插入损耗测试
插入损耗测试
EMI电源滤波器插入损耗的测量方法EMI滤波器尚没有产品类国标,只是企业标准,EMI电源滤波器的主要性能指标一般包括插入损耗、频率特性、阻抗匹配、额定的电流值、绝缘电阻值、漏电流、物理尺寸及重量、使用环境以及本身的可靠性;在使用时考虑最多的是额定的电压及电流值、插入损耗、漏电流三项;本文主要介绍EMI滤波器插入损耗的测量方法;EMI滤波器插入损耗测量方法是根据CISPR17 1981出版物提出的滤波器标准测量方法包括共模、差模、常模和Ω／100Ω阻抗测量方法;1. 共模插入损耗标准测量方法根据CISPR17 1981出版物B6提出的共模插入损耗标准测量方法Asymmetrical Measurement,如图所示;根据插入损耗的定义,先要测量没有滤波器时,负载50Ω上的电压V1作为0dB的参考电压;再测量有滤波器后,负载500上的电压V2,通过频谱分析仪将20logV1/V2随频率变化的结果显示在屏幕上或通过接口打印出来;测量时注意,滤波器的输入端和输出端是并联的,目的是取得共模插入损耗的平均值;因为滤波器的Cy电容量尽管标称值和误差等级一样,其实际值也不完全一样,电感尽管绕组匝数一样,但磁芯的磁导率误差和工艺上也很难实现在绕制和装配时完全对称,因此采用平均值才有意义;图共模插入损耗的典型测量方法2．差模插入损耗标准测量方法根据CISPR17 1981出版物B5提出的差模插入损耗标准测量方法Symmetrical Meausurement,如图所示;图差模插入损耗的典型测量方法由于频谱分析仪或标准信号发生器输出、输入均采用对地非对称结构的50Ω同轴电缆,为了测量对地对称的差模插入损耗,需对频谱分析仪跟踪发生器的输出信号滤波器的输入信号进行不对称-对称变换,对频谱分析仪输入信号滤波器的输出信号进行对称-不对称的逆变换,其他步骤同上;3．常模插入损耗标准测量方法根据CISPR17 1981出版物B7提出的不对称测量方法Unsymmetrical Measurement又称常模Normal Mode测量,如图所示;图常模插入损耗的测量方法与共模插入损耗测量电路相比,在N和地之间接入一个尚未被标准所批准的50Ω电阻;常模也是经常用来表示差模的一种方法,尽管理论分析常模除了有差模成分外,还含有共模成分;上述测量方法又称为50Ω／50Ω,系统测量方法,即源和负载阻抗均在50Ω匹配条件下测量;它也是目前许多滤波器制造商传统沿用的测量方法;用以上共、差模插入损耗测量方法时需注意：1由于测量仪器输出信号幅值在不同的频率有波动,所以没插入滤波器前的0dB校正,应该对所测频域的各主要频点逐点进行校对;具备条件的,可进行计算机编程进行自动校正;2被测滤波器外壳应该接地良好,否则MHz以上测得的插入损耗相差很大;3要确保滤波器输入,输出连接线之间有良好的隔离,以避免它们之间在高频段产生射频耦合,给高频段测量带来很大误差;4没有频谱分析仪,也可以用标准信号发生器和示波器来代替,但后者动态范围小,在高频段的测量误差较大;4. Ω,/100Ω阻抗测量方法根据CISPR出版物提出一种“近似”实际的测量方法;在实际情况中,由于源阻抗和负载阻抗不可能是恒定的50Ω,所以实际使用中的滤波器插入损耗特性,与用50Ω／50Ω系统测量获得的电源滤波器插入损耗特性不尽相同,甚至差别很大;CISPR出版物提出一种近似实际的测量方法,是Ω,/100Ω及100Ω,/Ω系统测量方法,如图所示;Ω,/100Ω及100Ω,/Ω系统测量方法这里,仅涉及l0kHz～30MHz范围内的插入损耗;以上是目前插入损耗的主要测量方法,可根据条件选择合适的测量方法;。
插回损测试使用简易说明
插回损测试使用简易说明1.功能说明前面板说明（前面板图）1.内部光源波长值。
2.回损通道光功率值(单位: dBm)。
3.回损测量值(单位: dB)。
4.光源输出接口及防尘帽。
5. Laser: 激光器波长选择键6. Zero: 归零键，测量前回损值归零7. Ref: 标定键，校准回损参考值8. BL/Hold背光键: （背光选择，去除插损通道暗电流）9.Λ: 波长键(插损通道波长切换键)。
10.dB/w: 归零键。
(插损单位切换键。
长按dBw键约3秒可切换到w单位)。
11.光功率计接口及防尘帽。
12.插损测量值。
13.插损通道光功率值(单位: dBm)。
14.插损波长值。
15.插损显示区。
（右边）16.回损显示区。
（左边）一、测试前的清零、标定1.测量前，将光路回损标定。
（此步骤必须使用APC-PC的标线）(1)把标线APC端插入光源输出接口（左边），末端插入光功率计接口(右边)如下图(2)此时回损测量值显示应该是14.8dB，如果该值在14dB到17dB之间可以视为正常值。
由于系统与器件造成的误差，可以修正也可以不修正。
(3)修正：长按Ref键，则左屏中间行显示REF?，再按λ键确认，则左屏下方显示14.8，标定完成。
如果测量双波长，按Laser键切换光源波长进行标定。
2．测量前，将光路回损归零。
目的将标线末端之前的回损归零。
缠绕的目的是阻止光传输到标线的末端。
(1)按Laser键切换光源波长，把标线的APC端(即始端)接到光源输出接口。
(2)用缠绕棒（建议使用直径3到5mm圆棒）缠绕标线的另一端(即末端），密绕5圈。
(3)此时回损通道光功率值(左边第二行)，应该在-60dBm到-70dBm之间。
(4)按Zero键。
回损屏显示如下图（如果测量双波长，按Laser键切换光源波长，再按下Zero键）。
（如下图）(5)按REF，显示EEE1，再按REF，则回损屏幕显示如下。
回损清零完成。
3.测量前光路插损归零。
PCB插入损耗不同测试方法的研究
文 献 标 识 码 ：Ａ 文章编号 ： １ ０ ０ ９ — ０ ０ ９ ６（ ２ ０ １ ７） 增干 ｌ Ｊ 一 ０ ０ ６ ４ — １ １
Ｒｅ ｓ ｅ ａ ｒ ｃ ｈ ｏｎ ｔ ｈｅ ｄｉ ｆｅ ｒ ｅ ｎｔ ｔ ｅ ｓ ｔ ｉ ｎｇ ｍｅ ｔ ｈｏ ｄｓ ｏ ｆ ｉ ｎｓ ｅ ｒ ｔ ｉ ｏ ｎ ｌ ｏ ｓ ｓ ｉ ｎ ＰＣ Ｂ
插 入损 托 （ 称抓 拟 ，数 、 捕述 为ｓ ２ １ ， 迁 ｉ ｎ ｓ ｅ ｒ ｔ ｉ ｏ ｎ ｌ ｏ ｓ ｓ ）： 端¨ 络Ｉ １ ｝ ｌ ｌ ，ｓ ２ ｌ 定 义为 从 ｌ 【 ２ｌ ｌ ｌ 米 ＃ Ｅ 、 介埙拟 ｝ Ｅ 、 邻近 线 １ ， Ｉ ＇ Ｊ 、
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光隔离器的插入损耗、反向隔离度、回波损耗的测试
光隔离器的插入损耗、反向隔离度、回波损耗的测试一．实验目的和任务1．了解光隔离器的工作原理和主要功能。
2．了解光隔离器各参数的测量方法。
3．测量光隔离器的插入损耗、反向隔离度、回波损耗参数。
二．实验原理光隔离器又称为光单向器，是一种光非互易传输无源器件，该器件用来消除或抑制光纤信道中产生的反向光，由于这类反向光的存在，导致光路系统间将产生自耦合效应，使激光器的工作变得不稳定和产生系统反射噪声，使光纤链路上的光放大器发生变化和产生自激励，造成整个光纤通信系统无法正常工作。
若在半导体激光器输出端和光放大器输入或输出端连接上光隔离器，减小反射光对LD的影响，因此，光隔离器是高码速光纤通信系统、精密光纤传感器等高技术领域必不可少的元器件之一。
光隔离器是利用了磁光晶体的法拉第效应，其组成元件有：光纤准直器（Optical Fiber Collimator）、法拉第旋转器（Faraday Rotator）和偏振器（Polarizator）。
隔离器按照偏振特性来分，有偏振相关型和偏振无关型。
它们的原理图如图1.1和图1.2所示：图1.1 偏振相关的光隔离器图1.2 偏振无关的光隔离器对于偏振相关光隔离器，光通过法拉第旋转器时，在磁场作用下，光偏振方向旋转角为FHL =φ，式中H 为磁场强度，L 为法拉第材料长度，F 为材料的贾尔德系数。
如图 1.1，当输入光通过垂直偏振起偏器后，成为垂直偏振光，经过法拉第旋转器旋转了045，而检偏器偏振方向和起偏器偏振方向成045角，使得光线顺利通过，而反射回来的偏振光经过检偏器、法拉第旋转器以后，继续沿同一方向旋转045，即偏振方向刚好与起偏器偏振方向垂直，则光无法反向通过。
由于只有垂直偏振的光能通过光隔离器，因此称为偏振相关光隔离器。
偏振无关光隔离器如图1.2所示，图1.2(a)为光隔离器正向输入。
当包含两个正交偏振的输入光波被一个偏振分束器分离，变为垂直偏振光和平行偏振光。
第25-2部分：衰减（插入损耗）
第25-2部分：衰减（插入损耗）内容目录前言1．概述1．1范围与目的1．2定义2．试验条件2．1设备2．2夹具3．试样3．1样品描述4．试验步骤4．1夹具的衰减4．2试样的测量4．3阻抗分析仪（开路/短路测量方法）4．4附加测量4．5时间域方法5．要规范的详细项目6．试验文件的编制附录A（标准型）夹具和设备图表附录B（提示性）实用指南图1——波形图A.1——方法示意图图A.2——单端端接图A.3——差分(平衡) 端接图A.4——衰减夹具中的试样实例前言1）IEC（国际电工委员会）是一个由各个国家电工委员会（IEC国家委员会）组成的一个全球性组织。
IEC的宗旨是针对所有电气和电子领域内涉及标准化问题促进国际间的合作。
为此，IEC除组织各种活动外还出版国际标准。
标准的起草工作委托于各个技术委员会；对主题感兴趣的任何IEC国家委员会都可以参与标准的起草。
与IEC协作的国际、政府以及非政府组织也可以参与起草工作。
IEC与国际标准化组织（ISO）按照双方协议的条件紧密合作。
2）技术问题上的正式决议或协议是有对这些问题特别关切国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能代表国际上的一致意见。
3）这些决议或协议以推荐标准的形式供国际上使用，并在其意义上为各个国家委员会认可。
4）为了促进国际上的统一，IEC希望各个国家委员会在本国条件许可的情况下，采用IEC标准的文本作为其国家标准。
IEC标准与相应的国家标准之间的差异应尽可能在国家标准中标明。
5）IEC未制定使用认可标志的任何程序。
当宣称某一产品符合相应的IEC 标准时，IEC无法承担任何责任。
6）注意，本标准的某些部分应符合专利权要求。
IEC无须对指出相关的专利权承担责任。
国际标准IEC60512-25-3由第48B分委员会：国际技术委员会连接器分委员会48：机电元件和电子设备机械结构制定。
本标准的文本以下列文件为依据：批准本标准的所有表决资料可以查阅上表中所列的表决报告。
插入损耗测试
EMI电源滤波器插入损耗的测量方法EMI滤波器尚没有产品类国标，只是企业标准，EMI电源滤波器的主要性能指标一般包括插入损耗、频率特性、阻抗匹配、额定的电流值、绝缘电阻值、漏电流、物理尺寸及重量、使用环境以及本身的可靠性。
在使用时考虑最多的是额定的电压及电流值、插入损耗、漏电流三项。
本文主要介绍EMI滤波器插入损耗的测量方法。
EMI滤波器插入损耗测量方法是根据CISPR17 (1981)出版物提出的滤波器标准测量方法包括共模、差模、常模和0.1Ω／100Ω阻抗测量方法。
1. 共模插入损耗标准测量方法根据CISPR17 (1981)出版物B6提出的共模插入损耗标准测量方法(Asymmetrical Measurement)，如图1.1所示。
根据插入损耗的定义，先要测量没有滤波器时，负载50Ω上的电压V1作为0dB的参考电压。
再测量有滤波器后，负载500上的电压V2,通过频谱分析仪将20log(V1/V2)随频率变化的结果显示在屏幕上或通过接口打印出来。
测量时注意，滤波器的输入端和输出端是并联的，目的是取得共模插入损耗的平均值。
因为滤波器的Cy电容量尽管标称值和误差等级一样，其实际值也不完全一样，电感尽管绕组匝数一样，但磁芯的磁导率误差和工艺上也很难实现在绕制和装配时完全对称，因此采用平均值才有意义。
图1.1 共模插入损耗的典型测量方法2．差模插入损耗标准测量方法根据CISPR17( 1981)出版物B5提出的差模插入损耗标准测量方法(Symmetrical Meausurement)，如图2.1 所示。
图2.1 差模插入损耗的典型测量方法由于频谱分析仪（或标准信号发生器）输出、输入均采用对地非对称结构的50Ω同轴电缆，为了测量对地对称的差模插入损耗，需对频谱分析仪跟踪发生器的输出信号（滤波器的输入信号）进行不对称-对称变换，对频谱分析仪输入信号（滤波器的输出信号）进行对称-不对称的逆变换，其他步骤同上。
光纤跳线插入损耗回波损耗的测试方法
光纤跳线插入损耗回波损耗的测试方法尾纤尾纤：英文名称pigtail，指只有一端有连接器的光纤或光缆。
光跳线跳线：北美的英文名称常称作jumper，欧洲常称作cord，指两端都有连接器的光纤或光缆，有的有分支。
分支缆分支缆：英文名称为branch cord，指一端为一个连接器另一端有多个连接器的光跳线。
尾纤组件尾纤组件：英文名称pigtail assembly，指两条尾纤有连接器的那端通过一个适配器连接起来形成的组合。
光跳线组件跳线组件：jumper cable assembly尾纤和光跳线分为下面三种形态，并以此为基础，分别说明其各项技术指标要求，其它特殊形态(如圆形连接器等)的尾纤或光跳线由具体的技术规格书单独说明。
测试仪器测试用光功率计的光源(S)和光检测器(D)必须符合IEC 61300-3-4的要求。
插入损耗的测试方法采用标准IEC 61300-3-4 Part 5.4.5 Insertion method (B) with direct coupling to power meter规定的方法，即插入法(B)。
插入损耗测试仪器的测试精度不低于0.03dB，显示精度不低于0.01dB。
光跳线的插入损耗测试尾纤的插入损耗测试1.4 光连接器的插入损耗测试参照尾纤的插入损耗测试方法测试A端连接器的插入损耗，调转被测光跳线的方向，测试B端连接器的插入损耗。
注意，插入损耗的测试2 回波损耗的测试方法2.1 测试仪器光跳线和尾纤的回波损耗测试，既可采用基于OTDR(后向散射)原理的免缠绕回波损耗测试仪，也可采用基于OCWR原理的回波损耗测试仪。
采用OTDR原理的方法测试时，须特别关注以下几个方面：1）仪器的设置：不要把被测件的总插入损耗与单端插入损耗混淆，不要把被测件的总回波损耗与单端回波损耗混淆。
2）测试标准线的长度：一般要求测试标准线的长度不小于3m，具体以各测试仪器的说明书为准。
3）被测线的长度：不同测试仪器对被测线的最小长度有要求，例如有的设备要求不能低于1.8m，当长度低于1.8m时，必须采用其它方法测试回波损耗，如缠绕法，具体以以各测试仪器的说明书为准。
波分复用器插入损耗和光串扰测试实验
实验三 波分复用器插入损耗和光串扰测试实验一、实验目的1、了解波分复用器的工作原理及其结构2、掌握它们的正确使用方法3、掌握它们主要特性参数的测试方法二、实验内容1、测量波分复用器的插入损耗2、测量波分复用器的光串扰三、实验仪器1、ZY1804I 型光纤通信原理实验系统1台 2、FC 接口光功率计 1台 3、万用表 1台 4、FC-FC 适配器 1个 5、波分复用器 2个 6、连接导线20根四、实验原理波分复用器/解复用器是一种与波长有关的耦合器。
波分复用器的功能是把多个不同波长的发射机输出的光信号组合在一起，输出到一根光纤；解复用器是把一根光纤输出的多个不同波长的光信号，分配给不同的接收机。
波分复用器是波分复用系统中的重要组成部分，为了确保波分复用系统的性能，对波分复用器的一般要求是：插入损耗小、光串扰小、隔离度大、带内平坦，带外插入损耗变化陡峭、温度稳定性好，复用路数多等。
本实验主要用来测试波分复用器的插入损耗和光串扰。
1、插入损耗插入损耗是指由于增加光波分复用器/解复用器而产生的附加损耗，定义为该无源器件的输入和输出端口之间的光功率之比，即10lgα=ioP P (34-1) 其中Pi 是发送进入输入端口的光功率；Po 是从输出端口接收到的光功率。
在具体的测试时，我们先用光功率计测量未加入波分复用器时的光功率Pi ，再测量加入波分复用器后输出端口的光功率Po ，然后带入式34-1 后计算可得出波分复用器的插入损耗。
2、光串扰的定义及其测试方法 波分复用器的光串扰（隔离度），为波分复用器输出端口的光进入非指定输出端口光能量的大小。
其测试原理图如图34-1所示。
图34-1 波分复用器光串扰测试原理图上图中波长为1310nm 、1550nm 的光信号经波分复用器复用以后输出的光功率分别为P 01、P 02，解复用后分别输出的光信号，此时从1310窗口输出1310nm 的光功率为P 11，输出1550nm 的光功率为P 12；从1550窗口输出1550nm 的光功率为P 22，输出1310nm 的光功率为P 21。
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EMI电源滤波器插入损耗的测量方法
EMI滤波器尚没有产品类国标，只是企业标准，EMI电源滤波器的主要性能指标一般包括插入损耗、频率特性、阻抗匹配、额定的电流值、绝缘电阻值、漏电流、物理尺寸及重量、使用环境以及本身的可靠性。
在使用时考虑最多的是额定的电压及电流值、插入损耗、漏电流三项。
本文主要介绍EMI滤波器插入损耗的测量方法。
EMI滤波器插入损耗测量方法是根据CISPR17(1981)出版物提出的滤波器标准测量方法包括共模、差模、常模和Q/ 100 Q阻抗测量方法。
1.共模插入损耗标准测量方法
根据CISPR17(1981)出版物B6提出的共模插入损耗标准测量方法(Asymmetrical Measureme nt),如图所示。
根据插入损耗的定义，先要测量没有滤波器时，负载
50Q上的电压V1作为OdB的参考电压。
再测量有滤波器后，负载500上的电压V2,通过频谱分析仪将20log(V1V2)随频率变化的结果显示在屏幕上或通过接口打印出来。
测量时注意，滤波器的输入端和输出端是并联的，目的是取得共模插入损耗的平均值。
因为滤波器的Cy电容量尽管标称值和误差等级一样，其实际值也不完全一样，电感尽管绕组匝数一样，但磁芯的磁导率误差和工艺上也很难实现在绕制和装配时完全对称，因此采用平均值才有意义。
图共模插入损耗的典型测量方法
2 •差模插入损耗标准测量方法
根据CISPR17( 198出版物B5提出的差模插入损耗标准测量方法(Symmetrical
Meausurement ），如图 所示。
图差模插入损耗的典型测量方法
由于频谱分析仪（或标准信号发生器）输出、输入均采用对地非对称结构的 50 Q 同轴 电缆，为了测量对地对称的差模插入损耗，需对频谱分析仪跟踪发生器的输出信 号（滤波器的输入信号）进行不对称-对称变换，对频谱分析仪输入信号（滤波 器的输出信号）进行对称-不对称的逆变换，其他步骤同上。
3 •常模插入损耗标准测量方法
根据 CISPR17（1981）出版物 B7提出的不对称测量方法 （Un symmetrical Measurement ）又称常模（Normal Mode ）测量，如图所示。
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500 负載V
图常模插入损耗的测量方法
与共模插入损耗测量电路相比，在 N 和地之间接入一个尚未被标准所批准
的50Q 电阻。
常模也是经常用来表示差模的一种方法，尽管理论分析常模除了
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L N G 50U 5）書考电路
有差模成分外，还含有共模成分
上述测量方法又称为50Q/50Q系统测量方法，即源和负载阻抗均在50Q匹配条件下测量。
它也是目前许多滤波器制造商传统沿用的测量方法。
用以上共、差模插入损耗测量方法时需注意：
(1) 由于测量仪器输出信号幅值在不同的频率有波动，所以没插入滤波器前的
0dB校正，应该对所测频域的各主要频点逐点进行校对。
具备条件的，可进行计
算机编程进行自动校正。
(2) 被测滤波器外壳应该接地良好，否则MHz以上测得的插入损耗相差很大。
(3) 要确保滤波器输入，输出连接线之间有良好的隔离，以避免它们之间在高频段产生射频耦合，给高频段测量带来很大误差。
(4) 没有频谱分析仪，也可以用标准信号发生器和示波器来代替，但后者动态范围小，在高频段的测量误差较大。
4. Q ,/100阻抗测量方法
根据CISPF出版物提出一种近似”实际的测量方法。
在实际情况中，由于源阻抗和负载阻抗不可能是恒定的50Q,所以实际使用中的滤波器插入损耗特性，与用50Q/50Q系统测量获得的电源滤波器插入损耗特性不尽相同，甚至差别很大。
CISPF出版物提出一种近似实际的测量方法，是Q ,/100 Q 100Q ,/系
统测量方法，如图所示。
Q ,/100及100 Q，/系统测量方法
这里，仅涉及10kHz〜30MHz范围内的插入损耗。
以上是目前插入损耗的主要测量方法，可根据条件选择合适的测量方法。