电容电阻及四线测试原理
4线鼓风机电阻工作原理
4线鼓风机电阻工作原理
四线鼓风机电阻是一种用于控制鼓风机速度的装置，通过改变电路中
的电阻来调节鼓风机的转速。
下面将介绍四线鼓风机电阻的工作原理。
四线鼓风机电阻通常由两组电阻组成，其中一组为固定电阻，另一组
为可变电阻。
固定电阻是一个固定的电阻值，可变电阻可以通过机械或电
子方式进行调节。
四线鼓风机电阻的工作原理基于欧姆定律和功率公式。
根据欧姆定律，电流通过电阻的大小和电阻本身的阻值成正比。
功率公式可以表示为
P=I²*R，其中P代表功率，I代表电流，R代表电阻值。
在鼓风机电阻中，电机产生的电流通过固定电阻和可变电阻。
可变电
阻的阻值可以通过调节杆或电子控制器来改变。
当可变电阻的阻值较大时，电流通过可变电阻的数量较少，反之亦然。
通过调节可变电阻的阻值，可以改变鼓风机电阻中的电流大小。
当电
流较小时，电机的转速也会相应降低。
当电流较大时，电机的转速会提高。
因此，通过调节鼓风机电阻的电流大小，可以实现对鼓风机转速的控制。
这种控制方式在很多应用场景中非常有效。
例如，在通风系统中，可
以根据需要调节鼓风机的转速，以适应不同的需求。
另一个例子是汽车制
动系统中的冷却风扇，可以通过调节电阻来控制风扇的转速，以达到更好
的散热效果。
总结起来，四线鼓风机电阻的工作原理是通过改变电路中的电阻来控
制鼓风机的转速。
通过调节可变电阻的阻值，可以改变电阻中的电流大小，从而实现对鼓风机速度的控制。
这种控制方式在很多领域中都有广泛的应用。
薄膜电导率测试方法
薄膜电导率测试方法答案：一、薄膜电导率测试的基本原理薄膜电导率是衡量薄膜导电性能的一个重要参数。
常用的测试基本原理是通过施加一定的电场或电压使薄膜产生电流，根据欧姆定律计算电场或电压下的电阻，从而计算出薄膜的电导率。
电导率的单位是西门子/米（S/m）。
二、常用的薄膜电导率测试方法1、四线法四线法也被称为净电流法，是最常用的薄膜电导率测试方法之一。
四个导线一般分为两对，一对为电流输入端（电极A和B），一对为电压测量端（电极C和D）。
通过在输入端加入一定大小的电流，在测量端测量对应的电压，利用欧姆定律计算薄膜的电阻，从而得到薄膜的电导率。
2、四探针法四探针法，也称为均匀电流法，是一种精密的电导率测试方法。
四根探针中，两个探针传递电流，另外两个探针则用于电势测量。
四个探针被呈正方形排列，使得电流传递的区域对电位探针的影响很小，可以减小对电阻/导电率的测量误差。
3、霍尔效应法霍尔效应法是一种能够同时测量电阻和霍尔系数的方法，同时具有非接触、高灵敏度和高精度等特点。
在这种方法中，通过在薄膜表面施加一个垂直于电场方向的磁场，测量沿垂直方向的霍尔电压和横向电压。
根据霍尔效应的基本公式，可以计算出薄膜的电导率和霍尔系数。
三、薄膜电导率测试时需要注意的事项1、保证测试样品表面的平整度和厚度的均匀性；2、使用纯净的测试环境，并防止任何可能对测试结果产生影响的干扰因素；3、根据实际情况选择合适的测试方法，并对测试结果进行多次重复测试，取其平均值作为最终的结果。
四、常见误差的解决方法1、四线法中高阻抗的误差问题可以通过提高电压测量的灵敏度或减小电阻器外部电容的影响来解决；2、四探针法中存在非线性热化效应的误差问题可以通过调整热电偶到探针表面的距离和探针间距来解决；3、霍尔效应法中的磁场不均匀和样品表面的不平整问题可以通过设计合适的磁场结构和多次旋转样品进行扫描来解决。
【结论】本文介绍了薄膜电导率测试的基本原理和实验方法，了解这些方法可以帮助我们更好地评价和优化薄膜的导电性能。
精密四线式线材测试机
精密四线式线材测试机线材测试机是应用于线材领域中的一种测试设备，其作用是通过对线材进行测试，判断线材的质量和性能，达到控制生产和保障使用的目的。
现在市场上出现了多种类型的线材测试机，其中较为主流的是四线式线材测试机。
本文将为大家介绍这种精密四线式线材测试机的原理、功能、参数以及应用范围等方面的内容。
原理和功能四线式线材测试机主要依靠电阻测量原理进行测试。
它通过四条导线连接被测试的线材，将电流引入待测试的线材，然后测量其两端的电压和电流并进行比较，从而获得线材的电阻值。
四线式测试机的测试原理可以有效地避免导线电阻对测试结果的影响，因此它具有极高的测试精度。
在功能方面，四线式线材测试机可以进行以下类型的线材测试：•电阻测试•绝缘测试•电缆长度测试•张力测试•扭矩测试参数介绍精密四线式线材测试机的参数是决定其性能和精度的关键因素，下面我们将对其主要参数进行简单介绍：•测试精度：一般来说，精密四线式线材测试机的测试精度可以达到0.1%以内，甚至可以达到0.01%以上。
•测试范围：不同的测试机型号具有不同的测试范围，一般来说电阻测试范围为0.1μΩ-1kΩ，电压测试范围为1mV-1000V。
•建议工作温度：测试机的性能会受到环境温度的影响，因此建议工作75%RH。
温度与湿度一般为5℃35℃和50%RH•外形尺寸：精密四线式线材测试机的尺寸大小一般是415mm×300mm×143mm。
•重量：测试机的重量要求不高，一般在10kg以内。
应用范围精密四线式线材测试机是一种比较常见的测试设备，其应用范围较为广泛。
以下是该测试机在不同行业中的主要应用领域：电子行业精密四线式线材测试机主要应用于电子行业中的电阻和电容测试，可以测量各种电阻和电容器的质量和性能。
例如电感器、变压器、磁珠等电子元器件的测试。
机械行业在机械行业中，这种测试机主要应用于各种线材的质量检测和维护。
例如金属线材、塑料线材、电缆等线材的测试。
ict测试工作原理
六. 跳线测试（J）：
• 跳线是跨接印制板做连线用，只有通、断两种 情况.
• 测试其电阻阻值就能够判断好坏. 测试方法和测 试电阻是相同.
ict测试工作原理
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ICT测试工作原理
•
阻抗值
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ict测试工作原理
ict测试工作原理
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ICT测试工作原理
一．电阻测试（R）：
• 电阻是测试其阻值. • 工作原理：就是在电阻测试针上加一个电流，然
后测试这个电阻两端电压，利用欧姆定律：
R=U/I
ict测试工作原理
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ICT测试工作原理
依据欧姆定律算出被测电阻阻值.
备注：除并联有L或C时采取电压源外，其它电阻 测试均采取直流电流源
• 大容量（>3uf）电容测试用DC方法，即用直流 电压加在电容两端，充电流随时间或指数降低规 律，在测试时加一定延时时间
ICT测试工作原理
• 思索：
1. 为何大电容需要用DC信号源？
2. 若测试大电容采取直流电流源能够？
？
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ICT测试工作原理
ict测试工作原理
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ICT测试工作原理
四. 二极管测试（D）：
• 二极管正向测试时，加一正向电流在二极管上， 二极管正向压降为0.7V(硅材料管)，假如加一反 向电流在二极管上，二极管压降会很大.
• 加载电流有3mA , 20mA或 10mA.
ict测试工作原理
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ICT测试工作原理
五.三极管测试（Q）：
物理学中电容物理学中电阻及四线测试原理
选择合适的测试仪器
选用高精度的电容表、电阻表 以及四线测试仪，确保测量结 果的准确性。
制定实验步骤
按照电路连接、仪器调试、数 据测量、数据记录等步骤进行
实验。
数据采集和处理方法
数据采集
在实验过程中，对电容、电阻以 及四线测试的数据进行实时采集，
并记录实验条件、仪器参数等相 关信息。
数据处理
对采集到的数据进行整理、筛选和 计算，得出电容、电阻以及四线测 试的各项指标和参数。
电阻分类及特点
线性电阻
线性电阻的阻值不随电压 或电流的变化而变化，其 伏安特性曲线是一条直线。
非线性电阻
非线性电阻的阻值随电压 或电流的变化而变化，其 伏安特性曲线是一条曲线。
特殊电阻
包括热敏电阻、光敏电阻、 压敏电阻等，它们的阻值随 温度、光照、压力等外界因 素的变化而变化。
电阻在电路中的作用
传感器与测量
电容和电阻传感器广泛应用于温度、压力、位移等物理量的测量。
四线测试法在工程领域应用
精确测量
四线测试法通过消除引线电阻和接触电阻的影响，提高了电阻测 量的精确度。
半导体器件测试
在半导体器件制造和测试过程中，四线测试法用于精确测量微小电 阻值。
质量控制与可靠性评估
四线测试法在产品质量控制和可靠性评估中发挥重要作用，确保产 品性能符合设计要求。
选择合适的电流源和电压表，以确保 测量精度和安全性。
在进行长时间连续测量时，应定期检 查测试线和接口的连接情况，确保测 量稳定性。
04 电容与电阻关系探讨
电容对电阻影响分析
电容充电和放电过程中，会产生瞬态电流，从而影响电阻的电压降和功率消耗。
电容的容抗随频率变化，与电阻串联或并联时，会改变电路的总阻抗，进而影响电 路性能。
ICT基本测试原理
ICT基本测试原理ICT基本测试原理1.电阻测试原理2.电容/电感测试原理3.⼆极体及IC保护⼆极体测试原理4.齐纳⼆极体测试原理5.电晶体(三极管)测试原理6.光藕合元件测试原理7.电容极性测试原理1.1 电阻测试原理1.1.1 固定电流源(Constant Current)模式(MODE 0)对于不同的电阻值,ICT本⾝会⾃动限制⼀个适当的固定电流源做为测试的讯号源使⽤,如此才不会因使⽤都的选择不当,因⽽产⽣过⾼的电压⽽烧坏被测试元件,故其测试⽅式为:提供⼀个适当的固定电流源I,流经被测电阻R,再于被测电阻R两端,测量出Vr,由于Vr及I已知,利⽤Vr=IR公式,即可得知被测电阻R值,如附图⼀.RANGE CURRENT1欧姆--299.99欧姆5mA300欧姆-- 2.99K欧姆500uA3K欧姆--29.99K欧姆50uA30K欧姆--299.99K欧姆5uA300K欧姆-- 2.99M欧姆0.5uA3M欧姆--40M欧姆0.1uAVr=IR R Vr1.1 电阻测试原理1.1.2 低固定电流源(Low Constant Current)模式(MODE 1)该测试⽅法和上述固定电流源模式⼀样,只是在被测电阻于电路上并联(Parallel)着⼆极体(Diode)或是IC保护⼆极体(IC Clamping Diode)时,对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V⾄0.7V左右时,因为⼆极体导电的关系,该电阻两端电压将被维持在0.5V⾄0.7V 左右,固⽆法量测出真正的Vr值,为了解决此问题,只要将原先的电流源降低⼀级即可.如附图⼆.RANGE CURRENT1欧姆--299.99欧姆500uA300欧姆-- 2.99K欧姆50uA3K欧姆--29.99K欧姆5uA30K欧姆--299.99K欧姆0.5uA300K欧姆-- 2.99M欧姆0.1uAVr=IR R Vr1.1 电阻测试原理1.1.3 交流相位(AC Phase)测试模式(MODE 3 、MODE 4 、MODE 5)由于电路设计关系,被测试电阻,将会并联着电感等元件,对于此电阻值测量,若使⽤固定电流源⽅式测试,电阻值将会偏低⽽⽆法测量出真正的电阻值,故使⽤AC 电压源,利⽤相位⾓度的领先,及落后⽅式⽽得知被测电阻值.故其测试⽅式为:提供⼀个适当频率的AC 电压源V,同时在被测电阻两端测量出Iz,由于V=Iz*Zrl,因为V 及Iz 已知,故可得知Zrl,⼜因为R=Zrl*cos θ,⽽Zrl 及cos θ已知,故即可得知被测电阻R 值.如附图三.SIGNAL RANGE(L) RANGE(R)1KHz 600uH --60H 5欧姆--300欧姆10KHz 60uH --600mH 5欧姆--40K 欧姆100KHz 6uH --6mH 5欧姆--4K 欧姆V = Iz*ZrlR = Zrl*cos θ(图三: 交流相位测试⽅法)RLV1.1 电阻测试原理1.1.4 快速(High-Speed)测试模式(MODE 2)假如被测电阻并联⼀颗0.3uF 以上的电容时,若使⽤上述固定电流源测试时,需要花费很长的时间,让电容充饱电荷,再去测量出Vr 值,⽽得知R 值,如此测试⽅法将增加ICT 测试时间,为解决此问题,可以将固定DC 电流源改为0.2V DC 固定电压源,直接接于被测电阻两端,如此电容将会在短暂时间内使其Ic=0,故电路上所有电流将流经电阻R.其测量⽅式为:提供⼀个0.2V DC 电压源,当Ic=0时,再测试流经电阻两端的Ir,因为V=IrR,⽽V 及Ir 已知,即可得知电阻R 值.如附图四.SIGNAL RANGE(L) RANGE(R)1KHz 600uH --60H 5欧姆--300欧姆10KHz 60uH --600mH 5欧姆--40K 欧姆100KHz 6uH --6mH 5欧姆--4K 欧姆V = Ir*R(图四: 交流相位测试⽅法)RC0.2V2 电容/电感测试原理2.1 固定AC电压源(Constant AC Voltage)测试模式(MODE 0 、MODE 1、MODE 2、MODE )对于不同阻抗的电容或电感,ICT本⾝会⾃动选择⼀个适当频率(frequency)的AC电压源,作为测试使⽤,其频率计有:1KHz ,10KHz , 100KHz , 1MHz ,对于极⼩阻抗值的电容或电感将需要较⾼频率的AC电压源,再测量被测元件两端的电压源,由于V=Ic*Zc或V=Il*Zl,⽽V及Ic或Il已知,故得知Zc=1/2π*f*C或Zl=2πfL,⼜因f已知,故即可得知电容C或电感L值.如附图五.DEBUG SIGNAL CAPACITOR INDUCTORMODE SOURCE RANGE RANGE0 1KHz400pF --30uF 6mH--60H1 10KHz40pF --4uF 600mH以下2 100KHz1pF --40nF 6mH以下3 1MHz1pF --300pF 1uH --60uHIcZcVV = Ic*Zc = 1/2*π*f*C*IV = Il*Zl = 1/2 *π*f*L*I2 电容/电感测试原理2.2 AC相位(AC Phase)测试模式(MODE 5 、MODE 6、MODE 7 )对于电容或电感的测试,若并联电阻时,则利⽤相位⾓度的领先及落后⽅式来测量出阻抗值,故其测量⽅式为:提供⼀个适当频率的AC电压源并在被测元件两端测量出Iz,由于V=Iz*Zrc或V=Iz*Zrl,⽽V及Iz已知,故可得知Zrc或Zrl值,⼜因Zc=Zrc*sinθ或Zl=Zrl*sinθ⽽Zrc及sin θ或Zrl及sin θ已知,故可得知Zc或Zl,⼜因为Zc= 1/2*π*f*C或Zl= 1/2*π*f*L,⽽Zc及f或Zl及f已知,故即可得知电容C值或电感L值.如附图六.DEBUG SIGNAL CAPACITOR INDUCTORMODE SOURCE RANGE RANGE5 1KHz400pF --30uF 6mH--60H6 10KHz40pF --4uF 600mH以下7 100KHz1pF --40nF 6mH以下V = Iz*Zrc ; V = Iz*Zrl;Zc = Zrc*sin θ; Zc = 1/2*π*f*C ;Zc = Zrc*sin θ;Zl = 2 *π*f*L ;(图六: AC相位测试⽅法)VIzRC2 电容测试原理2.3 DC 固定电流(DC Constant Current)模式(MODE 4)对于3uF 以上电容值的电容,若使⽤上述AC 电压源模式测试时,将需要较低频率来测试,⽽增加ICT 测试时间,故可利⽤电容充电曲线的斜率⽅式得知电容值,故其测试⽅式为:提供⼀个固定的DC 电流源,并在T1时间测量电容两端的V1值及T2时间测量电容两端的V2值,由于Slope=(V2-V1)/(T2-T1)=△V/△T,⽽V1、V2及T1、T2已知,故得知Slope,⼜因Slope*C=Constant,Slope 及Constant 已知,故即可得电容C 值,如附图七.Slope = (V2-V1)/(T2-T1) = △V/△TVc CI T1 T2V2V1VT3. ⼆极体(Diode)及IC保护⼆极体原理ICT(In-Circuit Tester)对于IC元件的测试⽅式有三种(1)IC保护⼆极体(IC Clamping Diode)测试(2)IC Pattern测试(3)IC Boundary Scan测试,其中以IC保护⼆极体⽅式最简单,其⽅式和⼀般Diode测试⼀样,它可以测量出IC的短路、开路、IC反插及IC保护⼆极体不良等问题,故其测量⽅式为:提供⼀个3mA或30mA的固定电流及0V –10V可程式电压源(Programmable Voltage)直接加在⼆极体两端,并输⼊该⼆极体正向导通所需电压来测试即可.如附图⼋.CLV DCL : Current LimitSignal Source3mA/30mA Constant(MODE 0 、MODE 1 、MODE 2)0 –10V Programmable Voltage(图⼋: ⼆极体及IC保护⼆极体测试原理)4. 齐纳⼆极体(Zener Diode)测试原理齐纳⼆极体的测试和⼆极体测试⼀样,其差异性只是在测试电压源不同,其电压源为0V –10V及0V –40V可程式电压源两种.如附图九.CLV ZDCL : Current LimitSignal Source(MODE 0 、MODE 1 )3mA/30mA Constant Current0 --10V Programmable Voltage4mA/30mA Constant Current0 –40V Programmable Voltage(图九: 齐纳⼆极体测试原理)5. 电晶体(Transistor)测试原理对于电晶体测试需要三步骤(Step)测试,其中(1)B-E 脚(2)B-C 脚测试是使⽤⼆极体测试⽅式(3)E-C 脚使⽤Vcc 的饱和电压值及截⽌电压值的不同,来测试电晶体是否反插.电晶体反插测试⽅法为:在电晶体的B-E 脚及E-C 脚两端各提供⼀个可程式电压源,并测量出电晶体E-C 脚正向饱和电压值为Vce=0.2V 左右,若该电晶体反插时,则Vce 电压将会变成截⽌电压,并⼤于0.2V,如此即可测出电晶体反插的错误.如附图⼗.Signal Source(MODE 3 、MODE 4 )3mA/30mA Constant Current0 --10V Programmable Voltage(图⼗: 电晶体测试原理)CLV CL : Current LimitVCL C EB6. 光藕合元件(Photo -coupler)测试原理测量光藕合元件是在第1 、2脚及第3 、4脚各提供⼀个DC 可程式电压源,并于第3 、4脚测量其电压是否为正向饱和电压值,如此即可检测出该元件是否反插错误及不良故障等问题.如附图⼗⼀.Signal Source(MODE 0 、MODE 1 )3mA/30mA Constant Current0 --10V Programmable Voltage4mA/30mA Constant Current0 –40V Programmable Voltage(图九: 光电藕合元件测试原理)CLV CL : Current LimitCL V12347. 电容极性(Capacitor Polarization)测试原理电容极性的测试若使⽤电容值测试⽅式,将⽆法测试出来,因为电容于正反插时,其电容值都⾮常接近,但若使⽤测量电容的漏电流(Leakage Current)⽅式,则可以测量出来,因为正向的电容漏电流⼩于反向的电容漏电流.然⽽因为电路效应关系,例如:电容并联IC 或电感等元件时,将会使得两者的漏电流值差异不⼤,⽽⽆法测试,故⼀般电容极性使⽤漏电流测试⽅式,其可测率约45 –55%左右,故其测量⽅式为:提供⼀个DC 可程式电压源,连接于电容两端,再去测量其正向漏电流值即可.如附图⼗⼆.Signal Source(MODE 5 、MODE 6 )3mA/30mA Constant Current0 --10V Programmable Voltage4mA/30mA Constant Current0 –40V Programmable VoltageMV IcM : Current Meter。
万用表测电阻的原理
万用表测电阻的原理
首先，我们需要了解电阻的概念。
电阻是电路中阻碍电流流动的元件，它的作
用是限制电流的大小。
在电子电路中，电阻通常用Ω（欧姆）来表示，它的大小与电阻的长度、材料和截面积有关。
万用表测量电阻的原理其实很简单，它是利用一定的电流通过被测电阻产生的
电压来计算电阻值的。
当我们把万用表的测量档位调至电阻档位时，万用表会施加一个已知大小的电流到被测电阻上，然后测量电阻两端的电压，通过欧姆定律（电压等于电流乘以电阻）来计算电阻的大小。
在实际测量中，我们需要注意几点。
首先，要选择合适的电阻档位，如果电阻
值太小，就应该选择较小的档位，以保证测量的准确性。
其次，要确保被测电阻处于断电状态，以免影响测量结果。
最后，要注意测量时的接线，保证电路连接正确，避免测量错误。
除了直接测量电阻值外，万用表还可以通过测量电阻的变化来判断电阻的好坏。
例如，我们可以用万用表测量电子元件的电阻值，然后进行比较，如果两个相同型号的电子元件，其电阻值相差较大，就可以判断其中一个元件可能存在问题。
总的来说，万用表测电阻的原理是基于欧姆定律的，通过施加电流并测量电压
来计算电阻值。
在实际使用中，我们需要选择合适的档位、保持被测电阻断电状态，并注意接线的正确性。
此外，还可以通过测量电阻的变化来判断电子元件的好坏。
掌握了这些原理和技巧，我们就能够准确、快速地使用万用表来测量电阻了。
lcr表测电感的原理
LCR表测电感的原理一、交流测量原理LCR表是一种用于测量电子元件的电感（L）、电容（C）和电阻（R）的仪器。
它采用交流测量原理，通过向被测元件施加交流信号，并测量其响应信号来计算元件的参数。
在测量电感时，LCR表向电感施加一个交流电压或电流，并测量其响应的电流或电压，从而计算出电感值。
二、电感元件的阻抗特性电感元件的阻抗由电阻和感抗两部分组成，感抗与频率和电感量有关。
在测量电感时，LCR表通常使用较高的测试频率（例如1MHz），以减小感抗的影响，从而更准确地测量电感的电阻值。
三、电感值的计算方法电感值的计算公式为：L=(Z/ω)-(1/ωC)。
其中，Z为阻抗，ω为角频率（ω=2πf），C为电容。
通过测量阻抗Z和已知的测试频率f，可以计算出电感值L。
四、精度与误差分析LCR表的精度与测试频率、电压、电流的幅值以及测量电路的噪声有关。
此外，测试环境（如温度、湿度）和被测元件的物理特性也会影响测量精度。
因此，在进行电感测量时，应考虑这些因素并采取相应的措施来减小误差。
五、应用范围与注意事项LCR表广泛应用于电子元件生产、测试、研发等领域。
它可以测量各种类型的电感，包括线圈、磁珠、变压器等。
在使用LCR表时，应注意以下事项：1.选择合适的测试频率和电压/电流幅值；2.确保测试环境符合要求；3.遵循安全操作规程；4.对于一些特殊类型的电感（如铁氧体磁珠），需要注意其磁饱和特性对测量结果的影响。
六、LCR表的优缺点优点：1.可同时测量电感的电阻、电容和电感；2.测量精度高；3.操作简便；4.可重复性好。
缺点：1.对于一些特殊类型的电感，可能需要采用特殊的测试方法；2.对于大电感值的电感，可能会受到测试电源的限制；3.成本较高。
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C
R12之電阻值： +∞ R13之電阻值： +∞ R23之電阻值： +∞
F
L
设定绝缘电阻为20 MΩ,当R12<20 MΩ,则12为短路 设定绝缘电阻为20M Ω,当R13>20 MΩ,则13为正常 设定绝缘电阻为20M Ω,当R34<20 MΩ,则34为短路
结论:用电阻法测试X个net之间相互是否短路的测试次数为X*（X-1）/2
电容法测试原理
A + + + + + + + + d ε
SεLeabharlann + σσ电容公式：C = εS / 4πkd
电容法测试原理
C1
S1 S2 S3
d
C1’
C1” C2
S4
C4 C5
SComp 5 Side
ε
C3
VCC/GND 1：如果net1没有开路,则C1=C1’=C1”;否则C1=C1’+C1” 2:如果net2与net3短路，则C2=C3，且其值变大
电阻法和电容及四线 测试原理
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电阻法测试原理
电阻法测试原理：欧姆定律原理：R=U/I
电阻法测试测试开路：通过两根探针同 时接触网络的端点进行通电，所获得的电阻 与设定的开路电阻比较，从而判断开路与否。
电阻法测试测试开路
A C B
D RAB之電阻值：1.5Ω RAC之電阻值：1.8Ω RAD之電阻值：1.6Ω
四线测试原理
Kelvi n探针
电压计
定流源
I为恒流源,R1R3和R2R4分别为两个低阻针的
设定开路电阻为20 Ω,当RAB> 10 Ω,则AB为开路 设定开路电阻为20 Ω,当RAC> 10 Ω,则AB为开路 设定开路电阻为20 Ω,当RAD> 10 Ω,则AB为开路
结论:用电阻法测试1个net的X个端点之间相互是否开路的测试次数为X
电阻法测试短路
• 原理：R=U/I
A B net 1 net2 D E G H J K M net 3 P