宝石矿物偏光显微镜鉴定专业知识
偏光镜法在宝石鉴别中的作用分析
偏光镜法在宝石鉴别中的作用分析偏光镜法是一种在宝石鉴别中常用的分析方法，通过观察宝石在偏光条件下的光学性质，可以快速鉴别宝石的种类和真伪。
本文将对偏光镜法在宝石鉴别中的作用进行分析，介绍其在宝石学领域中的重要性和应用价值。
一、偏光镜法简介偏光镜是一种特殊的显微镜，可以通过改变光线的偏振方向来观察宝石的光学性质。
在偏光条件下，宝石的光学性质会发生改变，对应的光学效应可以帮助我们鉴别宝石的种类和真伪。
偏光镜法主要包括偏光、消光和双折射三种基本观察方法，通过对这些观察方法的综合运用，可以获得宝石的光学特征，从而进行鉴别分析。
1. 鉴别宝石种类偏光镜法可以根据宝石的双折射特性来鉴别其种类。
不同种类的宝石在偏光条件下会呈现出不同的光学效应，比如双折射现象的强弱、双折射轴的位置和方向等。
通过观察这些光学特征，可以快速准确地确定宝石的种类，为宝石鉴别提供重要参考依据。
2. 检测宝石真伪偏光镜法可以通过观察宝石的消光现象来检测其真伪。
在偏光条件下，真宝石和假冒品在消光现象上会有明显的区别。
真宝石通常在特定位置和方向上会完全消光，而假冒品则会呈现出不规则的消光现象。
通过观察这些消光特征，可以判断宝石的真伪，避免购买到假冒品。
3. 分析宝石内部结构偏光镜法可以通过观察宝石的内部结构来分析其形成过程和质量特征。
在偏光条件下，宝石内部的束缚体、包裹体、裂纹等缺陷会呈现出特定的光学表现，通过观察这些内部结构，可以了解宝石的形成过程、质量特征和可能存在的瑕疵，为宝石的鉴定和评估提供重要依据。
4. 判定宝石的处理和改良偏光镜法可以通过观察宝石的光学性质来判定其是否经过了处理和改良。
一些经过热处理、填充或染色等处理的宝石在偏光条件下会呈现出特殊的光学效应，比如色彩区域的变化、填充物的分布和形态等。
通过观察这些处理痕迹，可以判断宝石是否经过了处理和改良，为宝石的鉴定和评估提供重要参考信息。
三、偏光镜法的应用价值在宝石市场中，偏光镜法可以帮助买家和卖家准确鉴别宝石的种类和品质，防止购买到假冒品或次品。
光学显微镜鉴定矿物
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和裂理、双晶、环带构造、连晶、粉末颜色、硬
度、塑性、颜色及多色散、反射率、双反射效应、
均质性和非均质性、偏光色、内反射、旋转性质 以及对标准浸蚀试剂的反应和各种元素的显微
透明，而大多数重要的金属矿物经常是不透明的。
在鉴定和研究透明矿物工作中，应用最广泛且成
熟而有效的方法就是根据透明矿物晶体光学原 理，利用偏光显微镜进行研究。这种研究法是将
矿石或岩石磨成 0．03mm 厚的薄片，在镜下观察
可见光通过晶体时所发生的折射和干涉现象，测
定矿物晶体的光性常数，如晶形、颜色、解理、 突起、干涉色、双折ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ率、消光类型和消光角、
根据矿物的光学性质，利用显微镜鉴定矿物
的方法。绝大多数矿石是多种矿物紧密连生的混
合物，在手标本上鉴别较困难，往往不可能全部 识别清楚。因此，矿石中矿物的鉴定、矿物粒度
测定、矿物解离度测定、矿石结构分析以及选矿
产物的矿物学分析等工作常用显微镜来完成。 在选矿过程中大部分脉石矿物在可见光中
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反两用，并附有许多供定量测定使用的附件。反
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光显微镜的主体结构和基本原理与偏光显微镜
相同，但前者带有一个垂直照明器。 用反光显微镜鉴定矿物，要将矿石磨制成光
片，置于镜下，光源通过照明器内的反射器，将
光线向下反射到矿石光片表面上，再从光片表面
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矿物镜下鉴定基本常识
光轴与结晶轴对应关系 硅镁石: Np∥a, Nm∥c, Ng∥b； 橄榄石: Np∥b, Nm∥c, Ng∥a 十字石: Np∥b, Nm∥a, Ng∥c； 文 石: Np∥c,Nm∥a,Ng ∥b
黄 玉: Np∥a, Nm∥b, Ng∥c； 红柱石: Np∥c, Nm∥b, Ng∥a
•
3.5光性方位
•
3.3 一轴晶的光率体
•图1-31 一轴晶矿物石英（左）和方解石（右）光率体的构成
•
3.3 一轴晶的光率体
• 一轴（正）晶光率体三类主要切面及Ne′的计算A.⊥光轴的切面;B.∥光轴的 切面;C.斜交光轴的切面;D.过Ne和入射光R的切面上Ne′的计算
•
3.4 二轴晶光率体
二轴晶包括低级晶族 的斜方、单斜及三斜三 个晶系的矿物。
•
2.0 矿物晶体中光的传播与折射
依据光传播与折射的特征，自然界的矿 物可分为光性均质体与光性非均质体两大类，光 性非均质体又可分为一轴晶矿物和二轴晶矿物。
•
2.1 光性均质体与光性非均质体
2.1.1 相关概念
一切未受应力作用的高级晶族的矿物（如萤 石、石榴石等）和非晶质矿物（如蛋白石、火山玻 璃等），与空气、液体、玻璃、树胶等物质同样， 都具有各向同性的特性。这样的矿物质即称为“光 性均质体(Optical isotropic substance)”
• 在单偏光镜下，来自下偏光镜的白色偏光照射并透过 矿物晶体后在显微镜目镜视域中呈现出色彩，是典型的透射 光形成的体色。
• 晶体在薄片中颜色的深浅明暗程度是由晶体对光吸收 的总强度(吸收率)不同引起的，总吸收率愈大，晶体颜色愈 深暗，反之颜色愈浅淡。
•
5.3、单偏光镜下矿物颜色的研究
偏光显微镜在岩矿鉴定工作中的使用技巧和方法
偏光显微镜在岩矿鉴定工作中的使用技巧和方法
偏光显微镜是一种常用的显微镜，它可以用来鉴定和研究岩石结构和化学组成，为内部构造及其成因分析提供重要信息。
偏光显微镜的使用技巧和方法有很多，主要有以下几点：
1、准备显微镜和样品：准备好偏光显微镜，确保偏光显微镜的物镜清晰可见，然后从样品中搜集样本。
2、静态显微镜观察：将样品放在偏光显微镜上，通过改变照射光的方向和颜色，进行静态观察。
判断岩石的晶体形状，晶形，晶界宽度和光反射吸收等。
3、钻孔显微镜观察：首先根据样品自身特性钻取小孔，再将磨碎的岩石粉末取出，在偏光显微镜下观察。
以此可以获取到晶间空隙的尺寸变化，晶粒的内部构造和晶粒的组合多样性等信息。
4、化学分析：对岩石样品进行水解或用其它方法提取里面的晶体，使用电子显微镜或X射线物相聚焦技术，确定岩石中物质含量和元素成分，区分各种晶体材料。
5、透射电子显微镜观察：通过将偏光显微镜结合电子显微镜技术，可以清晰地观测到岩石中微小元素的表面结构，有利于更准确地鉴定岩石结构。
总之，偏光显微镜是一种重要的矿物鉴定显微镜，它能够发挥重要作用，帮助我们准确鉴定岩石的结构，物质含量和元素成份，帮助我们更准确地探讨岩石的组成成分及其成因，从而为我们更多的实际应用提供支撑。
宝石鉴定矿物鉴定及图片
宝石鉴定矿物鉴定简介宝石鉴定和矿物鉴定是两个相互关联的领域，通过研究石头的物理和化学性质来确定宝石的种类和质量。
本文将介绍宝石鉴定和矿物鉴定的一些基础知识和方法。
宝石鉴定1. 观察和测量宝石鉴定的第一步是对宝石进行观察和测量。
观察可以包括颜色、透明度、杂质等方面的观察。
测量可以使用一些仪器，如折射计和硬度计。
2. 折射率折射率是宝石鉴定中常用的一个指标，它是光线在宝石中传播时发生弯曲的程度。
不同种类的宝石有不同的折射率，通过测量宝石的折射率可以初步确定宝石的种类。
3. 结构和切割宝石的结构和切割也是鉴定宝石的重要因素。
不同的宝石有不同的晶体结构和切割方式，这些特征会对宝石的外观和光学性质产生影响。
4. 颜色和杂质颜色和杂质也是宝石鉴定中需要考虑的因素。
某些宝石的颜色会受到杂质的影响，通过观察和比较可以初步鉴定宝石。
5. 宝石证书进行宝石鉴定后，可以给宝石出具一份宝石证书。
宝石证书是一份详细记录宝石的相关信息和鉴定结果的文件，它可以给宝石的买家提供更多的参考和保障。
矿物鉴定矿物鉴定是通过对矿物样品的观察和分析来确定矿物的种类和性质。
下面介绍一些常用的矿物鉴定方法。
1. 观察和测量和宝石鉴定类似，矿物鉴定也需要进行观察和测量。
观察可以包括颜色、晶体形态、断口等方面的观察。
测量可以使用一些仪器，如显微镜和硬度计。
2. 化学测试化学测试是矿物鉴定中常用的一种方法。
通过对矿物样品进行一系列的化学试验，比如酸碱反应、溶解性测试等，可以初步确定矿物的成分和性质。
3. 熔融测试熔融测试是一种用熔融剂熔融矿物样品，观察其熔融行为来鉴定矿物的方法。
不同种类的矿物在熔融时会有不同的行为，通过熔融测试可以鉴定矿物。
4. X射线衍射X射线衍射是一种常用的矿物鉴定方法，通过对矿物样品进行X射线衍射分析，可以确定矿物的晶体结构和组成。
5. 矿物图谱矿物图谱是一本记录了各种矿物的特征和鉴定方法的参考书。
在矿物鉴定时，可以通过矿物图谱对比和参考来确定矿物的种类和性质。
鉴定宝石偏光镜使用的各种现象图解
鉴定宝石:偏光镜使用的各种现象图解偏光镜的结构：第一台可使用的偏光镜是用褐色电气石(碧玺)晶体的切片制成的。
现代的偏光镜使用的是价廉和效果好的塑料偏振滤光片。
上、下两片装在固定的架子上或可折弯的支架上。
偏光镜是能快捷使用的简单仪器。
它用于测试透明宝石材料。
它可用于测试一些已镶和未镶的宝石，成品宝石和原石以及平板、碎块乃至尘状颗粒。
当测试时还可将宝石浸入液体中以提高其可见度。
台式偏光镜由装在基座上的低功率灯泡提供照明。
当检测宝石的各向异性时，两个偏振滤光片应处在正交位置，这样，在检测前应看不到光或只看到很少的光。
重要的是在检测时要在所有方向上转动宝石。
1、各向同性材料：如若透明材料在正交偏光片间不论取向如何都是很暗的，那么它是各向同性的。
它或是非晶质的，或是具立方晶系结构的晶质体。
用偏光镜检查一轴晶材料萤石珠是均质体，在偏光镜下旋转一圈还是暗色的。
平面偏振光(PPL)从第一个(下)偏振滤光片进入各向同性材料。
各向同性材料不会把入射光重组成两个组分。
偏振光在其初始的偏振平面内继续穿行并离开该材料。
该偏振光进入第二个(上)偏振滤光片。
由于上、下偏振滤光片是正交的，战进入第一个偏振滤光片的光被吸收。
团而，遥过该材料看不见光。
2、各向异性材料：当一个材料在正交偏光片问先是能透光转动后变暗时，被说成是达到正交偏光片间的消光。
如若消光现象看上去是同时影响到整个材料，而且严格地以90度的转动间隔出现，那么这个材料看来是各向异性的单晶。
用偏光镜检查各向异性材料在这组水晶的图片中，很明显可以看到1和3中的包裹体是旋转了90度，这样转一圈刚好是4明4暗。
当材料的这两个振动方向的任一个与来自第一个偏振滤光片的平面偏振光的振动方向平行时，偏振光将穿过材料并被第二个(上)偏振滤光片吸收。
在这个转动位置上，材料看上去是暗的。
当你环绕视线转动材料时，它的两个振动方向每经过90。
就与下偏振滤光片的偏振方向对齐一次。
所以，转动一圈可看到4次消光现象。
偏光镜法在宝石鉴别中的作用分析
偏光镜法在宝石鉴别中的作用分析偏光镜法是宝石学中常用的一种检测方法，它利用偏光镜来检测物质对光的旋转性和双折射性，从而判断宝石的性质和真伪。
本文旨在探讨偏光镜法在宝石鉴别中的作用。
一、偏光镜法的原理偏光镜是由两个偏振器组成的光学仪器。
第一个偏振器是用来过滤自然光的，只允许偏振光通过；第二个偏振器则用来检测样品所产生的偏振光的旋转方向和双折射现象。
通过旋转第二个偏振器可以观察到样品对偏振光的不同反应，从而判断宝石的性质和真伪。
1. 判断矿物和宝石的双折射现象在偏光镜下观察矿物和宝石样品，可以发现有些样品会产生双折射现象，即光线在通过这些样品时会分成两股光线，并且方向会有所偏移。
这种现象与样品的化学成分、晶体结构和形成过程等有关。
比如石榴石、方解石、蓝宝石等宝石都具有明显的双折射现象。
2. 判断宝石的光学方向和形状晶体的光学性质与其晶体结构和形状有着密切的关系。
通过偏光镜的旋转和调节，可以发现宝石的光学方向和形状，从而判断其种类和等级。
比如，钻石的光学方向和形状都很独特，可以通过偏光镜法来判别真伪和等级。
3. 判断宝石的色彩和色调偏光镜法可以帮助判断宝石的色彩和色调，从而确定其品质和价值。
不同宝石的色彩和色调具有独特特征，通过偏光镜的观察和比较可以更加准确地鉴别宝石的真伪和等级。
比如翡翠的色彩和色调变化很大，需要通过偏光镜法来判断其真伪和品质。
4. 判断宝石的包裹物和裂纹宝石中常常存在各种包裹物和裂纹，它们对宝石的品质和价值有着重要影响。
通过偏光镜的观察和分析，可以确定宝石中的包裹物和裂纹的类型、分布和数量，从而判断宝石的品质和价值。
比如红宝石中常常存在纹路和气泡等包裹物，需要通过偏光镜法来确认其位置和种类。
偏光镜法虽然在宝石鉴别中有着重要作用，但也存在一些局限性。
比如，偏光镜法只适用于透明或半透明的宝石，对于不透明的宝石无法有效检测；同时，对于单晶的宝石，由于晶体结构和光学性质的不均匀性，偏光镜法也可能存在一定的误判风险。
十二矿物的光学显微镜鉴定
电气石的兰色
角闪石的绿色和淡黄色
多色性
• 多色性是指矿片的颜色随振动方向不同而发生 改变的现象
• 均质体矿物只有1种颜色，而且颜色深浅无变化
• 非均质体矿物的颜色和颜色深浅是随方向而变 化的。
• 颜色的变化与折射率有关
电气石的蓝色 No=深蓝
电气石的浅紫色 Ne=浅紫色
单击开始播放影片或单击停止 电气石多色性
透光材料，由于相邻晶粒 对光的折射率不同，对光的吸 收性不同，而表现出衬度差别， 显示出不同晶粒的形貌。
1.1 晶 体 的 形 态
• 根据晶体的发育完好程度将晶 体分为三级：
• 自 形 晶：黑云母、四钛酸钡、 磷灰石
• 半自形晶：角闪石 • 他 形 晶：石 英
黑云母自形晶
石英它形晶
角闪石半自形晶
两者折射率值相差愈大，矿
物的边缘愈粗，糙面愈明显，因
而使矿物显得突起很高，否则相
反。
• 所以矿物的突起高低，实际 上是矿物边缘与糙面的综合反映。
• 树胶的折射率等于1.54，折射率大 于树胶的矿物属正突起；折射率小于树 胶的矿物属负突起。
• 区别矿物突起的正负必须借助于贝 克线。当矿物与树胶接触时，提升镜筒， 贝克线向矿物内移动时属于正突起；贝 克线向树胶移动属于负突起。
1.6.3 矿物的突起
•
在薄片中，各种不同的矿物表面好
像高低不相同，某些矿物显得表面高一些，
某些矿物则显得低平一些，这种现象称为
突起。
•
矿物的突起现象仅仅是人们视力的
一种感觉，在同一薄片中，各个矿物表面
实际上是在同一平面上。所以会产生高低
的感觉，主要是由于矿物折射率与树胶的
折射率不同所引起的。
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1.传播速度与物质折射率关系说法正确的是（ A.传播速度越大，折射率越小）2.光的振动方向与传播方向（ B.垂直）3.不属于光性均质体的是（C.锆石）。
4.方解石为一轴负晶，问斜交C轴的切片上，慢光的振动方向是 D.No ）。
5.同种矿物的不同颗粒，测定的光性符号（ D.一定相同）。
6.二轴晶的光轴面是（ C.Ng-Np面）。
7.单斜晶系的光性方位是（ B.b轴与光率体3个主轴之一重合，其余两个结晶轴与另两个主轴斜交）。
8.正交偏光镜间干涉结果相互削减（ A A.R=nλ）。
9.矿物突起说法正确的是（A.无论是正突起还是负突起，矿物表面都是突起来的）。
10.光率体椭圆半径与解理缝或双晶缝之间的夹角称为（B.消光角 B ）。
11.某矿物Ng-Np=0.018，Ng-Nm=0.008.则该矿物为（ C C.二轴负晶）。
12.两矿片在正交偏光镜下45°的干涉色（ D.不一定都低）。
13某颗粒在正交偏光镜下为全消光，则该矿物颗粒（ D.是均质体矿物或非均质体矿物垂直光轴切面）。
14.花岗岩显示干涉色为（ C C.I级暗灰）。
15.在正交偏光下矿物呈现高级白干涉色的原因是（ B B.双折率高）。
16.在试板孔中插入云母试板，转动物台一周的过程中，可观测到下列哪种情况（ A.二次黄、二次蓝、四次灰白）17.某一轴负晶矿物No=1.658，Ne=1.485，该矿物在垂直光轴和平行光轴切面上的突起类型分别为（ A.正中突起和闪突起）。
18.云母试板适用于（ B B.II级黄以上）干涉色的鉴定。
19.矿物的多色性在下列哪种切面上最不明显（C.垂直光轴切面 C ）。
20.二轴晶光率体平行光轴面切片的干涉图特征是（ D.闪图或瞬变干涉图）。
21.二轴晶除了⊥Bxa、⊥Bxo、⊥OA的切片外，能观察到Nm的切面有（ D. 有无数个） 22.刚玉为一轴负晶，问斜交C轴的切片上，慢光的振动方向是（ A A.No） 23.刚玉为一轴负晶，问斜交C轴的切片上，快光的振动方向是（ D D.Ne' ） 24.将石英颗粒置于N=1.70的浸油中，该矿物的突起是（ B B.负高突起） 25.两矿片在正交偏光镜下45°位置重叠时，其光率体椭圆半径的同名半径平行时，看到的干涉色比原来两矿片的干涉色（ B.一定都高）26.判断矿物为均质体，只根据 B.任何切面都无干涉图）27.在一个双折射的矿物晶体中，沿光轴方向传播的光是（ D.单折射的）。
28.光率体主轴与3个结晶轴之间的关系称为（D.光性方位D ）。
29.花岗岩中长石颗粒显示干涉色为（D.I级暗灰）。
30.垂直光轴切面在正交偏光下插入石膏（A.I级紫红A ）31.在普通角闪石平行（010）切面上测得角闪石的消光角应记为（A.Ng∧Z ）。
32.石膏试板适用于（ C C.II级黄以下）干涉色的鉴定。
33.自然光转变为偏振光的作用过程中不包括（ C.透射C ）34.光性非均质体不包括（ A A.尖晶石）35.对双折射产生的两束偏光描述不正确的是（ B ）A.振动方向垂直B.振动方向平行C.传播速度不同D.相应折射率不等36.晶体中不发生双折射的特殊方向称为（ D ）。
A.光学主轴B.光率体主轴C.法线D.光轴37.电气石晶体中有（ A ）根光轴。
A.1B.2C.3D.无数38.橄榄石晶体中有（ B ）根光轴。
A.1B.2C.3D.无数39.萤石晶体中有（ D ）根光轴。
A.1B.2C.3D.无数40.光波沿石英垂直光轴方向射入分解出的两束偏光中，（ A ）传播速度较大。
A.常光B.非常光C.偏光D.单色光41.光波沿电气石垂直光轴方向入射分解出的两束偏光中，（ B ）传播速度较大。
A.常光B.非常光C.偏光D.单色光42.光波沿石英垂直光轴方向射入分解出的两束偏光中，（ B ）折射率较大。
A.常光B.非常光C.偏光D.单色光43.光波沿电气石垂直光轴方向入射分解出的两束偏光中，（ A ）折射率较大。
A.常光B.非常光C.偏光D.单色光44.均质体光率体形状为（ A ）A.球体B.旋转椭球体C.三轴不等椭球体D.纺锤体45.一轴晶光率体形状为（ B ）A.球体B.旋转椭球体C.三轴不等椭球体D.纺锤体46.二轴晶光率体形状为（ C ）A.球体B.旋转椭球体C.三轴不等椭球体D.纺锤体47.一轴晶光率体不同切面中，扁率最大的切面是（ B ）A.⊥光轴切面B.∥光轴切面C.斜交光轴切面D.无法判断48.二轴晶光率体不同切面中，扁率最大的切面是（ B ）A.⊥光轴切面B.∥光轴面切面C.斜交光轴切面D.⊥Bxa切面49.一轴晶光率体不同切面中，双折率最大的切面是（ B ）A.⊥光轴切面B.∥光轴切面C.斜交光轴切面D.无法判断50.二轴晶光率体不同切面中，双折率最大的切面是（ B ）A.⊥光轴切面B.∥光轴切面C.斜交光轴切面D.无法判断51.一轴晶光率体不同切面中，双折率最小的切面是（ A ）A.⊥光轴切面B.∥光轴切面C.斜交光轴切面D.无法判断52.二轴晶光率体光学主轴中，最长轴是（ A ）A.Ng轴B.Nm轴C.Np轴D.无法判断53.二轴晶光率体光学主轴中，最短轴是（ C ）A.Ng轴B.Nm轴C.Np轴D.无法判断54.二轴晶光率体垂直光轴面的半任意切面中，必有一个半径是（ B ）A.NgB.NmC.NpD.No55.二轴晶主轴面不包括（ D ）A.NgNp面B.NmNp面C.NgNm面D.Ng’Np’面56.二轴正晶光轴角锐角平分线为（ A ）A.NgB.NmC.NpD.No57.二轴负晶光轴角钝角平分线为（ A ）A.NgB.NmC.NpD.No58.矿物在矿片中解理缝的可见程度受（ D ）控制A.矿片厚度B.矿物双折率C.光程差D.解理缝可见临界角59.关于光性方位说法错误的是（ C ）A.指光率体主轴和结晶轴的关系B.指光率体在晶体中的位置C.指正负光性在晶体中的表现形式D.具体指光率体主轴和晶体a、b、c轴重合或斜交的关系60.矿片对白光中各单色光波的不等量吸收称为（ A ）。
A.选择性吸收B.双折射C.混合-互补D.色散61.单偏光镜下转动物台时，许多有色非均质体矿片的颜色发生变化，这种由于光波在晶体中的振动方向不同而使矿片颜色发生改变的现象称为（ B ）。
A.吸收性B.多色性C.偏振性D.发光性62.在单偏光镜下转动物台时，许多有色非均质体矿片的颜色深浅发生变化，这种由于光波在晶体中的振动方向不同而使矿片颜色深浅发生改变的现象称为（ A ）。
A.吸收性B.多色性C.偏振性D.发光性63.白光照明下，贝克线的灵敏度为（ A ）。
A.0.001B.0.0005C.0.01D.0.00564.常用物镜不包括（ B ）。
A.4×B.8×C.25×D.40×65.偏光显微镜调节和校正的步骤不包括（ D ）A.装卸镜头B.调节焦距C.校正中心D.检查镜臂66.聚光镜的作用是把下偏光透出的平行偏光高度会聚成（ C ）形偏光。
A.圆B.柱C.锥D.放射67.偏光显微镜载物台圆周边缘有360°刻度，并附有游标尺，可以直接读出载物台旋转角度，最小到（ B ）A.度B.分C.秒D.无法判断68.下列矿物在单偏光下常具有闪突起的是（ C ）。
A.角闪石B.电气石C.白云母D.橄榄石69.下列矿物在单偏光下具有正高突起的是（ A ）。
A.橄榄石B.石英C.榍石D.磷灰石70.消光类型不包括（ B ）。
A.平行消光B.四次消光C.斜消光D.对称消光71.下列矿物在正交偏光下一定表现为全消光的是（ C ）A.橄榄石B.石英C.萤石D.磷灰石72.下列矿物在正交偏光下有可能表现为全消光，也有可能表现为四次消光的是（ D ）A.萤石B.石榴石C.尖晶石D.橄榄石73.下列宝玉石在正交偏光下表现为不消光的是（ B ）A.橄榄石B.玛瑙C.石英D.电气石74.白光通过正交偏光镜间的矿片后，经干涉作用形成的颜色称为（ C ）。
A.颜色B.互补色C.干涉色D.单色75.下列矿物平行光轴切片有可能表现出高级白干涉色的是（ A ）。
A.方解石B.角闪石C.石英D.橄榄石76.干涉色色谱表中的要素不包括（ D ）。
A.干涉色级序B.光程差C.矿物双折率D.异常干涉色77.异常干涉色不包括（ D ）A.柏林蓝B.墨水蓝C.锈褐色D.I级灰78.两个非均质体（除垂直光轴以外的）任意方向的切片，在正交偏光镜间45°位置重叠时，光波通过这两个矿片后，光程差的增减法则，称为（ C ）。
A.混合-互补法则B.布拉维法则C.补色法则D.干涉法则79.石膏试板在正交偏光镜间45°位置时呈现（ C ）干涉色。
A.I级灰B.I级黄C.I级紫红D.II级蓝80.如果矿片干涉色为I级黄，加入石膏试板后，异名半径平行时，干涉色变为（ A ）。
A.I级灰B.II级黄C.I级紫红D.II级蓝81.如果矿片干涉色为I级黄，加入石膏试板后，同名半径平行时，干涉色变为（ B ）。
A.I级灰B.II级黄C.I级紫红D.II级蓝82.云母试板在正交偏光镜间45°位置时呈现（ A ）干涉色。
A.I级灰白B.I级黄C.I级紫红D.II级蓝83.如果矿片干涉色为I级紫红，加入云母试板后，异名半径平行时，干涉色变为（ B ）。
A.I级灰B.I级橙黄C.I级紫红D.II级蓝84.石膏试板适用于（ B ）以下干涉色的矿片。
A.III级蓝B.II级黄C.II级紫红D.II级蓝85.两个光性非均质体不垂直于光轴的切片上下重叠时，若光率体椭圆切面的异名半径互相平行且光程差相等时，则总光程差为0，视域出现黑暗的现象称为（ D ）。
A.消光B.全消光C.全消色D.消色86.斜消光时，矿物光率体椭圆半径与解理缝或双晶缝或晶体边棱之间的夹角称为（ B ）。
A.解理缝可见临界角B.消光角C.光轴角D.光孔角87.长条状矿物切片，其延长方向与光率体椭圆长半径Ng或Ng’之间的夹角关系称为（ C ）。
A.光性B.轴性C.延性D.延展性88.锥光镜下所观察到的现象是锥形偏光束中，各个不同方向的入射偏光通过矿片后，到达上偏光所产生的消光和干涉效应总和。
他们构成特殊的图像，称为（ C ）。
A.闪图B.瞬变干涉图C.干涉图D.消光图89.锥光下出现黑十字干涉图的切面类型为（ A ）。
A.一轴晶⊥光轴切面B.二轴晶⊥光轴切面C.一轴晶斜交光轴切面（倾角较大）D.无法确定90.可出现瞬变干涉图的切面类型为（ A ）。
A.一轴晶∥光轴切面B.二轴晶⊥光轴切面C.一轴晶斜交光轴切面（倾角较大）D.无法确定91.偏光显微镜下矿片的标准厚度为（ B ）mm。