微波测量实验指导书

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微波技术实验指导书(2009)

微波技术实验指导书(2009)

式中 a max 和 a min 分别为在驻波电场的极大值和极小值处检波器的输出读数,也就是标量网 络分析上电流表的指示值。 为了提高读数的精确性,一般也要进行多次测量取平均值:
i i1 n
n
三、实验设置
实验装置方框图
9
项次 1 2 3 4
设备名称 微波标量网络分析仪 波导测量线 波导不同负载 示波器
g ,乘 2 之后,就得出我们所需 2
g ,必须将测得的 g 代入下式,才能算出自由空间波长 来:

2 a g
2 2 g 4a
,式中宽边尺寸 a Байду номын сангаас.286cm
然后,再利用波长计测量波导中传输的微波频率 f 的数据值,代入以下公式,就可以算 出电磁波在波导内传输的速度(即为光速) : vc 2、频率的测量 将探针放置在波腹点位置, 即测量线上读数最大的位置, 改变波长计中谐振腔的谐振频 率,当其与外接波导中的微波频率相等时发生共振,部分能量被波长计吸收,使传播到测量 线中的微波能量减少, 反映在波腹点位置的读数在波长计临近共振频率时在减小, 当减到最 小时,即发生共振,此时波长计上的读数即为微波频率 f0。 三、实验设备

U入 U反
但 无法从测量线上直接测量,为了测量上的方便,我们又引入了电压驻波比的概念,以 ρ 表示:

U max U min
即沿线驻波的电压振幅极大值(驻波波腹)和极小值(驻波波节)之比,它与电压反射系数 的关系为:

U max U min

U 入 + U反 U 入 - U反
=
1+ 1-
E

E反 E入
E
Emax Emin

最新微波技术实验指导书

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微波技术实验指导书微波技术实验指导书实验一微波测量系统的了解与使用实验性质:验证性实验级别:选做开课单位:信息与通信工程学院学时:2学时一、实验目的:1.了解微波测量线系统的组成,认识各种微波器件。

2.学会测量设备的使用。

二、实验器材:1.3厘米固态信号源2.隔离器3.可变衰减器4.测量线5.选频放大器6.各种微波器件三、实验内容:1.了解微波测试系统2. 学习使用测量线四、基本原理:图1.1 微波测试系统组成1.信号源信号源是为电子测量提供符合一定技术要求的电信号的设备,微波信号源是对各种相应测量设备或其它电子设备提供微波信号。

常用微波信号源可分为:简易信号发生器、功率信号发生器、标准信号发生器和扫频信号发生器。

本实验采用DH1121A型3cm固态信号源。

2.选频放大器当信号源加有1000Hz左右的方波调幅时,用得最多的检波放大指示方案是“选频放大器”法。

它是将检波输出的方波经选频放大器选出1000Hz基波进行高倍数放大,然后再整为直流,用直流电表指示。

它具有极高的灵敏度和极低的噪声电平。

表头一般具有等刻度及分贝刻度。

要求有良好的接地和屏蔽。

选频放大器也叫测量放大器。

3.测量线3厘米波导测量线由开槽波导、不调谐探头和滑架组成。

开槽波导中的场由不调谐探头取样,探头的移动靠滑架上的传动装置,探头的输出送到显示装置,就可以显示沿波导轴线的电磁场的变化信息。

4.可变衰减器为了固定传输系统内传输功率的功率电平,传输系统内必须接入衰减器,对微波产生一定的衰减,衰减量固定不变的称为固定衰减器,可在一定范围内调节的称为可变衰减器。

衰减器有吸收衰减器、截止衰减器和极化衰减器三种型式。

实验中采用的吸收式衰减器,是利用置入其中的吸收片所引起的通过波的损耗而得到衰减的。

一般可调吸收式衰减器的衰减量可在0到30-50分贝之间连续调节,其相应的衰减量可在调节机构的度盘上读出(直读式),或者从所附的校正曲线上查得。

五、实验步骤:1.了解微波测试系统1.1观看如图装置的的微波测试系统。

微波技术实验指导书(1)

微波技术实验指导书(1)
按 [菜单], 把光标移到 [驻波], 按 [执行]即可, 有四档可选读 数范围, 读出数据, 列表并画图 。
(2)测量同轴可变衰减器的插入损耗 a)按图 3所示连接好 。
输出
输入 A
输入 B
10dB衰减器
待测器件
10dB衰减器
图 3待测器件连接框图
b)在主菜单上按“ ”键光标移到《测: A、B》下, 按[→]或[←]键 使 A为《插损》, B下为空白 。
将测量线终端分别换接匹配负载(行波状态)和开口波导(行驻波 状态), 同样用上述方法进行测量 。
测量传输线终端为开口波导时的 和 值, 用式(2)计算驻波比 。
5. 实验报告
根据实验数据, 画出传输线在三种工作状态时的电场幅度分布曲线 。 根据测量的 和 值计算开口波导的驻波比 。 由测试数据求得矩形波导的波导波长, 并与理论计算结果比较 。
不会对人体造成任何伤害 。但是, 在实验期间, 请注意以下事项: a.不要用眼睛往任何连接其他设备的开路传输线里面看; b.不要把身体的任何部位放在传输线的开口端; c.在拆/装微波元器件时, 请关掉微波信号源 。
在实验中一般为小信号检波, 可以取 n=2, 即平方律检波, 则上式
(1)可表示为
(2) 式中 和 分别为波腹点和波节点的检波电流值 。
4.实验步骤 实验所用原理框图如图 3所示 。
信号源
选频放大器
同轴-波导 隔离器 波长计 变换
衰减器
波导测量线
图 3实验框图
待测负载
首先将测量线终端接短路负载,这时在传输线上形成全驻波,然后将 探针移到测量线左端的一个波节点, 记下探针位置 D(mm)和检波 电流 I( )值, 以后每向右移动探针 2mm, 记录一个 D和 I值, 直到测出两个完整的驻波 。

规范版微波测量实验报告

规范版微波测量实验报告

(规范版)微波测量实验报告微波测量实验报告引言:微的用途极为广泛,已经成为我们日常生活中不可缺少的一项技术。

微通常是指波长从1米(300MHZ)到1毫米(300GHZ)范围内的电磁波,其低频段与超短波波段相衔接,高频端与远红外相邻,由于它比一般无线电波的波长要短的多,故把这一波段的无线电波称为微,可划分为分米波、厘米波和毫米波。

微的基本特性明显,如波长极短、频率极高、具有穿透性、似光性等。

基本特性明显使得微被广泛应用于各类领域。

微技术不仅在国防、通讯、工农业生产的各个方面有着广泛的应用,而且在当代尖端科学研究中也是一种重要手段,如高能粒子加速器、受控热核反应、射电天文与气象观测、分子生物学研究、等离子体参量测量、遥感技术等方面。

近年来,微技术与各类学科交叉衍生出各类微边缘学科,如微超导、微化学、微生物学、微医学等,在各自领域都得到了长足的发展。

微技术是一门独特的现代科学技术,其重要地位不言而喻,因此掌握它的基本知识和实验方法变得尤为重要。

一、实验目的:1、了解微传输系统的组成部分2、了解微工作状态及传输特性3、掌握微的基本测量:频率、功率、驻波比和波导波长二、实验原理:1.微的传输特性.在微波段中,为了避免导线辐射损耗和趋肤效应等的影响,一般采用波导作为微传输线。

微在波导中传输具有横电波(TE波)、横磁波(TM 波)和横电波与横磁波的混合波三种形式。

微实验中使用的标准矩形波导管,通常采用的传输波型是TE10波。

波导中存在入射波和反射波,描述波导管中匹配和反射程度的物理量是驻波比或反射系数。

依据终端负载的不同,波导管具有三种工作状态:(1)当终端接"匹配负载"时,反射波不存在,波导中呈行波状态;(2)当终端接"短路片"、开路或接纯电抗性负载时,终端全反射,波导中呈纯驻波状态;(3)一般情况下,终端是部分反射,波导中传输的既不是行波,也不是纯驻波,而是呈混波状态。

电磁场微波实验指导书(电子专业)(1)中国民航大学,cauc

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电磁场、微波测量实验指导书(电子专业适用)范懿、许明妍编班级:111044C班学号:111044309姓名:贾二超中国民航大学电子信息工程学院二零一三年十二月实验一 电磁波参量的测量一、实验目的(1)在学习均匀平面电磁波特性的基础上,观察电磁波传播特性如E 、 H 和 S 互相垂直。

(2)熟悉并利用相干波原理,测定自由空间内电磁波波长λ,并确定电磁波的相位常数β 和波速υ。

(3)了解电磁波的其他参量,如波阻抗η等。

二、实验仪器 (1) DH1211型3cm 固态源1台(2) DH926A 型电磁 波综合测试仪1套 (3) XF-01选频放大器1台 (4)PX-16型频率计三、实验原理两束等幅、同频率的均匀平面电磁波,在自由空间内从相同(或相反)方向传播时,由于初始相位不同,它们相互干涉的结果,在传播路径上形成驻波分布。

通过测定驻波场节点的分布,求得波长λ的值,由2πβλ=、f υλ=得到电磁波的主要参数:β、υ。

设0r P 入射波为:0j i i E E e βγ-=当入射波以入射角θ向介质板斜投射时,在分界面上产生反射波r E 和折射波i E 。

设入射波为垂直极化波,用R ⊥表示介质板的反射系数,用0T ⊥和T ε⊥表示由空气进入介质板和由介质板进入空气的折射系数。

可动板2r P 和固定板1r P 都是金属板,其电场反射系数为-1,则3r P 处的相干波分别为:110j r i E R T T E e φε-⊥⊥⊥=- 1131()r r L L L φββ=+= 220j r i E R T T E e φε-⊥⊥⊥=- 22331()()r r r r L L L L L φββ=+=++其中,21L L L ∆=-因为1L 是固定值,2L 则随可动板位移L 而变化。

当2r P 移动L 值时,使3r P 具有最大输出指示时,则有1r E 和2r E 为同相叠加;当2r P 移动L 值,使3r P 具有零值输出指示时,必有1r E 和2r E 反相。

微波测量实验指导书

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表 2-2 计算 p 和 单位:mm
d11
d12
d 01
d 21
d 22
d 02
p

2.3 将精密可调短路器接在测量线的输出端,置测量线探针于某一波节点位置 不变,移动可调短路器活塞,在波节点两边以一个适当的读数为参考,记下相应探 针的位置 d11 , d12 ,将探针移动相邻的波节点上,用同样的方法读取 d 21 , d 22 , 并计算波导波长 p ,由式(2—2)计算工作波长 ,将数据填入表 2—3。
图 2-1 微波测试系统
系统调整主要指信号源和测量线的调整以及晶体检波器的校准。信号源的调整 包括振荡频率、功率电平及调制方式等。本实验讨论驻波测量线的调整和晶体检波 器的校准。 2.测量线的调整及波长测量 (1)驻波测量线的调整 驻波测量线是微波系统的一种常用测量仪器,它在微波测量中用途很广,如测 驻波、阻抗、相位、波长等。 测量线通常由一段开槽传输线, 探头 (耦合探针、 探针的调谐腔体和输出指示) 、 传动装置三部分组成。由于耦合探针伸入传输线而引入不均匀性,其作用相当于在 线上并联一个导纳,从而影响系统的工作状态。为了减小其影响,测试前必须仔细
四、实验内容及步骤 1.调整测量线 1.1 参照图 2-5 连接各微波元件。 1.2 测量线终端接晶体检波架,调整微波信号源使获得最佳方波调制输出功率。 1.3 调整测量线: (1)测量线终端接匹配负载,并将探头晶体检波输出端接选 频放大器。 (2)转动探头上部的调节螺母来调整探针插入深度,其读数由顶部标尺 刻度指示(单位为 mm) 。插入深度取 1~1.5mm。调谐探针回路(调银白色活塞) , 使指示器读数最大,再调谐检波回路(黑色活塞) ,使指示器读数最大。 2. 工作波长的测量
图 1-1 微波测试系统

微波技术基础实验指导书解析

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微波技术基础实验指导书电子信息工程学院微波技术基础实验课程组编2013.02实验一 微波测量系统的认识与调试一、实验目的与要求应用所学微波技术的有关理论知识,理解微波测量系统的工作原理,掌握调整和使用微波信号源的方法,学会使用微波测量系统测量微波信号电场的振幅。

了解有关微波仪器仪表,微波元器件的结构、原理和使用方法。

二、实验内容1.掌握下列仪器仪表的工作原理和使用方法三厘米标准信号发生器(YM1123)、三厘米波导测量线(TC26)、选频放大器(YM3892)。

2.了解下列微波元器件的原理、结构和使用方法波导同轴转换器(BD20-9)、E-H 面阻抗双路调配器(BD20-8)、测量线(TC26)和可变短路器(BD20-6)等。

三、实验原理本实验的微波测试系统的组成框图如图一所示图 1它主要由微波信号源、波导同轴转换器、E-H 面阻抗双路调配器、测量线和选频放大器主要部分组成。

下面分别叙述各部分的功能和工作原理,其它一些微波元器件我们将在以后的实验中一一介绍。

1.微波信号源(YM1123)1.1基本功能1.1.1提供频率在7.5~12.5GHz 范围连续可调的微波信号。

1.1.2该信号源可提供“等幅”的微波信号,也可工作在“脉冲”调制状态。

本系统实验中指示器为选频放大器时,信号源工作在1KHz “”方波调制输出方式。

信号源波导同轴转换器 单螺钉调配器 功率探头数字功率计 微波频率计 E-H 面调配器魔T定向耦合器 H 面弯波导 晶体检波器 测量线 选频放大器 可变衰减器1.2工作原理1.2.1本信号源采用体效应振荡器作为微波振荡源。

体效应振荡器采用砷化镓体效应二极管作为微波振荡管。

振荡系统是一个同轴型的单回路谐振腔。

微波振荡频率的范围变化是通过调谐S型非接触抗流式活塞的位置来实现的,是由电容耦合引出的功率输出。

1.2.2本信号源采用截止式衰减器调节信号源输出功率的强弱。

截止式衰减器用截止波导组成,其电场源沿轴线方向的幅度是按指数规律衰减。

电磁场微波实验指导书(电子专业)概要

电磁场微波实验指导书(电子专业)概要

电磁场、微波测量实验指导书(电子专业适用)实验一 电磁波参量的测量一、实验目的(1)在学习均匀平面电磁波特性的基础上,观察电磁波传播特性如E 、 H 和 S 互相垂直。

(2)熟悉并利用相干波原理,测定自由空间内电磁波波长λ,并确定电磁波的相位常数β 和波速υ。

(3)了解电磁波的其他参量,如波阻抗η等。

二、实验仪器 (1) DH1211型3cm 固态源1台(2) DH926A 型电磁 波综合测试仪1套 (3) XF-01选频放大器1台 (4)PX-16型频率计三、实验原理两束等幅、同频率的均匀平面电磁波,在自由空间内从相同(或相反)方向传播时,由于初始相位不同,它们相互干涉的结果,在传播路径上形成驻波分布。

通过测定驻波场节点的分布,求得波长λ的值,由2πβλ=、f υλ=得到电磁波的主要参数:β、υ。

设0r P 入射波为:0j i i E E e βγ-=当入射波以入射角θ向介质板斜投射时,在分界面上产生反射波r E 和折射波i E 。

设入射波为垂直极化波,用R ⊥表示介质板的反射系数,用0T ⊥和T ε⊥表示由空气进入介质板和由介质板进入空气的折射系数。

可动板2r P 和固定板1r P 都是金属板,其电场反射系数为-1,则3r P 处的相干波分别为:110j r i E R T T E e φε-⊥⊥⊥=- 1131()r r L L L φββ=+= 220j r i E R T T E e φε-⊥⊥⊥=- 22331()()r r r r L L L L L φββ=+=++ 其中,21L L L ∆=-因为1L 是固定值,2L 则随可动板位移L 而变化。

当2r P 移动L 值时,使3r P 具有最大输出指示时,则有1r E 和2r E 为同相叠加;当2r P 移动L 值,使3r P 具有零值输出指示时,必有1r E 和2r E 反相。

故可采用改变2r P 的位置,使3r P 输出最大或零指示重复出现。

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-2-
实验一 微波测试系统的认识与调试
一、实验目的 1. 了解微波测试系统。 2. 三厘米波导系统的安装与调试。 二、实验原理 1. 微波测试系统 微波测试系统常用的有同轴和波导两种系统。同轴系统频带宽,一般用在较低 的微波频段(二厘米波段以下) ;波导系统(常用矩形波导)损耗低、功率容量大, 一般用在较高频段(厘米波段直至毫米波段) 。 微波测试系统通常由三部分组成,如图 1-1(a)所示。
( a b 22.86 10.16 mm2),为了提高测量精度,通常采用交叉读数法确定波节点 位置,并测出几个波长,求其平均值。所谓交叉读数法是指在波节点附近两旁找出 电表指示数相等的两个对应位置 d11 , d12 , d 21 , d 22 ,然后分别取其平均值作为 波节点位置,如图 2—2 所示。
图 1-1 微波测试系统
(1) 等效电源部分(即发送端) 这部分包括微波信号源,隔离器,功率、频率监视单元。
1
信号源是微波测试系统的心脏。测量技术要求具有足够功率电平和一定频率的 微波信号,同时要求一定的功率和频率稳定度。功率和频率监视单元是由定向耦合 器取出一小部分微波能量,经过检测指示来观察源的稳定情况,以便及时调整。为 了减小负载对信号源的影响,电路中采用了隔离器。 (2) 测量装置部分(即测量电路) 包括测量线、调配元件、待测元件、辅助器件(如短路器、匹配负载等) ,以及 电磁能量检测器(如晶体检波架、功率计探头等) 。 (3) 指示器部分(即测量接收器) 指示器是显示测量信号特性的仪表,如直流电流表、测量放大器、功率计、示 波器、数字频率计等。 当对微波信号的功率和频率稳定度要求不太高时,测量系统可简化如图 1-1 (b)所示,微波信号源直接与测量装置连接,其工作频率可由波长计测得。 2. 微波信号源 通常,微波信号源有电真空和固态的两种。 3. 测量指示器 常用指示器有指示等幅波的直流微安表、光点检流计、微瓦功率计,有指示调 制波的测量放大器、选频放大器。此外,还可用示波器、数字电压表等作指示器。 实验室常用测量放大器和选频放大器作指示器,因为这类仪表灵敏度高,能对 微弱信号进行宽带或选频放大,接在测量线、晶体检波器、热敏电阻架及其它测试 设备的输出端可进行各类测量。 三、实验内容和步骤 了解微波测试系统: 1. 观看按图 1-1(a)装置的微波测试系统。 2. 观看常用微波元件的形状、结构,并了解其作用、主要性能及使用方法。常 用元件如:铁氧体隔离器、衰减器、频率计(或称为波长表) 、定向耦合器、晶体检 波器、全匹配负载、波导-同轴转换器等。 四、注意事项 测试过程中,若指示电表偏转超过满刻度或无指示,可调整可变衰减器衰减量 或指示器灵敏度。 五、实验报告要求 写出所用设备及仪器名称,画出测试装置图。 六、思考题 开启电源前, 为何将衰减器衰减量置于最大, 而将指示器灵敏度置于最小位置?
2
p
d
(2-8)
E 2 sin d Em p
(2-9)
式中,d 是探针位置与电压波节点的距离。 , (2-8)和(2-9)得: 若电流波腹点处的电流为 I m ,由式(2-7)
I 2 d n I sin( ) E p Im
对式(2-10)两边取对数得:
n
(2-10)
lg I n lg E
表 2-2 计算 p 和 单位:mm
d11
d12
d 01
d 21
d 22
d 02
p

2.3 将精密可调短路器接在测量线的输出端,置测量线探针于某一波节点位置 不变,移动可调短路器活塞,在波节点两边以一个适当的读数为参考,记下相应探 针的位置 d11 , d12 ,将探针移动相邻的波节点上,用同样的方法读取 d 21 , d 22 , 并计算波导波长 p ,由式(2—2)计算工作波长 ,将数据填入表 2—3。
n
lg 0.5 W lg cos( )
(2-12)
p
根据测定的晶体检波律,即能得到晶体平方律检测工作范围。
6
图 2-4 按半峰点距离求晶体检波律
实验中,大多数微波测试系统属于小信号工作状态,因此,晶体检波律基本为 平方律,如果不是精密测量,可取 n=2。 三、实验仪器及装置图
图 2-5 测试装置图
5
I C E n
(2-7)
故要从检波电流读数值决定电场强度的相对值,就必须确定晶体检波律 n。当 n=2 时,该检波电流读数即为相对功率指示值。 实验室常用的晶体定标方法——驻波法 (1)第一种方法:测量指示器读数与相对场强的关系曲线。 当测量线终端短路时,沿线各点电场分布为:
E Em sin E
图 2-1 微波测试系统
系统调整主要指信号源和测量线的调整以及晶体检波器的校准。信号源的调整 包括振荡频率、功率电平及调制方式等。本实验讨论驻波测量线的调整和晶体检波 器的校准。 2.测量线的调整及波长测量 (1)驻波测量线的调整 驻波测量线是微波系统的一种常用测量仪器,它在微波测量中用途很广,如测 驻波、阻抗、相位、波长等。 测量线通常由一段开槽传输线, 探头 (耦合探针、 探针的调谐腔体和输出指示) 、 传动装置三部分组成。由于耦合探针伸入传输线而引入不均匀性,其作用相当于在 线上并联一个导纳,从而影响系统的工作状态。为了减小其影响,测试前必须仔细
四、实验内容及步骤 1.调整测量线 1.1 参照图 2-5 连接各微波元件。 1.2 测量线终端接晶体检波架,调整微波信号源使获得最佳方波调制输出功率。 1.3 调整测量线: (1)测量线终端接匹配负载,并将探头晶体检波输出端接选 频放大器。 (2)转动探头上部的调节螺母来调整探针插入深度,其读数由顶部标尺 刻度指示(单位为 mm) 。插入深度取 1~1.5mm。调谐探针回路(调银白色活塞) , 使指示器读数最大,再调谐检波回路(黑色活塞) ,使指示器读数最大。 2. 工作波长的测量
1 d 01 (d11 d12 ) 2
4
(2—3)
1 d 02 (d 21 d 22 ) 2 1 p d 01 d 02 2
(2—4) (2—5)
图 2-2 交叉读数法测量驻波节点位置
2.晶体检波器特性的测定 检波电流与加在晶体二极管上的电压关系为:
I CU n
(2—6)
2
实验二 测量线调整与晶体检波器校准
一、实验目的 1. 熟悉测量线的使用方法。 2. 掌握校准晶体检波器特性的方法。 二、实验原理 1.测量系统的连接与调整 进行微波测量, 首先必须正确连接与调整微波测试系统。 图 2-1 示出实验室常 用的微波测试系统,信号源通常位于左侧,待测元件接在右侧,以便于操作。连接 系统平稳,各元件接头对准。晶体检波器输出引线应远离电源和输入线路,以免干 扰。如果系统连接不当,将会影响测量精度,产生误差。
3
调整测量线。 实验中测量线的调整一般包括选择合适的探针穿伸度、调谐探头和测定晶体检 波特性。 探针电路的调谐方法:先使探针的穿伸度适当,通常取 1.0~1.5mm。然后测量 线终端接匹配负载,移动探针至测量线中间部位,调节探头活塞,直到输出指示最 大。 (2)波长测量 测量波长常见的方法有谐振法和驻波分布法。 a. 用谐振式波长计测量。调谐波长计,使得指示器指针达到最大值,记录此时 的波长计刻度,查表,确定波长计谐振频率,再根据 c f ,计算出信号源工作 波长。 b. 用驻波测量线测量,当测量线终端短路时,传输线上形成纯驻波,移动测量 线探针,测出两个相邻驻波最小点之间的距离,即可求得波导波长,再根据公式(2 -2)计算出工作波长。 c. 将精密可调短路器接在测量线的输出端,置测量线探针于某一波节点位置不 变,移动可调短路器活塞,则探针检测值随之由最小逐渐增至最大,然后又减至最 小值,即为相邻的另一个驻波节点,短路器活塞移动的距离等于半个波导波长。 在传输横电磁波的同轴系统中,按上述方法测出的波导波长就是工作波长,即
p ,而在波导系统中,测量线测出的是波导波长 p ,根据波导波长和工作波
长之间的关系式:
p

1 c
2
(2—1)
便可算出工作波长

p
1 p c
2
(2—2)
式中
c 2a , a — 波 导 宽 边 尺 寸 , 本 系 统 矩 形 波 导 型 号 为 BJ-100
2
式中 n 是晶体二极管检波律;如 n 1, I U ,称线性检波;当 n 2, I U ,称 平方律检波。
图 2-3 二极管检波特性
二极管检波特性随其端电压大小而变化,当其端电压较小时,呈现出平方律; 端电压较大时,呈现出线性规律,如图 2—3 所示。由图可见,在 U U1 范围内近 似线性;U U 2 时呈平方律;处在 U 2 U U1 范围内,检波律 n 不是整数。因此 加在晶体管两端电压变化幅度较大时,n 就不是常数,所以在精密测量中必须对晶 体检波律进行标定。 测量线探针在波导中感应的电动势(即晶体二极管两端电压 U)与探针所在处 的电场 E 成正比,因而,检波电流和波导中的场强同样满足关系式:
即:
n
lg I lg E
lg I lg sin( 2 d
(2-11)
p
)
将 I 与 sin 2 d 直接标在全对数坐标纸上, 连成平滑曲线即为 lg I ~ lg sin 2 d 曲线, p p 曲线的斜率就是晶体检波律 n。 (2)第二种方法 测量线终端短路,测出两个半峰值读数间的距离 W,如图 2-4 所示,则检波 律 n 可根据下式计算:
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2.1 用波长计测量工作频率,记录数据,随即失谐频率计。 表 2-1 波长计测量工作波长 信号源工作频率 波长计刻度 查表对应工作频率 工作波长
2.2 测量线终端换接短路板,移动探针至驻波节点,然后在此波节点两边以一 个适当的读数为参考,记下相应探针的位置 d11 , d12 ,将探针移动相邻的波节点 上, 用同样的方法读取 d 21 ,d 22 , 并计算波导波长 p , 由式(2—2)计算工作波长 , 将上述测量和计算数据填入表 2—2。
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