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半导体器件习题及参考答案

半导体器件习题及参考答案

第二章1 一个硅p -n 扩散结在p 型一侧为线性缓变结,a=1019cm -4,n 型一侧为均匀掺杂,杂质浓度为3×1014cm -3,在零偏压下p 型一侧的耗尽层宽度为μm,求零偏压下的总耗尽层宽度、内建电势和最大电场强度。

解:)0(,22≤≤-=x x qax dxd p S εψ)0(,22n SD x x qN dx d ≤≤-=εψ 0),(2)(22≤≤--=-=E x x x x qa dx d x p p Sεψ n n SDx x x x qN dx d x ≤≤-=-=E 0),()(εψ x =0处E 连续得x n =µm x 总=x n +x p =µm⎰⎰=--=-npx x bi V dx x E dx x E V 0516.0)()(m V x qa E p S/1082.4)(252max ⨯-=-=ε,负号表示方向为n 型一侧指向p 型一侧。

2 一个理想的p-n 结,N D =1018cm -3,N A =1016cm -3,τp=τn=10-6s ,器件的面积为×10-5cm -2,计算300K 下饱和电流的理论值,±时的正向和反向电流。

解:D p =9cm 2/s ,D n =6cm 2/scm D L p p p 3103-⨯==τ,cm D L n n n 31045.2-⨯==τnp n pn p S L n qD L p qD J 0+=I S =A*J S =*10-16A 。

+时,I =µA , -时,I =*10-16A3 对于理想的硅p +-n 突变结,N D =1016cm -3,在1V 正向偏压下,求n 型中性区内存贮的少数载流子总量。

设n 型中性区的长度为1μm,空穴扩散长度为5μm。

解:P +>>n ,正向注入:0)(2202=---pn n n n L p p dx p p d ,得: )sinh()sinh()1(/00pnn pn kTqV n n n L x W L xW e p p p ---=- ⎰⨯=-=nnW x n n A dx p p qA Q 20010289.5)(4一个硅p +-n 单边突变结,N D =1015cm -3,求击穿时的耗尽层宽度,若n 区减小到5μm,计算此时击穿电压。

《电工电子技术与应用》主题9 常用半导体器件练习册答案

《电工电子技术与应用》主题9 常用半导体器件练习册答案

主题9 常用半导体器件课题1 二极管一.判断题1.×2.√3. √4.×5. √6. √7. ×8. √二.选择题1.D2.A3.B4.B5.D三.填空题1.正 负2. 单向导电性 正向导通 反向截止3. 0.3V 0.7V,4. 0 ∞5. 反向击穿现象6.锗管 硅管四.问答题用万用表的欧姆挡,对于小功率管一般选用“R ×100 Ω”挡或“R×1 k Ω”挡,测量出二极管的两次电阻值,电阻值小的那一次为二极管的正向电阻,此时黑表笔(接“-”极)所接的就是的正极。

如果两次测量的阻值都很小,说明二极管已经击穿;如果两次测量的阻值都很大,说明二极管内部已经断路。

五.分析计算题1.解:二极管因正向电阻太小,导致正向电流过大,会烧毁二极管。

mA V V I 81007.05.1=Ω-=2.解:当UI=+3V 时,V 截止,U0=+3V ;当UI=-3V 时,V 导通,U0=-0.7V ;当UI=0V 时,V 截止,U0=03.U1=U2, I1>I2 4.V1导通,V2截止,()mA V I 3020060=Ω--=。

课题2 三极管一.判断1.×2.×3.×4.√5.×6.×二.选择1.C2.C3.D4.B5.D6.C7.B8.C9.B 10.C 11.D 12.B三.填空1.薄 低 高 大 低2.基 集电 发射 b c e3.基极 集电极4.放大 饱和 截止5. 放大 饱和 截止6.增大 好7.基极 集电极 发射极 降低8.下降 β下降 击穿 损坏 9.> > < < 10.放大 截止 饱和四.问答1.不可以对调使用,因为集电区和发射区的掺杂浓度不一样。

2.上面说法不完全对,当IC>ICM 时,将引起β值下降,管子不会坏;当UCE>U(BR)CEO 时,将引起管子击穿,在短时间下管子不会坏;当PC>PCM 时,将引起管子烧坏。

(完整版)半导体及其应用练习题及答案

(完整版)半导体及其应用练习题及答案

(完整版)半导体及其应用练习题及答案题目一1. 半导体是什么?答案:半导体是介于导体和绝缘体之间的材料,在温度适当时具有导电性能。

2. 半导体的价带和导带分别是什么?答案:半导体中的价带是电子离子化合物的最高能级,而导带是能够被自由电子占据的能级。

3. 简要解释半导体中的P型和N型材料。

答案:P型半导体是通过向半导体中掺杂三价元素,如硼,来创建的,在P型材料中电子少,因此存在空穴。

N型半导体是通过向半导体中掺杂五价元素,如磷,来创建的,在N型材料中电子多,因此存在自由电子。

题目二1. 解释PN结是什么?答案:PN结是由一个P型半导体和一个N型半导体通过熔合而形成的结构,其中P型半导体中的空穴与N型半导体中的自由电子结合,形成一个边界处的耗尽区域。

2. 简要描述PN结的整流作用是什么?答案:PN结的整流作用是指在正向偏置电压下,电流可以流过PN结,而在反向偏置电压下,电流几乎不会流过PN结。

3. 什么是PN结的击穿电压?答案:PN结的击穿电压是指当反向偏置电压达到一定程度时,PN结中会发生电击穿现象,导致电流迅速增加。

题目三1. 解释场效应晶体管(MOSFET)是什么?答案:场效应晶体管是一种半导体器件,可以用于控制电流的流动,其结构包括源极、漏极和栅极。

2. 简要描述MOSFET的工作原理。

答案:MOSFET的工作原理是通过栅极电场的变化来控制其上的沟道区域导电性,从而控制漏极和源极之间的电流的流动。

3. MOSFET有哪些主要优点?答案:MOSFET的主要优点包括体积小、功耗低、响应速度快和可靠性高等。

半导体物理与器件考核试卷

半导体物理与器件考核试卷
A.氧化
B.硅化
C.硼化
D.镍化
17.在半导体工艺中,以下哪些步骤属于前道工艺?()
A.光刻
B.蚀刻
C.离子注入
D.镀膜
18.以下哪些材料常用于半导体器件的互连?()
A.铝
B.铜导线
C.镓
D.硅
19.在半导体物理中,以下哪些现象与载流子的复合有关?()
A.发射
B.复合
C.陷阱
D.所有上述现象
20.以下哪些因素会影响半导体激光器的阈值电流?()
半导体物理与器件考核试卷
考生姓名:__________答题日期:__________得分:__________判卷人:__________
一、单项选择题(本题共20小题,每小题1分,共20分,在每小题给出的四个选项中,只有一项是符合题目要求的)
1.半导体的导电性能介于导体和绝缘体之间,主要因为其()
C. Nitrogen(氮的)
D. Excess electrons(过剩电子)
5. P-N结在反向偏置时,其内部的电场强度()
A.减小
B.增大
C.消失
D.不变
6.以下哪个不是太阳能电池的工作原理?()
A.光电效应
B.热电效应
C.光生伏特效应
D.量子效应
7.在MOSFET(金属-氧化物-半导体场效应晶体管)中,MOS电容的C-V特性曲线中,积累区对应于()
18. A, B
19. D
20. D
三、填空题
1.禁带
2.电子
3.降低
4.金属-氧化物-半导体
5.温度
6.栅氧化层质量
7.紫外光
8.能级
9.玻尔兹曼分布
10.温度

半导体器件作业 有答案

半导体器件作业 有答案

1.半导体硅材料的晶格结构是(A)A 金刚石B 闪锌矿C 纤锌矿2.下列固体中,禁带宽度 Eg 最大的是( C )A金属B半导体C绝缘体3.硅单晶中的层错属于( C )A点缺陷B线缺陷C面缺陷4.施主杂质电离后向半导体提供( B ),受主杂质电离后向半导体提供( A ),本征激发后向半导体提供( A B )。

A 空穴B 电子5.砷化镓中的非平衡载流子复合主要依靠( A )A 直接复合B 间接复合C 俄歇复合6.衡量电子填充能级水平的是( B )A施主能级B费米能级C受主能级 D 缺陷能级7.载流子的迁移率是描述载流子( A )的一个物理量;载流子的扩散系数是描述载流子( B ) 的一个物理量。

A 在电场作用下的运动快慢B 在浓度梯度作用下的运动快慢8.室温下,半导体 Si中掺硼的浓度为 1014cm-3,同时掺有浓度为×1015cm-3的磷,则电子浓度约为( B ),空穴浓度为( D ),费米能级( G );将该半导体升温至 570K,则多子浓度约为( F ),少子浓度为( F ),费米能级( I )。

(已知:室温下,ni≈×1010cm-3,570K 时,ni≈2×1017cm -3)A 1014cm-3B 1015cm-3C ×1015cm-3D ×105cm-3E ×1015cm-3 F 2×1017cm-3 G 高于 Ei H 低于 Ei I 等于 Ei9.载流子的扩散运动产生( C )电流,漂移运动产生( A )电流。

A 漂移B 隧道C 扩散10. 下列器件属于多子器件的是( B D )A稳压二极管B肖特基二极管C发光二极管 D 隧道二极管11. 平衡状态下半导体中载流子浓度n0p0=ni2,载流子的产生率等于复合率,而当np<ni2 时,载流子的复合率( C )产生率A大于B等于C小于12. 实际生产中,制作欧姆接触最常用的方法是( A )A重掺杂的半导体与金属接触B轻掺杂的半导体与金属接触13.在下列平面扩散型双极晶体管击穿电压中数值最小的是( C )A BVCEOB BVCBOC BVEBO14.MIS 结构半导体表面出现强反型的临界条件是( B )。

半导体器件生产数据分析与应用考核试卷

半导体器件生产数据分析与应用考核试卷
6. JFET与MOSFET都是基于电压控制的晶体管。()
7.半导体器件在高温环境下工作不会影响其性能。()
8.封装技术对半导体器件的热稳定性没有影响。()
9.硅是半导体材料中导电性能最好的材料。()
10.在半导体器件生产中,所有工艺步骤都可以在不同类型的半导体器件中通用。()
五、主观题(本题共4小题,每题5分,共20分)
15.以下哪种材料常用于制造光电器件?()
A.硅B.锗C.镓D.铜
16.在半导体器件生产中,下列哪个步骤用于去除氧化层?()
A.蚀刻B.离子注入C.氢氟酸腐蚀D.清洗
17.关于JFET和MOSFET的描述,错误的是:()
A.JFET为电流控制型器件B.MOSFET为电压控制型器件C.JFET和MOSFET的结构相似D.JFET的输入阻抗低于MOSFET
二、多选题(本题共20小题,每小题1.5分,共30分,在每小题给出的四个选项中,至少有一项是符合题目要求的)
1.半导体器件的主要应用包括:()
A.数字逻辑电路
B.模拟电路
C.电源管理
D.所有以上选项
2.下列哪些因素会影响半导体器件的性能?()
A.温度
B.湿度
C.辐射
D.电压
3.在半导体生产中,以下哪些步骤涉及到光刻技术?()
四、判断题(本题共10小题,每题1分,共10分,正确的请在答题括号中画√,错误的画×)
1.在N型半导体中,主要的载流子是空穴。()
2.二极管的正向电阻小于反向电阻。()
3.晶体管的输入阻抗高于MOSFET的输入阻抗。()
4.在半导体器件生产中,光刻工艺是在蚀刻工艺之后进行的。()
5.半导体器件的阈值电压越高,其开关速度越快。()

常用半导体器件习题考答案

常用半导体器件习题考答案

第7章 常用半导体器件 习题参考答案7-1 计算图所示电路的电位U Y (设D 为理想二极管)。

(1)U A =U B =0时;(2)U A =E ,U B =0时;(3)U A =U B =E 时。

解:此题所考查的是电位的概念以及二极管应用的有关知识。

从图中可以看出A 、B 两点电位的相对高低影响了D A 和D B 两个二极管的导通与关断。

当A 、B 两点的电位同时为0时,D A 和D B 两个二极管的阳极和阴极(U Y )两端电位同时为0,因此均不能导通;当U A =E ,U B =0时,D A 的阳极电位为E ,阴极电位为0(接地),根据二极管的导通条件,D A 此时承受正压而导通,一旦D A 导通,则U Y >0,从而使D B 承受反压(U B =0)而截止;当U A =U B =E 时,即D A 和D B 的阳极电位为大小相同的高电位,所以两管同时导通,两个1k Ω的电阻为并联关系。

本题解答如下:(1)由于U A =U B =0,D A 和D B 均处于截止状态,所以U Y =0;(2)由U A =E ,U B =0可知,D A 导通,D B 截止,所以U Y =E ⨯+919=109E ; (3)由于U A =U B =E ,D A 和D B 同时导通,因此U Y =E ⨯+5.099=1918E 。

7-2 在图所示电路中,设D 为理想二极管,已知输入电压u i 的波形。

试画出输出电压u o 的波形图。

解:此题的考查点为二极管的伏安特性以及电路的基本知识。

首先从(b )图可以看出,当二极管D 导通时,电阻为零,所以u o =u i ;当D 截止时,电阻为无穷大,相当于断路,因此u o =5V ,即是说,只要判断出D 导通与否,就可以判断出输出电压的波形。

要判断D 是否导通,可以以接地为参考点(电位零点),判断出D 两端电位的高低,从而得知是否导通。

u o 与u i 的波形对比如右图所示:7-3 试比较硅稳压管与普通二极管在结构和运用上有何异同(参考答案:见教材)7-4 某人检修电子设备时,用测电位的办法,测出管脚①对地电位为-;管脚②对地电位为-6V ;管脚③对地电位为-9V ,见图所示。

第6章 半导体器件习题与解答

第6章 半导体器件习题与解答

题 6-4 图
A. 5V
B. 7V
C. 0V
6-5 在题 6-5 图所示的电路中,稳压二极管 Dz1 和 Dz2 的稳定电压分别为 5V 和 7V,其正向
压降忽略不计,则 Uo 为( )。A
题 6-5 图
A. 5 V
B. 7 V
C. 0 V
6-6 在放大电路中,若测得某晶体管三个极的电位分别为 9 V,4 V,3.4 V,则这三个级分别为
题 6-14 图
解:此题所考查的是电位的概念以及二极管应用的有关知识。假设图中二极管为理想二极
管,可以看出 A、B 两点电位的相对高低影响了 DA 和 DB 两个二极管的导通与关断。 当 A、B 两点的电位同时为 0 时,DA 和 DB 两个二极管的阳极和阴极(UY)两端电位 同时为 0V,因此均不能导通;当 UA=5V,UB=0V 时,DA 的阳极电位为 5V,阴极电位 为 0(接地) ,根据二极管的导通条件,DA 此时承受正向电压而导通,一旦 DA 导通, 则 UY>0,从而使 DB 承受反向电压(UB=0V)而截止;当 UA=UB=5V 时,即 DA 和 DB 的阳极电位为大小相同的高电位,所以两管同时导通,两个 1kΩ 的电阻为并联关系。 本题解答如下:
6-26 在题 6-26 图所示的各个电路中,试问晶体管工作于何种状态?
(a)
(b)
(c)
题 6-26 图
解:计算结果见下表,设uBE=0.6V。表中,ICS为晶体管饱和时的集电极电流,IBS为晶
体管临界饱和状态时的基极电流。
判断公式
(a)管
(b)管
(c)管
I
CS

v CC RC
12mA
8mA
IBS=
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项目六常用半导体器件及应用
班级姓名成绩
一、填空题:(35分)
1.制作半导体器件时,使用最多的半导体材料是硅和锗。

2.根据载流子数目的不同,可以将半导体分为本征半导体、P型半导体和N型半导体三种。

3.PN结的单向导电性是指:加正向电压导通,加反向电压截止。

PN结正偏是指P区接电源正极,N区接电源负极。

4.半导体二极管由一个PN结构成,它具有单向导电特性。

5.硅二极管的门坎电压是0.5V,正向导通压降是0.7V;锗二极管的门坎电压是0.2V,正向导通压降是0.3V。

6.半导体稳压二极管都是硅材料制成的。

它工作在反向击穿状态时,才呈现稳压状态。

7.晶体三极管是由三层半导体、两个PN结构成的一种半导体器件,两个PN 结分别为发射结和集电结;对应的三个极分别是发射极e、基极b、集电极c。

8.半导体三极管中,PNP的符号是,NPN的符号是。

9.若晶体三极管集电极输出电流I C=9 mA,该管的电流放大系数为β=50,
则其输入电流I B=_0.18_mA。

10.三极管具有电流放大作用的实际是:利用基极电流实现对集电极电流的控制。

因此三极管是电流控制型器件。

11.三极管的输出特性曲线可分为三个区域,即_放大_区,__饱和_区和_截止_区。

12.放大电路静态工作点随温度变化而变化,分压式偏置电路可较好解决此问题。

13.对于一个晶体管放大器来说,一般希望其输入电阻要大些,以减轻信号源的负担,提高抗干扰能力;输出电阻要小些,以增大带动负载的能力。

二、判断题:(10分,将答案填在下面的表格内)
题号12345678910答案××√××√√×√×
1.P型半导体带正电,N型半导体带负电。

()
2.半导体器件一经击穿便即失效,因为击穿是不可逆的。

()
3.桥式整流电路中,若有一只二极管开路,则输出电压为原先的一半。

()
4.用两个PN结就能构成三极管,它就具有放大作用。

()
5.β越大的三极管,放大电流的能力越强,管子的性能越好。

6.三极管和二极管都是非线性器件。

()
7.三极管每一个基极电流都有一条输出特性曲线与之对应。

()
8.放大器的静态工作点一经设定后,不会受外界因素的影响。

( )
9.放大器的输出信号与输入信号反相。

( )
10.放大器常采用分压式偏置电路,主要目的是为了提高输入阻抗。

( ) 三、单项选择题:(10分,将答案填在下面的表格内)
题号1234567
8910答案C B B A B B A B A C
1.半导体中传导电流的载流子是( )。

A.电子 B.空穴 C.自由电子和空穴 D.杂质离子
2.P 型半导体中的多数载流子是( )A.自由电子 B.空穴 C.正离子 D.负离子
3.晶体二极管正极电位是-8V ,负极电位是-3V ,则二极管处于( )。

A.零偏 B.反偏 C.正偏 D.以上答案都不对
4.共射极放大器的输入信号加在三极管的( )之间。

A.基极和射极 B.基极和集极 C.射极和集极 D.电源和基极
5.在共射极放大电路中,输出电压与输入电压的关系是( )。

A.相位相同,幅度增大 B.相位相反,幅度增大 C.相位相同,幅度近似相等 D.幅度增大
6.晶体三极管发射结正偏,集电结正偏时,处于( )状态。

A.放大 B.饱和 C.截止 D.微导通
7.三极管处于放大状态时,其电流分配关系为( )。

A. B. C. D.C B E I I I +=B C I I β=E C B I I I +=E B C I I I +=
8.晶体三极管的穿透电流I CEO 的大小体现了三极管的( )A.工作状态 B.温度稳定性 C.放大能力 D.质量好坏
9.对于NPN 型晶体三极管处于放大时各极电位的关系应满足( )。

A. B. C. D.E B C V V V >>E B C V V V <<B E C V V V >>B E C V V V <<10.已知某三极管的极限参数分别为I CM =600mA ,P CM =2W ,V (BR)CEO =20V ,以下哪个工作状态,三极管能正常工作?( )A.I C =500mA ,V CE =25V B.I C =800mA ,V CE =10V C.I C =30mA ,V CE =15V D.I C =200mA ,V CE =12V
四、问答题:(25分)
1.如何判定二极管的好坏?(3分)
万用表选择R*100或R*1K 挡,红黑表笔分别接二极管两管脚测量一次,交换表笔再测量一次。

若两次测得的阻值为一大一小,则质量较好;若两次测得的阻值均为∞,则管子内部断路;若两次测得的阻值均为0,则管子内部短路;若两次测得的阻值相差不大,则质量不好。

2. 当开关闭合后,如图(a )、(b )所示,分别判断二极管和灯的状态。

(2分)
二极管导通二极管截止(填“导通”或“截止”)
指示灯亮指示灯不亮(填“亮”或“不亮”)
3.判断下列三极管的工作状态。

(6分)
放大截止放大
截止饱和饱和
4.该晶体三极管处于放大状态,分析判断管脚名称、所用材料及管型。

(5分)
①:c 硅材料
②:b NPN型
③:e
5.测得三极管各极电流如图,判断①、②、③管脚名称、管型及它的放大系
数(5分)
①:c
②:b PNP型
③:e
β=I C I B =1.980.02=99
6.若放大器的输出波形如下图所示,判断(a )、(b )分别是什么失真?该如何调整?(4分)
截止失真 R B 调小 饱和失真 R B 调大五、计算题:(20分)1.如图所示二极管半波整流电路,若负载R L =0.9KΩ,负载电流I L =10mA ,试求:
(1)电源变压器二次电压V 2;(2)整流二极管承受的最大反向电压V RM ;(3)流过二极管的平均电流I V 。

(6分)解:(1)V 2=V L 0.45=I L R L 0.45=0.9×100.45=20V
(2)V RM =2V 2=202=28.28V
(3)I V =I L =10mA 2.如图所示桥式全波整流电路,若输出电压V L =9V ,负载电流I L =1A ,试求:(1)电源变压器二次电压V 2;(2)整流二极管承受的最大反向电压V RM ;(3)流过二极管的平均电流I V 。

(6分)
解:(1)V 2=V L 0.9=90.9=10V (2)V RM =2V 2=102=14.14V (3)I V =I L =0.5A 12
3.在下面图示放大电路中,已知,50=β,,,,。

回答问题:Ω=k R b 300Ω=K R C 3Ω=K R L 3V Vcc 15=V V BEQ 7.0=(1)画出直流通路,求Q 点;(2)画出交流通路,求电压放大倍数A V 、输
入电阻r i 、输出电阻r o 。

(8分)
解:(1)I BQ =V CC ‒V BEQ R B =15‒0.7300=0.0477mA I CQ =βI BQ =50×0.0477=2.385mA V CEQ =V CC ‒I CQ R C =15‒2.385×3=7.845V (2)r be =300+(1+β)26(mV )I E (mA )=0.85kΩr i = r be =0.85kΩr o =Ω=K R C 3=R 'L R C //R L =1.5KΩA V =‒βR 'L
r be =‒88.2。

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