五种高精度ADC中杂散问题分析及应对方法
ADC发泡剂产品中含杂质原因分析及改进措施
第3期2021年3月中国氣碱China Chlor-AlkaliNo.3Mar.,202111 ADC发泡剂产品中含杂质原因分析及改进措施曹绍良(江西世龙实业股份有限公司，江西乐平333311)摘要：介绍了 ADC发泡剂产品中杂质产生的原因，采取切实有效的措施进行改进，优化ADC发泡 剂生产操作控制，进一步稳定提高产品质量。
关键词：ADC发泡剂；杂质；过滤；产品质量中图分类号:TQ225.26+8 文献标识码：B文章编号：1009-1785(2021 )03-0011-03Cause analysis and improvement measures of impurities in ADCfoaming agent productsCA0Shao-liang(Jiangxi Selon Industrial Co.,Ltd.,Leping333311,China)Abstract：This paper introduces the causes of impurities in ADC foaming agent products,and makes technical improvement,optimizes the production operation control,and improves the product quality.Key words：ADC foaming agent;impurity;filter;product qualityADC发泡剂是江西世龙实业股份有限公司的 主导产品，2017年，该公司成立ADC发泡剂产品质 量攻关小组，对ADC发泡剂产品中的杂质及生产过 程、生产工序进行全面分析，提出了具体改进措施，通过分析改进，层层落实到位,ADC发泡剂产品质 量得到稳定提升。
1杂疏种类分析杂质在ADC发泡剂产品中体现为黑点、黄点、白点等。
经过认真总结分析，生产过程中可能混人的 杂质归类为以下几种情况。
adc芯片,之间有串扰
adc芯片,之间有串扰ADC芯片是模拟信号转换为数字信号的关键组件，广泛应用于各种电子设备中。
然而，在ADC芯片的应用中，我们常常会遇到一个问题，那就是串扰。
本文将探讨ADC芯片之间的串扰现象及其影响，并提出一些解决方案。
我们来了解一下什么是ADC芯片之间的串扰。
串扰是指在多个ADC 芯片共享同一个电源或地线时，由于电源或地线的干扰，信号在ADC芯片之间相互干扰的现象。
这种干扰可能会导致信号失真、噪声增加以及采样精度下降等问题，影响系统的性能和稳定性。
那么，为什么会出现ADC芯片之间的串扰呢？主要有以下几个原因：电源线和地线的电磁辐射是串扰的主要来源之一。
当多个ADC芯片共享同一个电源或地线时，其中一个芯片的电流变化会通过电源或地线传播到其他芯片中，导致信号相互干扰。
ADC芯片本身的设计和布局也会影响串扰的程度。
例如，芯片之间的距离过近、布线不合理或者地线回路不良等都会增加串扰的可能性。
ADC芯片的工作频率和信号幅度也会对串扰产生影响。
当芯片的工作频率较高或者信号幅度较大时，串扰的问题更容易出现。
那么，串扰会对系统性能产生什么样的影响呢？首先，串扰会导致ADC芯片的输出信号失真。
由于信号相互干扰，原本应该是平滑连续的信号可能会出现波动或者断裂的情况，从而导致输出数据的准确性下降。
串扰还会引入额外的噪声。
由于信号相互干扰，本来应该是纯净的信号可能会受到其他信号的干扰，从而增加了系统的噪声水平，降低了信噪比。
串扰还会降低系统的采样精度。
由于信号相互干扰，原本应该是准确的采样值可能会发生偏移或者误差，从而影响系统对信号的准确度和精度。
面对ADC芯片之间的串扰问题，我们可以采取一些解决方案来减少其影响。
首先，合理设计和布局ADC芯片的电源和地线是非常重要的。
我们可以采取分离电源和地线、增加电源和地线的接地点、减小电源和地线的长度等方法来降低串扰的可能性。
选择合适的ADC芯片也可以减少串扰的问题。
一些高性能的ADC芯片在设计时考虑了串扰的问题，采用了一些抗串扰的技术，如分离电源和地线、采用差分信号输入等，可以有效地减少串扰的影响。
adc模块实验遇到的问题及收获
adc模块实验遇到的问题及收获篇一：ADC(自动分光光度计)模块是电子测量中常用的一种传感器,可以测量物体反射的光线的亮度和颜色等信息。
在实验中,ADC模块可能会遇到一些问题,下面是一些常见的问题和解决方法:1. 采样不足:当光线强度较低或者物体表面反射的光线较少时,ADC模块可能会采样不足,导致测量结果不准确。
解决方法是增加采样频率或者增加采样位数。
2. 测量误差:由于 ADC 模块本身的限制,如精度、分辨率等,可能会导致测量误差。
解决方法是选择合适的 ADC 模块、优化电路设计、提高信号传输距离等。
3. 接口不匹配:不同品牌、型号的 ADC 模块可能有不同的接口,如 USB、RS-232 等。
实验中需要确保接口匹配,否则可能会导致数据传输错误。
4. 电源电压不稳定:ADC 模块需要一定的电源电压,如果电源电压不稳定,可能会导致 ADC 模块无法正常工作。
解决方法是使用稳定的电源、设置稳压器等。
在实验中,通过解决这些问题,可以获得更好的实验结果。
此外,还可以学习到 ADC 模块的基本原理、应用场景、设计方法等方面的知识。
拓展:除了 ADC 模块本身的问题之外,实验中还可能会涉及到其他问题,如电路干扰、信号传输距离、信号噪声等。
这些问题都需要在实验中仔细排查和解决,以提高实验效果和准确度。
实验不仅仅是为了获得准确的测量结果,还需要学习实验设计、实验操作、数据处理等方面的知识和技能。
通过实验,可以加深对理论知识的理解和应用,提高实践能力和创新能力。
篇二：ADC(数字到模拟转换器)模块是电子电路中常用的一种模块,用于将数字信号转换为模拟信号。
在进行ADC模块实验时,可能会遇到一些问题,但通过解决这些问题,可以获得一些收获。
在实验过程中,可能会遇到以下问题:1. 输入信号过大或过小:ADC模块的输入信号范围通常有一定的限制,如果输入信号过大或过小,可能会导致模块无法正常工作。
因此,在实验前需要确保输入信号符合ADC模块的输入范围。
adc原理及应用出现的问题
ADC原理及应用出现的问题1. ADC原理简介ADC（Analog-to-Digital Converter）即模拟到数字转换器，是一种能将连续的模拟信号转换为相应的离散数字码的电子设备。
ADC广泛应用于各种领域，包括通信、电子测量、自动控制等。
2. ADC的分类根据不同的转换方式，ADC可以分为几种不同的类型：•逐次逼近型ADC：逐次逼近型ADC通过不断逼近来获取输入模拟信号的数字量，并输出对应的数字码。
•并行型ADC：并行型ADC同时将输入的模拟信号转换为多个并行输出的数字码。
•逐次逼近型ADC：逐次逼近型ADC通过逼近法逐步获取输入模拟信号的数字量，逐渐逼近最终结果。
3. ADC应用中可能出现的问题在ADC的应用过程中，常常会遇到一些问题，以下列举一些常见的问题及解决方法：3.1 量化误差量化误差是指模拟信号与对应数字码之间的差异。
量化误差由于ADC的分辨率有限和量化阶数引起。
当分辨率较低时，量化误差会更大。
解决方法包括提高分辨率、使用更高精度的ADC等。
3.2 噪声干扰特别是在低信噪比场景下，ADC输入信号中会受到噪声干扰。
噪声会引入ADC 中，导致输出数字码的不准确性。
解决方法包括降低噪声对信号的干扰、增加信号的信噪比等。
3.3 采样速率不足采样速率不足会导致输入模拟信号无法完整地被采样，进而导致输出结果的失真。
解决方法包括增加采样频率、使用更高速的ADC等。
3.4 温度漂移ADC的性能会受到温度变化的影响，可能导致输出结果的偏差。
解决方法包括使用温度补偿技术、选择温度稳定性较好的器件等。
3.5 输入阻抗问题ADC的输入阻抗可能对输入信号产生不良影响，例如降低信号电平、改变信号频率响应等。
解决方法包括选择合适的输入电路、减小电路中的冗余电流等。
4. 小结ADC作为模拟信号转数字码的重要组成部分，在各个领域都有着广泛的应用。
然而，在实际应用过程中，我们经常会遇到一些问题，如量化误差、噪声干扰、采样速率不足等。
五种高精度ADC中杂散问题分析及应对方法
五种⾼精度ADC中杂散问题分析及应对⽅法五种⾼精度ADC中杂散问题分析及应对⽅法虽然⽬前的⾼分辨率SAR ADC和Σ-ΔADC可提供⾼分辨率和低噪声，但系统设计师们可能难以实现数据⼿册上的额定SNR性能。
⽽要达到最佳SFDR，也就是在系统信号链中实现⽆杂散的⼲净噪底，可能就更加困难了。
杂散信号可能源于ADC周围的不合理电路，也有可能是因恶劣⼯作环境下出现的外部⼲扰⽽导致。
针对⾼分辨率、精密ADC应⽤中的杂散问题，本⽂将介绍⼏种判断其根本原因的⽅法，并提出相应的解决⽅案。
这些技术和⽅法将有助于提⾼终端系统的EMC能⼒和可靠性。
本⽂将针对五种不同的应⽤情况阐述⽤于降低杂散的特定设计解决⽅案：1、由控制器板上的DC-DC电源辐射⽽导致的杂散问题。
2、由AC-DC适配器噪声通过外部基准源⽽导致的杂散问题。
3、由模拟输⼊电缆⽽导致的杂散问题。
4、由模拟输⼊电缆上的耦合⼲扰⽽导致的杂散问题。
5、由室内照明设备导致的杂散问题。
6、杂散与SFDR众所周知，⽆杂散动态范围（SFDR）表⽰可从⼤⼲扰信号分辨出的最⼩功率信号。
对于⽬前的⾼分辨率、精密ADC，SFDR ⼀般主要由基波频率与⽬标基波频率的第⼆或第三谐波之间的动态范围构成。
然⽽，由于系统其他⽅⾯的因素，可能会导致杂散产⽣并限制系统的性能。
这些杂散可分为输⼊频率相关杂散和固定频率杂散。
输⼊频率相关杂散与谐波或⾮线性特性有关。
本⽂将重点分析由电源、外部基准源、数字连接、外部⼲扰等造成的固定频率杂散。
根据应⽤情况，可降低或完全避免这些类型的杂散，以助于实现最佳的信号链性能。
由ADC周围DC-DC电源⽽导致的杂散问题由于DC-DC开关稳压器会产⽣较⾼的纹波噪声，通常建议将LDO作为在精密测量系统中为精密ADC⽣成低噪声电源轨的解决⽅案。
固定频率或脉宽调制开关稳压器会产⽣开关纹波，该纹波⼀般位于⼏万⾄⼏兆赫兹固定频率处。
固定频率噪声可能会通过ADC的。
高分辨率Δ-ΣADC中有关噪声的十大问题
高分辨率Δ-ΣADC中有关噪声的十大问题任何高分辨率信号链设计的基本挑战之一是确保系统本底噪声足够低，以便模数转换器(ADC)能够分辨您感兴趣的信号。
例如，如果您选择ADS1261(一个24位低噪声Δ-ΣADC)，您可在2.5 SPS下解析输入低至6 nVRMS，增益为128 V / V的信号。
但是，从系统的角度来看，您需要担心的不仅仅是ADC 噪声——毕竟所有组件(包括放大器、电压基准、时钟和电源)都会产生一些噪声——这些器件对系统噪声的累积影响是什么?更重要的是，您的系统能够解决您感兴趣的信号吗?为助您更好地理解系统噪声并将这些知识应用到您的设计中，我最近撰写了一篇名为“解决信号”的技术文章系列。
该系列探讨了典型信号链中的常见噪声源，并通过降低噪声和保持高精度测量的方法辅助理解。
以下是该系列中10个最关键的问题和答案，可帮助您开始使用精密ADC进行设计。
1.您将在ADC中发现何种类型的噪声?总ADC噪声有两个主要组成部分：量化噪声和热噪声。
量化噪声来自将无限数量的模拟电压映射到有限数量的数字代码的过程(图1左侧)。
因此，任何单个数字输出都可对应于数个模拟输入电压，这些电压可能相差一半的最低有效位(LSB)。
由于电导体内电荷的物理移动(图1右侧)，热噪声是所有电子元件中固有的现象。
不幸的是，ADC终端用户不能干涉器件的热噪声，因为它是ADC设计的一个功能。
图1：量化噪声(左)和热噪声(右)热噪声和量化噪声是否同样影响低分辨率和高分辨率ADC?阅读第1部分“Δ-ΣADC中的噪声简介了解相关信息”。
2.如何测量和指定ADC噪声?ADC制造商使用两种方法来测量ADC噪声。
第一种方法将ADC的输入短接在一起，以测量由于热噪声导致的输出代码的微小变化。
第二种方法涉及输入具有特定幅度和频率的正弦波(例如1kHz下为1 VPP)并报告ADC如何量化正弦波。
图2展示了这些类型的噪声测量。
图2：正弦波输入测试设置(左)和输入短路测试设置(右)每类ADC使用哪种测量方法?请阅读第2部分中有关噪声测量方法和规范的更多信息。
单片机adc采样问题及解决方法
一、概述随着现代科技的飞速发展，单片机作为一种常见的嵌入式系统，广泛应用于各个领域。
在很多单片机应用中，采样外部模拟信号是一个非常重要的环节，而单片机内置的ADC（模数转换器）模块则是常用的采样工具。
然而，在实际应用中，单片机ADC采样过程中可能会遇到一些问题，如采样精度不高、采样速率不稳定等。
本文将介绍单片机ADC采样问题的具体原因以及解决方法。
二、单片机ADC采样问题分析1. 采样精度低单片机内置的ADC模块通常有一定的分辨率，如8位、10位、12位等。
但是在实际应用中，由于外部环境噪声、电源波动等因素影响，可能会导致ADC的采样精度降低。
采样精度低的情况会影响系统的测量准确性，特别是对于需要高精度测量的应用来说，这是一个非常严重的问题。
2. 采样速率不稳定在一些实时采样的应用中，采样速率的稳定性非常重要。
然而，在单片机ADC采样过程中，由于中断响应不及时、数据传输处理效率低等原因可能导致采样速率不稳定，从而影响系统的实时性能。
3. ADC输入阻抗不匹配ADC模块的输入端通常需要外部连接源，而外部源的输出电阻往往与ADC的输入阻抗不匹配。
如果ADC的输入阻抗比外部源的输出阻抗低很多，会导致信号采样时发生失真，从而影响采样精度。
三、单片机ADC采样问题解决方法针对上述单片机ADC采样问题，我们可以采取以下措施进行解决：1. 提高ADC模块的供电电压为了提高ADC的采样精度，可以尝试提高ADC模块的供电电压，这样可以减小电源噪声对采样精度的影响。
当然，在提高供电电压的同时也要考虑模块的额定工作电压范围，避免损坏模块。
2. 添加滤波电路在ADC输入端添加合适的滤波电路可以滤除外部环境的噪声，提高采样信号的稳定性和准确性。
常用的滤波电路有低通滤波器、带通滤波器等，具体选择应根据实际的采样信号频率和噪声特性进行。
3. 增加采样频率控制通过在软件层面上增加采样频率控制的功能，可以提高采样速率的稳定性。
通过定时器或者中断控制实现定时采样，避免因为系统负载变化而导致采样频率不稳定的问题。
STM32F0多路ADC采样中的BUG和解决方案
STM32F0多路ADC采样中的BUG和解决方案在STM32F0系列中，多路ADC采样时可能会出现一些问题，下面是一些常见的BUG以及对应的解决方案：1.ADC转换结果误差较大：-原因：ADC的转换精度受到参考电压和时钟精度的影响，以及输入信号的干扰等。
-解决方案：-确保参考电压稳定，可以使用稳压器等电压源。
-降低输入信号的干扰，可以使用滤波电路。
-选择合适的采样率和分辨率，根据实际需求调整。
-使用校准功能对ADC进行校准，可以提高转换精度。
2.ADC采样速度不稳定：-原因：在多通道ADC采样时，切换通道可能会引入额外的时间延迟，导致采样速度不稳定。
-解决方案：-配置ADC转换模式为扫描模式，使得ADC可以按照一定的顺序进行多通道采样。
-调整通道切换速度，可以通过增加延时或者降低采样速率来解决。
3.ADC采样结果不准确或者不稳定：-原因：在多路ADC采样时，可能存在模拟输入信号的串扰或者共模干扰，导致采样结果不准确或者不稳定。
-解决方案：-选择合适的参考电压和可靠的电源地，以减少参考电压的波动或者输入信号的干扰。
-适当延长采样时间，可以通过增加采样周期来提高稳定性。
-使用信号调制技术，如差分信号采样、抗共模干扰技术等。
4.ADC采样中断丢失：-原因：在多通道ADC采样时，如果不及时处理中断，可能会导致中断丢失。
-解决方案：-配置合适的优先级分组和中断优先级，以确保ADC中断能够得到及时处理。
-在中断处理函数中尽量减少处理时间，避免长时间占用CPU。
5.ADC采样时CPU占用率过高：-原因：在ADC连续转换模式中，如果没有合适的采样间隔，可能会导致CPU占用率过高。
-解决方案：-合理配置ADC的采样频率和采样间隔，根据实际需求进行调整。
-使用DMA传输数据，减少CPU的负载，提高系统的稳定性和响应速度。
以上是一些常见的STM32F0多路ADC采样中可能出现的BUG以及对应的解决方案，根据实际情况进行调试和优化，可以提高ADC的准确性和稳定性。
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五种高精度ADC中杂散问题分析及应对方法
虽然目前的高分辨率SAR ADC和Σ-ΔADC可提供高分辨率和低噪声，但系统设计师们可能难以实现数据手册上的额定SNR性能。
而要达到最佳SFDR，也就是在系统信号链中实现无杂散的干净噪底，可能就更加困难了。
杂散信号可能源于ADC周围的不合理电路，也有可能是因恶劣工作环境下出现的外部干扰而导致。
针对高分辨率、精密ADC应用中的杂散问题，本文将介绍几种判断其根本原因的方法，并提出相应的解决方案。
这些技术和方法将有助于提高终端系统的EMC能力和可靠性。
本文将针对五种不同的应用情况阐述用于降低杂散的特定设计解决方案：
1、由控制器板上的DC-DC电源辐射而导致的杂散问题。
2、由AC-DC适配器噪声通过外部基准源而导致的杂散问题。
3、由模拟输入电缆而导致的杂散问题。
4、由模拟输入电缆上的耦合干扰而导致的杂散问题。
5、由室内照明设备导致的杂散问题。
6、杂散与SFDR
众所周知，无杂散动态范围（SFDR）表示可从大干扰信号分辨出的最小功率信号。
对于目前的高分辨率、精密ADC，SFDR一般主要由基波频率与目标基波频率的第二或第三谐波之间的动态范围构成。
然而，由于系统其他方面的因素，可能会导致杂散产生并限制系统的性能。
这些杂散可分为输入频率相关杂散和固定频率杂散。
输入频率相关杂散与谐波或非线性特性有关。
本文将重点分析由电源、外部基准源、数字连接、外部干扰等造成的固定频率杂散。
根据应用情况，可降低或完全避免这些类型的杂散，以助于实现最佳的信号链性能。
由ADC周围DC-DC电源而导致的杂散问题
由于DC-DC开关稳压器会产生较高的纹波噪声，通常建议将LDO作为在精密测量系统中为精密ADC生成低噪声电源轨的解决方案。
固定频率或脉宽调制开关稳压器会产生开关纹波，该纹波一般位于几万至几兆赫兹固定频率处。
固定频率噪声可能会通过ADC的。