扫描电镜原理和提高图像质量的方法专题培训课件
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扫描电镜培训资料PPT课件

F d0 0.02m m
tgc Mtgc
d0临界分辨本领,c 电子束的入射角
第28页/共36页
7. 样品制备
• 扫描电镜的最大优点是样品制备方法简单,对金属和陶瓷 等块状样品,只需将它们切割成大小合适的尺寸,用导电 胶将其粘接在电镜的样品座上即可直接进行观察。
• 对于非导电样品如塑料、矿物等,在电子束作用下会产生 电荷堆积,影响入射电子束斑和样品发射的二次电子运动 轨迹,使图像质量下降。因此这类试样在观察前要喷镀导 电层进行处理,通常采用二次电子发射系数较高的金银或 碳膜做导电层,膜厚控制在20nm左右。
现代先进的扫描电镜的分辨率已经达到1纳米左右。 • 有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调; • 有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平
表面的细微结构 • 试样制备简单。 • 配有X射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织性貌的观察和微区成
分分析。
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Optical Microscope VS SEM
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第三章 扫描电子显微镜
1. 扫描电镜的优点 2. 电子束与固体样品作用时产生的信号 3. 扫描电镜的工作原理 4. 扫描电镜的构造 5. 扫描电镜衬度像
二次电子像 背散射电子像 6. 扫描电镜的主要性能 7. 样品制备 8. 应用举例
第3页/共36页
1. 扫描电镜的优点 • 高的分辨率。由于超高真空技术的发展,场发射电子枪的应用得到普及,
第33页/共36页
8.3 在微电子工业方面的应用
(a)芯片导线的表面形貌图, (b)CCD相机的光电二极管剖面图。
第34页/共36页
本章重点
电子束与固体样品作用时产生的信号 扫描电镜的工作原理 扫描电镜衬度像( 二次电子像、背散射电子像
tgc Mtgc
d0临界分辨本领,c 电子束的入射角
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7. 样品制备
• 扫描电镜的最大优点是样品制备方法简单,对金属和陶瓷 等块状样品,只需将它们切割成大小合适的尺寸,用导电 胶将其粘接在电镜的样品座上即可直接进行观察。
• 对于非导电样品如塑料、矿物等,在电子束作用下会产生 电荷堆积,影响入射电子束斑和样品发射的二次电子运动 轨迹,使图像质量下降。因此这类试样在观察前要喷镀导 电层进行处理,通常采用二次电子发射系数较高的金银或 碳膜做导电层,膜厚控制在20nm左右。
现代先进的扫描电镜的分辨率已经达到1纳米左右。 • 有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调; • 有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平
表面的细微结构 • 试样制备简单。 • 配有X射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织性貌的观察和微区成
分分析。
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Optical Microscope VS SEM
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第三章 扫描电子显微镜
1. 扫描电镜的优点 2. 电子束与固体样品作用时产生的信号 3. 扫描电镜的工作原理 4. 扫描电镜的构造 5. 扫描电镜衬度像
二次电子像 背散射电子像 6. 扫描电镜的主要性能 7. 样品制备 8. 应用举例
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1. 扫描电镜的优点 • 高的分辨率。由于超高真空技术的发展,场发射电子枪的应用得到普及,
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8.3 在微电子工业方面的应用
(a)芯片导线的表面形貌图, (b)CCD相机的光电二极管剖面图。
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本章重点
电子束与固体样品作用时产生的信号 扫描电镜的工作原理 扫描电镜衬度像( 二次电子像、背散射电子像
sem扫描电镜 ppt课件

II. 背散射电子成像:入射电子与样品接触时,其中一部分几乎 不损失能量地在样品表面被弹性散射回来,这部分电子被称 为背散射电子。背散射电子的产额随样品的原子序数的增大 而增加,因此成像可以反映样品 的元素分布,及不同相成分 区域的轮廓。
ppt课件
19
二次电子像的信号是二次电子,用于表面形貌分析;背散射电子 像的信号是背散射电子,用于成分分析。因此二次电子像对形貌 敏感,背散射电子像对成分敏感。
信号收集:二次电子和背散射电子收集器、吸收电子显示器、 X射线检测器(波谱仪和能谱仪)。
显示系统:显示屏有两个,一个用于观察,一个用于记录照 相。阴极射线管CRT扫描一帧图像可以有0.2s、0.5s等扫描速 度,10cm×10cm的屏幕,一般有500条线,用于人眼观察; 照相的800〜1000条线。观察时为便于调焦,采用快的扫描 速度;拍照时为得到高分辨率,采用慢的扫描扫描速度(50 〜100s)。
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9
图3 三种不同类型的电子枪材质
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10
电磁透镜
作用:是把电子枪的束斑逐渐缩小,从原来直径约为50μm的 束斑缩小成一个只有几nm的细小束斑。
工作原理:一般有三个聚光镜,前两个透镜是强透镜,用来 缩小电子束光斑尺寸。
第三个聚光镜是弱透镜(习惯上称其为物镜),具有较长的 焦距,它的功能是在样品室和透镜之间留有尽可能大的空间, 以便装入各种信号探测器。在该透镜下方放置样品可避免磁 场对二次电子轨迹的干扰。
探测器收集信号电子,经过放大、转换,在显示系统上成像 (扫描电子像)。
二次电子的图像信号动态地形成三维图像。 简单概括起来就是“光栅扫描,逐点成像”。
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4
SEM的主要结构
ppt课件
19
二次电子像的信号是二次电子,用于表面形貌分析;背散射电子 像的信号是背散射电子,用于成分分析。因此二次电子像对形貌 敏感,背散射电子像对成分敏感。
信号收集:二次电子和背散射电子收集器、吸收电子显示器、 X射线检测器(波谱仪和能谱仪)。
显示系统:显示屏有两个,一个用于观察,一个用于记录照 相。阴极射线管CRT扫描一帧图像可以有0.2s、0.5s等扫描速 度,10cm×10cm的屏幕,一般有500条线,用于人眼观察; 照相的800〜1000条线。观察时为便于调焦,采用快的扫描 速度;拍照时为得到高分辨率,采用慢的扫描扫描速度(50 〜100s)。
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图3 三种不同类型的电子枪材质
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10
电磁透镜
作用:是把电子枪的束斑逐渐缩小,从原来直径约为50μm的 束斑缩小成一个只有几nm的细小束斑。
工作原理:一般有三个聚光镜,前两个透镜是强透镜,用来 缩小电子束光斑尺寸。
第三个聚光镜是弱透镜(习惯上称其为物镜),具有较长的 焦距,它的功能是在样品室和透镜之间留有尽可能大的空间, 以便装入各种信号探测器。在该透镜下方放置样品可避免磁 场对二次电子轨迹的干扰。
探测器收集信号电子,经过放大、转换,在显示系统上成像 (扫描电子像)。
二次电子的图像信号动态地形成三维图像。 简单概括起来就是“光栅扫描,逐点成像”。
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4
SEM的主要结构
扫描电镜的结构原理及其操作使用课件

具有重要意义。
THANKS
感谢观看
材料内部结构分析
通过扫描电镜观察材料内部不同层次的结构,可以研究材 料的晶体结构、相组成、微织构等,对于材料的性能研究 和优化具有重要意义。
材料元素分布分析
扫描电镜配备的能谱分析仪可以测定材料中元素的种类和 分布情况,对于研究材料的化学成分和元素迁移行为具有 重要作用。
生物医学研究应用案例
01
细胞结构与功能研究
半导体器件结构与性能分 析
扫描电镜可以观察半导体器件的结构和性能 ,如芯片的微观电路结构、缺陷分析等,对 于半导体行业的产品研发和质量监控具有重 要意义。
半导体材料表面形貌与成 分分析
扫描电镜可以观察半导体材料表面的微观形 貌和成分,如硅片、锗片的表面粗糙度和化 学组成,对于半导体材料的研究和质量控制
特点
高分辨率、高景深、高灵敏度、多功能性等。
历史与发展
历史
SEM最早出现于1940年代,但真 正的发展和应用是在1950年代以 后。
发展
经历了多个阶段,从最初的简单 扫描电镜,到现在的场发射扫描 电镜、能量色散X射线谱仪等高级 配置。
应用领域
01
02
03
04
材料科学
用于研究材料的微观结构和性 能,如金属、陶瓷、高分子等
图像扭曲
可能是由于扫描电镜的电子束不稳定或样品表面不平整所 致。解决办法是调整扫描电镜的电子束稳定性或对样品表 面进行预处理。
样品烧蚀
可能是由于样品表面有金属杂质或样品放置不当所致。解 决办法是更换样品或调整扫描电镜的加速电压和电流。
05
扫描电镜应用案例展示
材料科学研究应用案例
材料表面形貌分析
扫描电镜可以用于研究材料表面的微观形貌,如表面粗糙 度、颗粒大小等,对于材料科学的基础研究和应用研究有 重要作用。
THANKS
感谢观看
材料内部结构分析
通过扫描电镜观察材料内部不同层次的结构,可以研究材 料的晶体结构、相组成、微织构等,对于材料的性能研究 和优化具有重要意义。
材料元素分布分析
扫描电镜配备的能谱分析仪可以测定材料中元素的种类和 分布情况,对于研究材料的化学成分和元素迁移行为具有 重要作用。
生物医学研究应用案例
01
细胞结构与功能研究
半导体器件结构与性能分 析
扫描电镜可以观察半导体器件的结构和性能 ,如芯片的微观电路结构、缺陷分析等,对 于半导体行业的产品研发和质量监控具有重 要意义。
半导体材料表面形貌与成 分分析
扫描电镜可以观察半导体材料表面的微观形 貌和成分,如硅片、锗片的表面粗糙度和化 学组成,对于半导体材料的研究和质量控制
特点
高分辨率、高景深、高灵敏度、多功能性等。
历史与发展
历史
SEM最早出现于1940年代,但真 正的发展和应用是在1950年代以 后。
发展
经历了多个阶段,从最初的简单 扫描电镜,到现在的场发射扫描 电镜、能量色散X射线谱仪等高级 配置。
应用领域
01
02
03
04
材料科学
用于研究材料的微观结构和性 能,如金属、陶瓷、高分子等
图像扭曲
可能是由于扫描电镜的电子束不稳定或样品表面不平整所 致。解决办法是调整扫描电镜的电子束稳定性或对样品表 面进行预处理。
样品烧蚀
可能是由于样品表面有金属杂质或样品放置不当所致。解 决办法是更换样品或调整扫描电镜的加速电压和电流。
05
扫描电镜应用案例展示
材料科学研究应用案例
材料表面形貌分析
扫描电镜可以用于研究材料表面的微观形貌,如表面粗糙 度、颗粒大小等,对于材料科学的基础研究和应用研究有 重要作用。
扫描电镜原理及应用精品PPT课件

扫描电镜结构、原理及应用
人眼分辨率
A
0.2 mm
B
250 mm
2
眼睛
光学显微镜的局限
• 分辨率主要取决于照明源的波长
r
2
• 可见光的波长在400-700 nm之间,所以光镜的分 辨率>200 nm
• 电子束波长约为可见光波长的十万分之一,因此 采用电子束作为照明源可以大幅提高显微镜分辨 率。
Cr
12.71
Mn
0.30
Fe
86.99
元素面分布图
球 粒 成 分 均 为 钢 料
结论
在陶瓷成分中添加大量金属球粒, 球粒尺寸:50μm~ 150 μm, 球粒分布不均匀。 球粒成分Cr含量~12%,属于不锈钢, 符合国产牌号:x Cr12 。
样品 塑料
应用实例二
样品名称 :柴油机轴瓦 半圆形金属件
15
场发射式电子枪
2. 肖特基热场发射式 优点: - 钨(100)单晶上镀ZrO(氧化鋯)降低功函数 - 使用寿命与冷场相似 (> 1000 hrs). - 使用前不需要加热针尖. - 电子源尺寸小/亮度与冷场相似 . - 真空度要求比冷场低10倍 (10-9 torr). - 适用WDS, CL, EBIC, 等探测.
缺点: - 分辨率比冷场稍差. - 价格昂贵
扫描电镜成像原理
电子束与样品的相互作用
俄歇电子 二次电子 背散射电子
特征 X 光线 连续 X 光线 荧光 X 光线
阴极荧光
不同信号的用途
图像
信号
探测器
用途
SE(二次电子像) BSE(背散射电子像)
EDS(能谱)
二次电子
背散射电子
ETSE,VPSE, EPSE BSD
人眼分辨率
A
0.2 mm
B
250 mm
2
眼睛
光学显微镜的局限
• 分辨率主要取决于照明源的波长
r
2
• 可见光的波长在400-700 nm之间,所以光镜的分 辨率>200 nm
• 电子束波长约为可见光波长的十万分之一,因此 采用电子束作为照明源可以大幅提高显微镜分辨 率。
Cr
12.71
Mn
0.30
Fe
86.99
元素面分布图
球 粒 成 分 均 为 钢 料
结论
在陶瓷成分中添加大量金属球粒, 球粒尺寸:50μm~ 150 μm, 球粒分布不均匀。 球粒成分Cr含量~12%,属于不锈钢, 符合国产牌号:x Cr12 。
样品 塑料
应用实例二
样品名称 :柴油机轴瓦 半圆形金属件
15
场发射式电子枪
2. 肖特基热场发射式 优点: - 钨(100)单晶上镀ZrO(氧化鋯)降低功函数 - 使用寿命与冷场相似 (> 1000 hrs). - 使用前不需要加热针尖. - 电子源尺寸小/亮度与冷场相似 . - 真空度要求比冷场低10倍 (10-9 torr). - 适用WDS, CL, EBIC, 等探测.
缺点: - 分辨率比冷场稍差. - 价格昂贵
扫描电镜成像原理
电子束与样品的相互作用
俄歇电子 二次电子 背散射电子
特征 X 光线 连续 X 光线 荧光 X 光线
阴极荧光
不同信号的用途
图像
信号
探测器
用途
SE(二次电子像) BSE(背散射电子像)
EDS(能谱)
二次电子
背散射电子
ETSE,VPSE, EPSE BSD
蔡司场发射扫描电镜操作培训课件

工作原理简介
电子枪发射电子,经 过加速和聚焦形成电 子束。
信号被探测器接收并 转换为电信号,经过 处理后形成图像。
电子束在磁场作用下 扫描样品表面,与样 品相互作用产生各种 信号。
设备的主要组件和功能
聚光镜
将电子束聚焦并调 整光束大小。
探测器
接收样品产生的信 号,并将其转换为 电信号。
电子枪
发射电子,是电镜 的照明源。
蔡司场发射扫描电镜操作培训课件
目录
• 设备介绍 • 操作流程 • 高级操作与优化 • 应用与案例展示 • 安全注意事项
01 设备介绍
设备概述
01
蔡司场发射扫描电镜是一种高分 辨率、高放大倍率的电子显微镜 ,用于观察和分析材料表面的微 观结构和形貌。
02
它采用电子作为照明源,通过电 子束扫描样品表面,将产生的信 号收集并处理成图像。
紧急情况处理
如遇电镜异常或故障,应立即切断电 源,保持现场,并及时联系专业维修 人员。
若发生触电或火灾等紧急情况,应迅 速切断电源,使用灭火器扑灭火灾, 同时拨打紧急电话求救。
安全培训与教育
操作人员应接受专业培训,熟悉电镜的基本原理、操作流程 及安全注意事项。
定期对操作人员进行安全教育培训,提高安全意识,确保操 作过程的安全性。
陶瓷与玻璃材料探索
研究陶瓷和玻璃材料的微观结构,如气孔率、晶相组成和显微组织 。
表面科学探索
01
ห้องสมุดไป่ตู้
02
03
表面形貌分析
利用场发射扫描电镜观察 材料表面的形貌和粗糙度 ,分析表面的物理和化学 性质。
表面元素组成分析
结合能谱仪等附件,对材 料表面元素进行定性和定 量分析,了解表面化学组 成。
扫描电镜原理及提高图像质量的方法ppt课件

在整堂课的教学中,刘教师总是让学 生带着 问题来 学习, 而问题 的设置 具有一 定的梯 度,由 浅入深 ,所提 出的问 题也很 明确
(2)扫描系统
扫描系统是扫描电镜的特殊部件,它由扫 描发生器和扫描线圈组成。它的作用是:1)使入 射电子束在样品表面扫描,并使阴极射线显像管 电子束在荧光屏上作同步扫描;2)改变入射束在 样品表面的扫描振幅,从而改变扫描像的放大倍 数。
(1) 背散射电子像衬度
背散射系数η随原子序数Z的变化如图所示 (δ为二次电子产率)。可见,背散射电子信号 强度随原子序数Z增大而增大,样品表面上平均 原子序数较高的区域,产生较强的信号,在背 散射电子像上显示较亮的衬度。因此,可以根 据背散射电子像衬度来判断相应区域原子序数 的相对高低。
在整堂课的教学中,刘教师总是让学 生带着 问题来 学习, 而问题 的设置 具有一 定的梯 度,由 浅入深 ,所提 出的问 题也很 明确
在整堂课的教学中,刘教师总是让学 生带着 问题来 学习, 而问题 的设置 具有一 定的梯 度,由 浅入深 ,所提 出的问 题也很 明确
(3)信号收集系统
扫描电镜应用的物理信号可分为: 1)电子信号,包括二次电子、背散射电子、 透射电子和吸收电子。吸收电子可直接用电流表 测,其他电子信号用电子收集器; 2)特征X射线信号,用X射线谱仪检测; 3)可见光讯号(阴极荧光),用可见光收 集器。
在整堂课的教学中,刘教师总是让学 生带着 问题来 学习, 而问题 的设置 具有一 定的梯 度,由 浅入深 ,所提 出的问 题也很 明确
电子能谱图
在整堂课的教学中,刘教师总是让学 生带着 问题来 学习, 而问题 的设置 具有一 定的梯 度,由 浅入深 ,所提 出的问 题也很 明确
特征X射线
扫描电镜的结构、原理及其操作使用ppt课件

四、扫描电镜的调整
• 电子束合轴 • 放入试样 • 图像调整
四、扫描电镜的调整
• 电子束合轴
•
调整电子束对中〔合
轴〕的方法有机械式和电磁
式。
• ①机械式是调整合轴螺钉
• ②电磁式那么是调整电磁对 中线圈的电流,以此挪动电
四、扫描电镜的调整
• 放入试样
•
将试样固定在试样
盘上,并进展导电处置,使
试样处于导电形状。将试样
•
样品在入射电子束作
用下会产生各种物理信号,有
二次电子、背散射电子、特征
X射线、阴极荧光和透射电子。
•
不同的物理信号要用
不同类型的检测系统。它大致
二、扫描电镜的构造
常用的检测系统为闪烁计数器,它位于样 品上侧,由闪烁体,光导管和光电倍增器所组 成,如图5所示。
二、扫描电镜的构造
图5 电子检测器
三、扫描电镜的根本原理
二、扫描电镜的构造
构成: 电子光学系统,包括电子枪、电磁透镜和扫
描线圈等; 机械系统,包括支撑部分、样品室; 真空系统; 样品所产生信号的搜集、处置和显示系统。
二、扫描电镜的构造
图1 Sirion 200 扫描电镜外
观照片
二、扫描电镜的构造
图2 扫描电子显微镜
构造表示图 (a)系统方框图
二、扫描电镜的构造
六、实验报告要求
• 简要阐明扫描的原理及电镜各部分的作用。 • 根据他的了解,举例阐明扫描电镜的运用。 • 根据实验察看的断口特征,简述韧窝断口、
穿晶解理断口、脆性沿晶断口、疲劳断口的 典型形貌特征。
END!
角越小,在试样上扫描面积越小,其放大倍
率M越大。 A(CRT上 扫 描 振 幅 )
扫描电镜的基本工作原理及主要图象方式PPT课件

C.W.Qatley 和McMullan 在剑桥(Cambridge )制成了第 一台现代的SEM,分辨率达到500Å 。McMullan和后来的 Smith(史密斯)指出经过信号处理,可以改善图象。Smith 还第一次引入了对信号的非线性放大(γ-处理)。他又用电 磁透镜代替了原来的静电透镜。并且以双重偏转扫描改进了原 来的扫描系统。他还在SEM中加入了消象散器。第一台成功的 商品型仪器是在1965年问世的,由英国剑桥科学仪器公司制 成。 1966年日本电子光学公司也制成了扫描电镜.在不到十年 的时间中,美国,英国,法国,荷兰,日本和西德已经制成了 一千多台扫描电镜。
第13页/共85页
图4 电子与物质的相互作用
第14页/共85页
3.成象原理
扫描电镜的成象过程与电视的摄象——显象过程很相似。 来自扫描发生器的扫描信号分别送给电子光学系统的扫描 线圈和显象管的扫描线圈,让电子束与显象管的阴极射束 (实际上也是电子束)做同步扫描,使阴极射束在荧光屏 上的照射点(称为象点)与电子束在样品上的照射点(称 为物点)按时间顺序一一对应,样品上的物点在电子束作 用下所产生的信号被检测器随时检出,经视频放大器放大 后控制显象管阴极射束的强度使荧光屏上象点的亮度受试 样上物点所产生的信号的大小的调制,从而得到与样品性 质有关的图象。这是一种按时间顺序逐点成象的方式。前 面提到的电子束与样品相互作用所产生的各种信息都可以 作为调制图象的信号。
第18页/共85页
2.二次电子的收集 二次电子常用装在样品室侧面的闪烁体——光电
倍增管检测器检测。入射电子产生的二次电子被加 有+100V至+200V偏压的栅网收集。闪烁体表面有几 十个纳米厚的导电铝膜,在其加上+10KV偏压。穿 过收集栅网的二次电子被加速到闪烁体。具有加速 电子的能量,足以使闪烁体发光,光强度与二次电 子数量成正比。闪烁体发出的光量子通过光导管送 到光电倍增管转换成电压信号,用来调制阴极束。
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图4 电子与物质的相互作用
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3.成象原理
扫描电镜的成象过程与电视的摄象——显象过程很相似。 来自扫描发生器的扫描信号分别送给电子光学系统的扫描 线圈和显象管的扫描线圈,让电子束与显象管的阴极射束 (实际上也是电子束)做同步扫描,使阴极射束在荧光屏 上的照射点(称为象点)与电子束在样品上的照射点(称 为物点)按时间顺序一一对应,样品上的物点在电子束作 用下所产生的信号被检测器随时检出,经视频放大器放大 后控制显象管阴极射束的强度使荧光屏上象点的亮度受试 样上物点所产生的信号的大小的调制,从而得到与样品性 质有关的图象。这是一种按时间顺序逐点成象的方式。前 面提到的电子束与样品相互作用所产生的各种信息都可以 作为调制图象的信号。
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2.二次电子的收集 二次电子常用装在样品室侧面的闪烁体——光电
倍增管检测器检测。入射电子产生的二次电子被加 有+100V至+200V偏压的栅网收集。闪烁体表面有几 十个纳米厚的导电铝膜,在其加上+10KV偏压。穿 过收集栅网的二次电子被加速到闪烁体。具有加速 电子的能量,足以使闪烁体发光,光强度与二次电 子数量成正比。闪烁体发出的光量子通过光导管送 到光电倍增管转换成电压信号,用来调制阴极束。
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• 二次电子
它是被入射电子束轰击出来的样品核外电 子,又称为次级电子。
在样品上方装一个电子检测器来检测不同 能量的电子,结果如图所示。二次电子的能量 比较低,一般小于50eV;背散射电子的能量比 较高,其约等于入射电子能量 E0。
电子能谱图
特征X射线
特征 X射线是原子的内层电子受到激发之 后,在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能 量和波长的一种电磁波辐射。
三、扫描电镜的成像(衬度)原理
1.形貌衬度
若设α为入射电子束与试样表面法线之间 的夹角,实验证明,当对光滑试样表面、入射 电子束能量大于 1kV且固定不变时,二次电子 产率δ与α的关系为
δ ∝ 1/cosα
实际样品的形状虽然复杂,但都可以被看 作是由许多位向不同的小平面组成的,扫描电 镜中入射电子束的方向是固定的,由于试样表 面凹凸不平,它对试样表面不同处的入射角是 不同的,由此产生二次电子的产额上的差异, 经调制放大便可得到反映样品形貌的二次电子 像。
1. 入射束在样品中的扩展效应 2. 分辨率(入射电子束斑直径) 3. 信噪比 4. 杂散电磁场及机械振动 5. 样品的自然衬度
1. 入射束在样品中的扩展效应
电子束打到样品上,会发生散射,扩散范围 如同梨状或半球状。入射束能量越大,样品原子 序数越小,则电子束作用体积越大。因此,用不 同的物理信号调制的扫描像有不同的分辨本领。 二次电子扫描像的分辨本领最高,约等于入射电 子束直径,背散射电子为50-200 nm,X射线为 100-1000nm。
S-2700扫描电镜
如何利用扫描电镜拍出高质量的图像
一、扫描电镜的工作原理 二、扫描电镜的构造 三、扫描电镜的成像(衬度)原理 四、影响扫描电镜像质量的主要因素 五、操作要点 六、样品制备
一、扫描电镜的工作原理
电子枪发射的电子束经两级聚光镜及物镜的 汇聚,形成具有一定能量、一定束流强度和束斑 直径的微细电子束,在扫描线圈驱动下,于试样 表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。聚焦 电子束与试样相互作用,产生二次电子发射(以 及其它物理信号),二次电子信号被探测器收集 转换成电讯号,经视频放大后输入到显像管得到 反映试样表面形貌的二次电子像。
二、 扫描电镜的构造
扫描电镜由六个系统组成
(1) 电子光学系统(镜筒) (2) 扫描系统 (3) 信号收集系统 (4) 图像显示和记录系统 (5) 真空系统 (6) 电源系统
(1)电子光学系统(镜筒)
由电子枪、聚光镜、物镜和样品室等部件 组成。它的作用是将来自电子枪的电子束聚焦成 亮度高、直径小的入射束来轰击样品,使样品产 生各种物理信号。
2
断口照片
2.原子序数衬度
原子序数衬度又称为化学成分衬度,它是 利用对样品微区原子序数或化学成分变化敏感 的物理信号作为调制信号得到的一种显示微区 化学成分差别的像衬度。这些信号主要有背散 射电子、吸收电子和特征X射线。
(1) 背散射电子像衬度
背散射系数η随原子序数Z的变化如图所示 (δ为二次电子产率)。可见,背散射电子信号 强度随原子序数Z增大而增大,样品表面上平均 原子序数较高的区域,产生较强的信号,在背 散射电子像上显示较亮的衬度。因此,可以根 据背散射电子像衬度来判断相应区域原子序数 的相对高低。
(3)特征X射线衬度
利用特征X射线只与元素种类有关的特性,可 对试样作成份检测。
四、影响扫描电镜像质量的主要因素
一幅高质量的图像应满足三个条件:首先 是分辨率高,显微结构清晰可辨;第二是信噪 比好,没有明显的雪花状噪声;第三是衬度适中, 图像中无论白区还是黑区细节都能看清楚。
影响扫描电镜像质量的主要因素
电子束-样品交互作用区
一次电子束 ~ 10 nm: 二次电子
~ 1~2 mm: 背散射电子
交互作用区
~ 2~5mm: X-射线/阴极荧光
同一样品, Байду номын сангаас同能量电子束
15 kV
5 kV
25 kV
不同样品, 同一能量电子束
碳
铁
银
2.分辨率(入射电子束斑直径)
入射电子束束斑直径是扫描电镜分辨本 领的极限。
电子束斑直径的计算公式
d21 2C s321.22242 Ip/2
• 公式中,d为电子束斑直径, α为孔径角, Cs为末级透镜的球差系数; λ为入射电子波 长; Ip为电子束电流; β为电子束的亮度.
式中第一项为球差,第二项是衍射差引起的, 第三项是无像差透镜形成的电子束直径。
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(2) 吸收电子像衬度
吸收电子信号强度与二次电子及背散射电 子的发射有关,若样品较厚,即T=0,则 η+δ+α=1。这说明,吸收电子像的衬度是与 背散射电子像和二次电子像是互补的。因此可 以认为,样品表面平均原子序数大的微区,背 散射电子信号强度较高,而吸收电子信号强度 较低,两者衬度正好相反。
对于热发射的钨丝电子枪其亮度可表达为
J ce V /k T A /c m 2 g sr
式中, Jc是电子枪的发射电流密度; V为加速 电压; k为玻尔兹曼常数;T 是电子枪灯丝工 作温度(K); e是电子的电荷.
3.信噪比
• 提高信噪比的途径:
• A.增大束流 (电子束的束电流Ip为))
(2)扫描系统
扫描系统是扫描电镜的特殊部件,它由扫 描发生器和扫描线圈组成。它的作用是:1)使入 射电子束在样品表面扫描,并使阴极射线显像管 电子束在荧光屏上作同步扫描;2)改变入射束在 样品表面的扫描振幅,从而改变扫描像的放大倍 数。
(3)信号收集系统
扫描电镜应用的物理信号可分为: 1)电子信号,包括二次电子、背散射电子、 透射电子和吸收电子。吸收电子可直接用电流表 测,其他电子信号用电子收集器; 2)特征X射线信号,用X射线谱仪检测; 3)可见光讯号(阴极荧光),用可见光收 集器。
扫描电镜成像的物理信号
特征X射线
• 背散射电子
它是被固体样品中原子反射回来的一部分入射电 子。又分弹性背散射电子和非弹性背散射电子,前者 是指只受到原子核单次或很少几次大角度弹性散射后 即被反射回来的入射电子,能量没有发生变化;后者 主要是指受样品原子核外电子多次非弹性散射而反射 回来的电子。