自控实验典型环节频率特性的测试

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实验三 典型环节的频率特性测量

实验三  典型环节的频率特性测量

姓名,班级学号 ; 姓名,班级学号姓名,班级学号 ; 姓名,班级学号姓名,班级学号 ; 姓名,班级学号实验三典型环节(系统)的频率特性测量一.实验目的1.学习和掌握测量典型环节(或系统)频率特性曲线的方法和技能。

2.学习根据所测得频率特性,作出伯德图。

二.实验内容1.用实验方法完成一阶惯性环节的频率特性曲线测试。

2.用实验方法完成比例环节、积分环节、惯性环节及二阶系统的频率特性曲线测试。

三.实验步骤1.熟悉实验设备上的信号源,掌握改变正弦波信号幅值和频率的方法。

2.利用实验设备完成比例环节、积分环节、惯性环节和二阶系统开环频率特性曲线的测试。

3.根据测得的频率特性曲线(或数据)求取各自的传递函数。

4.分析实验结果,完成实验报告。

四.实验线路及原理(一)实验原理对于稳定的线性定常系统或环节,当输入端加入一正弦信号时,它的稳态输出时一与输入信号同频率的正弦信号,但其幅值和相位将随输入信号频率的改变而改变,即:即相频特性即幅频特性,)()()(,)()()(sin )(])(sin[)()(ωωωωωφωωωωωωωj G t j G t j G Aj G A A tA t r j G t j G A t c ∠=-∠+====∠+=只要改变输入信号的频率,就可以测出输出信号与输入信号的幅值比)(ωj G 和它的相位差)(ωφ,不断改变输入信号的频率,就可测得被测环节的幅频特性和相频特性。

(二)实验线路1.比例(P)环节的模拟电路 比例环节的传递函数为:K s U s U i O =)()(,取ωj s =代入,得G(jw)=k, A(w)=k, Φ(w)=0°其模拟电路和阶跃响应,分别如图1.1.2,实验参数取R 0=100k ,R 1=200k ,R=10k 。

2.积分(I)环节的模拟电路 积分环节的传递函数为:Tss U s U i O 1)()(=其模拟电路,如图1.2.2所示,实验参数取R 0=100k ,C =1uF ,R=10k 。

自动控制频率特性测试实验报告

自动控制频率特性测试实验报告

自动控制频率特性测试实验报告1. 引言在现代自动控制系统中,频率特性是一个重要的参数,对于系统的稳定性和性能起着决定性的作用。

频率特性测试实验旨在评估自动控制系统的频率响应,并分析系统在不同频率下的性能。

本实验报告将介绍自动控制频率特性测试实验的目的、实验器材、实验步骤和实验结果分析。

2. 实验目的本实验的主要目的是通过频率响应测试,评估自动控制系统的频率特性以及系统在不同频率下的性能。

具体目标包括:1.测试系统的幅频特性,即系统的增益与频率之间的关系;2.测试系统的相频特性,即系统的相移与频率之间的关系;3.分析系统的频率特性对系统的稳定性和性能的影响。

3. 实验器材本实验所需的器材包括:•信号发生器:用于产生不同频率的输入信号;•可变增益放大器:用于控制输入信号的幅度;•相位巡迥器:用于调节输入信号的相位;•示波器:用于观测输入信号和输出信号;•自动控制系统:接受输入信号并提供相应的控制输出。

4. 实验步骤4.1 准备工作1.确保实验器材连接正确,信号发生器连接到自动控制系统的输入端,示波器连接到自动控制系统的输出端。

2.将可变增益放大器和相位巡迥器分别接入信号发生器的输出端,用于调节输入信号的幅度和相位。

4.2 测试幅频特性1.设置信号发生器的频率为起始频率,将幅度设置为合适的值。

2.将相位巡迥器的相位设置为零,确保输入信号的相位与输出信号相位一致。

3.记录输入信号和输出信号的幅度,并计算增益。

4.逐渐增加信号发生器的频率,重复步骤3,直到达到结束频率。

4.3 测试相频特性1.设置信号发生器的频率为起始频率,将幅度和相位设置为合适的值。

2.记录输入信号和输出信号的相位差,并计算相移。

3.逐渐增加信号发生器的频率,重复步骤2,直到达到结束频率。

4.4 结果记录与分析1.将实验得到的数据记录下来,包括输入信号频率、幅度、输出信号频率、幅度、相位差等。

2.绘制幅频特性曲线图,分析系统的增益随频率变化的规律。

实验五 典型环节和系统频率特性的测量

实验五  典型环节和系统频率特性的测量

实验五 典型环节和系统频率特性的测量一、实验目的1. 了解典型环节和系统的频率特性曲线的测试方法;2. 根据实验求得的频率特性曲线求取传递函数。

二、实验设备同实验一。

三、实验内容1. 惯性环节的频率特性测试;2. 二阶系统频率特性测试;3. 无源滞后—超前校正网络的频率特性测试;4. 由实验测得的频率特性曲线,求取相应的传递函数;5. 用软件仿真的方法,求取惯性环节和二阶系统的频率特性。

四、实验原理1. 系统(环节)的频率特性设G(S)为一最小相位系统(环节)的传递函数。

如在它的输入端施加一幅值为Xm 、频率为ω的正弦信号,则系统的稳态输出为)sin()()sin(ϕωωϕω+=+=t j G Xm t Y y m由式①得出系统输出,输入信号的幅值比相位差)()(ωωj G Xmj G Xm Xm Ym == (幅频特性) )()(ωωφj G ∠= (相频特性)式中)(ωj G 和)(ωφ都是输入信号ω的函数。

2. 频率特性的测试方法 2.1 李沙育图形法测试 2.1.1幅频特性的测试 由于 mmm m X Y X Y j G 22)(==ω 改变输入信号的频率,即可测出相应的幅值比,并计算 mmX Y A L 22log 20)(log 20)(==ωω (dB ) 其测试框图如下所示:图5-1 幅频特性的测试图(李沙育图形法)注:示波器同一时刻只输入一个通道,即系统(环节)的输入或输出。

2.1.2相频特性的测试图5-2 幅频特性的测试图(李沙育图形法)令系统(环节)的输入信号为:t X t X m ωsin )(= (5-1) 则其输出为 )sin()(φω+=t Y t Y m (5-2)对应的李沙育图形如图5-2所示。

若以t 为参变量,则)(t X 与)(t Y 所确定点的轨迹将在示波器的屏幕上形成一条封闭的曲线(通常为椭圆),当t=0时,0)0(=X 由式(5-2)得 )sin()0(φm Y Y = 于是有 mm Y Y Y Y 2)0(2sin )0(sin )(11--==ωφ (5-3) 同理可得mX X 2)0(2sin )(1-=ωφ (5-4) 其中)0(2Y 为椭圆与Y 轴相交点间的长度; )0(2X 为椭圆与X 轴相交点间的长度。

实验七典型环节频率特性的测试

实验七典型环节频率特性的测试

实验七典型环节频率特性的测试一、实验目的(1)掌握用李沙育图形法,测量各典型环节的频率特性。

(2)根据所测得频率特性,做出伯德图,据此求得环节的传递函数。

二、实验设备序号 型 号 备注1 DJK01 电源控制屏该控制屏包含“三相电源输出”等几个模块。

2 DJK15控制理论实验挂箱 或DJK16控制理论实验挂箱3 双踪慢扫描示波器4 万用表三、实验线路及原理对于稳定的线性定常系统或环节,当其输入端加入一正弦信号X(t)=XmSinωt,它的稳态输出是一与输入信号同频率的正弦信号,但其幅值和相位将随着输入信号频率ω的变化而变化。

即输出信号为Υ(t)=ΥmSin(ωt+ϕ)=Χm⏐G(jω)⏐Sin(ωt+ϕ)其中 ⏐G(jω)⏐= Υm /Xm ,ϕ(ω)=argG(jω)只要改变输入信号x(t)的频率ω,就可测得输出信号与输入信号的幅值比⏐G(jω)⏐和它们的相位差ϕ(ω)=argG(jω)。

不断改变x(t)的频率,就可测得被测环节(系统)的幅频特性⏐G (jω)⏐和相频特性ϕ(ω)。

本实验采用李沙育图形法,图7-1为测试的方框图。

图7-1 典型环节的测试方框图在表(1)中列出了超前与滞后时相位的计算公式和光点的转向。

表中2Y0为椭圆与Y轴交点之间的长度,2X0为椭圆与X轴交点之间距离,Xm 和Ym 分别为X(t)和Y(t)的幅值。

四、实验方法(1)惯性环节的频率特性的测试令G (S)=1/(0.5S+1),则其相应的模拟电路如图7-2所示。

测量时示波器的X 轴停止扫描,把扫频电源的正弦信号同时送到被测环节的输入端和示波器的X 轴,被测环节的输出送到示波器的Y 轴,如图7-3所示。

(R1=R2=510K,C=1uF) 图7-2 惯性环节的模拟电路图图7-3 相频特性测试的接线图当扫频电源输出一个正弦信号,则在示波器的屏幕上呈现一个李沙育图形------椭圆。

据此,可测得在该输入信号频率下的相位值:mY Y Sin2201−=ϕ不断改变扫频电源输出信号的频率,就可得到一系列相应的相位值,列表记下不同ω值时的Y 0和Ym。

实验四 系统频率特性测量

实验四 系统频率特性测量

实验四系统频率特性测量一、实验目的1、加深了解系统及元件频率特性的物理概念。

2、掌握系统及元件频率特性的测量方法。

二、实验设备1、D1CE-AT-∏型自动控制系统实验箱一台2、带串口计算机一台3、RS232串口线三、实验原理及电路1、被测系统的方块图及原理:系统(或环节)的频率特性G(jω)是一个复变量,可以表示成以角频率3为参数的幅值和相角:G(M=IG(%)I∕G(网本实验应用频率特性测试仪测量系统或环节的频率特牲。

图4-1所示系统的开环频率特性为:B(jω)B(ιω)B(jω)G3)GR3)H(j3)=叼舟I/追采用对数幅频特牲和相频特性表示,则式(4-2)表示为:(4—1) (4-2)图4-1被测系统方块图2。

IgGG3)G∕)Hg)H。

啕需I=2(Hg1BG3-2(Hg1EG3)I (4—3) C⅛Gω)G<jω)HGω)=/*线=∕BQω)-EGω)(4-4)E(j3)将频率特性测试仪内信号发生器产生的超低频正弦信号的频率从低到高变化,并施加于被测系统的输人端Et)],然后分别测量相应的反馈信号[b⑴]和误差信号[e(t)]的对数幅值和相位。

频率特性测试仪测试数据经相关运算器后在显示器中显示。

根据式(4—3)和式(4—4)分别计算出各个频率下的开环对数幅值和相位,在半对数座标纸上作出实验曲线:开环对数幅频曲线和相频曲线。

根据实验开环对数幅频曲线画出开环对数幅频曲线的渐近线,再根据渐近线的斜率和转角频确定频率特性(或传递函数)。

所确定的频率特性(或传递函数)的正确性可以由测量的相频曲线来检验,对最小相位系统而言,实际测量所得的相频曲线必须与由确定的频率特性(或传递函数)所画出的理论相频曲线在一定程度上相符,如果测量所得的相位在高频(相对于转角频率)时不等于一900(q—p)[式中P和q分别表示传递函数分子和分母的阶次],那么,频率特性(或传递函数)必定是一个非最小相位系统的频率特性。

自动控制原理 系统频率特性的测定

自动控制原理 系统频率特性的测定

实验二 系统频率特性的测定一、 实验目的1、掌握系统频率的测试方法、原理。

2、学会由开环系统对数频率特性,确定系统传递函数的方法。

二、 实验设备硬件设备:微机一台,示波器一台,AEDK-ACT 实验系统一套。

软件设备:Windows 2000操作平台,AEDK-ACT 系统集成操作软件。

三、 实验原理图1被测系统方框图系统(或环节)的频率特性G(j ω)是一个复变量,可以表示成以角频率ω为参数的幅值和相角:G(j ω)=︱G(j ω)︱∠G(j ω)(1)本实验应用频率特性测试仪测量系统或环节的频率特性。

图1所示系统的开环频率特性为:G 1(j ω) G 2(j ω) H(j ω)= )E(j )B(j ωω=︱)E(j )B(j ωω︱∠)E(j )B(j ωω (2) 采用对数幅频特性和相频特性表示,则式(3—2)表示为:20lg ︱G 1(j ω) G 2(j ω) H(j ω) ︱= 20lg )E(j )B(j ωω=20lg ︱)B(j ω︱-20lg ︱)E (j ω︱ (3)G 1(j ω) G 2(j ω) H(j ω) = ∠)E(j )B(j ωω=∠)B(j ω- ∠)E (j ω (4)将频率特性测试仪内信号发生器产生的超低频正弦信号的频率从低到高变化,并施加于被测系统的输入端[r (t )],然后分别测量相应的反馈信号[b (t )]和误差信号[e (t )]的对数幅值和相位。

频率特性测试仪测试数据经相关运算后在显示器中显示。

根据式(3)和式(4)分别计算出各个频率下的开环对数幅值和相位,在半对数坐标纸上做出实验曲线:开环对数幅频曲线和相频曲线。

根据实验开环对数幅频曲线画出开环对数幅频曲线的渐近线,再根据渐近线的斜率和转角确定频率特性(或传递函数)。

所确定的频率特性(或传递函数)的正确性可以由测量的相频曲线来检验,对最小相位系统而言,实际测量所得的相频曲线必须与确定的频率特性(或传递函数)所画出的理论相频曲线在一定程度上相符。

自动控制理论3-频率特性的测量

自动控制理论3-频率特性的测量

自动控制理论试验之三频率特性的测量一、实验目的学习测量系统或环节的频率特性二、实验设备1、超低频信号发生器2、示波器3、电子模拟装置及导线三、实验内容,数据记录1、测量微分积分环节的频率特性(1)相频特性相频特性的测试线路如图1所示。

信号发生器的输出信号送入X轴,系统的输出送入Y1轴。

得李萨如图形,以示波器的光标测量椭圆X上的投影长2X0和椭圆中间的长度2Xm,得θ=arcsin(2X0/2Xm)。

变化输入频率w,得到一组θ,即可绘制系统的相频特性,并可以与理论计算θ得到的图形比较。

w=30(1/s)李萨如图 w= 80(1/s)李萨如图数据记录如下。

相频特性表格f(Hz)w(rad/s) T(s)2Xm(v) 2Xo(v) 实测θ0(w)计算θ0(w)光点转动方向0.16 1 6.28E+00 6.063 2.719 -26.645 -25.3 逆 0.32 2 3.14E+00 6.063 3.813 -38.969 -38.2 逆 0.80 5 1.26E+00 6.063 4.031 -41.671 -42.6 逆 1.27 8 7.85E-01 6.063 3.438 -34.544 -35.8 逆 1.59 10 6.28E-01 6.063 3.063 -30.344 -30.6 逆 4.77 30 2.09E-01 6.063 0.000 0.000 -1.2 直线 7.96 50 1.26E-01 6.063 1.500 14.324 12.3 顺 12.73 80 7.85E-02 6.063 2.766 27.143 25.2 顺 15.92 100 6.28E-02 6.063 3.281 32.762 30.7 顺 31.83 200 3.14E-02 6.063 4.156 43.272 42.6 顺 47.75 300 2.09E-02 6.063 4.125 42.871 43.5 顺 95.50 600 1.05E-02 6.063 3.313 33.122 35.1 顺 127.33 800 7.85E-03 6.063 2.718 26.634 29.6 顺 159.1610006.28E-036.0632.43823.71025.2 顺根据电路图得出系统的传递函数为:G(s)=2211010006101000s s s s ++++根据所测的数据画出相频特性曲线如下图所示100101102103一阶系统的相频特性曲线w <G (w )(2)幅频特性信号发生器的正弦信号送入Y2,被测系统的输出仍然送入Y1。

实验四典型系统的频率特性测试

实验四典型系统的频率特性测试

自动控制原理实验报告实验名称:典型系统的频率特性测试班级:姓名:学号:实验四典型系统的频率特性测试一、实验目的1、加深理解系统及元件频率特性的物理概念2、掌握测量典型一阶系统和二阶系统频率特性曲线的方法3、掌握软件仿真求取一阶和二阶系统开环频率特性的方法4、了解从频率特性求系统传递函数及参数的方法二、实验容1、搭建一阶惯性环节,绘制其频率特性曲线2、搭建典型二阶环节,绘制其频率特性曲线3、用软件仿真求取一阶和二阶系统频率特性曲线,跟实验结果比较三、实验步骤1、一阶惯性环节的频率特性(1)用Matlab函数绘制系统的幅相曲线和对数频率特性曲线,记录理想幅频曲线和相频曲线。

程序如下:sys=tf(1,[0.005,1]);nyquist(sys);title('系统的奈氏图');figurebode(sys);title('系统的波特图');(2)在simulink下创建惯性环节的幅相曲线和对数频率特性曲线仿真系统。

改变正弦输入函数的频率,测试并记录输出与输入幅值之比,相位之差,保存仿真结果(3)在实验箱中搭建模拟电路,输入正弦波信号,观测输入输出正弦波曲线。

调节正弦波频率和幅值,绘制该一阶惯性环节的幅频曲线和相频曲线,与软件仿真对比2、二阶系统的频率特性曲线 (1)用Matlab 函数绘制二阶系统的幅相曲线和对数频率特性曲线,记录理想幅频曲线和相频曲线。

程序仿真:sys=tf(200,[1,10,200]);nyquist(sys);title('系统的奈氏图'); figure bode(sys);title('系统的波特图');(2)在simulink 下创建二阶环节的幅相曲线和对数频率特性曲线仿真系统。

改变正弦输入函数的频率,测试并记录输出与输入幅值之比,相位之差,保存仿真结果(3)在实验箱中搭建模拟电路,输入正弦波信号,观测输入输出正弦波曲线。

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实验三 典型环节频率特性的测试
一、实验目的
1. 掌握典型环节频率特性曲线的测试方法。

2. 根据实验求得的频率特性曲线求取传递函数。

二、实验设备:TKKL-1实验箱一台,超低频示波器一台。

三、实验内容
1. 惯性环节的频率特性测试。

2. 由实验测得的频率特性曲线求传递函数。

四、实验原理
1. 系统的频率特性
一个稳定的线性系统,在正弦信号作用下,它的稳态输出是与输入信号同频率的正弦信号,振幅与相位一般与输入信号不同。

测取不同频率下系统的输出、输入信号的幅值比和相位差,即可求得这个系统的幅频特性和相频特性。

设输入信号t X t x m ωωsin )(=,那么输出信号为)sin()()sin()(ϕωωϕωω+=+=t j G Xm t Y t y m 。

幅频特性 Xm
Ym j G =)(ω, 相频特性
)()(ωϕω=∠j G
2. 频率特性测试——李沙育图形法
将)(t x ω、)(t y ω分别输入示波器的X 、Y 轴,可得如下李沙育图形如图5-1。

①幅频特性测试:
由 m
m m m X Y X Y j G 22)(==
ω,有 m m
X Y A L 22lg 20)(lg 20)(==ωω〔dB 〕
改变输入信号的频率,即可测出相应的幅值比,测试原理示意图如图5-2。

. 图5-1 李沙育图形 图5-2 幅频特性测试图
②相频特性测试:
⎩⎨
⎧+==)sin()(sin )(ϕωωωωt Y t y t X t x m m , 当0=t ω时,⎩⎨⎧==ϕ
sin )0(0
)0(m Y y x
f(Hz) 1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
12
14
15
2Ym 〔V 〕 2Xm 〔V 〕 2Ym/2Xm
20lg(2Ym/2Xm)
ω
有m
m Y y Y y 2)
0(2sin )0(sin )(1
1
--==ωϕ 其中,)0(2y 为椭圆与Y 轴相交点间的长度, 上式适用于椭圆的长轴在一、三象限;当椭圆的 长轴在二、四象限时相位ϕ的计算公式变为
图5-3相频特性测试图(李沙育法)
相频特性记录表
3. 惯性环节:电路如图5-4,传递函数为
1
02.01
1)()()(+=
+==
s Ts K s u s u s G i o 假设取C=0.1uF ,R 1=100K ,R 2=200K ,
那么系统的转折频率为T f T π2/1==7.96Hz 。

图5-4惯性环节测试电路 (C R T 2=) 五、实验步骤
1.在实验箱上搭建惯性环节电路如图5-4,并接入比例环节。

输入信号源,电路和信号源输出接示波器。

在不致输出饱和的情况下,输入信号尽量大一些,测试输入信号的幅度〔用2Xm 表示〕。

测试时将示波器扫描和幅值衰减档置校准位置,读出格数再转化为电压,此后,应不再改变输入信号的幅度。

为读数方便,在读2Xm 、2Ym 时,可将示波器X 轴增益调到0,使光点在荧光屏上只作垂直运动。

2.调节函数信号发生器使频率由低到高〔1~15Hz 〕变化,测量对应的)0(2y 、2Xm 、2Ym ,数据填入表格,在转折频率附近可以多测量几点。

3.由]2/)0(2[sin ]/)0([sin )(11m m Y y Y y --==ωϕ绘制对数相频特性曲线。

4.根据)2/2lg(20)(m m X Y L =ω绘制对数幅频特性曲线。

5.将绘制后的波特图与准确的波特图进展比照,分析误差原因。

六、实验报告要求
1. 写出被测环节的传递函数,画出相应的模拟电路图。

2. 把实验数据和计算数据填入表格,记录李沙育图形形状和光点运动方向。

3.绘制被测环节的幅频、相频Bode 图,分析实测Bode 图产生的误差。

七、考虑题:
1. 在实验中如何确定转折角频率?
2. 用示波器测试相频特性时,假设把信号发生器的正弦信号送入Y 轴,系统输出信号送至X 轴,李沙育图形会怎样变化?
f(Hz) 1
2
3
4
5
6
7
8
9 10 11 12 12 14 15 2y 0〔V 〕
2Ym 〔V 〕
ϕ
ω
m
Y y 2)
0(2sin 180)(1
0--=ωϕ。

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