材料研究分析方法1
材料分析方法1
材料分析方法第一章X射线1、X射线的性质（考过该题）答:1、肉眼不可见，能使空气电离，能感光，能穿透物体；2、呈直线传播，在电场和磁场中不发生偏转，穿过物体时部分被散射;3、对动物和有机体能产生巨大、生理影响，能杀伤生物细胞。
4、具有波粒二象性：• he he = nv =2、X射线的产生（重点）答：产生：由于高速运动的电子轰击物质后，与该物质中的原子相互作用发生能量转移，损失的能量通过两种形式释放出x射线。
一种形式是高能电子击出原子的内层电子产生一个空位，当外层电子跃入空位时，损失的能量以表征该原子特征的x射线释放。
另一形式则是高速电子受到原子核的强电场作用被减速，损失的能量以波长连续变化的x射线形式出现。
因此产生x射线的基本条件是：①产生带电粒子；②带电粒子作定向高速运动；③在带电粒子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。
连续X射线一一带电粒子加速或减速运动时发生电磁场剧变，产生大量的电磁波具有连续的各种波长，形成连续X射线。
特征X射线一一当X射线管两端电压增高到与阳极靶材相应的某一特定值UK时，在连续谱某些特定波长位置上，会出现一系列强度很高、波长范围很窄、能表征阳极靶材的特征的线状光谱。
3、X射线谱的性质：（图P8）重点答：1）当提高管电压U时（i、Z不变），各波长X射线的强度一致提高，短波限入SWL和强度最大值对应的入m减小；2）当保持管电压一定，提高管电流I,各波长X射线强度一致提高，但入SWL和入m不变；3）在相同的管电压和管电流下，阳极靶材的原子叙述 Z 越高，连续谱的轻度越大，但 入SWL和入m 相同。
特征谱线的波长不受管电压、管电流的影响，只取决于阳极靶材元素原子序数。
4、X 射线与物质的相互作用（理解）图2.2 X 射线的产生及其物质的相互作用5、X 射线的应用:应用领域 可据快的信息冶金学 元素的定性，合金的成分设计材料的环境腐蚀---------------------- 1-1—I —I —1~~I —,----------------------日元素的定性，腐蚀产物的化学（就化）恋，腐憾it 程中表面成体内（探度葡折）的化学成分及 状杰的变化摩擦学精润刑的效应，表面保护除层的研究薄膜（多层膜）及粘合 薄膜的成分、化学眺志及厚度凰量，薄膜间的元素互妙敝,膜廛结合的细节，帖接时的化学 曳化催化科学 中间产物饷星定,活性物质的纸化鑫。
eshelby方法(一)
eshelby方法(一)eshelby1. 背景介绍eshelby是一种用于分析材料中的界面效应的方法。
它由费城大学的John D. Eshelby在20世纪50年代提出，并被广泛应用于材料科学研究领域。
eshelby方法是一种数学工具，通过分析材料中的一些基本力学问题，可以得到材料中各个点的位移、应变和应力。
2. 研究方法eshelby方法可以通过以下几种方式进行研究：数学推导eshelby方法的核心是通过数学推导来解决一些弹性力学问题。
通过建立适当的边界条件和约束条件，可以得到材料中各个点的应变场和应力场。
这种数学推导需要一定的数学基础和弹性力学知识。
数值模拟除了数学推导，还可以使用数值模拟的方法来研究eshelby问题。
数值模拟可以通过离散化材料的形状和力学性质，利用有限元或其他数值方法求解材料中各个点的位移、应变和应力。
这种方法可以得到更加精确的结果，但是计算量较大，需要使用计算机进行计算。
为了验证eshelby方法的正确性，人们还可以通过实验来进行验证。
例如，可以通过构造一些模型材料，并在实验室中进行材料力学性能的测试，与理论计算结果进行对比。
实验验证可以帮助人们更好地理解和应用eshelby方法。
3. 应用领域eshelby方法在材料科学研究领域有广泛的应用，主要应用于以下几个方面：材料界面分析eshelby方法可以用来分析材料中的界面效应。
材料界面是指不同组成或结构的材料之间的界面。
通过eshelby方法，可以研究材料界面对材料性能的影响，从而指导材料的设计和制备。
应力集中分析eshelby方法还可以用来分析材料中的应力集中现象。
应力集中是指材料中某个局部区域的应力远远高于周围区域的现象。
通过eshelby方法，可以计算出材料中应力集中区域的应力分布，并提供相应的解决方案。
材料缺陷研究eshelby方法还可以用来研究材料中的缺陷。
材料缺陷是指材料中存在的一些不完美或损伤，如裂纹、夹杂等。
材料研究分析方法(研究生)-XRD1.
X射线衍射分析
§1、X射线衍射基本原理
一、X射线衍射方向
衍射现象 Bragg衍 射条件 d q q
相位集中时 发生干涉相互增强
布拉格方程
2d sinθ = nλ
2d sinθ = nλ
d hkl 2( ) sin q n
（nh,nk,nl）的晶面与（hkl）面平行且面间距为
d hkl n
比较宽。这样，会引起相应散射峰的展宽及相邻
散射峰的叠加。因此，需要在光源与样品之间以 及样品与探测器之间放置相应的光学元件来实现 入射X射线束的准直和单色化。常用的准直器有 狭缝、准直镜、分析晶体等，在X射线范围内实
现单色化的常用光学元件主要是晶体单色器和多
层膜单色器等光学元件
（1）狭缝
在光源与样品之间放置一狭缝（图2），则入射光束的发 散角决定于光源尺寸S、狭缝宽度L以及光源与狭缝间 距离R，即有
由式（3）的简单关系得到的X射线能量分辨率，在远大 于晶体X射线衍射摇摆曲线本征宽度（Darwin宽度）D 条件下成立。若与D相当，则能量分辨率需通过考虑入 射线角分布与晶体X射线衍射摇摆曲线的卷积来得到， D为入射线衍射动力学理论完美晶体X射线衍射摇摆曲线 半高宽，满足以下关系：
D 2C Fh
Ï à ¹ Ø Ð Å Ï ¢ ¶ ¨Ð Ô · Ö Î ö E ¾ §Ì å ½ á ¹ Î ¢ ¾ §³ ß ´ ç ½ á ¾ §µ Ä Í ê Õ û Ð Ô £ ¨Ô × Ó /¾ §¸ ñ µ Ä Å Á Ð £ © ½ á ¾ §Ð Ô E Ô × Ó µ Ä È Õ ð ¶ ¯ ¾ §Ì å · ½ Î » µ Ä Æ « À ë £ ¨Ö ¯ ¹ E È ¡ Ï ò £ © ² Ð Ó à Ó ¦ Á ¦ ² â Ê Ô ½ á ¾ §¶ È » ¯ Ê ¸ ¾ ¶ · Ö ² ¼ º ¯ Ê ý (· Ç ¾ §Ö Ê µ Ä ½ á ¹ ½ â Î ö ) Ö Ü Æ Ú ½ á ¹ µ Ä ² ã µ þ Ö Ü Æ Ú ¡ Ï È ò Ð Ô ê Õ Í û Ð Ô Á £ ¾ ¶ ½ â Î ö ¡ ±Ä ¤µ Ä Ã Ü ¶ È E Ä ¤º ñ E ´ Ö ² Ú ¶ È
材料分析方法作业一
作业1、电子波有何特征？与可见光有何异同？答：·电子波特征：电子波属于物质波。
电子波的波长取决于电子运动的速度和质量，=h mv若电子速度较低，则它的质量和静止质量相似；若电子速度具有极高，则必须经过相对论校正。
·电子波和光波异同：不同：不能通过玻璃透镜会聚成像。
但是轴对称的非均匀电场和磁场则可以让电子束折射，从而产生电子束的会聚与发散，达到成像的目的。
电子波的波长较短，其波长取决于电子运动的速度和质量，电子波的波长要比可见光小5个数量级。
另外，可见光为电磁波。
相同：电子波与可见光都具有波粒二象性。
补充：光学显微镜的分辨本领取决于照明光源的波长。
2、分析电磁透镜对电子波的聚焦原理，说明电磁透镜的结构对聚焦能力的影响。
聚焦原理：电子在磁场中运动，当电子运动方向与磁感应强度方向不平行时，将产生一个与运动方向垂直的力（洛仑兹力）使电子运动方向发生偏转。
在一个电磁线圈中，当电子沿线圈轴线运动时，电子运动方向与磁感应强度方向一致，电子不受力，以直线运动通过线圈；当电子运动偏离轴线时，电子受磁场力的作用，运动方向发生偏转，最后会聚在轴线上的一点。
电子运动的轨迹是一个圆锥螺旋曲线。
右图短线圈磁场中的电子运动显示了电磁透镜聚焦成像的基本原理：结构的影响：1）增加极靴后的磁线圈内的磁场强度可以有效地集中在狭缝周围几毫米的范围内；2）电磁透镜中为了增强磁感应强度，通常将线圈置于一个由软磁材料（纯铁或低碳钢）制成的具有内环形间隙的壳子里，此时线圈的磁力线都集中在壳内，磁感应强度得以加强。
狭缝的间隙越小，磁场强度越强，对电子的折射能力越大。
3）改变激磁电流可以方便地改变电磁透镜的焦距3、电磁透镜的像差是怎样产生的，如何消除和减少像差？像差有几何像差（球差、像散等）和色差球差是由于电磁透镜的中心区域和边沿区域对电子的会聚能力不同而造成的；为了减少由于球差的存在而引起的散焦斑，可以通过减小球差系数和缩小成像时的孔径半角来实现像散是由透镜磁场的非旋转对称而引起的；透镜磁场不对称，可能是由于极靴内孔不圆、上下极靴的轴线错位、制作极靴的材料材质不均匀以及极靴孔周围局部污染等原因导致的。
材料分析方法(cyh1)
二.采用此方法的缘由
1）每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体 结构。不会存在两种结晶物质，它们的晶胞大小、质 点种类和质点在晶胞中排列方式完全一致。 2）结晶物质有自己独特的衍射花样。（d、θ 和 I）; 3）多种结晶状的物质混合或共生时，它们的衍射花 样也只是简单叠加，互不干扰，相互独立。（混合物 物相分析）
λ —波长；
Filter—滤波片； Dia.—相机直径；
Cut off—相机或测角仪能测得的最大面间距；
Coll—光阑尺寸； I/I1—衍射强度的测量方法；
dcorr. abs.?—所测值是否经过吸收校正；
Ref—参考资料即所列资源的出处
(4)晶体学数据：
Sys.—晶系； S.G—空间群； a0、b0、c0（晶格常数），α 、β 、γ （晶轴夹角）—晶胞参数； A= a0/b0 ，C= c0 / b0 （轴率比）； Z—晶胞中原子或分子的数目； Ref—参考资料。
(7)物相的化学式和名称。 在化学式之后常有一 个数字和大写英文字母的组合说明。数字表示单 胞中的原子数； 英文字母表示布拉菲点阵类型：
C-简单立方； B-体心立方；F-面心立方；T-简单 正方； U-体心正方； R-简单菱方；H-简单六方；O-简 单斜方； Q-底心斜方； S-面心斜方；M-简单单斜；N底心单斜； Z-简单三斜。
第五章
物相分析及点阵参数精确测定
专业：材料加工工程 学号：2013030050 姓名：程耀华(CYH)
第一节 定性分析 引言
测定样品的元素组成有：化学分析，光谱分析，电子 探针分析等等方法。
但X射线物相分析却可以鉴别样品的物相。（物相：包 括纯元素，化合物和固溶体）
当样品是单纯的元素或者是其混合物组成时，X射线物 相分析指出的是元素，因为此时元素就是物相； 当元素相互组成化合物或固溶体时，测出的是化合物或 固溶体,而非它们的组成元素。
材料现代分析方法(1)
材料现代分析方法重点（彭美勋部分）名词解释部分1，石墨单色器与分光晶体石墨单色器：利用衍射方法过滤杂色X射线的晶体单色器，比较滤波片更有效的消除x射线背底。
2，明场像与暗场像明场像：在电子显微镜中，用透过样品的非散射电子以及在物镜孔径角区域内的散射电子的电子束对样品所形成的像暗场像：在电子显微镜中，仅利用透过样品的散射电子束对样品所形成的像。
3，质厚衬度与衍射衬度以及原子序数衬度质量衬度：由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异而形成的衍射衬度：由样品各衍射束强度差异形成的衬度。
影响因素主要是晶体取向和结构振幅原子序数衬度：由于试样表面物质原子序数或化学成分差别而引起的衬度4，wds与edsWds：波谱仪Eds：能谱仪能谱仪的优点有：分析速度快，灵敏度高，谱线重复性好。
缺点有：能量分辨率低，峰背比低。
工作条件要求严格。
波谱仪的优点有：波长分辨率很高。
5，二次电子与背散射电子二次电子成：在单电子激发过程中被入射电子轰击出来的核外电子背散射电子成：被固体样品原子反射回来的一部分入射电子5.1，二次电子像与背散射电子像答：二次电子象：是表面形貌衬度，它是利用对样品表面形貌变化敏感的物理信号作为调节信号得到的一种象衬度背散射电子像：背散射电子像的形成，就是因为样品表面上平均原子序数Z大的部位而形成较亮的区域，产生较强的背散射电子信号；而平均原子序数较低的部位则产生较少的背散射电子，在荧光屏上或照片上就是较暗的区域，这样就形成原子序数衬度。
6，物相定性分析与物相定量分析物相定性分析：鉴定试样中各种组成的构成，包括的元素、根或官能团等的分析。
物相定量分析：测定试样中各种组分(如元素、根或官能团等)含量的操作。
6.1，单晶衍射和多晶衍射单晶衍射：每一个斑点对应一个衍射面多晶衍射：每一个圆环是一系列等间距的衍射面问答部分7，扫描电子显微镜与透射电子显微镜异同答：相同之处：都是电真空设备，使用绝大部分部件原理相同，例如电子枪，磁透镜，各种控制原理，消象散，合轴等等。
材料分析方法-1-4
一、 粉末照相法
7、衍射花样的测量和计算
原则：主要通过测量底片上衍射线条的相对位置计算θ 角，
确定各衍射线条的相对强度。
一、 粉末照相法
一、 粉末照相法
一、 粉末照相法
一般可将底片置于内有照明光源的底片测量 箱毛玻璃上，通过游标卡尺测量获得线对之 间的距离2L，且精度要达0.02-0.1mm。若需 精确测量时，则使用精密比长仪。
二、 X射线衍射仪
测角仪要求与Ｘ射线管的线焦斑连接使用，线焦斑的长边与 测角仪中心轴平行。 梭拉光阑由一组互相平行、间隔很密的重金属(Ta或Mo)薄片 组成，代表性尺寸为：长32mm，薄片厚0.05mm，薄片间距0.43mm。 安装时，要使薄片与测角仪平面平形。
二、 X射线衍射仪
（二）X射线探测器的工作原理 探测器是基于X射线能使原子电离的特性而制造的，原子可 以为气体(如正比计数器、盖革计数器)，也可以为固体(如闪烁计
一、 粉末照相法
（二）德拜法及德拜相机 德拜法：用单色X射线照射试样，圆环状底片与样品同轴安装 于圆筒相机內，试样位于圆筒中心样架上，获得衍射花样弧对。
一、 粉末照相法
一、 粉末照相法
（三）实验方法 1、底片的安装
一、 粉末照相法
2、试样的制备 试样的要求：试样必须具有代表性；其次试样粉末尺寸大小要适中，第三 是试样粉末不能存在应力。 1）脆性试样 ——打碎—研磨—过250-320目筛（10-3-10-5cm) — 制成 φ0.5×10 mm的圆柱试样。 2）韧性试样——锉削或碾磨—真空退火—制样 3）试样中微量相的分析——电解萃取—清洗—真空干燥—制样 4）试样制备的方法 a、在很细的 玻璃丝涂一层粘结剂，然后在粉末中滚动制成圆柱试样。 b、将粉末填充到硼酸锂玻璃、醋酸纤维、石英制成的毛细管中制成试样。 c、将用酒精调好的粉末填充到金属毛细管中、用铁丝推出一段作试样。 d、 金属丝、棒可直接作试样。
材料研究方法 第1章 绪论
按设备的分辨率划分 宏观结构 显微结构 亚微观结构 微观结构
以人眼的分辨率为界 以光学显微镜的分辨率为界
以扫描电子显微镜的分辨率为界
材料结构层次划分及所用设备
结构层次 宏观结构 显微结构 亚微观结构 物体尺寸 > 100 m 0.2-100 m 10-200 nm 研究对象 观测设备
材料研究方法
主讲人：于美燕
课程性质
本课程是一门实验方法课。
光学显微分析、 X 射线衍射分析、电子显 微分析、热分析、光谱分析、核磁共振分 析和质谱分析是现代材料研究的常用方法， 是材料工作者的眼睛，对材料进行宏观上 的性能测试和微观上的成分、结构、组织 的表征。
教学目的
Why：了解研究材料结构、性能的重要性 What：掌握材料结构、性能的测试方法 How：了解影响材料测试、分析结果的仪 器因素
料、信息、能源誉为现代文明的三大支柱，
同时把信息技术、生物技术和新型材料作为
新技术革命的重要标志。
材料科学的任务
使用、研究和制造材料
材料是人类文明的物质基础，每一种新 材料的出现和使用，都伴随着生产力和科学 技术的发展，标志着人类文明的进步。
石器时代
青铜器时代
铁器时代
蒸汽机时代
材料的种类
按化学状态分：金属材料、无机非金属材料、 有机高分子材料、复合材料等。 按使用用途分：建筑材料、包装材料、信息材 料、生物医用材料等。
课程要求
掌握基本原理
了解常用的实验方法，能设计具体课题的 检测方案，并制备样品
能分析各种照片和图谱，看懂文献中的相 关内容
主要参考书
本课程以王培铭等主编的《材料研究方法》为基 本教材，其它可参考下列教材：
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原材料 Row Materials
重要性:材料性能与其结构及其随时间的变化有关
材料科学二要素关系示意图
微观结构
宏观性能 抗压强度
重要性:材料性能与其结构及其随时间的变化有关
材料科学三要素关系示意图
合成与工艺制备
组成与结构
性能
滚压7.5min
滚压15min 滚压20min
PVC/EVAc接枝共聚物
所谓结构，是指材料系统内各组成单元之间的相互联 系和相互作用方式。
材料的结构从存在形式来讲，无非是晶体结构、非晶 体结构、孔结构及它们不同形式且错综复杂的组合或复 合。
从尺度上讲，又分为微观结构、亚微观结构、显 微结构和宏观结构等四个不同的层次。
材料结构的层次（按照观察用具或设备的分辨能力来划分）
广义：包括 技术路线 实验技术 数据分析
狭义：某一种测试方法，如： X射线衍射方法 电子显微术 红外光谱分析 核磁共振分析等
实验数据获取和 分析
二、材料结构和研究方法的分类
材料的组成和结构的测试方法有多种，应根据不同
的应用场合选择。其中显微术的选择又与材料的结构及 层次有关。
1、材料结构及其层次
水泥浆体
显微结构
骨料 宏观结构
内容: 研究材料的(亚)显微结构: 物相的种类、大小、形状和分
化学组成
晶体结构 形状
水泥混凝土
水泥浆体
骨料 宏观结构
内容: 研究材料的(亚)显微结构: 物相的种类、大小、形状和分
化学组成
晶体结构 形状
水泥混凝土
水泥浆体
骨料 宏观结构
内容: 研究材料的(亚)显微结构: 物相的种类、大小、形状和分
“形貌”是指组成相的形状、大小和分布。
2、研究方法的种类
（1）非图像分析法 衍射法： 中子衍射法 电子衍射法 X射线衍射法
（2）图像分析法： 显微术： 原子力显微术 扫描隧道显微术 场离子显微术等。
光学显微分析
热分析 偏光显微镜
差示扫描量热分析 差热分析
热机械分析 热重分析
UV
FTIR
Raman
宏观
成分 热效应 结构 形貌
材料测试研究平台
内容:
建筑结构
水泥浆体显微结构
聚氯乙烯分子结构
内容: 研究材料的(亚)显微结构: 物相的种类、大小、形状和分布
化学组成 晶体结构
形状
水泥浆体显微结构
聚氯乙烯分子结构
内容: 研究材料的(亚)显微结构: 物相的种类、大小、形状和分
化学组成
晶体结构 形状
水泥混凝土
韧性
重要性:材料性能与其结构及其随时间的变化有关
材料科学四要素关系示意图
使用效能
组成与结构
性能 合成与工艺制备
重要性:材料性能与其结构及其随时间的变化有关
➢ 探明关系 ➢ 指导工艺
（制备或生产）
➢ 开发材料
➢ 优化材料
材料科学五要素关系示意图
使用效能
组成与结构
性能
合成与工艺制备
环境协调性
材料研究方法定义
宏观
成分 热效应 结构 形貌
材料测试研究平台
流变仪 冻融循环仪 人工气候箱 声发射测定仪 红外热像仪 万能实验机
宏观
材料测试研究平台
X射线荧光光谱仪 X射线光电子能谱仪 等离子体真空扫描电镜 环境扫描电镜 透射电镜
综合热分析 多通道量热计
成分 热效应 结构 形貌
• NMR
扫描电镜 电子探针
X射线衍射分析
透射电镜
X射线荧光光谱仪
流变仪 冻融循环仪 人工气候箱 声发射测定仪 红外热像仪 万能实验机
红外/紫外光谱 凝胶渗透色谱仪 X射线衍射仪
激光粒度分析仪 压汞仪 比表面分析仪
综合热分析 多通道量热计
原子力显微镜 数字图像分析仪 低真空扫描电镜 环境扫描电镜 透射电镜
材料测试研究平台
X射线荧光光谱仪 X射线光电子能谱仪 等离子体发射光谱
流变仪 冻融循环仪 人工气候箱 声发射测定仪 红外热像仪 万能实验机
红外/紫外光谱 凝胶渗透色谱仪 X射线衍射仪
激光粒度分析仪
压汞仪
比表面分析仪
核磁共振
综合热激分光析拉曼光谱仪 多通道量热计
原子力显微镜 数字图像分析仪 低真空扫描电镜 环境扫描电镜 透射电镜
物相的光学性质
偏光显微镜 反光显微镜 干涉显微镜
亚显 微结 构
微观 结构
10200nm
< 10 nm
微晶集团 晶格点阵
界面形貌 晶体构造的位错缺陷
晶格点阵
扫描电镜 电子显微镜
扫描隧道电镜 场离子显微镜 高分辨电镜
材料结构的类型：
• 聚集态结构 气、液、固。固态中有晶态和非晶态。 物相结构：混合物、晶态、非晶态 显微结构：取向 空间位置分布：多组分、多相材料的均匀性
材料测试技术 （材料研究方法）
祁景玉编著 X射线结构分析 同济大学出版社 2003
马礼敦 编著 近代X射线多晶体衍射—实验技 术与数
据处理 化学工业出版社 2004
第一讲 绪论
一、材料研究的意义和内容
材料科学的主要任务是研究材料
研究的内容：组成
结构 性能
材料设计
材料的性能决定于： 组成 结构
宏观结构 显微结构 亚微观结构
肉眼的分辨率 光学显微镜的分辨率
微观结构
普通扫描电子显微镜 的分辨率
材料结构的层次
结构 层次
宏观 结构
物体 尺寸
> 100 m
研究对象
大晶粒、 颗粒集团
举例
断面结构、外观缺陷、 裂纹、空洞
研究方法
肉眼、放大镜、 实体显微镜
显微 结构
0.2100m
晶粒 多相集团
物相的形状、光学性质 大小、取向分布和结构
• 分子与晶体结构 基团结构 分子结构：相对分子量、相对分子质量分布、 支化度、交联度 晶体结构 构型与构象
• 电子结构
结构测定
“构造”是用来描述构成材料的组成矿物在空间分 布排列关系；
“织构”则是指组成矿物在空间做定向排列，使物 质具有特种性能的一类特殊的显微结构；
“细微结构”是矿物晶体颗粒自身的各项结构特征；
材料的组成结构又取决于： 材料的制备工艺 材料的使用条件
制备工艺对材料结构性能的影响 举例：
金属：浇铸、轧制 无机材料：水泥浆体的养护。 聚合物：PU橡胶、纤维、塑料、涂料等
重要性:材料性能与其结构及其随时间的变化有关
结构 Structure
性能 Property
复合材料
工艺 Technology
材料测试研究平台
流变仪 冻融循环仪 人工气候箱 声发射测定仪 红外热像仪 万能实验机
红外/紫外光谱 凝胶渗透色谱仪 X射线衍射仪
激光粒度分析仪
压汞仪
比表面分析仪
核磁共振
综合热激分光析拉曼光谱仪 多通道量热计
原子力显微镜 数字图像分析仪 低真空扫描电镜 环境扫描电镜 透射电镜
宏观
成分 热效应 结构 形貌