规范多层片状瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9325-1988 电子设备用固定电容器第十部分: 空白详细规范: 多层片状瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 9583-1988 电子元器件详细规范CA型固体电解固定钽电容器GB/T 9597-1988 电子设备用固定电容器分规范: 1类高功率瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9598-1988 电子设备用固定电容器空白详细规范: 1 类高功率瓷介电容器评定水平E(可供认证用)GB/* 9599-1988 电子元器件详细规范CC81型高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 9600-1988 电子元器件详细规范CT81型高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 9604-1988 电子元器件详细规范CD288型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9605-1988 电子元器件详细规范CD289型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9606-1988 电子元器件详细规范CBB13 型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 9607-1988 电子元器件详细规范CD30型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9608-1988 电子元器件详细规范CD110型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9609-1988 电子元器件详细规范CD291, CD292, CD293 型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9610-1988 电子元器件详细规范CBB111型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 10185-1988 电子设备用固定电容器第7部分:分规范: 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10186-1988电子设备用固定电容器第7部分: 空白详细规范:金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水GB/* 10187-1988 电子元器件详细规范CB14型金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 10188-1988 电子设备用固定电容器第13部分: 分规范: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10189-1988电子设备用固定电容器第13部分: 空白详细规范: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水GB/T 10190-1988 电子设备用固定电容器第16部分: 分规范: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10191-1988电子设备用固定电容器第16部分: 空白详细规范: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平GB/T 11300-1989 电子设备用A 类调谐可变电容器空白详细规范GB/T 11301-1989 电子设备用装有整体C 类预调电容器的A 类调谐可变电容器空白详细规范GB/T 11302-1989 电子设备用B 类微调可变电容器空白详细规范GB/T 11303-1989 电子设备用C 类预调可变电容器空白详细规范GB/T 11304-1989 电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规范固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 11305-1989 电子设备用固定电容器分规范: 3 类瓷介电容器(可供认证用)GB/T 11306-1989 电子设备用固定电容器空白详细规范: 3 类瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 11307-1989 电子元器件详细规范CS1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 11308-1989 电子元器件详细规范CH11型金属箔式聚酯- 聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平EGB/T 14005-1992电子设备用固定电容器第六部分: 空白详细规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器评定水平GB/T 12775-1991 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器总规范GB/T 12794-1991电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范非固体电介质箔电极钽电容器评定水平E(可供GB/T 12795-1991电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范非固体电介质多孔阳极钽电容器评定水平E(可GB/T 14004-1992 电子设备用固定电容器第六部分: 分规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器GB/T 5730-1985 电子设备用固定电阻器第二部分: 分规范低功率非线绕固定电容器(可供认证用)GB/T 5731-1985电子设备用固定电阻器第二部分: 空白详细规范: 低功率非线绕固定电阻器评定水平E (可供认证GB/T 5732-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 分规范功率型固定电阻器(可供认证用)GB/T 5733-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 空白详细规范功率型固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 5734-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 分规范精密固定电阻器(可供认证用)GB/T 5735-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 空白详细规范精密固定电阻器评定水平E (可供认证用)GB/* 5834-1986 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 5873-1986电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 7016-1986 固定电阻器电流噪声测量方法GB/T 7017-1986 电阻器非线性测量方法GB/* 7275-1987电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ15型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 7338-1987 电子设备用固定电阻器第六部分: 分规范各电阻器可单独测量的固定电阻网络(可供认证用)GB/T 7339-1987电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规范阻值与功耗相同, 各电阻器可单独测量的固定电阻认证用)GB/T 7340-1987电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规范阻值与功耗不同, 各电阻器可单独测量的固定电阻认证用)GB/* 8551-1987 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT13型碳膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 8552-1987电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用)GB/T 12276-1990 电子设备用固定电阻器第七部分: 分规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络(可供认证用) GB/T 12277-1990电子设备用固定电阻器第七部分: 空白详细规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络评定水平GB/T 6663-1986 直热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 6664-1986 直热式负温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E(可供认证用)GB/* 6665-1986 电子元器件详细规范MF11型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平EGB/* 6666-1986 电子元器件详细规范MF53-1型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平EGB/T 7153-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 7154-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E (可供认证用)GB/T 10193-1988 电子设备用压敏电阻器第一部分: 总规范(可供认证用)GB/T 10194-1988 电子设备用压敏电阻器第二部分: 分规范浪涌抑制型压敏电阻器(可供认证用)GB/T 10195-1988电子设备用压敏电阻器第二部分: 空白详细规范浪涌抑制型压敏电阻器评定水平E (可供认证用GB/* 10196-1988电子元器件详细规范浪涌抑制用压敏电阻器MYG1型过压保护压敏电阻器评定水平E (可供认证用GB/T 13189-1991 旁热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 4596-1984 电子设备用三相变压器E型铁心GB/T 8554-1987 电子与通信设备用变压器与电感器测试方法与试验程序GB/T 9632-1988 通信用电感器与变压器磁芯测量方法GB/T 11441-1989 通信与电子设备用变压器与电感器铁心片GB/T 14006-1992 通信与电子设备用变压器与电感器外形尺寸第一部分: 采用YEI-1铁心片的变压器与电感器GB/T 2414-1980 压电陶瓷材料性能测试方法圆片的径向伸缩振动长条的横向长度伸缩振动GB/T 3351-1982 人造石英晶体的型号命名GB/T 3388-1982 压电陶瓷材料型号命名方法GB/T 3389、1-1982 压电陶瓷材料性能测试方法常用名词术语GB/T 3389、2-1982 压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d33的静态测试GB/T 3389、3-1982 压电陶瓷材料性能测试方法居里温度Tc的测试GB/T 3389、4-1982 压电陶瓷材料性能测试方法柱体纵向长度伸缩振动模式GB/T 3389、6-1982 压电陶瓷材料性能测试方法长方片厚度切变振动模式GB/T 3389、7-1986 压电陶瓷材料性能测试方法强场介电性能的测试GB/T 3389、8-1986 压电陶瓷材料性能测试方法热释电系数的测试GB/T 6426-1986 铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法GB/T 6427-1986 压电陶瓷振子频率温度稳定性的测试方法GB/T 6627-1986 人造石英晶体棒材型号命名方法GB/T 6628-1986 人造石英晶体棒材GB/T 9532-1988 铌酸锂钽酸锂锗酸铋硅酸铋压电单晶材料型号命名方法GB/T 11113-1989 人造石英晶体中杂质的分析方法GB/T 11114-1989 人造石英晶*错的X 射线形貌检测方法GB/T 11309-1989 压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d@33的准静态测试GB/T 11310-1989 压电陶瓷材料性能测试方法相对自由介电常数温度特性的测试GB/T 11311-1989 压电陶瓷材料性能测试方法泊松比的测试GB/T 11312-1989 压电陶瓷材料与压电晶体声表面波性能测试方法GB/T 11320-1989 压电陶瓷材料性能测试方法低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试GB/T 11387-1989 压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法GB/T 12633-1990 压电晶体性能测试术语GB/T 12634-1990 压电晶体电弹常数测试方法GB/T 12864-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器分规范调幅无线电设备用压电陶瓷滤波器(可供认证用)GB/T 12865-1991电子设备用压电陶瓷滤波器空白详细规范调幅无线电设备用压电陶瓷滤波器评定水平E (可供认GB/T 12866-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器分规范通信设备用压电陶瓷滤波器(可供认证用)GB/T 12867-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器空白详细规范通信设备用压电陶瓷滤波器评定水平E (可供认证用) GB/T 9623-1988 通信用电感器与变压器磁芯第一部分: 总规范(可供认证用)GB/T 9624-1988 通信用电感器与变压器磁芯第二部分: 分规范电感器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T 9625-1988通信用电感器与变压器磁芯第二部分: 空白详细规范电感器用磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认GB/T 9626-1988 通信用电感器与变压器磁芯第三部分: 分规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T 9627-1988通信用电感器与变压器磁芯第三部分: 空白详细规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯评定水平A与GB/T 9628-1988通信用电感器与变压器磁芯第四部分: 分规范电源变压器与扼流圈用磁性氧化物磁芯(可供认证用GB/T 9629-1988通信用电感器与变压器磁芯第四部分: 空白详细规范电源变压器与扼流圈用磁性氧化物磁芯评定GB/T 9630-1988 磁性氧化物制成的罐形磁芯及其附件的尺寸GB/* 9631-1988 电子元器件详细规范UYF10 磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认证用) GB/T 9634-1988 磁性氧化物零件外形缺陷极限规范的指南GB/T 9635-1988 天线棒测量方法GB/T 9636-1988 磁性氧化物制成的圆天线棒与扁天线棒GB/T 10192-1988 磁性氧化物制成的螺纹磁芯的尺寸GB/T 11433-1989 磁性氧化物制成的管针柱磁芯的尺寸GB/T 11434-1989 铁氧体原材料化学分析方法GB/T 11435-1989 铁氧体交流消音头磁芯GB/T 11436-1989 软磁铁氧体材料成品半成品化学分析方法GB/T 11437-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯分规范(可供认证用)GB/T 11438-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯空白详细规范评定水平A (可供认证用) GB/* 11439-1989 通信用电感器与变压器磁芯第二部分: 性能规范起草导则GB/* 11440-1989 微波铁氧体规范起草导则GB/T 12796-1991 永磁铁氧体磁体总规范(可供认证用)GB/T 12797-1991 微电机用永磁铁氧体磁体分规范(可供认证用)GB/T 12798-1991 磁性氧化物或铁粉制成的轴向引线磁芯GB/T 6429-1986 石英谐振器型号命名方法GB/T 6430-1986 晶体盒型号命名方法GB/T 8553-1987 晶体盒总规范GB/T 12273-1990 石英晶体元件总规范(可供认证用)GB/T 12274-1990 石英晶体振荡器总规范(可供认证用)GB/T 12275-1990 石英晶体振荡器型号命名方法GB/T 12859-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器总规范(可供认证用)GB/T 12860-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规范低频压电陶瓷谐振器GB/T 12861-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范低频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用) GB/T 12862-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规范高频压电陶瓷谐振器(可供认证用)GB/T 12863-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范高频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用) GB/T 9537-1988 电子设备用键盘开关第一部分: 总规范(可供认证用)GB/* 5818-1986 音响设备用圆形连接器总规范(可供认证用)GB/* 5819、1-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YS1 型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819、2-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YS2 型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819、3-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YC型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819、4-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YL型圆形连接器(可供认证用)GB/T 9020-1988 视频同轴连接器总规范GB/* 9021、1-1988 SL10型视频连接器GB/* 9021、2-1988 SL12型视频连接器GB/* 9021、3-1988 SL16型视频连接器GB/T 9024-1988 印制板用频率低于3MHz的连接器总则与制订详细规范的导则GB/T 9538-1988 带状电缆连接器总规范GB/* 9539-1988 电子元器件详细规范DC2型带状电缆连接器GB/T 11313-1989 射频同轴连接器总规范GB/* 11314-1989 N 型射频同轴连接器GB/* 11315-1989 BNC 型射频同轴连接器GB/* 11316-1989 SMA 型射频同轴连接器GB/* 11317-1989 绕接技术GB/T 12270-1990 射频同轴连接器电气试验与测试程序屏蔽效率GB/T 12271-1990 射频同轴连接器射频插入损耗测试方法GB/T 12272-1990 射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法GB/T 12793-1991 电连接器接触件嵌卸工具总规范GB/* 11492-1989 FD08 FD12与FD15型间隙放电器技术条件GB/* 11280-1989电子元器件详细规范有质量评定的有或无机电继电器试验览表3 JZC 21F 型直流电磁继电器(可供GB/T 11321-1989 波导元件模数尺寸选择指南GB/T 11449、1-1989 波导法兰盘第一部分: 一般要求GB/T 11449、2-1989 波导法兰盘第二部分: 普通矩形波导法兰盘规范GB/T 11449、3-1989 波导法兰盘第三部分: 扁矩形波导法兰盘规范GB/T 11449、4-1989 波导法兰盘第四部分:圆形波导法兰盘规范GB/T 11449、5-1989 波导法兰盘第六部分: 中等扁矩形波导法兰盘规范GB/T 11449、6-1989 波导法兰盘第七部分: 方形波导法兰盘规范GB/T 11450、1-1989 空心金属波导第一部分: 一般要求与测量方法GB/T 11450、2-1989 空心金属波导第二部分:普通矩形波导有关规范GB/T 11450、3-1989 空心金属波导第三部分: 扁矩形波导有关规范GB/T 11450、4-1989 空心金属波导第四部分: 圆形波导有关规范GB/T 11450、5-1989 空心金属波导第六部分: 中等扁矩形波导有关规范GB/T 11450、6-1989 空心金属波导第七部分: 方形波导有关规范GB/T 11451-1989 软波导组件性能GB/T 12774-1991 同轴电气假负载总规范GB/T 13415-1992 射频混频器总规范GB/T 13416-1992 射频传输线(同轴)开关总规范GB/T 1360-1978 印制电路网格GB/T 4588、1-1984 无金属化孔单双面印制板技术条件GB/T 4588、2-1984 有金属化孔单双面印制板技术条件。
电子产品可靠性试验国家标准清单
电子产品可靠性试验国家标准清单GB/T 15120。
1-1994 识别卡记录技术第1部分：凸印GB/T 14598.2—1993 电气继电器有或无电气继电器GB/T 3482—1983 电子设备雷击试验方法GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则GB/T 5839—1986 电子管和半导体器件额定值制GB/T 7347-1987 汉语标准频谱GB/T 7348-1987 耳语标准频谱GB/T 9259—1988 发射光谱分析名词术语GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则GB/T 12636—1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法GB/T 2689。
1—1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则GB/T 2689。
2—1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法（用于威布尔分布)GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法（用于威布尔分布) GB/T 2689。
4—1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法（用于威布尔分布) GB/T 5080.1-1986 设备可靠性试验总要求GB/T 5080。
2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则GB/T 5080.4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)GB/T 5080。
5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案GB/T 5080.6—1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验GB/T 5080.7—1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081—1985 电子产品现场工作可靠性有效性和维修性数据收集指南GB/T 6990-1986 电子设备用元器件（或部件)规范中可靠性条款的编写指南GB/T 6991—1986 电子元器件可靠性数据表示方法GB/T 6993—1986 系统和设备研制生产中的可靠性程序GB/T 7288。
可靠性、环境试验相关国家标准
国家标准（GB）可靠性、环境试验相关国家标准GB 2421—1999 电工电子产品环境试验规程总则GB 2422—1995 电工电子产品环境试验术语GB/T 2423.1—2001 电工电子产品基本环境试验规程试验A：低温试验方法GB/T 2423.1—2001 电子电子产品环境试验第1部分：试验方法试验A：低温GB/T 2423.2—2001 电工电子产品基本环境试验规程试验B：高温试验方法GB/T 2423.3—1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca：恒定湿热试验方法GB/T 2423.4—1993 电工电子产品环基本境试验规程试验Db：交变湿热试验方法GB/T 2423.5—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击GB/T 2423.6—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ec和导则：倾跌与翻倒GB/T 2423.8—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ed：自由跌落GB/T 2423.9—2001 电工电子产品基本环境试验规程试验Cb：设备用恒定湿热试验方法GB/T 2423.9—2001 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cb：设备用恒定湿热GB/T 2423.10—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc和导则：振动（正弦）GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fd: 宽频带随机振动一般要求GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fda: 宽频带随机振动高再现性GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdb: 宽频带随机振动中再现性GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdc: 宽频带随机振动低再现性GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ga和导则: 稳态加速度GB/T 2423.15—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ga和导则：稳态加速度GB/T 2423.16—1999 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验J和导则: 长霉GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ka: 盐雾试验方法GB/T 2423.18—1985（2000）电工电子产品基本环境试验规程试验Kb：交变盐雾试验方法（氯化钠溶液）GB/T 2423.18—2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）GB 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kc: 接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kd: 接触点和连接件的硫化氢试验方法GB/T 2423.21—1991 电工电子产品基本环境试验规程试验M：低气压试验方法GB/T 2423.22—2002 电工电子产品基本环境试验规程试验N：温度变化试验方法GB/T 2423.23—1995 电工电子产品环境试验试验Q：密封GB/T 2423.24—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Sa：模拟地面上的太阳辐射GB/T 2423.25—1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM：低温/低气压综合试验GB/T 2423.26—1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM：高温/低气压综合试验GB/T 2423.27—1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验方法GB/T 2423.28—1982 电工电子产品基本环境试验规程试验T：锡焊试验方法GB 2423.29-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验U:引出端及整体安装强度GB/T 2423.30—1999 电工电子产品基本环境试验规程试验XA：在清洗剂中浸渍GB/T 2423.30-1999 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验XA和导则：在清洗剂中金字GB/T 2423.31—1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法GB/T 2423.32—1985 电工电子产品基本环境试验规程试验润湿称量法可焊性试验方法GB/T 2423.33—1982（1989）电工电子产品基本环境试验规程试验Kca：高浓度二氧化硫试验方法GB/T 2423.34—1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD：温度/湿度综合循环试验方法GB/T 2423.35—1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/Afc：散热和非散热试验样品的低温/振动（正弦）综合试验方法GB/T 2423.36—1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动（正弦）综合试验方法GB/T 2423.37—1989 电工电子产品基本环境试验规程试验L：沙尘试验方法GB/T 2423.38—1990 电工电子产品基本环境试验规程试验R：水试验方法GB/T 2423.39—1990 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee：弹跳试验方法GB/T 2423.40—1997 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热GB/T 2423.41—1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验GB/T 2423.42—1995 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动（正弦）综合试验方法GB/T 2423.43—1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法元件、设备和其他产品在冲击、碰撞、振动和稳态加速度等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.43-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法元件、设备和其他产品在冲击(Ea) 、碰撞(Eb) 、振动(Fc和Fb)和稳态加速度(Ca)等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.44-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eg: 撞击弹簧锤GB/T 2423.45-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/ABDM：气候顺序GB/T 2423.46-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ef：撞击摆锤GB/T 2423.47-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fg: 声振GB/T 2423.48-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Ff: 振动—时间历程法GB/T 2423.49-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fe: 振动—正弦拍频法GB/T 2423.50-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423.51-2000 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Ke 流动混合气体腐蚀试验GB/T 2424.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程高温低温试验导则GB/T 2424.2-1993 电工电子产品基本环境试验规程湿热试验导则GB/T 2424.10-1993 电工电子产品基本环境试验规程大气腐蚀加速试验的通用导则GB/T 2424.11-1982 电工电子产品基本环境试验规程接触点和连接件的二氧化硫试验导则GB/T 2424.12-1982 电工电子产品基本环境试验规程接触点和连接件的硫化氢试验导则GB/T 2424.13-1981 电工电子产品基本环境试验规程温度变化试验导则GB/T 2424.14-1993 电工电子产品环境试验第2部份：试验方法太阳辐射试验导则GB/T 2424.15-1992 电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则GB/T 2424.17-1995 电工电子产品环境试验锡焊试验导则GB/T 2424.19-1984 电工电子产品基本环境试验规程模拟贮存影响的环境试验导则GB/T 2424.20-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验导则GB/T 2424.21-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验导则GB/T 2424.22-1986 电工电子产品基本环境试验规程温度（低温、高温）和振动（正弦）综合试验导则GB/T 2424.23-1990 电工电子产品基本环境试验规程水试验导则GB/T 2424.24-1995 电工电子产品环境试验温度（低温、高温）和振动（正弦）综合试验导则GB/T 2424.25-2000 电工电子产品环境试验第3部份：试验导则地震试验方法第2部分试验方法电工电子产品环境试验国家标准汇编GB 3836.11—1991 爆炸性环境用防爆电气设备最大试验安全间隙测定方法GB 3836.12—1991 爆炸性环境用防爆电气设备气体或蒸气混合物按照其最大试验安全间隙和最小点燃电流的分级GB 4793.1-1995 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分：通用要求GB 4793.2-2001 测量、控制及实验室用电气设备的安全电工测量和试验用手持电流钳的特殊要求GB 4793.5-2001 测量、控制及实验室用电气设备的安全电工测量和试验用手持探头的特殊要求GB 7251.1-1997 低压成套开关设备和控制设备第一部分: 型式试验和部分型式试验成套设备GB/T 14598.13-1998 量度继电器和保护装置的电气干扰试验第1部分 1MHz脉冲群干扰试验GB/T 19183.5—2003 电子设备机械结构户外机壳第3部分：机柜和箱休的气候、机械试验及安全要求GB/T 2317.2—2000 电力金具电晕和无线电干扰试验GB/T 15174-1994 可靠性增长大纲GB/T 7289-1987 可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 3187-1994 可靠性、维修性术语GB/T 7826-1987 系统可靠性分析技术失效模式和效应分析（FMEA）程序GB/T 7827-1987 可靠性预计程序GB/T 7828-1987 可靠性设计评审GB/T 7829-1987 故障树分析程序GB/T 4888-1985 故障树名词术语和符号GB/T 5329-1985 试验筛与筛分试验术语GB 4793.1-1995 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分:通用要求GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法 (用于威布尔分布) GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法 (用于威布尔分布)GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法 (用于威布尔分布)GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法GB/T 9586-1988 荧光数码显示管加速寿命试验方法GB/T 5170.1-1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法总则GB/T 5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备GB/T 5170.5-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法湿热试验设备GB/T 5170.8-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法盐雾试验设备GB/T 5170.9-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法太阳辐射试验设备GB/T 5170.10-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法高低温低气压试验设备GB/T 5170.11-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法腐蚀气体试验设备GB 5170.13-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦) 试验用机械振动台GB 5170.14-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦) 试验用电动振动台GB 5170.15-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦) 试验用液压振动台GB 5170.16-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法恒加速度试验用离心式试验机GB 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温/低气压/湿热综合顺序试验设备GB 5170.18-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/湿度组合循环试验设备GB 5170.19-1989 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/振动(正弦) 综合试验设备GB 5170.20-1990 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法水试验设备GB 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法GB 2423.16-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验J:长霉试验方法GB 2423.18-1985 电工电子产品基本环境试验规程试验Kb:交变盐雾试验方法(氯化钠溶液)GB 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验方法GB 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程试验M:低气压试验方法GB 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法GB 2423.22-1987 电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度变化试验方法GB 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法GB 2423.28-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验T:锡焊试验方法GB 2423.29-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验U:引出端及整体安装强度GB 2423.30-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验XA:在清洗剂中浸渍GB 2423.31-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法GB 2423.32-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验方法GB 2423.33-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Kca:高浓度二氧化硫试验方法GB 2423.34-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验方法GB 2423.35-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验方法GB 2423.36-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BFc:散热和非散热样品的高温/振动(正弦)综合试验方法GB 2423.37-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验L:砂尘试验方法GB 2423.38-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验R:水试验方法GB 2423.39-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee:弹跳试验方法GB 2423.9-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Cb:设备用恒定湿热试验方法GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Fc和导则:振动(正弦)GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fd:宽频带随机振动一般要求GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fda:宽频带随机振动高再现性GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fdb:宽频带随机振动中再现性GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fdc:宽频带随机振动低再现性GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ga和导则:稳态加速度GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ka:盐雾试验方法GB/T 2423.23-1995 电工电子产品环境试验试验Q:密封GB/T 2423.24-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Sa:模拟地面上的太阳辐射GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温／低气压综合试验GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM:高温／低气压综合试验GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热GB/T 2423.41-1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db:交变湿热试验方法GB/T 2423.42-1995 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法GB/T 2423.43-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法元件、设备和其他产品在冲击(Ea)、碰撞(Eb)、振动(Fc和Fb)和稳态加速度(Ca)等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.44-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Eg:撞击弹簧锤GB/T 2423.45-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/ABDM：气候顺序GB/T 2423.46-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ef：撞击摆锤GB/T 2423.47-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fg:声振GB/T 2423.48-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ff:振动—时间历程法GB/T 2423.49-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fe:振动—正弦拍频法GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则:冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ec和导则:倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ed:自由跌落仪器卷GB/T 2423.18-2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温／低气压综合试验GB/T 2423.51-2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ke：流动混合气体腐蚀试验开关电器、旋转电机、电线电缆卷GB/T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验J和导则：长霉GB/T 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法GB/T 2423.29-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验U:引出端及整体安装件强度GB/T 2423.30-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验XA和导则:在清洗剂中浸渍GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db:交变湿热试验方法GB/T 2423.50-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则:冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ec和导则:倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ed:自由跌落。
可靠性国家标准
中国可靠性国家标准中国可靠性国家标准GB/T 15174-1994 可靠性增长大纲GB/T 7289-1987 可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 3187-1994 可靠性、维修性术语GB/T 7826-1987 系统可靠性分析技术失效模式和效应分析（FMEA）程序GB/T 7827-1987 可靠性预计程序GB/T 7828-1987 可靠性设计评审GB/T 7829-1987 故障树分析程序GB/T 4888-1985 故障树名词术语和符号GB/T 5329-1985 试验筛与筛分试验术语GB 4793.1-1995 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分: 通用要求GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法 (用于威布尔分布)GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法 (用于威布尔分布)GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法 (用于威布尔分布)GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法GB/T 9586-1988 荧光数码显示管加速寿命试验方法GB/T 5170.1-1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法总则GB/T 5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备GB/T 5170.5-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法湿热试验设备GB/T 5170.8-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法盐雾试验设备GB/T 5170.9-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法太阳辐射试验设备GB/T 5170.10-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法高低温低气压试验设备GB/T 5170.11-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法腐蚀气体试验设备GB 5170.13-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用机械振动台GB 5170.14-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用电动振动台GB 5170.15-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用液压振动台GB 5170.16-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法恒加速度试验用离心式试验机GB 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温/低气压/湿热综合顺序试验设备GB 5170.18-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/ 湿度组合循环试验设备GB 5170.19-1989 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/ 振动 (正弦) 综合试验设备GB 5170.20-1990 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法水试验设备GB 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 A: 低温试验方法GB 2423.16-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验J:长霉试验方法GB 2423.18-1985 电工电子产品基本环境试验规程试验Kb: 交变盐雾试验方法 (氯化钠溶液)GB 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kc: 接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kd: 接触点和连接件的硫化氢试验方法GB 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程试验 M: 低气压试验方法GB 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 B: 高温试验方法GB 2423.22-1987 电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度变化试验方法GB 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/ 低气压 /湿热连续综合试验方法GB 2423.28-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验T:锡焊试验方法GB 2423.29-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验U:引出端及整体安装强度GB 2423.30-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验XA: 在清洗剂中浸渍GB 2423.31-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法GB 2423.32-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验方法GB 2423.33-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Kca:高浓度二氧化硫试验方法GB 2423.34-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD: 温度/ 湿度组合循环试验方法GB 2423.35-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/ 振动(正弦)综合试验方法GB 2423.36-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BFc:散热和非散热样品的高温/ 振动(正弦)综合试验方法GB 2423.37-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 L: 砂尘试验方法GB 2423.38-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验 R: 水试验方法GB 2423.39-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee: 弹跳试验方法GB 2423.9-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Cb: 设备用恒定湿热试验方法GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Fc和导则: 振动(正弦)GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fd: 宽频带随机振动一般要求GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fda: 宽频带随机振动高再现性GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdb: 宽频带随机振动中再现性GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdc: 宽频带随机振动低再现性GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ga和导则: 稳态加速度GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ka: 盐雾试验方法GB/T 2423.23-1995 电工电子产品环境试验试验Q:密封GB/T 2423.24-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Sa: 模拟地面上的太阳辐射GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM: 低温／低气压综合试验GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM: 高温／低气压综合试验GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热GB/T 2423.41-1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db: 交变湿热试验方法GB/T 2423.42-1995 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法GB/T 2423.43-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法元件、设备和其他产品在冲击(Ea) 、碰撞(Eb) 、振动(Fc和Fb)和稳态加速度(Ca)等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.44-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eg: 撞击弹簧锤GB/T 2423.45-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/ABDM：气候顺序GB/T 2423.46-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ef：撞击摆锤GB/T 2423.47-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fg: 声振GB/T 2423.48-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Ff: 振动—时间历程法GB/T 2423.49-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fe: 振动—正弦拍频法GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则: 冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ec和导则: 倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品)GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ed: 自由跌落仪器卷GB/T 2423.18-2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM: 低温／低气压综合试验GB/T 2423.51-2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ke：流动混合气体腐蚀试验开关电器、旋转电机、电线电缆卷GB/T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 A: 低温试验方法GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验J和导则：长霉GB/T 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 B: 高温试验方法GB/T 2423.29-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验U:引出端及整体安装件强度GB/T 2423.30-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验XA和导则:在清洗剂中浸渍GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db: 交变湿热试验方法GB/T 2423.50-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则: 冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ec和导则: 倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品)GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ed: 自由跌落。
可靠性测试标准国标
可靠性测试标准国标可靠性测试是指对产品在特定条件下的可靠性进行验证和评估的过程，其目的是为了确保产品在使用过程中能够稳定可靠地工作。
国际上对于可靠性测试的标准有很多，而在中国，也有一系列的国家标准对可靠性测试进行了规范和要求。
首先，国家标准对于可靠性测试的范围和目的进行了明确的规定。
在GB/T 10561-2005《可靠性测试》标准中，明确指出了可靠性测试的目的是为了评估产品在规定条件下的可靠性水平，以便为产品的设计、制造和使用提供依据。
同时，该标准还对可靠性测试的范围进行了详细的描述，包括了测试对象、测试条件、测试方法等方面的要求。
其次，国家标准对于可靠性测试的基本要求进行了具体的规定。
在GB/T10561-2005标准中，对于可靠性测试的基本要求包括了测试的环境条件、测试的持续时间、测试的样本数量、测试的数据处理等方面的内容进行了详细的规定。
这些基本要求的制定，有利于统一测试的标准，确保测试结果的可比性和可靠性。
另外，国家标准还对于可靠性测试的方法和步骤进行了规范。
在GB/T 10561-2005标准中，对于可靠性测试的方法和步骤进行了详细的描述，包括了测试的准备工作、测试的实施过程、测试的数据分析和评估等方面的内容。
这些规范的方法和步骤的制定，有利于确保测试的科学性和全面性。
此外，国家标准还对于可靠性测试的结果进行了评定和分类。
在GB/T 10561-2005标准中，对于可靠性测试的结果进行了具体的评定和分类，包括了测试结果的分析和评估、可靠性指标的确定、可靠性等级的划分等方面的内容。
这些评定和分类的规定，有利于客观地评价产品的可靠性水平，为产品的设计和使用提供依据。
总的来说，国家标准对于可靠性测试进行了全面的规范和要求，从测试的范围和目的、基本要求、方法和步骤、结果的评定和分类等方面进行了详细的规定。
这些规范和要求的制定，有利于统一测试的标准，确保测试结果的可比性和可靠性，促进产品的可靠性水平的提高。
GB 35-93元器件可靠性降额准则国家标准.
应用范围
降额等级 最高 最低
航天器与运载火箭
Ⅰ
Ⅰ
战略导弹
Ⅰ
Ⅱ
战术导弹系统
Ⅰ
Ⅲ
飞机与舰船系统
Ⅰ
Ⅲ
通信电子系统
Ⅰ
Ⅲ
武器与车辆系统
Ⅰ
Ⅲ
地面保障设备
Ⅱ
Ⅲ
4.3 降额的限度 降额可有效地提高元器件的使用可靠性，但降额是有限度的。通常，超过最
为： 电流放大系数：±15％（适用于已经筛选的晶体管） ±30％（适用于未经筛选的晶体管） 漏电流：＋200％ 开关时间：＋20％ 饱和压降：＋15％
5.2.3 降额准则 （1） 晶体管的反向电压、电流、功率从额定值降额； （2） 最高结温、安全工作区的降额见附录； （3） 由于分布参数的影响，微波晶体管不能按独立变量来考虑降额，但应
中、小规模集成电路降额的主要参数是电压、电流或功率，以及结温。大规 模模集成电路主要是降低结温。 5.1.2 应用指南 5.1.2.1 所有为维持最低结温的措施都应考虑。可采取以下措施：
（1） 器件应在尽可能小的实用功率下工作； （2） 为减少瞬态电流冲击应采用去耦电路； （3） 当工作频率接近器件的额定频率时，功耗将会迅速增加，因此器件的 实际工作频率应低于器件的额定频率； （4） 应实施最有效的热传递，保证与封装底座间的的热阻，避免选用高热 阻底座的器件。 5.1.2.2 双极型数字电路电源电压须稳定，其容差范围如下： （1） Ⅰ级降额：±3％； （2） Ⅱ级降额：±5％； （3） Ⅲ级降额：按相关详细规范要求。 5.1.2.3 主要参数的设计容差 为保证设备长期可靠的工作，设计应允许集成电路参数容差为： 模拟电路：
GB2423标准系列大全(可靠性试验要求)
GB2423标准系列大全(可靠性试验要求)介绍本文档是关于GB2423标准系列的大全，主要涵盖了可靠性试验要求的内容。
GB2423标准系列是中国国家标准委员会发布的一系列关于电工电子产品的环境试验标准，旨在通过试验评定产品在各种条件下的可靠性能。
标准概述GB2423标准系列共包含9个标准，分别为GB2423.1-1989至GB2423.9-2010。
这些标准涵盖了不同环境条件下的试验要求，包括温度、湿度、振动、冲击等多种试验。
标准目的GB2423标准系列的目的是为了确保电工电子产品在正常使用条件下具有一定的可靠性，能够稳定运行并不受环境因素影响。
通过进行各种环境试验，可以评估产品在各种条件下的可靠性能，为产品设计、生产和使用提供参考依据。
标准内容GB2423标准系列的试验要求主要包括以下几个方面：1. 温度试验：包括高温试验、低温试验和温变试验，目的是测试产品在不同温度条件下的可靠性。
2. 湿度试验：包括湿热试验和湿变试验，目的是测试产品在高湿度环境中的可靠性。
3. 振动试验：包括固定振动试验和随机振动试验，目的是测试产品在振动环境中的可靠性。
4. 冲击试验：包括正弦冲击试验和半正弦冲击试验，目的是测试产品在冲击环境中的可靠性。
5. 电磁辐射试验：包括射频辐射试验和瞬变抗扰试验，目的是测试产品在电磁辐射环境下的可靠性。
标准应用GB2423标准系列适用于各种电工电子产品的可靠性试验，包括家用电器、通信设备、计算机设备、工业设备等。
各个行业的企业可以根据自身产品的特点和使用环境选择相应的标准进行试验评定，以确保产品的可靠性和稳定性。
结论GB2423标准系列大全涵盖了可靠性试验的各个方面，通过进行环境试验可以评估产品在不同条件下的可靠性能。
各个行业的企业应根据自身产品的特点，选择相应的标准进行试验评定，以提升产品的可靠性和稳定性。
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《民用建筑可靠性鉴定标准》(Ⅱ)
6.2.4 当混凝土结构构件的使用性按其裂缝宽度检测结果评定时， 应遵守下列规定：
1 当有计算值时： （1）若检测值小于计算值及现行设计规范限值时，可评为as级； （2）若检测值大于或等于计算值，但不大于现行设计规范限值时，可评为bs级； （3）若检测值大于现行设计规范限值时，应评为cs级； 2 若无计算值时，应按表6.2.4–1或表6.2.4–2的规定评级； 3 对沿主筋方向出现的锈迹或细裂缝，应直接评为cs级； 4 若一根构件同时出现两种或以上的裂缝，应分别评级，并取其中最低一级作为该 构件的裂缝等级。
上部承重结构
7.3.1 上部承重结构子单元的安全性鉴定评级，应根据其结构承载功能等 级、结构整体性等级以及结构侧向位移等级的评定结果进行确定。
7.3.2 上部结构承载功能的安全性评级，当有条件采用较精确的方法评定 时，应在详细调查的基础上，根据结构体系的类型及其空间作用程度， 按国家现行标准规定的结构分析方法和结构实际的构造确定合理的计算 模型，通过对结构作用效应分析和抗力分析，并结合工程鉴定经验进行 评定。
7.2.3 当地基基础的安全性按地基变形（建筑物沉降）观测资料或其上部结构反应的检查 结果评定时，应按下列规定评级： Au级 不均匀沉降小于现行国家标准《建筑地基基础设计规范》GB 50007规定的允许沉 降差；建筑物无沉降裂缝、变形或位移。 Bu级 不均匀沉降不大于现行国家标准《建筑地基基础设计规范》GB 50007规定的允许 沉降差；且连续两个月地基沉降量小于每月2mm；建筑物的上部结构虽有轻微裂缝，但 无发展迹象。 Cu级 不均匀沉降大于现行国家标准《建筑地基基础设计规范》GB 50007规定的允许沉 降差；或连续两个月地基沉降量大于每个月2mm；或建筑物上部结构砌体部分出现宽度 大于5mm的沉降裂缝，预制构件连接部位可能出现宽度大于1mm的沉降裂缝，且沉降裂 缝短期内无终止趋势。 Du级 不均匀沉降远大于现行国家标准《建筑地基基础设计规范》GB 50007规定的允许 沉降差；连续两个月地基沉降量大于每月2mm，且尚有变快趋势；或建筑物上部结构的 沉降裂缝发展显著；砌体的裂缝宽度大于10mm；预制构件连接部位的裂缝宽度大于3mm； 现浇结构个别部分也已开始出现沉降裂缝。 注：本条规定的沉降标准，仅适用于建成已2年以上、且建于一般地基土上的建筑物； 对建在高压缩性粘性土或其他特殊性土地基上的建筑物，此年限宜根据当地经验适当加长。
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中国可靠性国家标准中国可靠性国家标准GB/T 15174-1994 可靠性增长大纲GB/T 7289-1987 可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 3187-1994 可靠性、维修性术语GB/T 7826-1987 系统可靠性分析技术失效模式和效应分析（FMEA）程序GB/T 7827-1987 可靠性预计程序GB/T 7828-1987 可靠性设计评审GB/T 7829-1987 故障树分析程序GB/T 4888-1985 故障树名词术语和符号GB/T 5329-1985 试验筛与筛分试验术语GB 4793.1-1995 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分: 通用要求GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法 (用于威布尔分布)GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法 (用于威布尔分布)GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法 (用于威布尔分布)GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法GB/T 9586-1988 荧光数码显示管加速寿命试验方法GB/T 5170.1-1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法总则GB/T 5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备GB/T 5170.5-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法湿热试验设备GB/T 5170.8-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法盐雾试验设备GB/T 5170.9-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法太阳辐射试验设备GB/T 5170.10-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法高低温低气压试验设备GB/T 5170.11-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法腐蚀气体试验设备GB 5170.13-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用机械振动台GB 5170.14-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用电动振动台GB 5170.15-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用液压振动台GB 5170.16-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法恒加速度试验用离心式试验机GB 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温/低气压/湿热综合顺序试验设备GB 5170.18-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/ 湿度组合循环试验设备GB 5170.19-1989 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/ 振动 (正弦) 综合试验设备GB 5170.20-1990 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法水试验设备GB 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 A: 低温试验方法GB 2423.16-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验J:长霉试验方法GB 2423.18-1985 电工电子产品基本环境试验规程试验Kb: 交变盐雾试验方法 (氯化钠溶液)GB 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kc: 接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kd: 接触点和连接件的硫化氢试验方法GB 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程试验 M: 低气压试验方法GB 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 B: 高温试验方法GB 2423.22-1987 电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度变化试验方法GB 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/ 低气压 /湿热连续综合试验方法GB 2423.28-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验T:锡焊试验方法GB 2423.29-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验U:引出端及整体安装强度GB 2423.30-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验XA: 在清洗剂中浸渍GB 2423.31-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法GB 2423.32-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验方法GB 2423.33-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Kca:高浓度二氧化硫试验方法GB 2423.34-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD: 温度/ 湿度组合循环试验方法GB 2423.35-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/ 振动(正弦)综合试验方法GB 2423.36-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BFc:散热和非散热样品的高温/ 振动(正弦)综合试验方法GB 2423.37-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 L: 砂尘试验方法GB 2423.38-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验 R: 水试验方法GB 2423.39-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee: 弹跳试验方法GB 2423.9-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Cb: 设备用恒定湿热试验方法GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Fc和导则: 振动(正弦)GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fd: 宽频带随机振动一般要求GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fda: 宽频带随机振动高再现性GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdb: 宽频带随机振动中再现性GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdc: 宽频带随机振动低再现性GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ga和导则: 稳态加速度GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ka: 盐雾试验方法GB/T 2423.23-1995 电工电子产品环境试验试验Q:密封GB/T 2423.24-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Sa: 模拟地面上的太阳辐射GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM: 低温／低气压综合试验GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM: 高温／低气压综合试验GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热GB/T 2423.41-1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db: 交变湿热试验方法GB/T 2423.42-1995 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法GB/T 2423.43-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法元件、设备和其他产品在冲击(Ea) 、碰撞(Eb) 、振动(Fc和Fb)和稳态加速度(Ca)等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.44-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eg: 撞击弹簧锤GB/T 2423.45-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/ABDM：气候顺序GB/T 2423.46-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ef：撞击摆锤GB/T 2423.47-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fg: 声振GB/T 2423.48-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Ff: 振动—时间历程法GB/T 2423.49-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fe: 振动—正弦拍频法GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则: 冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ec和导则: 倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品)GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ed: 自由跌落仪器卷GB/T 2423.18-2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM: 低温／低气压综合试验GB/T 2423.51-2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ke：流动混合气体腐蚀试验开关电器、旋转电机、电线电缆卷GB/T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 A: 低温试验方法GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验J和导则：长霉GB/T 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 B: 高温试验方法GB/T 2423.29-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验U:引出端及整体安装件强度GB/T 2423.30-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验XA和导则:在清洗剂中浸渍GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db: 交变湿热试验方法GB/T 2423.50-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则: 冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ec和导则: 倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品)GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ed: 自由跌落。