偏光显微镜使用
奥林巴斯偏光显微镜安全操作及保养规程
奥林巴斯偏光显微镜安全操作及保养规程一、前言奥林巴斯偏光显微镜是应用于各种材料科学领域的重要仪器之一。
为保证用户的安全和设备的正常运行，需要严格遵守安全操作规程以及进行定期的设备维护和保养。
本文旨在针对奥林巴斯偏光显微镜的安全操作和保养规程进行明确和详细的阐述，以提高使用者的操作技能和设备的使用寿命。
二、安全操作规程1. 前置准备工作•在进行操作前，应确保操作台面干净整洁，其上无杂物和污渍；•确认试样已经制备完毕，并确保放置在操作台面上稳固无松动；•操作者应穿戴好实验室安全装备，如实验室大衣、手套等，避免接触强酸碱以及与试样接触时的伤害。
2. 开机前准备•确认电线正确连接到用电源，并确认电源开关处于关闭状态；•将电源插头插入设备电源插座；•确认偏光片处于安装状态，而不是拆卸状态；•确认光学元件处于正确的位置；•去除显微镜工作平台上的任何杂物和模版等，以免发生意外。
3. 开机操作•按下电源开关，将设备接通电源；•电源指示灯亮起，表明设备已经开启；•等待几分钟，让设备进行预热和自检；•开始设备调试和观测。
4. 关机操作•调整镜头位置，以便下一次观察；•将偏光片置于拆卸状态，以便下次使用；•按下电源开关，将设备断开电源；•将电源线从电源插座拔出；•清理操作台面以及设备表面。
5. 注意事项•在进行显微镜观察时，应保持设备平衡和稳定，避免观察角度变化过大；•避免强光照射到显微镜物镜和偏光片上，以免影响观察效果；•遵守操作手册中关于设备保护和维护的规定；•当设备出现故障时，应及时联系专业技术人员进行维护和修理，避免自行拆卸和修理。
三、保养与维护1. 日常保养•定期清理设备表面和操作台面，特别注意光学元件的保护；•使用避免使用超过设备规定最大功率的光源；•定期更换滤光片和偏光片。
2. 定期保养•定期维修和调整光学元件；•定期检查设备电源插头和电线连接状态；•定期清理润滑各部件，并添加润滑剂；•定期更换损坏的配件或元件；•定期校准设备。
偏光显微镜操作规程
偏光显微镜操作规程偏光显微镜是一种用于观察和分析材料结构的仪器，它通过利用偏振光的性质来提供更多的信息。
下面是关于偏光显微镜的操作规程，以确保显微镜的正确使用和保养。
1. 准备工作- 将显微镜放置在平稳的工作台上，并保持显微镜水平。
- 通过调整镜筒的高度，使样本能够在镜下放置。
- 检查显微镜的电源是否连接，并确保所有按钮和旋钮处于关闭状态。
2. 加载样本- 将待观察的样本放置在载玻片上，并用夹片固定好。
- 轻轻将载玻片插入到样品夹上，并确保样品夹的位置正确。
3. 调整光源- 打开显微镜的光源，并调节亮度以适应观察需要。
- 选择适当的滤光片以调整光源的颜色和强度。
4. 调节倍率和焦距- 选择适当的物镜放置在物镜转盘上，并选择合适的倍率。
- 通过调节镜筒的高度，使样本处于焦点位置。
5. 使用偏光器- 打开偏光器，并调整偏光器的角度，以获得最佳的偏振光效果。
- 观察样本时，可以适当旋转样品夹，以改变样品的方向和角度。
6. 调节偏振条纹- 通过调节偏振片，以及在旋转偏光器和样品夹的同时观察样品，来调整偏振条纹的清晰度和对比度。
- 确保偏振条纹明亮清晰，并尽可能减少偏光效果对观察的干扰。
7. 调整相差显微镜（可选）- 如果使用了相差显微镜附件，需进行额外的调整。
调整相差装置和几何调节装置，以获得最佳的相差效果。
8. 修改和记录观察- 使用显微镜上的调节按钮和旋钮，可以改变观察的亮度、对比度和聚焦。
- 在观察时，可以通过使用显微镜配套的相机或图像捕捉设备，记录观察结果。
9. 完成观察- 观察完毕后，将样本从样品夹上取下，并小心放回原位或妥善处置。
- 关闭显微镜和光源，并拔掉电源插头。
10. 清理与维护- 使用干净的镜头纸小心擦拭物镜和目镜，确保没有指纹或灰尘。
- 定期检查显微镜的镜头和部件，以确保其完好无损。
- 当不使用显微镜时，应使用防尘罩覆盖，并妥善保存在干燥、无尘的环境中。
以上是偏光显微镜的操作规程，这些步骤能够帮助您正确地使用和保养偏光显微镜，以提供准确和可靠的观察结果。
偏光显微镜操作说明
Nikon E600偏光显微镜使用说明
1. 打开总开关及电脑，然后打开偏光显微镜电源（位移显微镜底盘的右侧方）
2. 拨动调光旋钮（底盘左侧前方），调节光度。
（一般调至最大值）
3. 先把载物台调至最低位置，选择合适倍数的目镜轻轻插入镜简上端（物镜一
般选用中、低倍镜），侧方位顺时针旋转紧后，然后把目镜移至最中间。
防目镜镜头撞上载物台）
4. 把标本轻轻放在载物台中间。
5•将CCD 连接到电脑主机上，方便更清楚地观察图片。
6. 调节焦距。
首先是粗调，通过两侧的粗动手轮实现。
先缓慢地往上调动，调
至开始出现模糊的图像时，再进行微调至清晰的图像。
微调也是位于粗动轴 的两侧末端。
7. 点击CCD 上的“capre ”按钮，图像立即保存到电脑里。
8. 当更换目镜时，先把载物台旋至最低处，移动目镜到侧方为将其逆时针旋转
取出。
再将所用的目镜按以上方法装进使用。
9. 测完后先关掉CCD ，再关偏光显微镜。
然后将目镜取出归放原处。
10. 最后拷贝数据，关电脑，再关总电源。
注意事项： 1. 在使用和调节时，要细心缓慢进行，切勿用力过猛。
2. 每次更换目镜时，先把载物台调至最低处，以防撞击。
3. 在测试过程中，因为有事载时离开时，先关掉 CCD 和偏光纤维镜电源。
4. 每次测完后要记得把目镜装入盒子里归放原处，并且登记。
（以。
偏光显微镜使用方法
偏光显微镜使用方法
一、偏光显微镜简介
偏光显微镜是一种用于分析荧光显微图像的专业显微镜，它利用极化光学原理，可以将被观察模式中的荧光光线变成同向的极化光线。
通过使用偏振光，被观察物的显微结构可以清楚化和精细化。
由于其具有特定的极化特性，偏光显微镜可用于研究蛋白质、脂肪和其他化合物结构，也可以用于研究荧光显微图像的细胞特性和定位。
二、偏光显微镜的构造
偏光显微镜主要由可调节的偏振片、可极化的反射罩罩、反光片和定向及镜片组成。
其中，可调节的偏振片可以控制偏振光的方向和幅度，可极化的反射罩罩可以调节偏振光的极化角度，反光片可以减少被观察的样本反映的热效应，定向和镜片可以反射和放大被观察的样品图像。
三、使用偏光显微镜的步骤
1.安装和调节
首先，使用者应检查偏光显微镜是否安装正确，然后设置反射罩罩的极化角度。
接下来，使用者应调节偏振片的方向和幅度，使偏振光可以正确地被被观察样品所吸收和反射。
2.校准
在使用偏光显微镜时，需要将反射罩罩和反光片校准到正确的大小，以确保所有的光线能够准确地被被观察物接收。
3.清晰度调整。
偏光显微镜的使用方法
偏光显微镜的使用方法1.准备工作：-将偏光显微镜放置在平稳的台面上，并确保显微镜平稳无动摇。
-将光源对准显微镜，并将其插入到底座上。
-确保镜片干净，无尘或污垢。
2.安装样品：-使用样品持有器将准备好的样品安装在显微镜的舞台上。
确保样品与镜片接触紧密并固定。
3.调节光源：-打开光源，并调节亮度以获得适当的照明。
-移动光源直到要被观察的样品处于适当的位置。
4.调节目镜：-调节目镜（顶部镜筒）以获取清晰的样品图像。
根据需要使用聚焦轮使图像变清晰。
5.选择合适的偏光滤光片：-通过滤光片选定适当的光源，可在显微镜的滤光片位置旋转选择（一般为四个位置）。
6.添加偏光片：-在显微镜下方的滑动排架上插入偏光片。
-根据需要调整偏光片的方向和角度，以改变光源的振动方向。
7.观察在样本上方插入偏光片的效果：-使用上面的旋钮和可调节的偏光片调整偏光的强弱和方向。
-观察样品下偏光光源产生的图像。
8.使用附件（如旋转台）：-如有需要，可以使用一些附件来进一步研究样品。
-例如，旋转台可以用于观察样品在不同方向上的光学性质。
9.记录和分析结果：-使用显微镜的内置或外部照相机拍摄图像。
-记录和分析结果以便进一步研究。
10.清理和保养：-在观察完毕后，关闭光源并将显微镜清理干净。
-使用干燥的布轻轻擦拭镜片，以确保不留下污渍或污垢。
-如果有必要，可以使用适当的清洁液来清洁镜片。
总结：使用偏光显微镜需要一定的经验和技巧，并且需要特殊的滤光片和偏光片。
了解如何正确地操作偏光显微镜可以使您更好地观察样品，并获得准确的结果。
记住，定期的清理和保养是保证偏光显微镜长期的使用和维持高质量成像的关键。
偏光显微镜在岩矿鉴定工作中的使用技巧和方法
偏光显微镜在岩矿鉴定工作中的使用技巧和方法
偏光显微镜是一种常用的显微镜，它可以用来鉴定和研究岩石结构和化学组成，为内部构造及其成因分析提供重要信息。
偏光显微镜的使用技巧和方法有很多，主要有以下几点：
1、准备显微镜和样品：准备好偏光显微镜，确保偏光显微镜的物镜清晰可见，然后从样品中搜集样本。
2、静态显微镜观察：将样品放在偏光显微镜上，通过改变照射光的方向和颜色，进行静态观察。
判断岩石的晶体形状，晶形，晶界宽度和光反射吸收等。
3、钻孔显微镜观察：首先根据样品自身特性钻取小孔，再将磨碎的岩石粉末取出，在偏光显微镜下观察。
以此可以获取到晶间空隙的尺寸变化，晶粒的内部构造和晶粒的组合多样性等信息。
4、化学分析：对岩石样品进行水解或用其它方法提取里面的晶体，使用电子显微镜或X射线物相聚焦技术，确定岩石中物质含量和元素成分，区分各种晶体材料。
5、透射电子显微镜观察：通过将偏光显微镜结合电子显微镜技术，可以清晰地观测到岩石中微小元素的表面结构，有利于更准确地鉴定岩石结构。
总之，偏光显微镜是一种重要的矿物鉴定显微镜，它能够发挥重要作用，帮助我们准确鉴定岩石的结构，物质含量和元素成份，帮助我们更准确地探讨岩石的组成成分及其成因，从而为我们更多的实际应用提供支撑。
偏光显微镜的使用规范
偏光显微镜的使用规范
偏光显微镜是精密而贵重的光学仪器，又是教学和科研工作中必不可少的常用工具，如有损坏，将直接影响教学和科研工作，因此应该注意保养、爱护，使用时应当自觉遵守使用操作规程。
偏光显微镜的使用规范：
1）使用前应进行检查。
2）显微镜要对座固定使用，不利随意改换和搬动显微镜。
搬动和放置显微镜时，动作要轻，严防震动，以免损坏光学系统。
移动显微镜时，必须手握镜臂，并托住镜座。
3）显微镜所有镜头均经校验，不得自行拆开。
镜头必须保持清洁，如有尘土，需用笔刷或镜头纸轻轻地将灰尘清除，切勿用手或其他物品拭擦，以防损坏镜头。
4）显微镜镜头及其他附件，需置原附件盒中，并放在固定位置，严防坠地，附件用毕放回原处。
5）切勿随便自行拆卸显微镜，或将附件调换使用。
6）薄片置于物台上时，薄片盖玻片必须向上，并用弹簧夹夹住薄片。
7）用高倍物镜准焦时，需眼睛旁观，切忌眼睛在目镜中观察，以免造成薄片压碎，损坏物镜。
8）更换物镜时，一定要用手握物镜转盘转动，切忌用手直接握住物镜转动，以免物镜转动。
9）使用上偏光镜及勃氏镜时，切忌猛力推送，以免震坏。
10）仪器损坏或调节失灵时，切勿强力扭动。
11）显微镜使用完毕，需将上偏光镜及勃氏镜推入，转动粗动手轮将物镜提起，镜筒上要留一目镜，关闭电源，并罩上仪器罩。
偏光显微镜法测双折射率 原理
偏光显微镜法测双折射率原理
偏光显微镜法是一种常用的测量物质双折射率的方法。
它的原理是利用偏光镜的特性，通过观察物质在不同偏光方向下的光线偏转情况，来得到物质的双折射率。
具体来说，偏光显微镜法需要使用一台偏光显微镜和一些样品。
将样品放置在显微镜的观察平台上，并在样品上方放置一个偏光镜。
偏光镜可以调整其偏光方向，以使其与样品的主轴方向垂直或平行。
当偏光镜的偏光方向与样品主轴方向垂直时，观察到的是样品的快轴和慢轴两个方向的光线，它们经过样品后会发生不同程度的偏转。
此时，样品的双折射率可以通过计算快轴和慢轴的折射率差来得到。
当偏光镜的偏光方向与样品主轴方向平行时，观察到的是样品沿主轴方向的光线。
此时，样品的双折射率等于0，因为光线不会发生偏转。
通过偏光显微镜法可以快速、准确地测量物质的双折射率，并可用于研究材料的光学性质、晶体结构等方面。
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火山岩岩矿鉴定简易手册（一）偏光显微镜的使用与调节1 熟悉偏光显微镜的构造、装置、使用和维护保养方法2 调节照明（对光）（1）装上低倍或中倍物镜，打开锁光圈，轻轻推出上偏光镜、勃氏镜及聚光镜（2）转动反光镜至视域最亮为止。
如果总是对不亮，可以轻轻抽出目镜或推入勃氏镜，然后转动反光镜至视域内看到光源为止。
此时加上目镜或推出勃氏镜，视域必然最亮。
3 调节焦距（准焦）（1）将一薄片置于载物台上（注意必须使盖玻璃朝上），用弹簧夹夹住。
（2）从侧旁看物镜镜头，转动粗动螺丝，使镜筒下降，至物镜到最低位置（注意切勿压碎薄片）。
（3）从目镜中观察，同时转动粗动螺丝，使镜筒上升，当视域中刚刚出现物象时，改用微动螺丝，使物象清晰为止。
（4）换用高倍物镜，用同法调节焦距。
在调节焦距时，绝不能眼睛看着目镜下降镜筒，因为这样很容易压碎薄片并损坏物镜。
在调节高倍物镜焦躁时，尤应注意。
因为高倍物镜的焦躁很短，镜头几乎与薄片接触，若薄片盖玻璃朝下时，不但无法准焦，而且常有压碎薄片，割伤镜头的事故发生。
4 校正中心在校正中心前，必须检查接物镜位置是否正确，如物镜没有安装在正确位置上，中心不但不能校正，而且往往容易损坏物镜和校正螺丝。
校正中心时，如发现螺丝旋转费力，或失效时，应立即报告，请求指导，切勿强力扭动。
校正中心的方法，参阅教材的有关部分。
二颜色和多色性的观察，解理及解理夹角的测量1 确定下偏光镜的振动方向观察许多光学现象，必须知道下偏光镜的振动方向。
为此，在进行单偏光镜下的晶体光性研究之前，必须确定下偏光镜振动方向，并使之固定，不要轻易改变。
（1）在一薄片中选择一个具清晰解理的黑云母，置视域中心。
（2）旋转物台使黑云母解理缝与东西十字丝平行。
此时如果云母颜色最深，则东西十字丝方向即为下偏光镜振动方向。
否则，则需转动下偏光镜，至黑云母颜色最深为止。
2 颜色、多色性及吸收性的观察（1）使薄片中黑云母分别置视域中心，旋转物台使黑云母解理缝、电气石延长方向平行下偏光镜振动方向，观察颜色并注意颜色浓度。
（2）再旋转物台90度使解理缝或延长方向与下偏光镜振动方向垂直，观察颜色，并注意深浅变化。
（3）使黑云母解理或电气石延长方向与下偏光镜振动方向斜交，观察矿物颜色及其浓度，此时颜色及颜色浓度介于上述两种情况之间。
（4）将不具解理的黑云母，近于三角形的电气石切面置视域中心，旋转物台，观察颜色、浓度的变化。
（5）使角闪石具一组解理，两组解理的切片，分别置视域中心，旋转物台，观察颜色浓度的变化。
3 解理的观察及解理夹角的测量（1）观察薄片中云母、普通角闪石、斜长石、磷灰石的解理完善程度，并观察角闪石、黑云母在不同方向切面中解理的可见性、组数。
（2）测角闪石、透辉石的解理夹角。
A 选择合适的切片，即两组解理缝细密而清晰，升降镜筒时解理缝不左右移动。
B 使一组解理与十字丝之一平行，记下载物台刻度，记作A。
C 旋转物台，使另一组解理与同一十字丝平行。
再记下载物台的刻度，如b。
两次读数之差（a。
－b。
）即为所测夹角。
三突起等级及折光率高低的比较1 矿物边缘、糙面及突起等级的观察A 观察石英、云母、石榴石、透辉石、及萤石中矿物的边缘轮廓特征、糙面，确定突起等级和突起正负。
B 观察白云石的闪突起。
2 用贝克线、色散效应法比较矿物折光率的高低A 用贝克线法确定透辉石、石英的突起正负、相对高低，并确定突起等级。
B 确定萤石的突起正负。
C 观察石英、钾长石的色散效应，折光率相对高低和突起正负，并用贝克线法加以验证。
注意：（1）色散效应只适用于无色透明矿物或介质，且当两者折光率相差很小的情况。
（2）观察色散效应时，必须选择二介质接触无杂质处。
（3）将所观察两矿物接触部位置视域中心，并适当缩小光圈即可四单偏光镜下晶体光学性质的系统观察进一步熟悉掌握单偏光镜下观察的主要内容：晶形、解理及解理夹角的测量、颜色及多色性、吸收性、突起、糙面边缘、贝克线及色散效应。
逐个观察橄榄石、辉石、黑云母、斜长石，系统记录它们在单偏光镜下的光性特征，并绘图表示之。
五消光、干涉、干涉色的观察及干涉色级序和干涉色升降判断1 正交偏光镜下观察的准备(1) 检查上、下偏光镜振动方向是否垂直。
A 装上中倍或低倍物镜，调节照明使视域最亮。
B 推入上偏光镜，观察视域中黑暗程度如何。
如果不够黑暗，说明上、下偏光镜振动方向不正交，需转动上、下偏光镜至视域最暗为止（注意下偏光镜已调整至与东西十字丝平行，不宜再动。
上偏光镜偏光片可转动调节，并使二者正交）。
(2)检查目镜十字丝是否与上、下偏光镜振动方向一致由于已使下偏光镜振动方向与东西十字丝平行，并使上、下偏光镜振动方向正交，南北十字丝应与上偏光镜振动方向平行，否则十字丝不正交，应予维修。
A 在薄片中找一个具有清晰解理的黑云母，置视域中心。
旋转物台使解理缝与南北十字丝平行（黑云母解理缝平行东西十字丝时吸收性最强，不易观察）此时最亮。
B 推入上偏光镜，如果黑云母变至最暗，说明上、下偏光镜振动方向已正交。
C 推入上偏光镜后，如果黑云母未达到最暗，说明十字丝与上下偏光镜振动方向不平行，此时应旋转物台使黑云母最暗，然后再转动目镜使十字丝与黑云母解理平行。
2 消光与干涉现象的观察A 观察萤石或石榴石的全消光现象。
B 观察非均质矿物任意方向切片（除垂直光轴外）的四次消光、四次明亮现象。
将非均质矿物任意方向切片置视域中心，推入上偏光镜，旋转物台360度，有四次黑暗，四次明亮现象。
但每次黑暗并非骤然变暗，而是由亮逐渐变暗直到消光，此时即为消光位。
由消光位转45度时最亮，所见干涉色最鲜艳和最亮。
3 准确消光位的确定非均质矿物的任意方向的切片，消光时的位置是消光位。
此时无光通过上偏光镜而视线呈现黑暗。
如何准确确定是否达到消光位至关重要，其方法如下：A 置矿物切片于视域中心。
B 旋转物台使之消光，即达最暗位置。
C 插入石膏板，如果矿片呈现石膏一级红干涉色，即达消光位，否则要稍转物台，至矿片是一级红方可。
4 干涉色的观察(1)分别观察云母试板（R＝1/4λ）、石膏试板（R＝1λ）的干涉色。
(2)观察石英楔的干涉色级序。
A 装好正交偏光镜。
B 从试板孔缓缓插入石英楔（从薄到厚），从镜中可以看到视域中一至三级干涉色连续出现。
其次序与干涉色色谱表的相同，有的甚至可看到四级干涉色。
观察时注意多级干涉色的特征。
(3)观察白云石的高级白干涉色。
高级白干涉色往往是混合的灰白色，并带珍珠色彩，但要确定为高级白干涉色应作如下操作。
A 置白云石于视域中心，推入上偏光镜。
B 旋转物台使其消光，再转物台45度观察干涉色特征。
C 插入云母板或石膏板，干涉色无明显变化，此即为高级白，否则为一级白。
(4)观察绿泥石，绿帘石的异常干涉色。
5 判断干涉色级序(1)直观法和色圈法根据各级的特征，多次观察对比，积累经验，可以直接观察、判断干涉色的级序。
一级以上干涉色的矿片，其边缘往往可见到细圈干涉色色圈，红圈圈数加1，即为矿片本身的干涉色级序。
用直观法判断石英和白云石的最高干涉色；用色圈法判断橄榄石的最高干涉色。
(2)借助试板判断干涉色级序1)用石膏板和云母板判断，其步骤如下：A 将该切片转至消光位。
B 由消光位转物台45度，至干涉色最亮。
C 插入试板观察干涉色变化。
D 向相反方向转物台90度（即由消光位转45度），观察干涉色特征。
如用石膏板时出现黄或灰，用云母板时出现橙红或灰白，则该黄为一级黄。
2)用石英楔判断干涉色级序A 在薄片中选干涉色最高的切片置视域中心，旋转物台使之消光，再转物台4 5度，观察切片的干涉色。
B 从试板孔缓缓插入石英楔，如果干涉色逐渐降低，直到矿物切片呈现黑暗或出现黑带为止（如果干涉色逐渐升高，旋转物台90度，再插入石英楔）。
C 缓缓抽出石英楔，干涉色由低逐渐升高，注意有几次红色出现，红色数加1即为该片干涉色级序。
6 判断干涉色级序升降干涉色的升高与降低，是以色谱表的顺序为标准确定的，干涉色向色谱表右方移动是升高，向左方移动是降低。
(1)借助石膏板判断干涉色升降石膏板R＝575毫米，呈一级红干涉色，通常用于判断一级干涉色的升降，它升降一个级序。
A 将石英切片置视域中心，旋转物台使之消光，再转45度，呈一级灰白干涉色。
B 插入石膏板，观察干涉色的变化（注意此时判断干涉色升降应以石膏板的干涉色为准）。
若由一级红变为二级兰，则干涉色升高；若由一级红变为一级灰白或一级黄（对矿物来说升高了），则干涉色降低。
(2)借助云母板判断透辉石干涉色的升降。
云母板R＝147毫微米，呈一级灰白干涉色，使用它可使干涉色升降一个色序，其使用方法与石膏板相同，通常用于一级以上干涉色升降的判断。
(3)借助石英楔判断透辉石干涉色的升降。
A 将具较高干涉色的透辉石切片（有干涉色圈者）置视域中心。
旋转物台使之消光，再转45度观察干涉色。
B 向试板孔缓缓插入石英楔，观察干涉色的连续变化。
C 按色谱表顺序确定干涉色升降。
D 一般应根据干涉色圈的移动情况来判断，当插入石英楔时，色圈向外移动是升高，向内移动是降低。
六双折率的测量和光率体轴名的测定1 双折射率的测量1)测薄片厚度由公式R＝d（N1－N2）知双折射率（N1－N2）＝R∕d，可见由薄片厚度（d）和光程差（R）即可求出双折射率。
岩石薄片应磨制0.027mm厚，但一般达不到要求。
为精确测量双折射率应首先测量薄片厚度，方法是：A 在薄片中找已知矿物具最高干涉色的切片，得N1－N2；B 确定干涉色级序，得光程差；C 由公式N1－N2＝R∕d，得d。
已知石英的最大双折射差Ne－No＝0.009，根据薄片中石英的最高干涉色求出薄片的厚度。
2)测双折射率双折射率是非均质矿物的重要光学常数。
但只有最大双折射率才具鉴定意义。
所以测矿物双折率必须在平行光轴（一轴晶）和平行光轴面（二轴晶）切面上进行。
定向切面应通过锥光观察寻找，一般只需找具最高干涉色切面即可。
A 用石英楔测橄榄石的双折射率。
B 找最高干涉色切面，确定其干涉色级序；C 假定薄片厚度为0.027mm；D 查干涉色色谱表，得双折射率。
2 光率体轴位置和名称的确定用试板确定透辉石不同方向切面（具一组解理的切片和具两组解理的切片）光率体轴位置和名称。
(1)将选定切片置视域中心，转物台使之消光，此时十字丝方向即为光率体轴的位置。
(2)由消光位转45度（顺时针、逆时针方向均可）。
(3)插入试板，观察干涉色升降。
由光程差迭加原理，判断光率体轴名称。
七消光类型、消光角及延长符号的测定1 观察磷灰石、角闪石、电气石、白云母不同方向切面的消光类型。
2 测量磷灰石、电气石、白云母的延长符号。
A 将欲测矿物切片置视域中央，转动物台使之消光。
B 由消光位转物台45度，呈最亮干涉色。
C 插入试板，根据干涉色升降确定光率体轴名称。